JPH0620314Y2 - 端子挿入検査器 - Google Patents

端子挿入検査器

Info

Publication number
JPH0620314Y2
JPH0620314Y2 JP1987123056U JP12305687U JPH0620314Y2 JP H0620314 Y2 JPH0620314 Y2 JP H0620314Y2 JP 1987123056 U JP1987123056 U JP 1987123056U JP 12305687 U JP12305687 U JP 12305687U JP H0620314 Y2 JPH0620314 Y2 JP H0620314Y2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
terminal
pin
inspection
probe pin
accommodating chamber
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP1987123056U
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6427668U (ja
Inventor
憲吾 大野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Wiring Systems Ltd
Original Assignee
Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP1987123056U priority Critical patent/JPH0620314Y2/ja
Application filed by Sumitomo Wiring Systems Ltd filed Critical Sumitomo Wiring Systems Ltd
Priority to DE8888112947T priority patent/DE3863716D1/de
Priority to US07/230,302 priority patent/US4849743A/en
Priority to CA000574196A priority patent/CA1285024C/en
Priority to EP88112947A priority patent/EP0303235B1/en
Priority to KR2019880013152U priority patent/KR920002829Y1/ko
Priority to CN88213088U priority patent/CN2038677U/zh
Priority to MYPI88000953A priority patent/MY107517A/en
Publication of JPS6427668U publication Critical patent/JPS6427668U/ja
Application granted granted Critical
Publication of JPH0620314Y2 publication Critical patent/JPH0620314Y2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R43/00—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors
    • H01R43/20—Apparatus or processes specially adapted for manufacturing, assembling, maintaining, or repairing of line connectors or current collectors or for joining electric conductors for assembling or disassembling contact members with insulating base, case or sleeve
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/64—Means for preventing incorrect coupling
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01R—ELECTRICALLY-CONDUCTIVE CONNECTIONS; STRUCTURAL ASSOCIATIONS OF A PLURALITY OF MUTUALLY-INSULATED ELECTRICAL CONNECTING ELEMENTS; COUPLING DEVICES; CURRENT COLLECTORS
    • H01R13/00—Details of coupling devices of the kinds covered by groups H01R12/70 or H01R24/00 - H01R33/00
    • H01R13/66—Structural association with built-in electrical component
    • H01R13/70—Structural association with built-in electrical component with built-in switch
    • H01R13/703—Structural association with built-in electrical component with built-in switch operated by engagement or disengagement of coupling parts, e.g. dual-continuity coupling part

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Details Of Connecting Devices For Male And Female Coupling (AREA)
  • Manufacturing Of Electrical Connectors (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 本考案は、端子収容室に電線端の端子を挿入して係止す
るコネクタにおいて、それぞれの端子収容室に適正な端
子が挿入されたかどうかと、その端子が端子収容室の正
常位置に挿入されたかどうかを検査するのに用いる端子
挿入検査器に関するものである。
「従来の技術」 コネクタの端子収容室に挿入された端子が、正常な挿着
姿勢に挿入されたかどうかを検査するコネクタの端子検
査器は、実公昭５３−１８５４５号・実公昭５５−８２
２１号・特開昭６０−１４０１６０号公報等の多数の公
知例がある。
「考案が解決しようとする問題点」 以上の公知例のものは、端子が端子収容室に係止された
状態でチェックされる。従って、端子収容室に間違えた
端子が挿入された誤挿入のものがあると、その係止を外
して端子を挿し変える作業が必要になり、多大の修正工
数と修正時間を消費する無駄が生ずる。本考案は、以上
の従来技術の難点を解消し、挿入端子が適正であるかど
うかを、係止状態になるまでに検査し、かつ、端子の挿
入状態を検知する端子挿入検査器を提供するものある。
「問題点を解決するための手段」 以上の技術課題を解決する本考案の端子挿入検査器は 「保持管の前半部分に、ピン前半部を若干量突き出し
て、突き出し前死点位置を規制し、かつ、突き出し方向
へ付勢されて弾性後退自在のプローブピンと、前記保持
管の後半部分に、前死点位置を規制し、かつ、前方付勢
されて弾性後退自在の第２検査ピンを、前記保持管の軸
心に沿って直列配列して装着すると共に、前記プローブ
ピンの後端と前記第２検査ピンの前端間に、所要量の対
向空間を設け、さらに、前記プローブピンの前半部を、
コネクタの端子収容室の前端孔に挿入可能形状になし、
前記端子収容室へ挿入される端子と前記プローブピンの
接触によって、前記プローブピンと前記端子間を導通す
る第１検知回路と、前記端子と前記プローブピンの接触
状態における前記プローブピンと前記第２検査ピンの接
触によって、前記端子と前記第２検査ピン間を導通する
第２検査回路を設けた構造」が特徴である。
そして、前記プローブピンの前半部を、検査すべき端子
収容室に所要量挿入すると共に、前記プローブピンと前
記第２検査ピン間の対向空間を、所要量にセットして端
子収容室の前方に配設し、その端子収容室に挿入される
端子が、端子収容室に係止される前に、その端子の前端
とプローブピンの接触による前記第１検査回路の導通に
よって、その端子が適正かどうかを検知し、続いて進行
する端子の挿入による前記第２検査回路の導通によっ
て、端子の挿入量が正常かどうかを検知するようになっ
ている。
「実施例」および「作用」 以下、本考案の一実施例を示す第１図〜第３図に基づい
て詳しく説明する。即ち、本考案の端子挿入検査器１
は、共通の電気導通性円筒管の保持管４と前半部分に収
納されたプローブピン２と、保持管４の後半部分に収納
された第２検査ピン３が主要部をなし、プローブピン２
はピン前半部５を保持管４の前方へ若干量突き出すと共
に、保持管４に内設した付勢ばね６によって、突き出し
方向へ付勢されており、保持管４の前端のフランジ７に
よって突き出し前死点位置が規制され、かつ、付勢ばね
６によって弾性後退自在になっている。そして、このプ
ローブピン２は保持管４の内周と接触して電気的導通状
態に装着されると共に、ピン前半部５は、検査すべきコ
ネクタ１２の端子収容室１４の前端孔９に挿入可能の形
状を有している。
一方、第２検査ピン３は、絶縁部１０を介して保持管４
に保持した電気導通性の基管１１から突き出して、プロ
ーブピン２のピン後端８と対峠すると共に、プローブピ
ン２と同様に、その突き出し前死点位置が規制されると
共に、基管１１内の付勢ばね６によって、突き出し方向
へ付勢されて弾性後退自在であり、この第２検査ピン３
も、基管１１と接触して電気導通可能状態になってい
る。そして、以上のプローブピン２と第２検査ピン３
は、保持管４の軸心上に直列配列されて対向している。
さらに、以上の端子挿入検査器１には、検査対象の端子
挿入室１４へ挿入されるべき端子１３と保持管４をリー
ド線２０で接続した第１検査回路Ａと、同じく端子１３
と基管１１をリード線２０で接続した第２検査回路Ｂが
設けられている。即ち、この実施例のものは、端子１３
を圧着した電線１９からのリード線２０端のカプラー１
５と、保持管４・基管１１からのリード線２０端のカプ
ラー１６の接続によって、前記の第１・第２検査回路Ａ
・Ｂが構成され、プローブピン２のピン先が端子収容室
１４内の端子１３の前端に接触すると、第１検査回路Ａ
が導通して第１検査回路Ａの検知ランプ２２が点灯し、
プローブピン２と端子１３の接触状態のままプローブピ
ン２と第２検査ピン３が接触すると、第２検査回路Ｂが
導通して第２検査回路Ｂの検知ランプ２３が点灯するよ
うに構成されている。
以上の構成を有する端子挿入検査器１は、以下のように
使用されて作用する。即ち、検査対象となるコネクタ１
２の端子収容室１４の個個の前方に、端子挿入検査器１
を配設して検査器フレーム２４にセットし、プローブピ
ン２の前死点位置のピン前半部５を、端子収容室１４に
挿入すると共に、そのピン前半部５の挿入量Ｅを、端子
収容室１４へ挿入された端子１３の係止孔２１が、端子
収容室１４の係止爪１７に係止する前に、端子１３の前
端がプローブピン２に接触するように考量セットする。
そして、第３図参照、その挿入量Ｅを有するプローブピ
ン２が端子１３と接触した状態から、続いて前進する端
子１３の係止孔２１が係止爪１７と充分にかみ合って係
合する端子１３の前進ストロークＬに当る長さを、プロ
ーブピン２のピン後端８と第２検査ピン３間の対向空間
Ｆとしてセットする。
そして、そのセット状態の端子収容室１４に、端子１３
を挿入すると、第２図参照、端子１３が係止状態となる
までに、プローブピン２と端子１３が接触して第１検査
回路Ａが導通して検査ランプ２２が点灯する。かくし
て、そのランプが点灯したときは、当該端子収容室１４
に挿入された端子１３は、第１検査回路Ａを接続してい
る適正なものであり、ランプ不点灯のものは、不適正な
端子挿入のものとして的確に検知できる。
そして、第３図参照、端子１３が続いて前進すると、プ
ローブピン２が端子１３に押されて強制後退して対向空
間Ｆを縮め、端子１３が前記のストロークＬを満して、
係止孔２１と係止爪１７が充分にかみ合うと、端子１３
とプローブピン２が接触したままプローブピン２のピン
後端８と第２検査ピン３が接触して第２検査回路Ｂが導
通し、その回路Ｂの検知ランプ２３が点灯する。かくし
て、そのランプ点灯によって、端子１３が端子収容室１
４へ充分な挿入量を満した正常挿入であることと、端子
１３の導通性が検知される。そして、ランプ不点灯のも
のは挿入量不備としてチェックされる。
なお、本考案における前記の挿入量Ｅと対向空間Ｆは、
相互に相関関係を有し、かつ、端子収容室１４・端子１
３の形状・サイズで変動する変数となるので、検査対象
のコネクタと端子に応じて個別に設定される。そして、
第２検査ピン３の保持管４に対する取付け位置を調整可
能にして、対向空間Ｆを調整可能に構成し、多様な形状
・サイズのコネクタ・端子に、同一の端子挿入検査器が
共用できるようにすることがある。
「考案の効果」 以上の説明のとおり、本考案の端子挿入検査器は、端子
収容室内へ端子を挿入係止するコネクタにおいて、挿入
された端子が適正であるかどうかを、端子の係止前に的
確に検知することができるので、端子の誤挿入を未然防
止して端子品質の向上を図ると共に、誤挿入による従来
の煩雑な修正作業を無用にして、コネクタへの端子挿着
のコスト低減を促進し、さらに、その誤挿入防止と同時
に、端子の挿入量検知と導通性確認もできるので、単一
の検査器によって、能率的に検査し、コネクタへの端子
挿入の綜合品質の安定向上を図る効果がある。
【図面の簡単な説明】
第１図：本考案一実施例の端子挿入検査器を示す正面断
面図、第２図：第１図実施例の端子挿入検査器の作用状
態の正面断面図、第３図：第１図実施例の端子挿入検査
器の作用状態の正面断面図 主な符号 １：端子挿入検査器、２：プローブピン、
３：第２検査ピン、４：保持管、５：プローブピンの前
半部、６：付勢ばね、７：フランジ、８：ピン後端、
９：前端孔、１０：絶縁部、１２：コネクタ、１３：端
子、１４：端子収容室、１５・１６：カプラー、１７：
係止爪、１９：電線、２０：リード線、２１：係止孔、
２４：検査器フレーム、Ａ：第１検査回路、Ｂ：第２検
査回路、Ｅ：挿入量、Ｆ：対向空間、Ｌ：ストローク

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項１】保持管の前半部分に、ピン前半部を若干量
    突き出して、突き出し前死点位置を規制し、かつ、突き
    出し方向へ付勢されて弾性後退自在のプローブピンと、
    前記保持管の後半部分に、前死点位置を規制し、かつ、
    前方付勢されて弾性後退自在の第２検査ピンを、前記保
    持管の軸心に沿って直列配列して装着すると共に、前記
    プローブピンの後端と前記第２検査ピンの前端間に、所
    要量の対向空間を設け、さらに、前記プローブピンの前
    半部を、コネクタの端子収容室の前端孔に挿入可能形状
    になし、前記端子収容室へ挿入される端子と前記プロー
    ブピンの接触によって、前記プローブピンと前記端子間
    を導通する第１検知回路と、前記端子と前記プローブピ
    ンの接触状態における前記プローブピンと前記第２検査
    ピンの接触によって、前記端子と前記第２検査ピン間を
    導通する第２検査回路を設けた構造を特徴とする端子挿
    入検査器。
JP1987123056U 1987-08-10 1987-08-10 端子挿入検査器 Expired - Lifetime JPH0620314Y2 (ja)

Priority Applications (8)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1987123056U JPH0620314Y2 (ja) 1987-08-10 1987-08-10 端子挿入検査器
US07/230,302 US4849743A (en) 1987-08-10 1988-08-09 Device for determining placement of electrical connector terminals
CA000574196A CA1285024C (en) 1987-08-10 1988-08-09 Device for determining placement of electrical connector terminal
EP88112947A EP0303235B1 (en) 1987-08-10 1988-08-09 Device for detecting placement of electrical connector terminal
DE8888112947T DE3863716D1 (de) 1987-08-10 1988-08-09 Einrichtung zur anzeige der stellung eines elektrischen verbindungssteckers.
KR2019880013152U KR920002829Y1 (ko) 1987-08-10 1988-08-10 전기 접속기 단자의 위치 검사 및 표시 장치
CN88213088U CN2038677U (zh) 1987-08-10 1988-08-10 插接件插入检查器
MYPI88000953A MY107517A (en) 1987-08-10 1988-08-24 Device for detecting placement of electrical connector terminal.

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP1987123056U JPH0620314Y2 (ja) 1987-08-10 1987-08-10 端子挿入検査器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6427668U JPS6427668U (ja) 1989-02-17
JPH0620314Y2 true JPH0620314Y2 (ja) 1994-05-25

Family

ID=14851106

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP1987123056U Expired - Lifetime JPH0620314Y2 (ja) 1987-08-10 1987-08-10 端子挿入検査器

Country Status (8)

Country Link
US (1) US4849743A (ja)
EP (1) EP0303235B1 (ja)
JP (1) JPH0620314Y2 (ja)
KR (1) KR920002829Y1 (ja)
CN (1) CN2038677U (ja)
CA (1) CA1285024C (ja)
DE (1) DE3863716D1 (ja)
MY (1) MY107517A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1997018478A1 (fr) * 1995-11-14 1997-05-22 The Furukawa Electric Co., Ltd. Outil d'inspection de la borne male d'un connecteur

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH077682B2 (ja) * 1988-01-28 1995-01-30 マツダ株式会社 電気接続装置
JPH0668977B2 (ja) * 1989-08-03 1994-08-31 矢崎総業株式会社 圧接端子および圧接端子のハウジングへの誤挿入検出装置
US5213846A (en) * 1989-09-27 1993-05-25 Dai Nippon Toryo Co., Ltd. Corrison resistant coating composition
JP3010237B2 (ja) * 1990-09-06 2000-02-21 住友電装株式会社 コネクタの結合確認装置
JPH04186443A (ja) * 1990-11-21 1992-07-03 Canon Inc 情報処理装置
JP2503960Y2 (ja) * 1990-12-12 1996-07-03 矢崎総業株式会社 識別装置
US5142269A (en) * 1991-04-01 1992-08-25 Charles T. Rush Electronic component theft sensor and security system
JP2797934B2 (ja) * 1993-11-04 1998-09-17 住友電装株式会社 コネクタ及びコネクタ検査装置
US5859534A (en) * 1993-11-18 1999-01-12 Sumitomo Wiring Systems Connector examination and correction devices and methods examining and correcting same
SE9402297D0 (sv) * 1994-06-29 1994-06-29 Siemens Elema Ab Indikeringsanordning
JP2998885B2 (ja) * 1994-07-11 2000-01-17 矢崎総業株式会社 コネクタのスペーサ検知構造
US5574668A (en) * 1995-02-22 1996-11-12 Beaty; Elwin M. Apparatus and method for measuring ball grid arrays
JP3211932B2 (ja) * 1995-08-02 2001-09-25 矢崎総業株式会社 コネクタの検査方法およびコネクタ検査具
JPH0943299A (ja) * 1995-08-02 1997-02-14 Yazaki Corp コネクタ検査具
JP3355276B2 (ja) * 1996-05-20 2002-12-09 東洋電装株式会社 コネクタ装置
US5820406A (en) * 1996-07-29 1998-10-13 Hetherington; Michael Warnett Terminal and door latch for battery operated devices
US6915007B2 (en) 1998-01-16 2005-07-05 Elwin M. Beaty Method and apparatus for three dimensional inspection of electronic components
US6915006B2 (en) * 1998-01-16 2005-07-05 Elwin M. Beaty Method and apparatus for three dimensional inspection of electronic components
US6072898A (en) * 1998-01-16 2000-06-06 Beaty; Elwin M. Method and apparatus for three dimensional inspection of electronic components
DE60011443T2 (de) * 1999-07-28 2005-06-23 Sumitomo Wiring Systems, Ltd., Yokkaichi Vorrichtung zum Anzeigen der Drahteinführung
US6793401B2 (en) * 2002-08-22 2004-09-21 The Boeing Company System and method for assembling a bundle of conductors into a connector
US7030636B1 (en) 2005-05-02 2006-04-18 Fargo Assembly Company Low pin testing system
US8099857B2 (en) * 2008-02-09 2012-01-24 Cirris Systems Corporation Apparatus for electrical pin installation and retention confirmation
US9257808B1 (en) 2010-09-10 2016-02-09 Automated Wiring Systems, LLC Integrated wire harness batch production with double buffer assembly systems and methods
US8442664B1 (en) 2010-09-10 2013-05-14 Enovation Controls, Inc. Integrated wire harness batch production systems and methods
CN102147442B (zh) * 2011-01-14 2014-02-26 富泰华工业（深圳）有限公司 连接器检测治具
SI2654141T1 (sl) 2012-04-20 2015-02-27 Schleuniger Holding Ag Postopek in naprava za izdelavo vtiäśa
CN103308256B (zh) * 2013-05-30 2016-04-27 天津长城精益汽车零部件有限公司 一种胶圈止水检测机
US9274166B2 (en) * 2013-08-26 2016-03-01 Fujitsu Limited Pin verification device and method
JP6109027B2 (ja) * 2013-09-24 2017-04-05 古河電気工業株式会社 挿入作業補助装置及び挿入作業補助方法
US10845548B2 (en) 2015-07-01 2020-11-24 Go!Foton Holdings, Inc. Connector engagement sensing mechanism
EP3958408A1 (en) 2015-07-01 2022-02-23 Go!Foton Holdings, Inc. Connector engagement sensing mechanism
US20180072046A1 (en) * 2016-09-12 2018-03-15 M&R Printing Equipment, Inc. Alignment indicator for registration system
US11128086B2 (en) * 2018-05-11 2021-09-21 The Boeing Company Apparatus for contact insertion and retention testing

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3196424A (en) * 1963-09-30 1965-07-20 Thomas K C Hardesty Cable connector with monitored locking feature
DE2148782A1 (de) * 1971-09-30 1973-04-05 Bodenseewerk Geraetetech Mehrpoliger elektrischer steckkontakt
US3912889A (en) * 1974-02-14 1975-10-14 Bendix Corp Electrical connector having an internal switch
US4084875A (en) * 1975-01-10 1978-04-18 International Telephone And Telegraph Corporation Electrical connector
US3960428A (en) * 1975-04-07 1976-06-01 International Telephone And Telegraph Corporation Electrical connector
US4030029A (en) * 1975-08-14 1977-06-14 Cox C Eugene Harness assembly test system
US4214801A (en) * 1979-03-01 1980-07-29 Ford Motor Company Fuse holder with insertion ramp
US4462155A (en) * 1982-04-01 1984-07-31 Combustion Engineering, Inc. Pin locator
JPS60140160A (ja) * 1983-12-27 1985-07-25 Sumitomo Wiring Syst Ltd コネクタの端子検査器

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1997018478A1 (fr) * 1995-11-14 1997-05-22 The Furukawa Electric Co., Ltd. Outil d'inspection de la borne male d'un connecteur

Also Published As

Publication number Publication date
EP0303235B1 (en) 1991-07-17
KR890005349U (ko) 1989-04-18
EP0303235A2 (en) 1989-02-15
CA1285024C (en) 1991-06-18
MY107517A (en) 1996-03-15
US4849743A (en) 1989-07-18
CN2038677U (zh) 1989-05-31
EP0303235A3 (en) 1989-03-01
DE3863716D1 (de) 1991-08-22
KR920002829Y1 (ko) 1992-05-01
JPS6427668U (ja) 1989-02-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH0620314Y2 (ja) 端子挿入検査器
JP2871332B2 (ja) コネクタ検査装置
JP2797928B2 (ja) コネクタ検査装置
JP3029081B2 (ja) コネクタ検査具
US20030141878A1 (en) Continuity test unit and system
JP3085450B2 (ja) コネクタの端子金具検査器
JPH08334542A (ja) コネクタ検査具およびコネクタ
JP3010237B2 (ja) コネクタの結合確認装置
JPH0364877A (ja) 圧接端子および圧接端子のハウジングへの誤挿入検出装置
JP2001159654A (ja) コネクタ導通検査具
GB2290419A (en) Test and fault correction device for electrical connector
JPH09138261A (ja) コネクタの雄端子検査治具
JP2002124357A (ja) 検査ユニットおよびそれを用いたコネクタ検査装置
JP2797934B2 (ja) コネクタ及びコネクタ検査装置
JP2797919B2 (ja) コネクタ検査装置
JP3935119B2 (ja) ワイヤハーネス用検査治具の検査ピン及びワイヤハーネス用検査治具
JP2606400Y2 (ja) コネクタ検査具
JPH07130441A (ja) コネクタ検査装置
JP2001176595A (ja) コネクタ
JPH08264254A (ja) コネクタ端子検出具及びコネクタ端子検出方法
JP2568609Y2 (ja) コネクタ検査装置
JP3575379B2 (ja) 導通検査装置
JP3061240B2 (ja) コネクタ端子検査治具
JP3355276B2 (ja) コネクタ装置
JPH07248351A (ja) コネクタ検査装置