KR100936057B1 - 외장형 메모리 카드용 실장검사 장치 - Google Patents

외장형 메모리 카드용 실장검사 장치 Download PDF

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Abstract

외장형 메모리 카드용 실장검사 장치가 개시된다. 본 발명에 따른 외장형 메모리 카드용 실장검사 장치는, 외장형 메모리 카드(200)의 상부에서 인가되는 소정의 압력에 의하여 외장형 메모리 카드(200)를 메모리 카드 소켓(300)에 장착하여 외장형 메모리 카드(200)의 성능 검사를 수행하는 검사장치로서, 메모리 카드 소켓(300)은 외장형 메모리 카드(200)의 복수개의 제1 핀(210)에 대응하는 복수개의 제2 핀(310)을 포함하고, 메모리 카드 소켓(300)에 외장형 메모리 카드(200)의 장착 여부를 임의의 제1 핀(211)과 이에 대응하는 임의의 제2 핀(311a, 311b)의 접촉 여부에 따라 판단하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 따르면, 외장형 메모리 카드(200)의 상부에서 소정의 압력을 인가하여 실장검사 장치(10)의 메모리 카드 소켓(300)에 외장형 메모리 카드(200)를 장착하는 방식을 취함으로써 SD 어댑터를 사용하지 않아도 용이하게 외장형 메모리 카드의 실장검사를 수행할 수 있다.
외장형 메모리 카드, 실장검사 장치, 메모리 카드 소켓

Description

외장형 메모리 카드용 실장검사 장치{Mounted Testing Device For External Memory Card}
본 발명은 외장형 메모리 카드용 실장검사 장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는, 외장형 메모리 카드가 사용되는 핸드폰 등과 같은 장치의 실제 동작 환경에서 메모리 카드의 성능을 검사할 수 있도록 하는 외장형 메모리 카드용 실장검사 장치에 관한 것이다.
최근 핸드폰, 디지털 카메라, 핸드헬드 컴퓨터, PDA, GPS 등과 같은 휴대용 장치의 기능이 다양해짐에 따라 이들 장치의 기억 용량을 획기적으로 높일 수 있는 외장형 메모리 카드에 대한 수요가 급증하고 있다.
SD 카드는 마쯔시타, 샌디스크와 도시바가 휴대용 장치에 사용하기 위해 개발한 플래시(비휘발성) 메모리 카드로서 2007년 기준으로 8 MB 내지 16 GB 범위의 용량을 갖는 SD 카드가 시판되고 있다. 특히 SD 카드 중에서 핸드폰과 같은 소형 휴대용 장치에 삽입하여 사용할 수 있는 것을 마이크로 SD 카드라고 한다.
이러한 마이크로 SD 카드는 회로 설계, 메모리 제조, 조립 공정 등의 제작 과정을 거쳐 완성되는데, 완성된 마이크로 SD 카드는 핸드폰과 같은 장치에 사용되 기 전에 전기적 성능과 신뢰성을 검사하는 검사 공정을 거치게 된다.
한편, 상기의 검사 공정을 거쳐 양품으로 판정된 마이크로 SD 카드라고 하더라도 마이크로 SD 카드의 실제 사용 환경에서는 얼마던지 불량품으로 판정될 가능성이 있다. 따라서, 실제 사용 환경 하에서 마이크로 SD 카드의 성능을 검사해 볼 필요성이 대두되어 왔고 이를 위한 마이크로 SD 카드용 실장검사 장치가 개발된 바 있다.
도 1은 종래의 마이크로 SD 카드용 실장검사 장치의 구성을 나타내는 도면이다.
도시한 바와 같이, 종래의 마이크로 SD 카드용 실장검사 장치는 메모리 카드 소켓(100)에 SD 카드 어댑터(SD card adapter, 110)를 매개로 마이크로 SD 카드(120)를 삽입하는 방식을 취하고 있다. 즉, 종래의 마이크로 SD 카드용 실장검사 장치에서는 마이크로 SD 카드(120)의 크기가 워낙 작아서 실장검사 장치에 마이크로 SD 카드를 직접 장착하기가 어려운 관계로 마이크로 SD 카드(120)를 SD 카드 어댑터(110)에 장착한 후 이를 다시 메모리 카드 소켓(100)에 삽입하여 실장검사를 수행하여 왔다.
그러나, 종래의 방식은 별도의 SD 카드 어댑터를 사용해야 하기 때문에 검사 과정이 불편하고 검사 비용이 많이 드는 문제점이 있었다. 또한, 종래의 방식은 SD 카드 어댑터(110)에 의해 마이크로 SD 카드(120)의 NAND 핀이 가려지기 때문에 실장검사 장치가 마이크로 SD 카드(120)의 NAND 핀에 컨택할 수가 없어서 상기 NAND 핀을 통해서만 수행할 수 있는 검사 자체가 불가능하여 실장검사의 신뢰성이 떨어지는 문제점이 있었다.
이에 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, SD 카드 어댑터를 이용하지 않고서도 마이크로 SD 카드의 실장검사를 수행할 수 있어서 검사 과정이 간단하고 검사 비용이 적게 드는 외장형 메모리 카드용 실장검사 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
또한, 본 발명은 SD 카드 어댑터를 이용하지 않고서도 마이크로 SD 카드의 실장검사를 수행할 수 있어서 실장검사 장치와 마이크로 SD 카드의 NAND 핀간의 컨택이 가능하여 실장검사의 신뢰성이 향상되는 외장형 메모리 카드용 실장검사 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 외장형 메모리 카드용 실장검사 장치는 외장형 메모리 카드의 상부에서 인가되는 소정의 압력에 의하여 상기 외장형 메모리 카드를 메모리 카드 소켓에 장착하여 상기 외장형 메모리 카드의 성능 검사를 수행하는 외장형 메모리 카드용 실장검사 장치로서, 상기 메모리 카드 소켓은 상기 외장형 메모리 카드의 복수개의 제1 핀에 대응하는 복수개의 제2 핀을 포함하고, 상기 메모리 카드 소켓에 상기 외장형 메모리 카드의 장착 여부를 상기 임의의 제1 핀과 이에 대응하는 상기 임의의 제2 핀의 접촉 여부에 따라 판단하는 것을 특징으로 한다.
상기 메모리 카드 소켓은 상기 외장형 메모리 카드의 복수개의 제3 핀에 대 응하는 복수개의 제4 핀을 포함할 수 있다.
상기 임의의 제2 핀은 한 쌍의 제1 돌출핀과 제2 돌출핀을 포함할 수 있다.
상기 제1 돌출핀은 상기 제2 돌출핀보다 높이가 낮을 수 있다.
상기 임의의 제1 핀과 이에 대응하는 상기 임의의 제2 핀의 제1 돌출핀 및 제2 돌출핀이 접촉하였을 때 상기 외장형 메모리 카드가 상기 메모리 카드 소켓에 최종 장착된 것으로 판단할 수 있다.
상기 소정의 압력을 인가함에 따라 상기 임의의 제1 핀과 이에 대응하는 상기 임의의 제2 핀의 제1 돌출핀 및 제2 돌출핀이 접촉하고 상기 제1 돌출핀과 상기 제2 돌출핀은 전기적으로 연결되며, 상기 제2 돌출핀은 접지용 핀인 것이 바람직하다.
본 발명에 따르면, SD 카드 어댑터를 이용하지 않고서도 마이크로 SD 카드의 실장검사를 수행할 수 있어서 검사 과정이 간단하고 검사 비용이 적게 드는 효과가 있다.
또한, 본 발명에 따르면, 실장검사 장치와 마이크로 SD 카드의 NAND 핀간의 컨택이 가능하여 실장검사의 신뢰성이 향상되는 효과가 있다.
후술하는 본 발명에 대한 상세한 설명은, 본 발명이 실시될 수 있는 특정 실시예를 예시로서 도시하는 첨부 도면을 참조한다. 이들 실시예는 당업자가 본 발명을 실시할 수 있기에 충분하도록 상세히 설명된다. 본 발명의 다양한 실시예는 서로 다르지만 상호 배타적일 필요는 없음이 이해되어야 한다. 예를 들어, 여기에 기재되어 있는 특정 형상, 구조 및 특성은 일 실시예에 관련하여 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 다른 실시예로 구현될 수 있다. 또한, 각각의 개시된 실시예 내의 개별 구성요소의 위치 또는 배치는 본 발명의 정신 및 범위를 벗어나지 않으면서 변경될 수 있음이 이해되어야 한다. 따라서, 후술하는 상세한 설명은 한정적인 의미로서 취하려는 것이 아니며, 본 발명의 범위는, 적절하게 설명된다면, 그 청구항들이 주장하는 것과 균등한 모든 범위와 더불어 첨부된 청구항에 의해서만 한정된다. 도면에서 유사한 참조부호는 여러 측면에 걸쳐서 동일 또는 유사한 기능을 지칭한다.
이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하기로 한다.
도 2a 내지 도 2e는 본 발명의 일 실시예에 따른 마이크로 SD 카드용 실장검사 장치(10)의 구성을 나타내는 도면이다.
도 2a는 마이크로 SD 카드(200)의 전체적인 외관을 나타내는 도면이다. 도시한 바와 같이, 마이크로 SD 카드(200)는 실장검사의 대상으로서 7개의 제1 핀(210; SD card 핀)과 20개의 제3 핀(220; NAND 핀)이 노출되어 있다. 참고로 도 2a는 마이크로 SD 카드(200)가 실장검사 장치(10)에 장착될 때의 외관을 나타낸 이나 설명의 편의상 제1 핀과 제3 핀이 보이는 것으로 상정한 도면이다. 마이크로 SD 카드(200)의 제1 핀과 제3 핀의 개수 및 각 핀의 기능에 대해서는 국제 표준 규 격에 의해 정해져 있으므로 본 명세서에서는 이에 대한 상세한 설명을 생략하기로 한다.
마이크로 SD 카드(200)의 제1 핀(210)과 제3 핀(220)의 재질은 구리로 되어 있다.
한편, 도 2a에서 마이크로 SD 카드(200)의 제1 핀(210) 중 왼쪽에서 세 번째 핀(211)은 마이크로 SD 카드(200)가 실장검사 장치(10)에 정상적으로 장착되었는지를 판단하는 데에 사용되는 핀이다.
도 2b는 실장검사 장치(10)의 메모리 카드 소켓(300)의 전체적인 외관을 나타내는 도면이다. 도시한 바와 같이, 메모리 카드 소켓(300)은 마이크로 SD 카드(200)가 실제로 장착되는 몸체로서 14개의 제2 핀(310; SD card 핀)과 한 쌍의 20개의 제4 핀(320; NAND 핀)이 노출되어 있다.
마이크로 SD 카드(200)가 메모리 카드 소켓(300)에 정상적으로 장착되면 마이크로 SD 카드(200)의 7개의 제1 핀(210)은 메모리 카드 소켓(300)의 14개의 제2 핀(310)에 각각 대응되어 컨택된다. 이때 1개의 제1 핀(210)당 2개의 제2 핀(310)이 대응되어 컨택된다.
또한, 마이크로 SD 카드(200)의 20개의 제3 핀(220)은 메모리 카드 소켓(300)의 20개의 제4 핀(320)에 각각 대응되어 컨택된다. 이때 20개의 제3 핀(220)은 한 쌍의 20개의 제4 핀(320) 중 어느 한 쪽의 20개의 제4 핀(320)과 컨택된다. 한편, 마이크로 SD 카드(200)의 20개의 제3 핀(220)과 컨택되지 않는 나머지 한 쪽의 20개의 제4 핀(320)은 실제 실장검사에 필요하지 않은 핀으로서 마이 크로 SD 카드(200)가 수평을 유지하면서 메모리 카드 소켓(300)에 장착되게 하는 역할을 한다.
메모리 카드 소켓(300)의 제3 핀(310)과 제 4핀(320)의 재질은 납, 구리 등과 같은 도전성 물질인 것이 바람직하나 반드시 이에 한정되지 않는다.
한편, 도 2b에서 메모리 카드 소켓(200)의 제3 핀(310) 중 왼쪽에서 세 번째 열의 제1 돌출핀(311a)과 제2 돌출핀(311b)은 마이크로 SD 카드(200)가 실장검사 장치(10)에 정상적으로 장착되었는지를 판단하는 데에 사용되는 핀이다.
도 2c는 메모리 카드 소켓(300)을 포함하는 소켓 베이스(400)의 외관을 나타내는 도면이다. 도 4 및 도 5를 참조하면, 마이크로 SD 카드용 실장검사 장치(10)에는 도 2c에 도시된 바와 같은 소켓 베이스(400)가 복수개 설치되어 있으며, 본 발명에서는 소켓 베이스(400)에 포함된 메모리 카드 소켓(300)에 마이크로 SD 카드(200)를 장착하여 복수개의 마이크로 SD 카드(200)에 대하여 동시에 실장검사를 수행하게 된다.
도 2d는 소켓 베이스(400)에 포함된 메모리 카드 소켓(300)에 마이크로 SD 카드(200)가 장착된 모양을 나타낸 도면으로서, 상술한 바와 같은 마이크로 SD 카드(200)의 제1 핀(210)과 제3 핀(220)이 메모리 카드 소켓(300)의 제2 핀(310)과 제4 핀(320)에 각각 대응하여 컨택됨을 확인할 수 있다.
도 2e는 도 2d의 'A' 부분을 상세하게 나타낸 도면이다. 'A' 부분은 마이크로 SD 카드(200)의 7개의 제1 핀(210)과 메모리 카드 소켓(300)의 14개의 제3 핀(310)이 1개의 제1 핀(210)마다 2개의 제3 핀(310)이 컨택되는 모양을 나타내고 있다. 이 컨택 과정에서 제1 핀(210) 중 왼 쪽에서 세 번째 핀(211)과 제3 핀(310) 중 왼쪽에서 세 번째 열의 제1 돌출핀(311a)과 제2 돌출핀(311b)이 컨택된다.
본 발명에서는 도 2a와 도 2b에서 설명한 바와 같이 마이크로 SD 카드(200)의 제1 핀(211)과 메모리 카드 소켓(300)의 제1 돌출핀(311a) 및 제2 돌출핀(311b)이 동시에 컨택되는 경우에 마이크로 SD 카드(200)가 실장검사 장치(10)에 정상적으로 장착되었다고 판단하는 것을 특징적 구성으로 한다.
이를 위하여 본 발명은 도 3a와 도 3b와 같은 과정을 거친다. 도 3a 및 도 3b는 마이크로 SD 카드(200)의 제1 핀(211)과 메모리 카드 소켓(300)의 제1 돌출핀(311a) 및 제2 돌출핀(311b)의 컨택 과정을 나타내는 도면이다.
먼저, 도 3a를 참조하면, 마이크로 SD 카드(200)가 메모리 카드 소켓(300)에 정상적으로 장착되지 못하는 경우에, 마이크로 SD 카드(200)의 제1 핀(211)은 메모리 카드 소켓(300)의 제1 돌출핀(311a)에는 컨택되지 않고 제2 돌출핀(311b)에만 컨택된다. 이를 위하여, 메모리 카드 소켓(300) 제조시 처음부터 제1 돌출핀(311a)의 높이가 제2 돌출핀(311b)보다 크도록 하는 것이 바람직하다.
도 3a의 상태에서, 마이크로 SD 카드(200)의 상부에서 메모리 카드 소켓(300)을 향하여 소정의 압력을 인가하면 마이크로 SD 카드(200)의 제1 핀(211)은 메모리 카드 소켓(300)의 제1 돌출핀(311a) 및 제2 돌출핀(311b)과 모두 컨택되며(도 3b 참조), 도 3b의 상태가 되면 실장검사 장치(10)는 마이크로 SD 카드(200)가 메모리 카드 소켓(300)에 정상적으로 장착된 것으로 판단하고 본격적인 실장검사를 수행할 수 있는 상태가 된다.
도 3b의 상태에서 제1 돌출핀(311a)과 제2 돌출핀(311b)은 제1 핀(211)을 매개로 전기적으로 연결되며, 제1 돌출핀(311a)과 제2 돌출핀(311b)의 전기적 연결(통전) 여부를 검출하여 마이크로 SD 카드(200)의 정상적인 장착 여부를 판단한다. 이를 위하여 특히 제2 돌출핀(311b)은 메모리 카드 소켓(300)에 통상적으로 설치하게 마련인 접지용 핀인 것이 바람직하다.
한편 상기 소정의 압력은 도 5와 같은 실장검사 장치(10) 내부에 장착된 가압 수단(미도시)을 이용하여 인가되도록 하는 것이 바람직하나 마이크로 SD 카드(200)의 장착 과정에서 인위적인 힘을 이용하여도 무방하다.
상술한 바와 같은 본 발명에 따른 마이크로 SD 카드용 실장검사 장치는 다음과 같은 장점이 있다.
(i) 종래의 방식과는 달리 SD 카드 어댑터를 사용하지 않기 때문에 마이크로 카드의 실장검사 과정이 간편해지고 SD 카드 어댑터의 사용에 따른 불필요한 비용의 발생을 억제할 수 있다.
(ii) 종래의 방식은 SD 카드 어댑터를 사용하지 않기 때문에 마이크로 SD 카드의 NAND 핀이 메모리 카드 소켓의 검출핀과 컨택될 수가 있어서 NAND 핀을 매개로 하는 실장검사가 가능하여 실장검사의 신뢰성이 향상되고 보다 정확한 실장검사를 수행할 수 있다.
도 1은 종래의 마이크로 SD 카드용 검사장치의 구성을 나타내는 도면.
도 2a 내지 도 2e는 본 발명의 일 실시예에 따른 마이크로 SD 카드용 실장검사 장치의 구성을 나타내는 도면.
도 3a 및 도 3b는 마이크로 SD 카드의 제1 핀과 메모리 카드 소켓의 제1 돌출핀 및 제2 돌출핀의 컨택 과정을 나타내는 도면.
도 4 및 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 마이크로 SD 카드용 실장검사 장치의 전체적인 외관을 나타내는 도면.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
10: 마이크로 SD 카드용 실장검사 장치
200: 마이크로 SD 카드
210: 마이크로 SD 카드의 제1 핀 (SD card 핀)
220: 마이크로 SD 카드의 제3 핀(NAND 핀)
300: 메모리 카드 소켓
310: 메모리 카드 소켓의 제2 핀 (SD card 핀)
311a, 311b: 메모리 카드 소켓의 제1 및 제2 돌출핀
320: 메모리 카드 소켓의 제4 핀 (NAND 핀)
400: 소켓 베이스

Claims (8)

  1. 외장형 메모리 카드의 상부에서 인가되는 소정의 압력에 의하여 상기 외장형 메모리 카드를 메모리 카드 소켓에 장착하여 상기 외장형 메모리 카드(200)의 성능 검사를 수행하는 외장형 메모리 카드용 실장검사 장치로서,
    상기 메모리 카드 소켓은 상기 외장형 메모리 카드의 복수개의 제1 핀에 대응하는 복수개의 제2 핀을 포함하고,
    상기 메모리 카드 소켓에 상기 외장형 메모리 카드의 장착 여부를 상기 임의의 제1 핀과 이에 대응하는 상기 임의의 제2 핀의 접촉 여부에 따라 판단하는 것을 특징으로 하는 외장형 메모리 카드용 실장검사 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 메모리 카드 소켓은 상기 외장형 메모리 카드의 복수개의 제3 핀에 대응하는 복수개의 제4 핀을 포함하는 것을 특징으로 하는 외장형 메모리 카드용 실장검사 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 임의의 제2 핀은 한 쌍의 제1 돌출핀과 제2 돌출핀을 포함하는 것을 특징으로 하는 외장형 메모리 카드용 실장검사 장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제1 돌출핀은 상기 제2 돌출핀보다 높이가 낮은 것을 특징으로 하는 외장형 메모리 카드용 실장검사 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 임의의 제1 핀과 이에 대응하는 상기 임의의 제2 핀의 제1 돌출핀 및 제2 돌출핀이 접촉하였을 때 상기 외장형 메모리 카드가 상기 메모리 카드 소켓에 최종 장착된 것으로 판단하는 것을 특징으로 하는 외장형 메모리 카드용 실장검사 장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 소정의 압력을 인가함에 따라 상기 임의의 제1 핀과 이에 대응하는 상기 임의의 제2 핀의 제1 돌출핀 및 제2 돌출핀이 접촉하고 상기 제1 돌출핀과 상기 제2 돌출핀은 전기적으로 연결되는 것을 특징으로 하는 외장형 메모리 카드용 실장검사 장치.
  7. 제3항에 있어서,
    상기 제2 돌출핀은 접지용 핀인 것을 특징으로 하는 외장형 메모리 카드용 실장검사 장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 소정의 압력을 인가하는 가압 수단을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 외장형 메모리 카드용 실장검사 장치.
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