CN112394206A - 测试针组件及测试装置 - Google Patents

Abstract

本申请提供测试针组件及测试装置。其中，测试针组件包括针床及多个测试针，针床具有多个阵列排布的第一容纳孔；每个测试针具有针体以及形成在针体一端的针头；每个针体固定在一个第一容纳孔中，针头凸出于针床设置，且针头用于与板对板连接器的引脚连接；以垂直于针体延伸方向的截面为横截面，在针头的每个横截面中，针头沿长度方向的最大尺寸大于该针头沿宽度方向的最大尺寸，以使任意相邻两个针头之间具有间隔，使得测试针组件可以直接测试BTB连接器的引脚，无需在电路板上设置测试点，节省了PCB布局面积，简化了PCB结构，加工简单。可以在保证相邻两个测试针在宽度方向互不接触同时，增加针头沿长度方向的尺寸，避免针头弯曲或折断。

Description

测试针组件及测试装置

技术领域

本申请涉及电路板测试技术领域，尤其涉及一种测试针组件及测试装置。

背景技术

随着电子设备技术的发展，板对板(board to board，BTB)连接器在移动终端(如智能手机、平板电脑等)中的应用也越来越广泛。BTB连接器可以设置在印制电路板(Printed Circuit Board，PCB)中，通过BTB连接器之间的配合可以实现多个PCB之间的连接。为了保证PCB与PCB之间的连接有效性，需要对PCB中的BTB连接器的部分引脚进行测试，以保证其可以有效地传递电信号。

目前，常用的测试方法是在PCB中设置连接BTB连接器引脚的测试点，通过检测测试点处的信号来判断BTB连接器是否可靠性。

但是，该测试方法需要在PCB上单独开辟一块区域来设置测试点，导致PCB加工复杂且浪费PCB的布局空间。

发明内容

本申请实施例提供一种测试针组件及测试装置，以解决PCB加工复杂且浪费布局空间的问题。

本申请实施例提供一种测试针组件，包括：

针床，所述针床具有多个阵列排布的第一容纳孔。

多个测试针，每个所述测试针具有针体以及形成在所述针体一端的针头；每个所述针体固定在一个所述第一容纳孔中，所述针头凸出于所述针床设置，且所述针头用于与板对板连接器的引脚连接。

以垂直于所述针体延伸方向的截面为横截面，在所述针头的每个横截面中，所述针头沿长度方向的最大尺寸大于该针头沿宽度方向的最大尺寸，以使任意相邻两个针头之间具有间隔。

如上所述的测试针组件，其中，所述针头包括与所述针体连接的第一等截面段，所述第一等截面段的横截面面积处处相等，且所述第一等截面段沿所述长度方向的两侧分别用于抵靠在板对板母端器件的引脚凹槽相对的两个侧壁上。

如上所述的测试针组件，其中，所述第一等截面段的横截面形状为第一椭圆形。

如上所述的测试针组件，其中，所述针头还包括第一变截面段。

所述第一变截面段形成在所述第一等截面段背离所述针体的一端，且所述第一变截面段靠近所述针体一端的横截面形状与所述第一等截面段的横截面形状相同。

所述第一变截面段的横截面面积从靠近所述针体的一端向远离所述针体的一端逐渐减小。

如上所述的测试针组件，其中，所述第一等截面段沿所述长度方向的两侧分别凸出于所述针体沿所述长度方向的两侧。

如上所述的测试针组件，其中，所述针体沿所述宽度方向的两侧分别凸出于所述第一等截面段沿所述宽度方向的两侧。

如上所述的测试针组件，其中，所述测试针组件还包括设置在所述针床上的电路板，所述电路板上具有与所述第一容纳孔连接的第二容纳孔。

所述针体背离所述针头的一端还形成有固定在所述第二容纳孔中的针尾；所述针尾与所述电路板电连接。

如上所述的测试针组件，其中，在所述针尾的每个横截面中，所述针尾沿所述长度方向的最大尺寸大于该针尾沿所述宽度方向的最大尺寸。

如上所述的测试针组件，其中，所述针尾包括与所述针体连接的第二等截面段，所述第二等截面段的横截面面积处处相等。

如上所述的测试针组件，其中，所述第二等截面段的横截面形状为第二椭圆形。

如上所述的测试针组件，其中，所述针尾还包括第二变截面段，所述第二变截面段形成在所述第二等截面段背离所述针体的一端，且所述第二变截面段靠近所述针体一端的横截面形状与所述第二等截面段的横截面形状相同，所述第二变截面段的横截面面积从靠近所述针体的一端向远离所述针体的一端逐渐减小。

如上所述的测试针组件，其中，所述针体的侧面凸出于所述针尾的侧面，其中，所述针体的侧面为所述针体的各横截面边缘形成的表面，所述针尾的侧面为所述针尾的各横截面边缘形成的表面。

如上所述的测试针组件，其中，所述针体为圆柱体。

如上所述的测试针组件，其中，所述电路板背离所述针床的表面设有柔性电路板，所述柔性电路板上设置有用于穿设所述针尾的第三容纳孔。

本申请实施例提供一种测试装置，包括测试仪表以及如上所述的测试针组件，所述测试仪表与所述测试针组件的测试针电连接。

本申请实施例提供的测试针组件及测试装置，通过设置针床及多个测试针，针床具有多个阵列排布的第一容纳孔；每个测试针具有针体以及形成在针体一端的针头；每个针体固定在一个第一容纳孔中，针头凸出于针床设置，且针头用于与板对板连接器的引脚连接；以垂直于针体延伸方向的截面为横截面，在针头的每个横截面中，针头沿长度方向的最大尺寸大于该针头沿宽度方向的最大尺寸，以使任意相邻两个针头之间具有间隔，使得测试针组件可以直接测试BTB连接器的引脚，无需在电路板上设置测试点，节省了PCB布局面积，简化了PCB结构，加工简单。另外，使针头沿长度方向的最大尺寸大于该针头沿宽度方向的最大尺寸，还可以在保证相邻两个测试针在宽度方向互不接触的基础上，增加针头沿长度方向的尺寸，提高针头强度，避免针头弯曲或折断。另外，当测试不同引脚数的BTB连接器，整个测试针组件可以作为模组更换，简化产线维护。

附图说明

以下结合附图对本申请的具体实施方式进行详细说明，应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本申请，本申请不局限于下述的具体实施方式。

图1为BTB母端器件的结构示意图；

图2为图1中A-A向的局部剖视图；

图3为本申请实施例中测试针组件的主视图；

图4为本申请实施例中测试针组件的俯视图；

图5为本申请实施例中测试针组件的顶视图；

图6为图3中测试针的主视图；

图7为图3中测试针的左视图；

图8为针头与BTB母端器件的配合示意图；

图9为图8中B-B向的局部剖视图。

附图标记：

100：针床；

200：测试针；

210：针体；

220：针头；

221：第一等截面段；

222：第一变截面段；

230：针尾；

231：第二等截面段；

232：第二变截面段；

300：电路板；

400：柔性电路板；

500：BTB母端器件；

510：引脚凹槽；

520：侧壁；

L：长度方向；

W：宽度方向。

具体实施方式

以下结合附图对本申请的具体实施方式进行详细说明，应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本申请，本申请不局限于下述的具体实施方式。

图1为BTB母端器件的结构示意图；图2为图1中A-A向的局部剖视图；图3为本申请实施例中测试针组件的主视图；图4为本申请实施例中测试针组件的俯视图；图5为本申请实施例中测试针组件的顶视图；图6为图3中测试针的主视图；图7为图3中测试针的左视图；图8为针头与BTB母端器件的配合示意图；图9为图8中B-B向的局部剖视图。图中箭头L所指的方向为长度方向，箭头W所指的方向是宽度方向。

请参考图1至图9，本实施例提供一种测试针组件，包括：针床100，针床100具有多个阵列排布的第一容纳孔。多个测试针200，每个测试针200具有针体210以及形成在针体210一端的针头220；每个针体210固定在一个第一容纳孔中，针头220凸出于针床100设置，且针头220用于与板对板连接器的引脚连接。以垂直于针体210延伸方向的截面为横截面，在针头220的每个横截面中，针头220沿长度方向L的最大尺寸大于该针头220沿宽度方向W的最大尺寸，以使任意相邻两个针头220之间具有间隔。

具体地，测试针组件可以用于多引脚器件的信号测试，尤其可以用于板对板(board to board，BTB)的信号测试。对于手机等移动终端，为了实现其功能，通常设置有多个印制电路板(Printed Circuit Board，PCB)，BTB连接器主要用于各个PCB之间的连接。

参考图1和图2，BTB连接器包括BTB母端器件500和BTB公端器件。BTB母端器件500上设置环形凹槽，环形凹槽上下两段内分别设置有多个由金属片制成的引脚，每个引脚围成“U”字形的引脚凹槽510。

相应地，BTB公端器件上设置有能够插入环形凹槽的环形凸起，环形凸起上设置有分别与多个引脚凹槽510相接触的多个引脚。当BTB公端器件与BTB母端器件500相配合时，环形凸起插入环形凹槽中，实现BTB公端器件的引脚与BTB母端器件500的引脚相接触，以传递电信号。

可以理解，测试针组件可以用于BTB公端器件和BTB母端器件500的测试。以下实施例以BTB母端器件500为例进行说明。

请参考图3至图5，测试针组件可以包括针床100，针床100可以用于安装测试针200，针床100由不导电的材质，例如塑料等构成。针床100上可以设置有多个阵列排布的第一容纳孔。第一容纳孔的排列可以根据待测BTB连接器的待测引脚的排列进行设置，例如，图1中，BTB母端器件500具有20个引脚，这些引脚排列成两行十列，针床100上的第一容纳孔也可以排列成两行十列，使得每个第一容纳孔可以正对应每个引脚凹槽510。

第一容纳孔的形状可以有多种，例如，其横截面可以为方形、椭圆形等多种结构。又例如，针体210为圆柱体，从而方便加工针床100。

参考图6至图7，测试针200可以包括针体210和设置在针体210一端的针头220，针体210可以固定在第一容纳孔中，两者的固定方式可以有多种，例如，针体210可以通过粘接剂粘接在第一容纳孔中，又或者针体210可以通过过盈配合固定在第一容纳孔中，具体可以根据实际情况进行设置。

优选地，针体210沿其轴向的尺寸可以等于第一容纳孔沿轴向的尺寸，提高针体210和针床100之间的固定强度，避免测试针200在测试过程中弯折。针头220可以突出与针床100的底端，从而方便与BTB连接器的引脚连接。

以垂直于针体210延伸方向的截面为横截面，在针头220的每个横截面中，针头220沿长度方向L的最大尺寸大于该针头220沿宽度方向W的最大尺寸，使得针头220为扁状。例如，针头220的横截面可以为长方形。

参考图8至图9，可以理解，对于BTB母端器件500的每一行中的多个引脚，每个引脚凹槽510沿宽度方向W的尺寸小于其沿长度方向L的尺寸。当针头220插入引脚凹槽510中时，针头220的长度方向L与引脚凹槽510的长度方向L重合，针头220的宽度方向W与引脚凹槽510的宽度方向W重合，针头220沿长度方向L的两侧分别抵靠在BTB母端器件500的引脚凹槽510相对的两个侧壁520上，使得针头220可以与该引脚保持电连接。并且，由于相邻两个引脚凹槽510的中心之间的尺寸较小，针头220沿宽度方向W的最大尺寸小于其沿长度方向L的最大尺寸，可以保证每行中的多个针头220可以互不接触，避免了相邻两个针头220之间电连接而影响测试结果。同时，还可以提高测试针200的强度，不易弯折。另外，通过将针体210固定于针床100中，可以避免测试针200在测试过程中转动而与相邻的测试针200接触，提高了测试可靠性。

在测试过程中，可以将测试针200与测试仪表例如电流表等连接，然后将测试针组对准BTB母端器件500，将各个针头220插入各个相对的引脚凹槽510中，使得BTB母端器件500的引脚可以与测试仪表电连接。通过驱动PCB并检测该BTB母端器件500的引脚是否有电流通过，来判断PCB是否正常工作。

可以理解，现有技术中为了测试BTB连接器的引脚，通常会在PCB上单独开辟一块区域来设置测试点，每个测试点可以与一个引脚连接，从而测试测试点上的电信号来判断BTB连接器的引脚中是否有电信号。该方式需要占用PCB的布局空间，不利于减小PCB的体积，同时由于需要在PCB上单独设置测试点，加工复杂，成本高。而针对BTB公端器件的测试，目前有采用微针进行测试的方式，微针为圆柱形，其包括两个部分，其中一个部分为空心结构，另一个部分为圆柱形，其可以在空心结构部分伸缩，从而实现其与BTB公端器件的引脚连接，但是该种微针有一部分为空心结构，强度低，结构复杂、成本较高，另外，为了避免相邻两个微针接触，微针的直径做的较小，在测试过程中微针容易折断。本实施例提供的测试针组件可以直接测试BTB连接器的引脚，从而取消PCB的测试点，简化了PCB的结构，且可以节省PCB布局空间，减小PCB体积。另外，还能在保证每行中的多个针头220可以互不接触同时，使测试针200为实心结构，提高了其强度，不易弯折或折断。

另外，测试针组件也可以用于BTB公端器件的测试，BTB公端器件在测试时，可以使得针头220的末端抵靠在BTB公端器件的引脚上，同样可以保证相邻两个测试针200无连接，测试结果可靠。因此，本实施例的测试针组件既可以适用于BTB母端器件，也可以适用于BTB公端器件，通用性高。

本实施例提供的测试针组件，通过设置针床及多个测试针，针床具有多个阵列排布的第一容纳孔；每个测试针具有针体以及形成在针体一端的针头；每个针体固定在一个第一容纳孔中，针头凸出于针床设置，且针头用于与板对板连接器的引脚连接；以垂直于针体延伸方向的截面为横截面，在针头的每个横截面中，针头沿长度方向L的最大尺寸大于该针头沿宽度方向的最大尺寸，以使任意相邻两个针头之间具有间隔，使得测试针组件可以直接测试BTB连接器的引脚，无需在PCB上设置测试点，节省了PCB布局面积，简化了PCB结构，加工简单。另外，使针头沿长度方向的最大尺寸大于该针头沿宽度方向的最大尺寸，还可以在保证相邻两个测试针在宽度方向互不接触的基础上，增加针头沿长度方向的尺寸，提高针头强度，避免针头弯曲或折断。另外，当测试不同引脚数的BTB连接器，整个测试针组件可以作为模组更换，简化产线维护。

在另一个实施例中，针头220包括与针体210连接的第一等截面段221，第一等截面段221的横截面面积处处相等，且第一等截面段221沿长度方向L的两侧分别用于抵靠在板对板母端器件的引脚凹槽510相对的两个侧壁520上。

具体地，针头220可以包括横截面处处相等的第一等截面段221，第一等截面段221的横截面形状和尺寸等处处相等，第一等截面段221的多个横截面的边缘形成第一横截面段221的侧面，该侧面中沿长度方向L的两相对的部分可以抵靠在BTB母端器件500的两个侧壁520上，来实现电连接。

第一等截面段221可以在保证相邻两个第一等截面段221之间具有间隙的情况下，提高第一等截面段221的横截面面积，提高针头的强度，避免测试针200在测试过程中受外力作用而折断。

优选地，第一等截面段221的横截面形状为第一椭圆形，使得第一等截面段221沿长度方向L的两侧为弧形面，方便其卡伸入引脚凹槽510中。当第一等截面段221的横截面形状为第一椭圆形时，长度方向L为第一椭圆形的长轴方向，宽度方向W为第一椭圆形的短轴方向，第一等截面段221沿长度方向L的最大尺寸大于该针头220沿宽度方向W的最大尺寸，即第一椭圆形的长轴长度大于椭圆的短轴长度。

进一步地，针头220还包括第一变截面段222。第一变截面段222形成在第一等截面段221背离针体210的一端，且第一变截面222段靠近针体210一端的横截面形状与第一等截面段221的横截面形状相同。第一变截面段222的横截面面积从靠近针体210的一端向远离针体210的一端逐渐减小。

具体地，第一等截面段221背离针体210的底端还可以设置有第一变截面段222，第一变截面段222顶端的横截面形状和尺寸可以与第一等截面段221的横截面形状和尺寸相同，两者可以平滑过渡。第一变截面段222的横截面面积可以从上到至下逐渐减少，从而起到导向作用，方便针头220伸入引脚凹槽510内。

优选地，第一变截面段222的底端可以形成尖端，提高了第一变截面段222的导向作用。

作为第一等截面段221和针体210连接处的优选实施例，可以参考图5和图7，第一等截面段221沿长度方向L的两侧分别凸出于针体210沿长度方向L的两侧，使得第一等截面段221靠近针体210的端面具有部分凸出于针体210，该部分端面可以抵靠在针床100的底面，起到限位作用，避免针头220在测试过程中受到BTB母端器件500的抵靠而向上移动。

进一步地，在另一个实施例中，请参考图5和图6，针体210沿宽度方向W的两侧分别凸出于第一等截面段221沿宽度方向W的两侧，可以在保证相邻两个测试针200不接触的前提下，增强针体210的横截面尺寸，进而提高强度，避免其弯折。

在测试过程中，可以将测试针200与测试仪表例如电流表等连接，然后将测试针组对准BTB母端器件500，然后向下移动针床100，使得各个针头220的第一变截面段222可以先进入引脚凹槽510，起到导向的目的。随着针床100的不断下移，第一横截面段221也可以插入引脚凹槽510中，使得第一横截面段221的沿长度方向L的两侧可以抵靠在引脚凹槽510的两个侧壁520上，实现针头220与引脚凹槽510的接触。通过驱动PCB并检测该BTB母端器件500的引脚是否有电流通过，来判断PCB是否正常工作。

在上述实施例的基础上，测试针组件还包括设置在针床100上的电路板300，电路板300上具有与第一容纳孔连接的第二容纳孔。针体210背离针头220的一端还形成有固定在第二容纳孔中的针尾230；针尾230与电路板300电连接。

其中，电路板300可以为PCB，其可以与测试仪表连接，电路板300可以通过螺接等方式与针床100固定连接。电路板300上可以设置有多个第二容纳孔，每个第二容纳孔的轴线可以与一个第一容纳孔的轴线重合。

针体210背离针头220的一端可以设置有针尾230，针尾230凸出于针床100的顶面，针尾230可以穿设在第二容纳孔，针尾230可以通过焊接固定在第二容纳孔中，从而实现与电路板300的电连接，使得测试针200通过电路板300与测试仪表连接，连接方便，可靠性高。

其中，第二容纳孔的横截面尺寸可以略大于针尾230的横截面尺寸，从而方便针尾230安装到电路板300中，两者之间的小缝隙可以通过焊接的材料来填补。

针尾230的形状也可以有多种，例如其横截面可以为方形或圆形。优选地，在针尾230的每个横截面中，针尾230沿长度方向L的最大尺寸大于该针尾230沿宽度方向W的最大尺寸。

具体地，针尾230的长度方向可以和针头220的长度方向一致，针尾230的宽度方向可以和针头220的宽度方向一致，针尾230也可以为长度方向L的最大尺寸大于宽度方向W最大尺寸的扁形结构，使得针尾230与第二容纳孔之间可以形成限位结构，避免测试针200在测试过程中旋转。

在一个实施例中，针尾230包括与针体210连接的第二等截面段231，第二等截面段231的横截面面积处处相等。

具体地，针尾230可以包括横截面处处相等的第二等截面段231，第二等截面段231的横截面形状和尺寸等处处相等，第二等截面段231的多个横截面的边缘形成第二横截面段231的侧面，该侧面可以焊接在第二容纳孔中，实现电路板300与针尾230电连接。

第二等截面段231可以在避免测试针200相对针床100转动的同时，还可提高针头220的强度，避免测试针200在测试过程中受外力作用而折断。

优选地，第二等截面段231的横截面形状为第二椭圆形，使得第二等截面段231的侧面为弧形面，避免划伤电路板300。

另外，当第二等截面段231的横截面形状为第二椭圆形时，长度方向L为第二椭圆形的长轴方向，宽度方向W为第二椭圆形的短轴方向，第二等截面段231沿长度方向L的最大尺寸大于该针头220沿宽度方向W的最大尺寸，即第二椭圆形的长轴长度大于椭圆的短轴长度。

进一步地，针尾230还包括第二变截面段232。第二变截面段232形成在第二等截面段231背离针体210的一端，且第二变截面232段靠近针体210一端的横截面形状与第二等截面段231的横截面形状相同。第二变截面段232的横截面面积从靠近针体210的一端向远离针体210的一端逐渐减小。

具体地，第二等截面段231背离针体210的底端还可以设置有第二变截面段232，第二变截面段232顶端的横截面形状和尺寸可以与第二等截面段231的横截面形状和尺寸相同，两者可以平滑过渡。第二变截面段232的横截面面积可以从上到至下逐渐减少，从而起到导向作用，方便针尾230伸入第二容纳孔内。

优选地，第二变截面段232的顶端可以形成尖端，提高了第二变截面段232的导向作用。

作为第二等截面段231和针体210连接处的优选实施例，可以参考图6和图7，针体210的侧面凸出于针尾230的侧面，其中，针体210的侧面为针体210的各横截面边缘形成的表面，针尾230的侧面为针尾230的各横截面边缘形成的表面。

具体地，针体210靠近第二等截面段231的端面边缘凸出于针体210，该部分端面可以抵靠在电路板300的底面，起到限位作用，避免针尾230在测试过程中受到BTB母端器件500的抵靠而向上移动。另外，安装时可以将针尾230的顶端从针床100中穿过并进入第二容纳孔中，方便安装测试针组件。

在测试过程中，可以将电路板300与测试仪表例如电流表等连接，由于针尾230可电连接在电路板300上，从而实现针尾230与测试仪表之间的连接。然后将测试针组对准BTB母端器件500，然后向下移动针床100，使得各个针头220的第一变截面段222可以先进入引脚凹槽510，起到导向的目的。随着针床100的不断下移，第一横截面段221也可以插入引脚凹槽510中，使得第一横截面段221的沿长度方向L的两侧可以抵靠在引脚凹槽510的两个侧壁520上，实现针头220与引脚凹槽510的接触。通过驱动PCB并检测该BTB母端器件500的引脚是否有电流通过，来判断PCB是否正常工作。

在一个具体地实施例中，BTB母端器件每行中相邻引脚凹槽510的中心之间的尺寸为0.35mm，每个引脚凹槽510沿长度方向L的尺寸为0.25mm，而引脚凹槽510沿宽度方向W的尺寸为0.2mm，而针头210沿长度方向L的最大尺寸可以为0.3mm，针头220沿宽度方向W220的最大尺寸为0.15mm。针体210可以为直径是0.2mm的圆柱形，而针尾230横截面可以是长轴为0.2mm，短轴为0.1mm的第二椭圆形。由于引脚凹槽510由金属片弯折而成，使得其可以具有一定的弹性，针头220沿长度方向L的最大尺寸略大于引脚凹槽510沿长度方向L的尺寸，可以使得针头220牢固地卡合在引脚凹槽510，避免两者接触不良而影响测试结果。而针头220沿宽度方向W的最大尺寸较小，从而可以保证每行相邻的两个针头220不接触。针体210为圆柱形可以方便加工针床100。针尾230为长度方向L的最大尺寸大于宽度方向W最大尺寸的扁形结构，使得针尾230与第二容纳孔之间可以形成限位结构，避免测试针200在测试过程中旋转。

另外，针头220、针体210和针尾230三者都由导电材料，例如金属制成。三者之间可以通过焊接等方式连接，或者三者可以通过一根金属柱通过冲压、或数控中心加工而一体成型为一体件，加工方便，可以大批量生产，有利于降低测试针成本。

在上述实施例的基础上，为了方便电路板300与测试仪表的连接，电路板300背离针床100的表面设有柔性电路板400，柔性电路板400上设置有用于穿设针尾230的第三容纳孔。

具体地，柔性电路板400可以与针尾230焊接，其可以方便将电路板300的信号引出，从而与测试仪表连接。

将电路板300设置在针床100和柔性电路板400之间，可以简化安装测试针组件。当然，柔性电路板400还可以连接在电路板300与针床100之间，在此不做具体限定。

在上述实施例的基础上，本实施例提供一种测试装置，包括测试仪表以及测试针组件，测试针组件包括：针床100，针床100具有多个阵列排布的第一容纳孔。多个测试针200，每个测试针200具有针体210以及形成在针体210一端的针头220；每个针体210固定在一个第一容纳孔中，针头220凸出于针床100设置，且针头220用于与板对板连接器的引脚连接。以垂直于针体210延伸方向的截面为横截面，在针头220的每个横截面中，针头220沿长度方向L的最大尺寸大于该针头220沿宽度方向W的最大尺寸，以使任意相邻两个针头220之间具有间隔。测试仪表与测试针组件的测试针200电连接。

具体地，测试装置可以用于PCB信号测试，尤其是PCB上设置的多引脚器件的信号测试，例如BTB连接器等。

测试仪表可以为现有技术中常用的测试设备，例如电流表、万用表或示波器等能够检测电信号的多种结构。测试针组件的结构和功能与上述实施例相同，可以参考上述实施例，在此不再赘述。测试针组件的测试针200可以与测试仪表连接，从而测试BTB连接器的引脚是否有电信号。

参考图1和图2，BTB连接器包括BTB母端器件500和BTB公端器件。BTB母端器件500上设置环形凹槽，环形凹槽上下两段内分别设置有多个由金属片制成的引脚，每个引脚围成“U”字形的引脚凹槽510。

相应地，BTB公端器件上设置有能够插入环形凹槽的环形凸起，环形凸起上设置有分别与多个引脚凹槽510相接触的多个引脚。当BTB公端器件与BTB母端器件500相配合时，环形凸起插入环形凹槽中，实现BTB公端器件的引脚与BTB母端器件500的引脚相接触，以传递电信号。

由于BTB连接器通常用于PCB与PCB之间连接，其引脚通常设置有电源信号、USB信号和加载信号、TPLCD信号、CAM信号等多种信号，通过测试针组件可以测试上述信号是否正常，从而检测PCB是否合格。

对于BTB母端器件500的每一行中的多个引脚，每个引脚凹槽510沿宽度方向W的最大尺寸小于其沿长度方向L的最大尺寸。当针头220插入引脚凹槽510中时，针头220的长度方向L与引脚凹槽510的长度方向L重合，针头220的宽度方向W与引脚凹槽510的宽度方向W重合，针头220沿长度方向L的两侧分别抵靠在BTB母端器件500的引脚凹槽510相对的两个侧壁520上，使得针头220可以与该引脚保持电连接。并且，由于相邻两个引脚凹槽510的中心之间的尺寸较小，针头220沿宽度方向W的最大尺寸小于其沿长度方向L的最大尺寸，可以保证每行中的多个针头220可以互不接触，避免了相邻两个针头220之间电连接而影响测试结果。同时，还可以提高测试针200的强度，不易弯折。

在测试过程中，可以将测试针200与测试仪表例如电流表等连接，然后将测试针组对准BTB母端器件500，将各个针头220插入各个相对的引脚凹槽510中，使得BTB母端器件500的引脚可以与测试仪表电连接。通过驱动PCB并检测该BTB母端器件500的引脚是否有电流通过，来判断PCB是否正常工作。

另外，测试针组件也可以用于BTB公端器件的测试，测试时，可以使得针头220的末端抵靠在BTB公端器件的引脚上，同样可以保证相邻两个测试针200无连接，测试结果可靠。因此，测试针组件既可以适用于BTB母端器件，也可以适用于BTB公端器件，通用性高。

本实施例提供的测试装置，通过设置针床及多个测试针，针床具有多个阵列排布的第一容纳孔；每个测试针具有针体以及形成在针体一端的针头；每个针体固定在一个第一容纳孔中，针头凸出于针床设置，且针头用于与板对板连接器的引脚连接；以垂直于针体延伸方向的截面为横截面，在针头的每个横截面中，针头沿长度方向的最大尺寸大于该针头沿宽度方向的最大尺寸，以使任意相邻两个针头之间具有间隔，使得测试针组件可以直接测试BTB连接器的引脚，无需在PCB上设置测试点，节省了PCB布局面积，简化了PCB结构，加工简单。另外，使针头沿长度方向的最大尺寸大于该针头沿宽度方向的最大尺寸，还可以在保证相邻两个测试针在宽度方向互不接触的基础上，增加针头沿长度方向的尺寸，提高针头强度，避免针头弯曲或折断。另外，当测试不同引脚数的BTB连接器，整个测试针组件可以作为模组更换，简化产线维护。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连"、“连接"、“固定"等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接或彼此可通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在以上描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (15)

1.一种测试针组件，其特征在于，包括：

针床，所述针床具有多个阵列排布的第一容纳孔；

多个测试针，每个所述测试针具有针体以及形成在所述针体一端的针头；每个所述针体固定在一个所述第一容纳孔中，所述针头凸出于所述针床设置，且所述针头用于与板对板连接器的引脚连接；

以垂直于所述针体延伸方向的截面为横截面，在所述针头的每个横截面中，所述针头沿长度方向的最大尺寸大于该针头沿宽度方向的最大尺寸，以使任意相邻两个针头之间具有间隔。

2.根据权利要求1所述的测试针组件，其特征在于，所述针头包括与所述针体连接的第一等截面段，所述第一等截面段的横截面面积处处相等，且所述第一等截面段沿所述长度方向的两侧分别用于抵靠在板对板母端器件的引脚凹槽相对的两个侧壁上。

3.根据权利要求2所述的测试针组件，其特征在于，所述第一等截面段的横截面形状为第一椭圆形。

4.根据权利要求2所述的测试针组件，其特征在于，所述针头还包括第一变截面段；

所述第一变截面段形成在所述第一等截面段背离所述针体的一端，且所述第一变截面段靠近所述针体一端的横截面形状与所述第一等截面段的横截面形状相同；

所述第一变截面段的横截面面积从靠近所述针体的一端向远离所述针体的一端逐渐减小。

5.根据权利要求2所述的测试针组件，其特征在于，所述第一等截面段沿所述长度方向的两侧分别凸出于所述针体沿所述长度方向的两侧。

6.根据权利要求2所述的测试针组件，其特征在于，所述针体沿所述宽度方向的两侧分别凸出于所述第一等截面段沿所述宽度方向的两侧。

7.根据权利要求1-6任一项所述的测试针组件，其特征在于，所述测试针组件还包括设置在所述针床上的电路板，所述电路板上具有与所述第一容纳孔连接的第二容纳孔；

所述针体背离所述针头的一端还形成有固定在所述第二容纳孔中的针尾；所述针尾与所述电路板电连接。

8.根据权利要求7所述的测试针组件，其特征在于，在所述针尾的每个横截面中，所述针尾沿所述长度方向的最大尺寸大于该针尾沿所述宽度方向的最大尺寸。

9.根据权利要求8所述的测试针组件，其特征在于，所述针尾包括与所述针体连接的第二等截面段，所述第二等截面段的横截面面积处处相等。

10.根据权利要求9所述的测试针组件，其特征在于，所述第二等截面段的横截面形状为第二椭圆形。

11.根据权利要求9所述的测试针组件，其特征在于，所述针尾还包括第二变截面段，所述第二变截面段形成在所述第二等截面段背离所述针体的一端，且所述第二变截面段靠近所述针体一端的横截面形状与所述第二等截面段的横截面形状相同，所述第二变截面段的横截面面积从靠近所述针体的一端向远离所述针体的一端逐渐减小。

12.根据权利要求7所述的测试针组件，其特征在于，所述针体的侧面凸出于所述针尾的侧面，其中，所述针体的侧面为所述针体的各横截面边缘形成的表面，所述针尾的侧面为所述针尾的各横截面边缘形成的表面。

13.根据权利要求1-6任一项所述的测试针组件，其特征在于，所述针体为圆柱体。

14.根据权利要求7所述的测试针组件，其特征在于，所述电路板背离所述针床的表面设有柔性电路板，所述柔性电路板上设置有用于穿设所述针尾的第三容纳孔。

15.一种测试装置，其特征在于，包括测试仪表以及权利要求1-14任一项所述的测试针组件，所述测试仪表与所述测试针组件的测试针电连接。

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