CN215866980U - 测试座、测试装置和电路结构 - Google Patents

Abstract

本公开提供一种测试座、测试装置和电路结构，其中测试座，包括：壳体，具有朝向相背的第一面和第二面，第一面上具有第一插口，第二面上具有第二插口；第一导电件，至少部分位于壳体内；第二导电件，至少部分位于壳体内，第一导电件和第二导电件可导电连接；第一插口和第二插口用于插入测试探针，当测试探针从第一插口和第二插口中的任一插入时，第一导电件和第二导电件间的可导电连接被测试探针断开。本公开实施例中提出的测试座方便用户从测试座两侧进行测试。

Description

测试座、测试装置和电路结构

技术领域

本公开涉及测试装置技术领域，尤其涉及一种测试座、测试装置和电路结构。

背景技术

射频测试座是一种安装在印刷电路板上的测试元件，作为射频信号的传输媒介，请参看图1，射频电路和天线之间设有射频测试座，探针没有插入测试座时，射频电路和天线连通，从天线收发信号，在使用探针时，用探针插入射频测试座，请参看图2，在探针插入后，探针将射频测试座内的两个连接元件断开，探针与射频电路通信，从而通过探针对射频电路进行调试。

实用新型内容

本公开提供一种测试座，包括：

壳体具有朝向相背的第一面和第二面，第一面上具有第一插口，第二面上具有第二插口；

第一导电件，至少部分位于壳体内；

第二导电件，至少部分位于壳体内，第一导电件和第二导电件可导电连接；

第一插口和第二插口用于插入测试探针，当测试探针从第一插口和第二插口中的任一插入时，第一导电件和第二导电件间的可导电连接被测试探针断开。

本公开提供一种测试装置，包括：本公开提供的任一项所述的测试座和测试探针。

本公开提供一种电路结构，包括：电路板和本公开提供的任一项所述的测试座；所述测试座连接在所述电路板上。

本公开实施例提供的测试座，能够从第一插口和第二插口插入测试探针，并断开第一导电件和第二导电件的导电连接，因此可以将测试座连接在电路板上，并且从电路板的两侧都可以对测试座进行测试，无论电路板的走线布局在哪一侧，都可以方便进行测试。

附图说明

结合附图并参考以下具体实施方式，本公开各实施例的上述和其他特征、优点及方面将变得更加明显。贯穿附图中，相同或相似的附图标记表示相同或相似的元素。应当理解附图是示意性的，元件和元素不一定按照比例绘制。

图1是相关技术中射频测试座的连接结构示意图。

图2是相关技术中射频测试座的另一种连接结构示意图。

图3是相关技术中射频测试座与电路板的连接示意图。

图4是本公开实施例的一种测试座的示意图。

图5是本公开实施例的一种测试探针从第一插口插入测试座的示意图。

图6是本公开实施例的一种测探针从第二插口插入测试座的示意图。

图7是本公开实施例的一种测试座和电路板的连接示意图。

图8是本公开实施例的一种测试座的俯视图。

图9是本公开实施例的一种第一导电件的环形部的示意图。

图10是本公开实施例的一种第二导电件的示意图。

图11是本公开实施例的一种测试座的示意图。

附图标记：1、壳体；11、第一面；12、第二面；21、第一导电件；211、环形部；22、第二导电件；221、接触部；222、连接部；23、连接件；31、第一连接结构；311、第一走线；32、第二连接结构；321、第二走线；41、第一插口；42、第二插口；5、测试探针。

具体实施方式

下面将参照附图更详细地描述本公开的实施例。虽然附图中显示了本公开的某些实施例，然而应当理解的是，本公开可以通过各种形式来实现，而且不应该被解释为限于这里阐述的实施例，相反提供这些实施例是为了更加透彻和完整地理解本公开。应当理解的是，本公开的附图及实施例仅用于示例性作用，并非用于限制本公开的保护范围。

应当理解，本公开的方法实施方式中记载的各个步骤可以按和/或并行执行。此外，方法实施方式可以包括附加的步骤和/或省略执行示出的步骤。本公开的范围在此方面不受限制。

本文使用的术语“包括”及其变形是开放性包括，即“包括但不限于”。术语“基于”是“至少部分地基于”。术语“一个实施例”表示“至少一个实施例”；术语“另一实施例”表示“至少一个另外的实施例”；术语“一些实施例”表示“至少一些实施例”。其他术语的相关定义将在下文描述中给出。

需要注意，本公开中提及的“第一”、“第二”等概念仅用于对不同的装置、模块或单元进行区分，并非用于限定这些装置、模块或单元所执行的功能的顺序或者相互依存关系。

需要注意，本公开中提及的“一个”的修饰是示意性而非限制性的，本领域技术人员应当理解，除非在上下文另有明确指出，否则应该理解为“一个或多个”。

本公开实施方式中的多个装置之间所交互的消息或者信息的名称仅用于说明性的目的，而并不是用于对这些消息或信息的范围进行限制。

以下将结合附图，对本公开实施例提供的方案进行详细描述。

如图3所述测试座，例如射频测试座通常设置在电路板上，在需要进行测试的位置焊接，相关技术中，射频测试座智能设置在电路板的走线的一面，这样只能从电路板的一面插入探针进行测试，造成使用不便。

请参考图4至图6，本公开一些实施例中提出了一种测试座，包括：壳体1、第一导电件21和第二导电件22，如图4所示，所述壳体1具有朝向相背的第一面11和第二面12，所述第一面11上具有第一插口41，所述第二面12上具有第二插口42；第一面11例如可以是壳体的顶面，第二面12例如可以是壳体的底面，第一插口41和第二插口42可以是一个通孔的两端的孔口，也可以是不同孔的孔口，所述第一导电件21至少部分位于所述壳体1内，第一导电件21可以是金属材料制备，例如可以是金属弹片；所述第二导电件22至少部分位于所述壳体1内，所述第一导电件21和所述第二导电件22可导电连接，第一导电件21可以直接与第二导电件22接触，也可以是第一导电件21与第二导电件22之间具有其他导电部件，通过其他导电部件间接实现可导电连接；所述第一插口41和所述第二插口42用于插入测试探针5，当测试探针5从所述第一插口41和所述第二插口42中的任一插入时，所述第一导电件21和所述第二导电件22间的可导电连接被所述测试探针5断开。

如图5和图6所示，当测试探针5从第一插口41或第二插口42插入时，测试探针抵触到第一导电件21和第二导电件22中的一个，从而使得第一导电件21与第二导电件22的可导电连接断开。在本公开的一些实施例中，因为壳体1的第一面11和第二面12上具有第一插口41和第二插口42，并且无论是从第一插口41还是第二插口42插入测试探针，均能够断开第一导电件21和第二导电件22的导电连接的状态，因此在使用本公开实施例中提出的测试座时，如图7所示，可以将测试座连接在电路板上，并且从电路板的两侧都可以对测试座进行测试，无论电路板的走线布局在哪一侧，都可以进行测试。本公开实施例中提出的测试座，兼容电路部双面布局走线的场景，并可实现任一面测试、节省空间、降低高度、降低损耗等，弥补了传统射频座可测试面只能和走线设置在同一面的缺陷，同时避免了传统射频座在设计时进行穿层走线引入的额外损耗。

在本公开的一些实施例中，请参考图8所示，测试座的壳体1的外侧面上具有第一连接结构31和第二连接结构32；所述第一连接结构31的内部具有连通所述壳体1内部和所述壳体1外部的第一通孔，所述第一通孔用于插入第一走线311以连接至所述第一导电件21；所述第二连接结构32的内部具有连通所述壳体1内部和所述壳体1外部的第二通孔，所述第二通孔用于插入第二走线321以连接所述第二导电件22。一些实施例中，第一连接结构31和第二连接结构32可以是测试做的信号引脚，通过信号引脚能够插入测试座以连接第一导电件21和第二导电件22以实现测试座的连接和安装，所以一些实施例中，测试座还包括：第一走线311和第二走线321中的一个或两个；如图8所示，所述第一走线311的一端位于所述壳体1的外侧，所述第一走线311的另一端经所述第一通孔连接至所述第一导电件21；所述第二走线321的一端位于所述壳体1的外侧，所述第二走线321的另一端经所述第一通孔连接至所述第二导电件22。

在本公开的一些实施例中，所述壳体1上具有至少两个所述第一连接结构31和至少两个所述第二连接结构32。一些实施例中，通过设置多个第一连接结构31和第二连接结构32可以方便用户从不同的方向进行布线与测试座进行连接。

在本公开的一些实施例中，所述第一连接结构31和所述第二连接结构32在所述壳体1的外侧面上沿周向间隔交替设置。如图8所示，测试座的四个方向上均设置有连接结构，从而方便用户进行连接，并且第一连接结构31和第二连接结构32沿周向交替设置，这样可以保证在任一方向都有较近的第一连接结构31和第二连接结构32，从而满足不同方向的走线需求。

在本公开的一些实施例中，请参考图4，所述壳体1具有贯通所述第一面11和所述第二面12的第三通孔，所述第三通孔在所述第一面11和所述第二面12的开口分别为所述第一插口41和所述第二插口42；所述第一导电件21的第一端和所述第二导电件22的第一端相接触，且所述第一导电件21的第一端与所述第二导电件22的第一端在所述第三通孔的轴向上不重叠。如图4所示，通过设置一个第三通孔实现在测试座两个方向设置插口的方式可以简化设计，降低测试座的加工难度。

在本公开的一些实施例中，请参考图4和图9，所述第一导电件21包括：设置在所述第三通孔内的具有断缝的环形部211，所述环形部211的轴向朝向所述与所述第三通孔的开口，所述断缝沿所述环形的轴向延伸；一些实施例中，环形部211的轴向与第三通孔的轴向相平行或相重合，请参考图10，所述第二导电件22，包括：接触部221和连接部222，所述接触部221位于所述环形部211内侧，与所述环形部211的内壁相接触，所述连接部222与所述接触部221相连接且从所述断缝内伸出。一些实施例中，因为第一导电件21具有环形部211因此可以方便从多个不同的方向连接第一导电件21，为了保证第二导电件22能够沿环形部211的轴向与第一导电件21分开，因此需要在环形部211上设置沿轴向延伸的开缝，从而避免阻挡第二导电件22的移动。

在本公开的一些实施例中，如图11所示，所述壳体1内设置有可导电的连接件23；所述第一导电件21的第一端与所述连接件23的第一端相接触，所述第二导电件22的第一端与所述连接件23的第二端相接触；当所述测试探针5从所述第一插口41插入时，所述第一导电件21的第一端与所述连接件23的第一端相分离，当所述测试探针5从所述第二插口42中的插入时，所述第二导电件22的第一端和所述连接件23的第一端相分离。如图11所示，第一插口41和第二插口42可以是不同开孔的孔口，这样可以通过连接件23实现第一导电件21和第二导电件22的导电连接，在图11所示的方案中，通过第一插口41插入测试探针和通过第二插口42插入测试探针时，测试探针接触的部件可以不同，例如，通过第一插口插入测试探针则测试探针接触到第一导电件21，通过第二插口插入测试探针，则测试探针接触到第二导电件22，这样可以通过两侧插入测试探针的方式分别测试不同的部件。

在本公开的一些实施例中还提出一种测试装置，包括：本公开任一项实施例中所述的测试座和测试探针5。

在本公开的一些实施例中还提出电路结构，包括：电路板和如本公开任一项实施例所述的测试座；所述测试座连接在所述电路板上，一些实施例中，电路板上具有第四通孔，壳体1位于所述第四通孔内。

以上描述仅为本公开的较佳实施例以及对所运用技术原理的说明。本领域技术人员应当理解，本公开中所涉及的公开范围，并不限于上述技术特征的特定组合而成的技术方案，同时也应涵盖在不脱离上述公开构思的情况下，由上述技术特征或其等同特征进行任意组合而形成的其它技术方案。例如上述特征与本公开中公开的(但不限于)具有类似功能的技术特征进行互相替换而形成的技术方案。

此外，虽然采用特定次序描绘了各操作，但是这不应当理解为要求这些操作以所示出的特定次序或以顺序次序执行来执行。在一定环境下，多任务和并行处理可能是有利的。同样地，虽然在上面论述中包含了若干具体实现细节，但是这些不应当被解释为对本公开的范围的限制。在单独的实施例的上下文中描述的某些特征还可以组合地实现在单个实施例中。相反地，在单个实施例的上下文中描述的各种特征也可以单独地或以任何合适的子组合的方式实现在多个实施例中。

尽管已经采用特定于结构特征和/或方法逻辑动作的语言描述了本主题，但是应当理解所附权利要求书中所限定的主题未必局限于上面描述的特定特征或动作。相反，上面所描述的特定特征和动作仅仅是实现权利要求书的示例形式。

Claims (10)

1.一种测试座，其特征在于，包括：

壳体(1)，具有朝向相背的第一面(11)和第二面(12)，所述第一面(11)上具有第一插口(41)，所述第二面(12)上具有第二插口(42)；

第一导电件(21)，至少部分位于所述壳体(1)内；

第二导电件(22)，至少部分位于所述壳体(1)内，所述第一导电件(21)和所述第二导电件(22)可导电连接；

所述第一插口(41)和所述第二插口(42)用于插入测试探针(5)，当测试探针(5)从所述第一插口(41)和所述第二插口(42)中的任一插入时，所述第一导电件(21)和所述第二导电件(22)间的可导电连接被所述测试探针(5)断开。

2.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，

所述壳体(1)的外侧面上具有第一连接结构(31)和第二连接结构(32)；

所述第一连接结构(31)的内部具有连通所述壳体(1)内部和所述壳体(1)外部的第一通孔，所述第一通孔用于插入第一走线(311)以连接至所述第一导电件(21)；

所述第二连接结构(32)的内部具有连通所述壳体(1)内部和所述壳体(1)外部的第二通孔，所述第二通孔用于插入第二走线(321)以连接所述第二导电件(22)。

3.根据权利要求2所述的测试座，其特征在于，

所述壳体(1)上具有至少两个所述第一连接结构(31)和至少两个所述第二连接结构(32)。

4.根据权利要求3所述的测试座，其特征在于，

所述第一连接结构(31)和所述第二连接结构(32)在所述壳体(1)的外侧面上沿周向间隔交替设置。

5.根据权利要求3所述的测试座，其特征在于，还包括：第一走线(311)和第二走线(321)中的一个或两个；

所述第一走线(311)的一端位于所述壳体(1)的外侧，所述第一走线(311)的另一端经所述第一通孔连接至所述第一导电件；

所述第二走线(321)的一端位于所述壳体(1)的外侧，所述第二走线(321)的另一端经所述第一通孔连接至所述第二导电件。

6.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，

所述壳体(1)具有贯通所述第一面(11)和所述第二面(12)的第三通孔，所述第三通孔在所述第一面(11)和所述第二面(12)的开口分别为所述第一插口(41)和所述第二插口(42)；

所述第一导电件(21)的第一端和所述第二导电件(22)的第一端相接触，且所述第一导电件(21)的第一端与所述第二导电件(22)的第一端在所述第三通孔的轴向上不重叠。

7.根据权利要求6所述的测试座，其特征在于，

所述第一导电件(21)包括：设置在所述第三通孔内的具有断缝的环形部(211)，所述环形部(211)的轴向朝向所述第三通孔的开口，所述断缝沿所述环形的轴向延伸；

所述第二导电件(22)，包括：接触部(221)和连接部(222)，所述接触部(221)位于所述环形部(211)内侧，与所述环形部(211)的内壁相接触，所述连接部(222)与所述接触部(221)相连接且从所述断缝内伸出。

8.根据权利要求1所述的测试座，其特征在于，

所述壳体(1)内设置有可导电的连接件(23)；

所述第一导电件(21)的第一端与所述连接件(23)的第一端相接触，所述第二导电件(22)的第一端与所述连接件(23)的第二端相接触；

当所述测试探针(5)从所述第一插口(41)插入时，所述第一导电件(21)的第一端与所述连接件(23)的第一端相分离，当所述测试探针(5)从所述第二插口(42)中的插入时，所述第二导电件(22)的第一端和所述连接件(23)的第一端相分离。

9.一种测试装置，包括：

如权利要求1-8任一项所述的测试座和测试探针(5)。

10.一种电路结构，包括：

电路板和如权利要求1-8任一项所述的测试座；

所述测试座连接在所述电路板上。

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