CN215728612U - 测试连接器及其测试连接器测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种测试连接器及测试连接器测试系统，测试连接器包括上壳体、下壳体、固定探针、活动探针、第二弹簧体、第一绝缘件以及第二绝缘件。上壳体与下壳体为相互连接的管状结构；固定探针的上侧通过第一绝缘件固定在上壳体的内部，第二弹簧体位于固定探针的下侧的凹槽结构内，第二弹簧体的下端与活动探针连接；下壳体的下侧为设有接地凸起和探针通孔的测试部，第二绝缘体设置在探针通孔内部，活动探针通过第二绝缘体与下壳体绝缘连接；当测试连接器检测被测PCB板时，接地凸起与接地测点连接，活动探针与的信号测点连接。本实用新型结构简单，有利于实现测试连接器整体结构的小型化或微型化，进而可用于检测智能穿戴设备。

Description

测试连接器及其测试连接器测试系统

技术领域

本实用新型涉及电连接器技术领域，特别是涉及一种测试连接器以及由该测试连接器组成的测试系统。

背景技术

随着科技进步，消费行业智能穿戴设备朝着小型化、多信号通道以及多功能化方向发展，这就要求硬件的结构布局更加紧凑。智能穿戴设备是应用穿戴式技术对日常穿戴进行智能化设计、开发出可以穿戴的设备的总称，如手表、手环、眼镜、服饰等。目前，智能穿戴设备的厂家主要采用SMT(Surface Mounted Technology，表面贴装技术)贴板开关测试座来检测，检测完成后使用射频座及射频跳线做连接，大大增加了产品主板的布局空间与成本。

现有技术公开了一种探针型射频测试连接器(中国专利公开号：CN111596097A)，在承载部内设置有一个第一探针和多个第二探针。第二探针分布在第一探针的外围。该探针型射频测试连接器在测试过程中，由于第二探针与PCB焊盘之间有较大的距离，极大地影响传输阻抗。现有技术还公开了一种射频测试连接器(中国专利公告号：CN211856667U)，包括信号针和接地针，信号针和接地针均为弹性针，信号针的后端弹性抵设在内导体上，接地针的后端弹性抵设在外导体上。这种结构加大了射频测试连接器的直径，使得在保障射频测试连接器的性能的基础上无法进一步微型化，进而限制了这种结构在智能穿戴设备中的应用。

因此，亟需一种可以应用于检测智能穿戴设备的小尺寸的测试连接器。

实用新型内容

本申请实施例提供一种测试连接器，结构简单，尺寸小，可直接测试PCB板，应用于检测智能穿戴设备。

为了实现上述目的，本实用新型采取的技术方案是：

一种测试连接器，包括上壳体、下壳体、固定探针、活动探针、第二弹簧体、第一绝缘件以及第二绝缘件，其中：

所述上壳体与所述下壳体为相互连接的管状结构；

所述固定探针的上侧通过所述第一绝缘件固定在所述上壳体的内部，所述固定探针的下侧为下端开口的凹槽结构；

所述第二弹簧体位于所述凹槽结构内，所述第二弹簧体的下端与所述活动探针连接；

所述下壳体的下侧为测试部，所述测试部的下端设有接地凸起和探针通孔，所述第二绝缘体设置在所述探针通孔内部，所述活动探针通过所述第二绝缘体与所述下壳体绝缘连接；

当所述测试连接器检测被测PCB板时，所述接地凸起与所述被测PCB板的接地测点连接，所述活动探针与所述被测PCB板的信号测点连接。

优选地，所述接地凸起的底部为半球型结构。

优选地，还包括法兰固定件和第一弹簧体，所述法兰固定件与所述上壳体的外壁连接，所述第一弹簧体套设在所述上壳体外侧，且所述第一弹簧体的上端与所述法兰固定件相接，所述第一弹簧体的下侧与所述下壳体的上侧相接。

优选地，所述法兰固定件包括筒状结构，所述上壳体包括配合固定部，所述筒状结构的内壁与所述配合固定部的外壁接触。

优选地，所述筒状结构上设置有键槽结构，所述配合固定部上设置有键栓结构，所述键栓结构位于所述键槽结构内可防止所述法兰固定件与所述上壳体在周向上发生转动。

优选地，所述键槽结构的数量为两个或多个，在所述筒状结构的周向上均匀分布。

优选地，所述键槽结构在轴向方向上的长度大于所述键栓结构在轴向上的长度。

一种测试连接器测试系统包括上述任一种测试连接器，还包括被测PCB板，所述被测PCB板包括接地测点和信号测点；

当所述测试连接器测试系统处于测试状态时，所述接地凸起与所述接地测点接触连接，所述活动探针与所述信号测点接触连接。

本实用新型的有益效果在于：通过在下壳体的测试部设置接地凸起，当测试连接器安装在夹治具上后，通过垂直按压使得活动探针的针头接触PCB板上的信号测点，然后减小压力，使得接地凸起与被测PCB板上的接地测点连接，在满足可直接测试被测PCB板的条件下，结构简单，有利于实现测试连接器整体结构的小型化或微型化，进而可用于检测智能穿戴设备。

附图说明

图1为本实用新型实施例中测试连接器的立体图；

图2为图1所示的测试连接器的结构爆炸示意图；

图3为图1所示的测试连接器的正视示意图；

图4为图1所示的测试连接器的仰视示意图；

图5为本实用新型实施例中测试连接器测试系统处于测试状态时的立体图；

图6为图5所示的测试连接器测试系统处于测试状态时的剖面示意图；

图7为本实用新型实施例中测试连接器测试系统处于待测状态时的立体图；

图8为本实用新型实施例中被测PCB板与焊接有弹片的天线主板的结构示意图。

附图标记：1、测试连接器；100、上壳体；110、配合固定部；111、键栓结构；200、下壳体；210、测试部；211、接地凸起；212、探针通孔；300、固定探针；400、活动探针；500、第一弹簧体；600、第二弹簧体；700、第一绝缘体；800、第二绝缘体；900、法兰固定件；910、筒状结构；911、键槽结构；2、被测PCB板；21、接地测点；22、信号测点；3、弹片；4、天线主板；41、地；42、天线辐射单元。

具体实施方式

为使本实用新型的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本实用新型的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本实用新型。但是本实用新型能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本实用新型内涵的情况下做类似改进，因此本实用新型不受下面公开的具体实施的限制。

本申请实施例通过提供一种测试连接器，解决现有技术中的结构复杂，产品无法微型化，在智能穿戴设备的检测应用中使用受限的技术问题。需要说明的是，本申请中，上、上方、上侧或上端指的是固定探针相对于活动探针的针头所在的方向，与之相反的方向为下、下方、下侧或下端。轴向指的是同轴的测试连接器的中心轴的方向，周向指的是与测试连接器的中心轴垂直的截面上的圆周方向。

如图1至图6所示，为本申请实施例：

一种测试连接器1包括上壳体100、下壳体200、固定探针300、活动探针400、第二弹簧体600、第一绝缘件700以及第二绝缘件800。其中，上壳体100与下壳体200为相互连接的管状结构。固定探针300的上侧通过第一绝缘件700固定在上壳体100的内部，固定探针300的下侧为下端开口的凹槽结构。第二弹簧体600位于该凹槽结构内，第二弹簧体600的下端与活动探针400连接。第二弹簧体600在外力作用下发生弹性变形，带动活动探针400相对于固定探针300发生上下方向的移动。下壳体200的下侧为测试部210，测试部210的下端设有接地凸起211和探针通孔212。第二绝缘体800设置在探针通孔212内部，活动探针400通过第二绝缘体800与下壳体200绝缘连接。当测试连接器1检测被测PCB板2时，接地凸起211与被测PCB板2的接地测点21连接，活动探针200与被测PCB板2的信号测点22连接。

当测试连接器1在使用过程中，将测试连接器1安装在夹治具上后，通过先施加一个较大垂直按压作用使得活动探针400的针头从探针通孔212中伸出并与被测PCB板2上的信号测点22接触，然后通过减小垂直按压的压力，使得下壳体200上测试部210的接地凸起211与被测PCB板2上的接地测点21连接，实现信号传输测试。在满足可直接测试PCB板的条件下，本申请中的测试连接器结构简单，有利于实现测试连接器整体结构的小型化或微型化，进而可用于检测智能穿戴设备。对于PCB板要求同时具有接地测点和信号测点，测试完成后将焊好弹片的天线主板直接盖合在PCB的接地测点与信号测点上即可实现PCB板与天线主板的信号传输，生产工艺简单，有利于在智能穿戴设备中的推广与应用。

优选地，接地凸起211的底部为半球型结构，有利于保障接地凸起211与接地测点21的接触面积固定，进而提高测试连接器的测试稳定性。

优选地，测试连接器1还包括法兰固定件900和第一弹簧体500。法兰固定件900与上壳体100的外壁连接，第一弹簧体500套设在上壳体100的外侧，且第一弹簧体500的上端与法兰固定件900相接触，第一弹簧体500的下侧与下壳体200的上侧相接触。具体地，法兰固定件900包括法兰本体结构和筒状结构910，法兰本体结构指的是法兰固定件上一字型带有安装固定孔的结构，筒状结构910位于法兰本体结构的下侧，或者筒状结构910穿过法兰本体结构，包括位于法兰本体结构的上侧和位于法兰本体结构的下侧两部分。上壳体100包括配合固定部110，筒状结构910的内壁与配合固定部110的外壁接触。设置筒状结构910，增大了法兰固定件900与上壳体100的接触面积，扩大了二者之间的干涉作用力，有效防止测试连接器在使用过程中发生偏摆，提高了测试稳定性，有利于降低测试的不良率。

优选地，筒状结构910上设置有键槽结构911，配合固定部110上设置有键栓结构111，键栓结构111位于键槽结构911内可防止法兰固定件900与上壳体100在周向上发生转动。

更为优选地，键槽结构911的数量为两个或多个，在筒状结构910的周向上均匀分布。在测试连接器1固定安装后，拉动上壳体100使得键栓结构111位于法兰固定件900的上侧表面，然后转动上壳体100使得键栓结构111与法兰固定件900上的另一个键槽结构911相对，然后推动上壳体100使得键栓结构111置于键槽结构中。通过这种结构，可以实现不变动固定平台，提高多块PCB板同时测试时测试空间布局的灵活性，有利于提高测试效率。

优选地，键槽结构911在轴向方向上的长度大于键栓结构111在轴向上的长度。这样设计，键栓结构111在键槽结构911的装配空间较大，便于法兰固定件900与上壳体100的装配与分离，且在长度方向上，法兰固定件900与上壳体100之间具有一定的活动空间，提高测试连接器的弹性空间，进而有利于提高测试连接器测试性能。

如图5至图8所示，本申请实施例还提供了一种测试连接器测试系统，包括上述任一种测试连接器1和被测PCB板2，被测PCB板2包括接地测点21和信号测点22。当测试连接器测试系统处于测试状态时，如图5和图6所示，接地凸起211与接地测点21接触连接，活动探针400与信号测点22接触连接。具体而言，先施加一个较大垂直按压作用使得活动探针400的针头从探针通孔212中伸出并与被测PCB板2上的信号测点22接触，然后通过减小垂直按压的压力，使得下壳体200上测试部210的接地凸起211与被测PCB板2上的接地测点21连接，实现信号传输测试。当测试完成后，移除测试连接器1，将焊接有弹片3的天线主板4盖合在测试完成的被测PCB板2上，具体为接地测点21经弹片3与天线主板4上的地41连接，信号测点22经弹片3与天线主板4上的天线辐射单元42连接。这种结构，可以实现直接测试被测PCB板，不需要额外设置射频开关座、射频连接器以及射频跳线等元器件，结构简单，在节省生产成本的同时，大大节省了产品的空间体积，有利于满足产品小型化的发展需求，便于在智能穿戴产品中推广与应用。

以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上所述实施例仅表达了本实用新型的实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (8)

1.一种测试连接器，其特征在于，包括上壳体、下壳体、固定探针、活动探针、第二弹簧体、第一绝缘件以及第二绝缘件，其中：

所述上壳体与所述下壳体为相互连接的管状结构；

所述固定探针的上侧通过所述第一绝缘件固定在所述上壳体的内部，所述固定探针的下侧为下端开口的凹槽结构；

所述第二弹簧体位于所述凹槽结构内，所述第二弹簧体的下端与所述活动探针连接；

所述下壳体的下侧为测试部，所述测试部的下端设有接地凸起和探针通孔，所述第二绝缘体设置在所述探针通孔内部，所述活动探针通过所述第二绝缘体与所述下壳体绝缘连接；

当所述测试连接器检测被测PCB板时，所述接地凸起与所述被测PCB板的接地测点连接，所述活动探针与所述被测PCB板的信号测点连接。

2.根据权利要求1所述的测试连接器，其特征在于：所述接地凸起的底部为半球型结构。

3.根据权利要求1或2所述的测试连接器，其特征在于：还包括法兰固定件和第一弹簧体，所述法兰固定件与所述上壳体的外壁连接，所述第一弹簧体套设在所述上壳体外侧，且所述第一弹簧体的上端与所述法兰固定件相接，所述第一弹簧体的下侧与所述下壳体的上侧相接。

4.根据权利要求3所述的测试连接器，其特征在于：所述法兰固定件包括筒状结构，所述上壳体包括配合固定部，所述筒状结构的内壁与所述配合固定部的外壁接触。

5.根据权利要求4所述的测试连接器，其特征在于：所述筒状结构上设置有键槽结构，所述配合固定部上设置有键栓结构，所述键栓结构位于所述键槽结构内可防止所述法兰固定件与所述上壳体在周向上发生转动。

6.根据权利要求5所述的测试连接器，其特征在于：所述键槽结构的数量为两个或多个，在所述筒状结构的周向上均匀分布。

7.根据权利要求5所述的测试连接器，其特征在于：所述键槽结构在轴向方向上的长度大于所述键栓结构在轴向上的长度。

8.一种测试连接器测试系统，其特征在于：包括权利要求1至7任一项所述的测试连接器，还包括被测PCB板，所述被测PCB板包括接地测点和信号测点；

当所述测试连接器测试系统处于测试状态时，所述接地凸起与所述接地测点接触连接，所述活动探针与所述信号测点接触连接。

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