CN101281233B - 电连接器测试系统 - Google Patents

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Abstract

一种电连接器测试系统，包括用于测试待测电连接器的测试仪器，待测电连接器具有若干导电端子，测试仪器具有测试头，测试头与导电端子电性连通，电连接器测试系统还包括一连接装置，连接装置包括第一连接元件及若干第二连接元件，第一连接元件包括绝缘壳体及容置于绝缘壳体中的若干导电体，每一导电体与待测电连接器的一个导电端子对应电性连接，每一第二连接元件可以电性连接测试头和对应的导电体。

Description

电连接器测试系统
技术领域
本发明涉及一种测试系统，尤其涉一种电连接器测试系统。
背景技术
电连接器广泛地应用计算机、个人数字助理、笔记本电脑、移动电话等电子产品中，用于提供电子装置之间的电性连接及信号传输。为了确保产品性能及品质，在电子产品开发阶段需反复测试电连接器的连接性能。
通常地，用于测试电连接器的测试系统包括电路板和测试仪器，待测电连接器固定于该电路板上。待测电连接器通常包括绝缘壳体及若干导电端子，绝缘壳体具有一空腔，导电端子被收容于空腔。其中，导电端子的一端与电路板电性连接，另一端裸露于空腔中。测试仪器具有夹式和探针式两种测试头。测试时，将夹式测试头或探针式测试头插入电连接器的空腔中，并分别夹住或接触导电端子裸露于空腔中的一端，使导电端子和测试头电性连接，从而建立待测电连接器的导电端子与测试仪器之间的电连接关系；接着在电路板上加电平信号，即可以在待测电连接器的导电端子上输出相应的信号；然后执行测试。
采用上述测试系统，当使用夹式测试头时，由于待测电连接器的导电端子排列比较紧凑，导电端子间距较小，不容易准确地夹住。而当使用上述探针式测试头时，一方面探针式测试头往往会在导电端子上打滑，从而会造成不同程度的干扰信号。另外，使用上述两种测试方式稍有不慎还会使导电端子短接，从而对待测电连接器产生误测。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种准确地测试电连接器的电连接器测试系统。
一种电连接器测试系统，包括用于测试待测电连接器的测试仪器，待测电连接器具有若干导电端子，测试仪器具有测试头，测试头与导电端子电性连通，电连接器测试系统还包括一连接装置，连接装置包括第一连接元件及若干第二连接元件，第一连接元件包括绝缘壳体及容置于绝缘壳体中的若干导电体，每一导电体与待测电连接器的一个导电端子对应电性连接，每一第二连接元件可以电性连接测试头和对应的导电体。
上述电连接器测试系统由于使用了连接装置，而不需要将测试头与待测试电连接器的导电端子直接接触，避免了导电端子短接而产生误测。
附图说明
图1为一较佳实施方式的电连接器测试系统的总体结构图。
图2为图1所示连接装置立体分解图。
图3为图2所示第一连接元件的立体分解图。
具体实施方式
请参看图1，一较佳实施方式的电连接器测试系统100，包括电路板50、测试仪器20及连接装置30。其中，待测电连接器10固定于电路板50上。待测电连接器10具有若干导电端子12，其一端与电路板50电性连通。测试仪器20具有探针式测试头22。
连接装置30包括第一连接元件32和两个第二连接元件34。第一连接元件32电性连接导电端子12，每一第二连接元件34都分别电性连接至第一连接元件32以及测试头22。即导电端子12和测试头22可以通过连接装置30的第一连接元件32及第二连接元件34建立电性连通。
请结合参看图2及图3，第一连接元件32包括两个导电体36和绝缘壳体38。绝缘壳体38并排设有两个收容孔40。导电体36则与收容孔40对应排配，并容置于对应的收容孔40中。
每一导电体36包括一体形成的对接部42和转接部44。对接部42用于与导电端子12对接，其包括一连接转接部44的底板420。自底板420的两侧向上延伸出两侧板422和424，且侧板422和424靠近转接部44的一端与底板420之间设置有狭缝426，从而形成悬空的接触臂428a和428b。接触臂428a和428b相对折弯设置而呈燕尾状。当导电端子12与对接部32对接而插入接触臂428a和428b相对折弯处时，接触臂428a和428b相背移动而弹性张开一定角度，从而使接触臂428a和428b的折弯处弹性夹住导电端子12，利于对接部42与待测电连接器10的导电端子12稳定接触。
转接部44呈圆筒状，其包括圆周壁440及形成于圆周壁440内圆周面的收容腔442。圆周壁440沿着中心轴线开设与收容腔442相通的缺口444，使圆周壁440可以随着缺口444的向外扩张而产生弹性形变。
绝缘壳体38基本呈长方体，其设有一凹陷颈部380从而把绝缘壳体38分割成长短不相同的第一端部382及第二端部384。两个收容孔40分别贯穿于整个绝缘壳体38，具体地，每一收容孔40由贯穿于第一端部382及颈部380的方形孔及第二端部384的圆形孔组成。每一收容孔40容置一个导电体36，并且收容孔40的方形孔和圆形孔分别与每个导电体36的对接部42和转接部44的对应，也就是说收容孔40的内部形状与导电体36的形状相匹配，从而减小第一元件32的体积并更好地固定导电体36。另外，各个收容孔40之间留有间隙386，使各收容孔40之间互不连通，从而分隔导电体36，进而使各导电体36之间不连通。
每一第二连接元件34分别与一对应的导电体36电性连接。第二连接元件34包括导线340，以及设于导线340两端的插接头342及导体件344。插接头342为圆柱体，并插入收容腔442中，且其直径比收容腔442的内径稍大。当插接头342插入收容腔442时，因为插接头342的直径比收容腔442的内径大，所以缺口444被迫向外扩张而使圆周壁440发生弹性形变，从而使插接头342的外表面与圆周壁440的内圆周面紧密配合，利于第二连接元件34与导电体36可靠地电性连接。导体件344设有插孔346，在本实施例中，因为测试头22为探针式，所以将测试头22插入插孔346中，即可以使测试头22与导体件344电性连通，并防止测试头22在导体件344上发生滑动。
应用电连接器测试系统100测试待测电连接器10时，首先将第一连接元件32与待测电连接器10的导电端子12对接，也就是使导电端子12插入导电体36的对接部42中，并通过接触臂428a和428b的燕尾状结构固定住导电端子12；接着将第二连接元件34连接至第一连接元件32，也就是使第二连接元件34的插接头342插入对应的导电体36的转接部44，并与收容腔442接合；最后将第二连接元件34连接至测试头22，也就是使测试头22插入导体件344的插孔346中，从而使得导电端子12通过连接装置30的第一连接元件32及第二连接元件34与测试头22建立电性连通，即可以对待测电连接器10进行测试。
可以理解，在其它实施例中，插接头342可以为方柱体或其它形状，而收容腔442设置成相应的方柱状或其它形状，即使得收容腔442的形状与插接头342的外表形状相匹配，从而可以确保第一连接元件32和第二连接元件34可靠地电性连接。另外，在其它实施例中，测试头22可能为夹式测试头，应将测试头22夹住导体件344，即可以使测试头22与导体件344电性连通。
在本实施例中，因为第一连接元件32设置了两个导电体36和相同数目的第二连接元件34，所以一次可测试待测电连接器10的两个导电端子12。在其它实施例中，也可以根据待测电连接器10的导电端子12数目，设置相同数目的导电体36，并依据待测电连接器10的类型，可以有相同数目或少于该数目的第二连接元件34。由此，对于每个导电端子12都有一个对应的导电体36，但对于每个导电体36并不是都有一个对应的第二连接元件34，即由于每个导电端子32不总是需要测试，因此第二连接元件34仅选择与需要测试的导电端子12所对应的导电体36电性相连，从而一次可以测试全部的或部分的导电端子12。
综上所述，电连接器测试系统100中应用了连接装置30，由于第一连接元件32具有绝缘外壳38以及绝缘外壳38的收容孔40互不连通，确保了测试时待测电连接器10的导电端子12不会产生短接；此外，第二连接器34的导体件344上设有插孔346，可以将探针式测试头22插入插孔346中，避免在测试过程中用手捏拿探针式测试头22探测信号的现象。因此，使用上述连接装置30可以准确而方便地对待测电连接器10进行测试，提高了测试效率。

Claims (10)

1.一种电连接器测试系统，包括用于测试待测电连接器的测试仪器，所述待测电连接器具有若干导电端子，所述测试仪器具有测试头，所述测试头与所述导电端子电性连通，其特征在于：所述电连接器测试系统还包括一连接装置，所述连接装置包括第一连接元件及若干第二连接元件，所述第一连接元件包括绝缘壳体及容置于所述绝缘壳体中的若干导电体，每一导电体与所述待测电连接器的一个导电端子对应电性连接，每一第二连接元件可以电性连接所述测试头和对应的导电体。
2.如权利要求1所述的电连接器测试系统，其特征在于：所述绝缘壳体并排设有若干贯穿于所述绝缘壳体的收容孔，每个收容孔容置一个导电体。
3.如权利要求2所述的电连接器测试系统，其特征在于：所述导电体包括一体形成的对接部及转接部，所述对接部具有相对折弯设置的两接触臂用于弹性夹住所述待测电连接器的导电端子，所述转接部可以与所述第二连接元件电性连接。
4.如权利要求3所述的电连接器测试系统，其特征在于：所述第二连接元件包括导线以及设于该导线两端的插接头和导体件，所述插接头与所述转接部插接，所述导体件与所述测试头电性连接。
5.如权利要求4所述的电连接器测试系统，其特征在于：所述转接部和所述插接头包括相互配合插接的插槽和插头。
6.如权利要求4所述的电连接器测试系统，其特征在于：所述转接部和所述插接头包括相互配合插接的插头和插槽。
7.如权利要求4所述的电连接器测试系统，其特征在于：所述转接部为一圆筒，所述插接头为一圆柱。
8.如权利要求7所述的电连接器测试系统，其特征在于：所述圆筒沿着其圆周壁的轴线开设一缺口。
9.如权利要求8所述的电连接器测试系统，其特征在于：所述圆柱的直径大于所述圆筒的内径。
10.如权利要求4所述的电连接器测试系统，其特征在于：所述导体件上设有一插孔，所述测试头插入所述插孔中。
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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101718835B (zh) * 2009-11-23 2011-01-26 泰兴市航联电连接器有限公司 电连接器绝缘耐压综合测试装置
CN102540004A (zh) * 2010-12-08 2012-07-04 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 测试装置
CN102539848A (zh) * 2010-12-21 2012-07-04 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 探棒组合
JP5630365B2 (ja) * 2011-04-13 2014-11-26 オムロン株式会社 コネクタ用接続端子およびそれを用いたコネクタ
CN202177646U (zh) * 2011-08-01 2012-03-28 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 探棒组件
CN103913603B (zh) * 2013-01-04 2017-02-22 航天科工防御技术研究试验中心 电连接器测试适配器
US9866047B2 (en) * 2014-04-15 2018-01-09 Connect-Ease L.L.C. Multi-battery and multi-device connection system
US10060981B2 (en) * 2014-12-03 2018-08-28 Power ProbeTeK, LLC Diagnostic circuit test device
EP3104671B1 (en) * 2015-05-08 2018-07-18 Joylabz LLC Methods and systems for magnetic coupling
CN110187153B (zh) * 2018-02-22 2021-04-13 致茂电子(苏州)有限公司 夹式探针组件
US10274542B1 (en) * 2018-11-27 2019-04-30 Professional Generator Testers LLC Electrical generator testing appliance
CN111913088B (zh) * 2020-09-18 2021-03-19 哈本自动化技术(江苏)有限公司 排线耐电压测试系统
CN113917301B (zh) * 2021-10-09 2023-06-30 中国电子科技集团公司第二十九研究所 一种射频产品的自动测试方法

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2719380A1 (fr) * 1994-04-29 1995-11-03 Monetel Dispositif de test de cosses câblées.
CN1299060A (zh) * 1999-12-01 2001-06-13 矢崎总业株式会社 接线器用的电通路检查器
CN1873432A (zh) * 2005-06-01 2006-12-06 明基电通股份有限公司 测试装置及其测试方法

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3692966A (en) * 1970-07-22 1972-09-19 Cooke Eng Co The Multi-circuit patch plug and jack
US4256936A (en) * 1976-01-19 1981-03-17 Dynatech Laboratories, Inc. Electrical jack and patch cord assemblies
US4114975A (en) * 1977-07-20 1978-09-19 Amp Incorporated Displation type electrical connector
US4398780A (en) * 1979-07-03 1983-08-16 Amp Incorporated Shielded electrical connector
EP0074166B1 (en) * 1981-07-30 1986-04-16 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha A terminal apparatus and a batch inserting type test plug for a drawer type relay
US5311214A (en) * 1985-11-08 1994-05-10 Canon Kabushiki Kaisha Ink jet recording apparatus having means for removing foreign material from an ink supply path by first introducing an into the ink supply path
US4790771A (en) * 1987-09-23 1988-12-13 Amp Incorporated Wire trap terminal
FR2670294B1 (fr) * 1990-12-06 1993-03-19 Merlin Gerin Prise test.
US5477159A (en) * 1992-10-30 1995-12-19 Hewlett-Packard Company Integrated circuit probe fixture with detachable high frequency probe carrier
US5332397A (en) * 1993-01-15 1994-07-26 Independent Technologies, Inc. Test cord apparatus
US6062895A (en) * 1998-07-15 2000-05-16 International Connectors And Cable Corporation Patch plug with contact blades
US6530808B1 (en) * 2000-10-17 2003-03-11 Berg Technology, Inc. Coaxial cable connector
US6468089B1 (en) * 2001-04-20 2002-10-22 Molex Incorporated Solder-less printed circuit board edge connector having a common ground contact for a plurality of transmission lines
US20030176085A1 (en) * 2002-02-25 2003-09-18 Atl Technology, Lc. Electrical connector assembly
JP3947122B2 (ja) * 2003-03-24 2007-07-18 株式会社オートネットワーク技術研究所 機器のシールドケースへの電線接続構造
US7025628B2 (en) * 2003-08-13 2006-04-11 Agilent Technologies, Inc. Electronic probe extender
US6808407B1 (en) * 2003-08-22 2004-10-26 Agilent Technologies, Inc. Locking precision male BNC connector with latch mechanism allowing cable rotation
US7044813B2 (en) * 2004-01-23 2006-05-16 Molex Incorporated Electrical connector with terminal rotation prevention
US7049843B2 (en) * 2004-03-10 2006-05-23 Tektronix, Inc. Signal acquisition probing system using a micro-cavity laser capable of sensing DC voltages
US7057401B2 (en) * 2004-03-23 2006-06-06 Pass & Seymour, Inc. Electrical wiring inspection system
US6997746B2 (en) * 2004-04-20 2006-02-14 Ark-Les Corporation Crimp connector
US7410384B2 (en) * 2006-05-16 2008-08-12 Fci Americas Technology, Inc. Electrical contact with stapled connection

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2719380A1 (fr) * 1994-04-29 1995-11-03 Monetel Dispositif de test de cosses câblées.
CN1299060A (zh) * 1999-12-01 2001-06-13 矢崎总业株式会社 接线器用的电通路检查器
CN1873432A (zh) * 2005-06-01 2006-12-06 明基电通股份有限公司 测试装置及其测试方法

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Publication number Publication date
US20080245566A1 (en) 2008-10-09
US7714569B2 (en) 2010-05-11
CN101281233A (zh) 2008-10-08

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