CN103913603B - 电连接器测试适配器 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电连接器测试适配器，包括测试板和适配转接箱；所述测试板包括测试面板和测试电路；所述测试面板，包括：用于提供测试过程中提示信号的提示模块，用于提供测试过程中各部件之间连接接口的连接模块，以及用于选择测试功能的选择模块；所述测试电路，包括驱动模块、控制模块、测试模块；所述驱动模块包括用于提供电源的驱动电源电路；所述控制模块包括控制电路，用于在各测试功能下控制各部件间的信号变换及传输；所述测试模块包括用于配合测试的外围电路；所述适配转接箱，包括电连接器接口模块、转接模块，用于为所有待测电连接器提供与测试板之间的转接；本发明所公开的电连接器测试适配器，使得电连接器性能测试更加准确、高效。

Description

电连接器测试适配器

技术领域

本发明涉及电子器件测试技术，特别是指一种电连接器测试适配器。

背景技术

在各类电子系统中，电连接器在器件与器件、组件与组件、系统与系统之间进行电气连接和信号传递，是构成一个完整系统所必须的基础元件。

在各种军机和武器装备中，电连接器的用量较大，特别是飞机上使用电连接器的用量特别大。一般来讲一架飞机电连接器的使用量可达数百件至几千件，牵扯到好几万个线路。因此，电连接器除了要满足一般的性能要求外，特别重要的要求是电连接器必须达到接触良好，工作可靠，维护方便，其工作可靠与否直接影响飞机电路的正常工作，涉及整个主机的安危。为此，主机电路对电连接器的质量和可靠性有非常严格的要求，也正因为电连接器的高质量和高可靠性，使它也广泛应用于航空、航天、国防等军用系统中。

而在对各类电连接器的检测过程中，需要对其进行导通（或线号查找）、绝缘、耐压等性能指标测试。

目前电连接器导通测试查线号时需要多次进行导通测试才能够找出对应的导线，确认标号是否正确，测试效率低，易出现人为隐患，无法满足大批量复验测试的需要。

而电连接器绝缘耐压测试绝大多数都是直接采用与绝缘电阻测试仪相连的两根测试表笔，在每个接触件之间或接触件与壳体之间搭接，检验其绝缘电阻、介质耐压是否合格。这种测试方法可靠性较差，极有可能产生漏检，每个接点不可能像有测试工装那样可以控制检测时间，所以国内传统的测试方法有可能造成误判，并且测试效率低。

为了提高电连接器检测的效率，保证测试准确性，使电连接器的测试用于大批量产品在线检测，迫切需要制作电连接器测试适配器，保证测试适配器能更准确地与电连接器进行对接和互换，测试时与电连接器的接触更加稳定可靠，测试效率更高。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提出一种电连接器测试适配器，使得电连接器性能测试更加简单、准确、高效。

基于上述目的本发明提供的电连接器测试适配器，包括测试板和适配转接箱；

所述测试板包括测试面板和测试电路；

所述测试面板，包括：用于提供测试过程中提示信号的提示模块，用于提供测试过程中各部件之间连接接口的连接模块，以及用于选择测试功能的选择模块；

所述测试电路，包括驱动模块、控制模块、测试模块；所述驱动模块包括用于提供电源的驱动电源电路；所述控制模块包括控制电路，用于在各测试功能下控制各部件间的信号变换及传输；所述测试模块包括用于配合测试的外围电路；

所述适配转接箱，包括电连接器接口模块、转接模块，用于为所有待测电连接器提供与测试板之间的转接。

在一个实施例中，所述测试面板包括测试前面板和测试后面板，所述提示模块和选择模块设置在测试前面板上；所述测试面板的连接模块包括用于连接所述适配转接箱的测试端口、测试笔插座和多点接触测试板插座至少其中之一、绝缘测试插孔、耐压测试插孔、供电电源插孔、连接绝缘耐压测试仪的通信接口；所述测试端口、测试笔插座和多点接触测试板插座至少其中之一设置在所述测试前面板上；所述绝缘测试插孔、耐压测试插孔、供电电源插孔、连接绝缘耐压测试仪的通信接口设置在所述测试后面板上。

在另一个实施例中，所述测试面板的连接模块还包括公共测试点和点对壳测试点，用于连接绝缘耐压测试仪的电连接器转接器。

在另一个实施例中，所述测试面板的提示模块包括用于导通测试的发光二极管阵列和/或声音报警器，和/或测试状态提示发光二极管。

在另一个实施例中，所述测试面板的选择模块至少包括导通测试、单点测试、高压测试、停止测试四种可选功能按钮，分别对应于测试电连接器的多点导通性能、单点导通性能、绝缘耐压性能，以及停止对电连接器测试。

在另一个实施例中，所述适配转接箱的电连接器接口模块至少包括电连接器系列为J30、J30J、J63A、CDb、J40、J29A其中之一的多个型号对应的电连接器接口。

在另一个实施例中，所述适配转接箱的转接模块，包括适配测试接口以及用于将所述每个电连接器接口中的每个连接点对应连接到该测试接口的连接点上的转接板和转接电路；使得所述每个电连接器接口的第1至N个连接点，对应连接到所述测试前面板上的128芯测试端口的第1至N个连接点。

在另一个实施例中，所述测试电路的控制模块包括单片机及至少八个时间继电器；所述八个继电器的控制端连接所述单片机，由所述单片机控制所述八个继电器的通断；所述八个继电器以反极性并联的两个继电器为一组分为四组继电器组，分别用于控制被测电连接器的点对点、横排对横排、竖排对竖排、点对壳的测试。

在另一个实施例中，所述控制模块还包括与所述测试端口的每个连接点都分别连接的一组反极性连接的时间继电器，其中一个时间继电器均正向连接到所述的高压输出的正输出，另一个时间继电器反向连接到所述的高压输的负输出。

在另一个实施例中，所述测试电路的驱动模块包括电源芯片及变压器，所述电源芯片将供电电源转换为所述单片机的驱动电源，所述变压器将供电电源转换为所述继电器的控制电压。

在另一个实施例中，所述测试电路的测试模块包括发光二极管驱动电路和/或声音报警电路，所述测试面板的提示模块对应于所述发光二极管驱动电路和/或声音报警电路包括发光二极管阵列和/或声音报警器，通过各发光二极管的明灭和/或声音报警器报号提示电连接器对应芯线的通断。

从上面所述可以看出，本发明提供电连接器测试适配器，利用多点接触测试板可实现点与点一一对应，一次性完成导通测试的功能，较以往的导通测试节省了时间，并且测试时更加直观。而进一步的，利用测试笔进行单点导通测试，也可快速找出存在问题的芯线。适配转接箱的使用可以大大降低了128芯测试端口与连接线插头的插拔次数从而使得所述电连接器测试适配器使用寿命得以大大的提高，从而提高了测试效率，很大提高了测试的可靠性和安全性，解决了高密度、小间距的电连接器测试难题，使得测试时接触更加稳定可靠，测试效率更高，避免了电连接器断路、短路、误配线测试等问题。进一步的，利用单片机和继电器配合控制，继电器和时间继电器的自动切换控制功能，一次完成了绝缘或耐压测试，大大提高了测试效率，减少了测试时间，提高了元器件的安全可靠性。

更进一步的，利用绝缘耐压测试仪的绝缘电阻和耐压介质测试的自动切换功能，可以不用更换绝缘耐压测试仪的高压输入测试表笔插入的插孔位置，之间从绝缘测试切换到耐压测试，即可在绝缘测试完成后直接进行耐压测试，使得绝缘电阻和介质耐压一步测试成功，从而使得插拔一次连接线插头就可以完成绝缘、耐压、导通测试，提高了元器件的安全可靠性，有效提高了日常的测试效率，减少了测试时间。较佳的，采用备用的绝缘耐压测试仪的电连接器转接器，使得当所述适配转接箱突然工作不正常导致无法进行绝缘耐压测试时，则可利用所述测试面板上备用设置的公共测试点1、2、3和对壳测试点进行所述的绝缘耐压测试，保证测试的可靠性。

优选的，采用能满足耐高压的继电器，可进一步提高所述电连接器测试适配器的可靠性。

附图说明

图1为本发明公开的电连接器测试适配器实施例示意图；

图2a为本发明实施例测试前面板示意图；

图2b为本发明实施例测试后面板示意图；

图3a为本发明实施例适配转接箱示意图；

图3b为本发明实施例适配转接箱中待测电连接器连接点间的连接示意图；

图4为本发明实施例测试电路示意图；

图4a为本发明实施例控制模块的控制电路示意图；

图4b为本发明实施例驱动模块的驱动电源电路示意图；

图4c为本发明实施例单片机驱动继电器原理图；

图5a为本发明实施例待测电连接器J30-51ZK的结构图；

图5b为本发明实施例待测电连接器J30-51ZK的接口结构图；

图6为本发明实施例绝缘耐压测试仪的电连接器转接器的连接示意图。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，以下结合具体实施例，并参照附图，对本发明进一步详细说明。

本发明所公开的一种电连接器测试适配器，包括测试板和适配转接箱；

所述测试板包括测试面板和测试电路；

所述测试面板，包括：用于提供测试过程中提示信号的提示模块，用于提供测试过程中各部件之间连接接口的连接模块，以及用于选择测试功能的选择模块；

所述测试电路，包括驱动模块、控制模块、测试模块；所述驱动模块包括用于提供电源的驱动电源电路；所述控制模块包括控制电路，用于在各测试功能下控制各部件间的信号变换及传输；所述测试模块包括用于配合测试的外围电路；

所述适配转接箱，包括电连接器接口模块、转接模块，用于为所有待测电连接器提供与测试板之间的转接。

参考附图1，为本发明公开的电连接器测试适配器实施例示意图。

所述电连接器测试适配器，包括测试板和适配转接箱。所述测试板包括测试面板（参考附图2a和2b）和测试电路（参考附图4、附图4a至4c）。

所述测试面板分为测试前面板和测试后面板，包括：用于提供测试过程中提示信号的提示模块，用于提供测试过程中各部件之间连接接口的连接模块，以及用于选择测试功能的选择模块。

所述测试电路，包括驱动模块、控制模块、测试模块；所述驱动模块包括用于提供电源的驱动电源电路；所述控制模块包括控制电路，用于在各测试功能下控制各部件间的信号变换及传输；所述测试模块包括用于配合测试的外围电路。

所述适配转接箱，包括电连接器接口模块、转接模块，用于为所有待测电连接器提供与测试板之间的转接。

参考附图2a和2b，分别为本发明实施例测试前面板和测试后面板示意图。

所述测试面板分为测试前面板和测试后面板，包括：用于提供测试过程中提示信号的提示模块，用于提供测试过程中各部件之间连接接口的连接模块，以及用于选择测试功能的选择模块。

所述测试面板的提示模块和选择模块设置在测试前面板上；所述提示模块包括用于导通测试的16×8发光二极管阵列和声音报警器，以及测试状态提示（例如电源指示、导通指示、对壳指示、单点指示、高压指示、报警指示等）发光二极管；所述测试面板的选择模块包括系统自检、导通测试、短路测试、单点测试、高压测试、停止测试共六种可选功能按钮，分别对应于测试适配器自检，测试电连接器的多点导通性能，短路性能，单点导通性能，绝缘耐压性能，以及停止对电连接器测试。

所述测试面板的连接模块包括用于连接所述适配转接箱的测试端口、公共测试点1至3、点对壳测试点、测试笔插座和多点接触测试板插座、绝缘测试插孔、耐压测试插孔、供电电源插孔、连接绝缘耐压测试仪的通信接口；所述测试端口、公共测试点1至3、点对壳测试点、测试笔插座和多点接触测试板插座设置在所述测试前面板上；所述绝缘测试插孔、耐压测试插孔、供电电源插孔、连接绝缘耐压测试仪的通信接口设置在所述测试后面板上。

参考附图3a，为本发明实施例适配转接箱示意图。

所述适配转接箱，包括电连接器接口模块、转接模块，用于为所有待测电连接器提供与测试板之间的转接。

所述适配转接箱的电连接器接口模块包括电连接器系列为J30、J30J、J63A、CDb、J40、J29A的多个型号对应的电连接器接口。其中，J30系列待测电连接器包括型号为J30-9TJ、J30-15TJ、J30-21TJ、J30-25TJ、J30-31TJ、J30-37TJ、J30-51TJ、J30-66TJ、J30-15ZK、J30-21ZK、J30-25ZK、J30-31ZK、J30-37ZK、J30-51ZK、J30-65ZK、J30-69ZK的电连接器；J30J系列待测电连接器包括型号为J30J-9TJ、J30J-15TJ、J30J-21TJ、J30J-25TJ、J30J-31TJ、J30J-37TJ、J30J-51TJ、J30J-66TJ、J30J-74TJ、J30J-100TJ、J30J-9ZK、J30J-15ZK、J30J-21ZK、J30J-25ZK、J30J-31ZK、J30J-37ZK、J30J-51ZK、J30J-66ZK、J30J-74ZK、J30J-100ZK的电连接器；J63A系列待测电连接器包括型号为J63A-9TJ、J63A-15TJ、J63A-21TJ、J63A-25TJ、J63A-31TJ、J63A-37TJ、J63A-51TJ、J63A-9ZK、J63A-15ZK、J63A-21ZK、J63A-25ZK、J63A-31ZK、J63A-37ZK、J63A-51ZK、J63A-65ZK、J63A-69ZK的电连接器；CDb系列待测电连接器包括型号为CDb-13TJ、CDb-19TJ、CDb-31TJ、CDb-33TJ、CDb-52TJ、CDb-79TJ、CDb-100TJ、CDb-13ZK、CDb-19ZK、CDb-31ZK、CDb-33ZK、CDb-52ZK、CDb-79ZK、CDb-100ZK的电连接器；J40系列待测电连接器包括型号为J40-11TJ、J40-13TJ、J40-15TJ、J40-25TJ、J40-31TJ、J40-39TJ、J40-51TJ、J40-11ZK、J40-13ZK、J40-15ZK、J40-25ZK、J40-31ZK、J40-39ZK、J40-51ZK的电连接器；J29A系列待测电连接器包括型号为J29A-9TJ、J29A-15TJ、J29A-21TJ、J29A-25TJ、J29A-31TJ、J29A-37TJ、J29A-51TJ、J29A-66TJ、J29A-9ZK、J29A-15ZK、J29A-21ZK、J29A-25ZK、J29A-31ZK、J29A-37ZK、J29A-51ZK、J29A-66ZK的电连接器；对应于所述各型号的待测电连接器，所述适配转接箱上则设置了对应的电连接器接口（参照附图3）。

本实施例中适配转接箱上仅例举性的设置了部分可测试的电连接器接口（电连接器系列为J30、J30J、J63A、CDb、J40、J29A的多个型号对应的电连接器接口），当需要对其他型号的电连接器进行测试时，可相应增加接口，也应当属于本发明保护范围。

所述适配转接箱的转接模块，包括适配测试接口以及用于将所述每个电连接器接口中的每个连接点对应连接到该测试接口的连接点上的转接板和转接电路。

参考附图3b，为本发明实施例适配转接箱中待测电连接器连接点间的连接示意图。

图中左半部分三块竖直排列的板即为所述的转接板，从上到下依次为第一转接板、第二转接板、第三转接板。

以J30-*TJ系列为例，包括型号为J30-9TJ、J30-15TJ、J30-21TJ、J30-25TJ、J30-31TJ、J30-37TJ、J30-51TJ、J30-66TJ共8种待测电连接器，对应的分别包括9、15、21、25、31、37、51、66个连接点，所述型号为J30-9TJ的电连接器的连接点对应连接到第一转接板的第1至第9个连接点，所述型号为J30-15TJ的电连接器的连接点对应连接到第一转接板的第10至第24个连接点，以此类推，所述型号为J30-66TJ的电连接器的连接点则对应连接到第一转接板的第190至第255个连接点，于此，J30-*TJ系列电连接器则占用了第一转接板的前255个连接点，下一个系列待测电连接器也是采用此方式连接第一转接板上还未被占用的连接点，当第一转接板的连接点全部被占用，或不够下一个待测电连接器连接时，则连接到第二转接板，同理，再占用第三转接板；由于本实施例中各系列的待测连接器的芯线数目太大，鉴于篇幅原因，在此只以例举方式表示出了三块转接板；按照所述连接方式，使得每个待测电连接器均能与转接板的连接点对应连接。

所述转接电路包括多根连接线，所述每根连接线将所述每个电连接器接口中的每个连接点对应转接到所述适配测试接口上，转接方法如下：

所述适配测试接口为128芯接口，具有128个连接点，所述J30、J30J、J63A、CDb、J40、J29A系列的待测电连接器对应于转接板上的点则对应连接到测试接口的连接点，例如，第一转接板的第1至第9个连接点通过连接线对应连接该测试接口的第1至第9个连接点，假设第一转接板的第10至第24个连接点是型号为J30-15TJ的电连接器，那么相应的，第一转接板的第10至第24个连接点则通过连接线对应连接该测试接口的第1至第15个连接点，依次类推，完成所有待测电连接器接口中的每个连接点对应连接到该测试接口的连接点上的转接。

最后，再通过一条测试连接线将128芯适配测试接口与所述测试前面板上的128芯测试端口连接；使得所述每个待测电连接器接口的第1至N个连接点，对应连接到所述测试前面板上的128芯测试端口的第1至N个连接点；则完成了将所述每个电连接器接口中的每个连接点对应转接到所述测试前面板上用于连接所述适配转接箱的测试端口上，并最终完成了所有待测电连接器与测试板之间的转接。

参考附图4，为本发明实施例测试电路示意图。

所述测试电路，包括驱动模块、控制模块、测试模块；所述驱动模块包括用于提供电源的驱动电源电路；所述控制模块包括控制电路，用于在各测试功能下控制各部件间的信号变换及传输；所述测试模块包括用于配合测试的外围电路。

所述测试电路的测试模块包括发光二极管驱动电路和声音报警电路，所述测试面板的提示模块对应于所述发光二极管驱动电路和声音报警电路包括16×8发光二极管阵列和声音报警器；所述发光二极管驱动电路包括16×8条发光二极管并联驱动电路，每条驱动电路包括一个发光二极管，每条驱动电路都分别对应连接所述测试面板上的128芯测试端口的连接点；所述发光二极管驱动电路另一端与声音报警器串联，所述声音报警器另一端串联所述语音芯片，所述语音芯片另一端连接到测试面板上的测试笔接口和多点接触测试板接口；电路接通为导通测试后，通过各发光二极管的明灭和声音报警器报号提示电连接器对应芯线的通断。

参考附图4a，为本发明实施例控制模块的控制电路示意图；

所述测试电路的控制模块包括单片机及九个继电器；所述九个继电器的控制端连接所述单片机，由所述单片机控制所述九个继电器的通断；所述九个继电器的控制电压端连接24V控制电压（参考附图4b），所述九个继电器的接地端接地。所述九个继电器的高压输入端连接所述测试后面板上的绝缘测试插孔和耐压测试插孔，用于接收绝缘耐压测试仪高压输入；所述第一继电器N1用于总控，主要起保护作用；另外八个继电器以反极性并联（参照附图4c）的两个继电器为一组分为四组继电器组，因此，所述继电器组中以反极性并联的两个继电器的高压输入端则分别接入绝缘耐压测试仪的正负两个测试输入表笔，使得所述以反极性并联的两个继电器的高压输出同时也是反极性的；因此，得到了反极性成对的高压输出①至④；绝缘耐压测试时，分别用于控制被测电连接器的点对点、横排对横排、竖排对竖排、点对壳的测试。

所述测试电路的控制模块还包括与所述128芯测试端口的每个连接点都分别连接的一组反极性连接的时间继电器，其中一个时间继电器均正向连接到所述的高压输出①至④的正输出（+/-），另一个时间继电器反向连接到所述的高压输出①至④的负输出（-/+），即所述128芯测试端口总共要连接256个时间继电器，其中，对应的，与第1连接点正向连接的时间继电器为第一时间继电器，与第1连接点反向连接的时间继电器为第二时间继电器，依次类推，与第128连接点正向连接的时间继电器为第二百五十五时间继电器，与第128连接点反向连接的时间继电器为第二百五十六时间继电器；所述256个时间继电器的控制端分别连接到所述单片机。

参考附图4b，为本发明实施例驱动模块的驱动电源电路示意图；

所述测试电路的驱动模块包括电源芯片及变压器，所述电源芯片将供电电源转换为所述单片机的驱动电源，所述变压器将供电电源转换为所述继电器的控制电压。所述电源芯片将供电电源转换为5V直流电源+3.3V交流电源，并连接到所述单片机的驱动电源端，用于为所述单片机供电；所述变压器将供电电源转换为继电器的24V控制电压，并连接到所述继电器的控制电压端，其为用于带动所述继电器的电源，使得继电器内部触点吸合。

参考附图4c，为本发明实施例单片机驱动继电器原理图。

此图例举了单片机在控制第一组继电器时的工作原理。从图中可以看出，所述继电器组中的两个继电器是以反极性并联的，其中一个继电器的高压输入端正向连接是绝缘耐压测试仪的一个高压输入测试表笔，另一个继电器的的高压输入端反向连接是绝缘耐压测试仪的另一个高压输入测试表笔，使得，当绝缘耐压测试仪的高压输入且继电器导通时，则其正向高压输入通过正向连接的继电器连接待测点（点、或横排、或竖排、或外壳），其反向高压输入通过反向连接的继电器连接另一待测点（点、或横排、或竖排、或外壳）。

同理可得，其他几组继电器组也是类似的原理。

下面以型号为J30-51ZK的待测连接器为例，介绍所述电连接器测试适配器的测试过程及工作原理。参考附图5，为本发明实施例待测电连接器J30-51ZK的结构图，该电连接器包括位于电连接器外壳内的芯线和露在电连接器外壳外的引线。

测试开始前，先对所述电连接器测试适配器进行自检。将供电电源连接到所述测试后面板上的供电电源插孔，所述测试前面板上的电源指示发光二极管发亮，供电电源对所述电连接器测试适配器供电（参照附图4），然后按压所述测试前面板上的系统自检按钮（参照附图2a），进行系统自检。由于供电电源与发光二极管驱动电路耦合，所述各发光二极管线路都接地，则形成电路回路；因此，当发光二极管不亮时，则表示该发光二极管已损坏或该线路断路，需要进行维修；若每个发光二极管均正常发亮，则完成系统自检，可以开始进行电连接器性能测试。

导通测试：

将待测电连接器J30-51ZK插在适配转接箱上对应的电连接器接口上，将供电电源连接到所述测试后面板上的供电电源插孔，所述测试前面板上的电源指示发光二极管发亮，供电电源对所述电连接器测试适配器供电（参照附图4），按压所述测试前面板上的短路测试按钮（参照附图2a），开始短路测试。当发现有发光二极管不亮时，则证明该二极管对应的电连接器芯线存在短路，相应的，所述测试前面板上的报警指示发光二极管发亮；若所有发光二极管都亮，则证明电连接器芯线不存在短路。如此一来，则更加直观快速测试被测电连接器各芯线之间是否存在短路。

然后，按压所述测试前面板上的导通测试按钮（参照附图2a），所述测试前面板上的导通指示发光二极管发亮，开始导通测试。将被测电连接器的引线与多点接触测试板相接触，若存在芯线与其对应的引线间断路的线路，对应线路的发光二极管则不亮，相应的，所述测试前面板上的报警指示发光二极管发亮；若所有芯线与其对应的引线间都不存在断路，则所有发光二极管均发亮。当进行不用核对电连接器线号且大批量测试时，采用多点接触测试板进行测试，可以一次完成多点的导通测试，方便、快捷。

当多点导通测试完成后，若出现不亮的发光二极管，则说明存在芯线与其对应的引线间断路的线路，若需要一一排查电连接器的每个线路以确定哪个线路出现了断路，则进行单点导通测试。按压所述测试前面板上的单点测试按钮（参照附图2a），所述测试前面板上的单点指示发光二极管发亮，开始单点导通测试。将所述测试笔与被测电连接器的引线一一接触，当对应线路的发光二极管熄灭时，表示此条线路处于正常状态，也就是没有断路，由于所述语音芯片与发光二极管阵列相连，此时产生一个对应线路的电信号反馈到所述语音芯片中，语音芯片内部识别此电信号并通过声音报警器报出对应线路编号，完成语音报号的任务；若对应线路的发光二极管发亮，表示此条线路存在断路，则不产生所述电信号，声音报警器不报号，相应的，所述测试前面板上的报警指示发光二极管发亮。利用测试笔对器件内芯逐一进行测试排查，同时语音自动报号，可以更加精确地快速找出漏接、错接的情况；进一步的，测试笔还可检查线号是否存在标识错误的情况。

通过上述步骤，则完成了对被测电连接器的所有导通测试。

绝缘测试：

首先，将待测电连接器J30-51ZK插在适配转接箱上对应的电连接器接口上；然后，将供电电源连接到所述测试后面板上的供电电源插孔，所述测试前面板上的电源指示发光二极管发亮，供电电源对所述电连接器测试适配器供电（参照附图4）；接着，将绝缘耐压测试仪的通信接口与所述测试后面板的通信接口连接，用于测试仪器的通信连接；随后，将绝缘耐压测试仪的高压输入测试表笔分别插入所述绝缘测试插孔，调节绝缘耐压测试仪的高压输入电压至所需要的测试电压；然后，按压所述测试前面板上的高压测试按钮进行绝缘测试，相应的，所述测试前面板上的高压指示发光二极管发亮。

此时，所述电源芯片开始供给所述单片机3.3V驱动电源，单片机开始工作，且单片机内部程序会自动通过所述通信接口传输信号来驱动绝缘耐压测试仪工作，通过绝缘测试耐压仪显示检测情况、合格与不合格。

接着，所述单片机首先控制所述第一继电器组打开，开始进行待测电连接器J30-51ZK的点与点间绝缘测试：

首先，单片机控制与第1连接点正向连接的第一时间继电器导通，使得正向高压输出①输入到所述第1连接点，然后，单片机依次控制（即时序控制）与第2连接点至第51连接点反向连接的第四时间继电器至第一百零二时间继电器（都是第偶数个时间继电器）导通，使得反向高压输出①依次输入到所述第2连接点至第51连接点，测试过程中，通过所述通信接口传输信号并在所述绝缘耐压测试仪上显示测试结果，则依次测出了所述第1连接点与被测电连接器中其他连接点间的绝缘电阻；然后，同样的，单片机控制与第2连接点正向连接的第三时间继电器导通，使得正向高压输出①输入到所述第2连接点，然后，单片机依次控制（即时序控制）与第1连接点、第3连接点至第51连接点反向连接的第二时间继电器、第六时间继电器至第一百零二时间继电器（都是第偶数个时间继电器）导通，使得反向高压输出①依次输入到所述第1连接点、第3连接点至第51连接点，测试过程中，通过所述通信接口传输信号并在所述绝缘耐压测试仪上显示测试结果，则依次测出了所述第2连接点与被测电连接器中其他连接点间的绝缘电阻；依次类推，单片机控制相应的时间继电器的通断，完成了被测电连接器所有芯线间的点对点绝缘电阻测试。

接着，所述单片机控制所述第二继电器组打开，开始进行待测电连接器J30-51ZK的横排与横排间的绝缘测试。

首先，单片机控制与第1连接点至第18连接点正向连接的第一时间继电器至第三十五时间继电器（都是第奇数个时间继电器）同时导通，使得正向高压输出②输入到所述第1连接点至第18连接点，然后，单片机控制与第16连接点至第35连接点反向连接的第三十二时间继电器至第七十时间继电器（都是第偶数个时间继电器）同时导通，使得反向高压输出②输入到所述第16连接点至第35连接点，测试过程中，通过所述通信接口传输信号并在所述绝缘耐压测试仪上显示测试结果，则测出了所述第1横排连接点与第2横排连接点间的绝缘电阻；然后，单片机切换到控制与第36连接点至第51连接点反向连接的第七十二时间继电器至第一百零二时间继电器（都是第偶数个时间继电器）同时导通，测试过程中，通过所述通信接口传输信号并在所述绝缘耐压测试仪上显示测试结果，则测出了所述第1横排连接点与第3横排连接点间的绝缘电阻；依次类推，单片机控制相应的时间继电器的通断，完成了被测电连接器所有芯线横排对横排的绝缘电阻测试。

然后，所述单片机控制所述第三继电器组打开，开始进行待测电连接器J30-51ZK的竖排与竖排间的绝缘测试：

首先，单片机控制与第1连接点、第19连接点、和第36连接点正向连接的第一时间继电器、第三十七时间继电器、和第七十一时间继电器同时导通，使得正向高压输出③输入到所述第1连接点、第19连接点、和第36连接点，然后，单片机控制与第2连接点、第20连接点、和第37连接点反向连接的第四时间继电器、第四十时间继电器、和第七十四时间继电器同时导通，使得反向高压输出③输入到所述第2连接点、第20连接点、和第37连接点，测试过程中，通过所述通信接口传输信号并在所述绝缘耐压测试仪上显示测试结果，则测出了所述第1竖排连接点与第2竖排连接点间的绝缘电阻；然后，单片机切换到控制与第3连接点、第21连接点、和第38连接点反向连接的第六时间继电器、第四十二时间继电器、和第七十六时间继电器同时导通，测试过程中，通过所述通信接口传输信号并在所述绝缘耐压测试仪上显示测试结果，则测出了所述第1竖排连接点与第3竖排连接点间的绝缘电阻；依次类推，单片机控制相应的时间继电器的通断，完成了被测电连接器所有芯线竖排对竖排的绝缘电阻测试。

最后，所述单片机控制所述第四继电器组打开，开始进行待测电连接器J30-51ZK的点与外壳间的绝缘测试：

此时，需将所述绝缘耐压测试仪的高压输入的反向输入测试表笔连接到所述被测电连接器的外壳。

然后，单片机控制与第1连接点正向连接的第一时间继电器导通，使得正向高压输出④输入到所述第1连接点，测试过程中，通过所述通信接口传输信号并在所述绝缘耐压测试仪上显示测试结果，则测出了所述第1连接点与被测电连接器外壳间的绝缘电阻；然后，单片机切换到控制与第2连接点正向连接的第三时间继电器导通，测试过程中，通过所述通信接口传输信号并在所述绝缘耐压测试仪上显示测试结果，则测出了所述第2连接点与被测电连接器外壳间的绝缘电阻；依次类推，单片机控制相应的时间继电器的通断，完成了被测电连接器所有芯线与外壳间的绝缘电阻测试。

通过单片机控制继电器组的通断来切换点与点、横排与横排、竖排与竖排、点与外壳的测试模式，并在相应模式中对应控制与测试端口连接点相连的时间继电器的通断来依次进行测试，最终完成了待测电连接器J30-51ZK的所有绝缘性能测试。

采用类似的原理，即可测试其他系列其他型号的待测电连接器的绝缘性能。

耐压测试：

绝缘测试结束后，绝缘测试耐压仪自动切换为耐压测试，然后对被测电连接器进行介质耐压测试。

首先，将待测电连接器J30-51ZK插在适配转接箱上对应的电连接器接口上；然后，将供电电源连接到所述测试后面板上的供电电源插孔，所述测试前面板上的电源指示发光二极管发亮，供电电源对所述电连接器测试适配器供电（参照附图4）；接着，将绝缘耐压测试仪的通信接口与所述测试后面板的通信接口连接，用于测试仪器的通信连接；随后，将绝缘耐压测试仪的高压输入测试表笔分别插入所述耐压测试插孔，调节绝缘耐压测试仪的高压输入电压至所需要的测试电压；然后，按压所述测试前面板上的高压测试按钮进行耐压测试，相应的，所述测试前面板上的高压指示发光二极管发亮。

此时，所述电源芯片开始供给所述单片机3.3V驱动电源，单片机开始工作，且单片机内部程序会自动通过所述通信接口传输信号来驱动绝缘耐压测试仪工作，通过绝缘测试耐压仪显示检测情况、合格与不合格。

所述单片机首先控制所述第一继电器组打开，开始进行待测电连接器J30-51ZK的点与点间耐压测试：

首先，单片机控制与第1连接点正向连接的第一时间继电器导通，使得正向高压输出①输入到所述第1连接点，然后，单片机依次控制（即时序控制）与第2连接点至第51连接点反向连接的第四时间继电器至第一百零二时间继电器（都是第偶数个时间继电器）导通，使得反向高压输出①依次输入到所述第2连接点至第51连接点，测试过程中，通过所述通信接口传输信号并在所述绝缘耐压测试仪上显示测试结果，则依次测出了所述第1连接点与被测电连接器中其他连接点间的介质耐压；然后，同样的，单片机控制与第2连接点正向连接的第三时间继电器导通，使得正向高压输出①输入到所述第2连接点，然后，单片机依次控制（即时序控制）与第1连接点、第3连接点至第51连接点反向连接的第二时间继电器、第六时间继电器至第一百零二时间继电器（都是第偶数个时间继电器）导通，使得反向高压输出①依次输入到所述第1连接点、第3连接点至第51连接点，测试过程中，通过所述通信接口传输信号并在所述绝缘耐压测试仪上显示测试结果，则依次测出了所述第2连接点与被测电连接器中其他连接点间的介质耐压；依次类推，单片机控制相应的时间继电器的通断，完成了被测电连接器所有芯线间的点对点介质耐压测试。

可以看出，其实点与点间的耐压测试和绝缘测试的过程类似，在此，对于横排与横排、竖排与竖排、点与外壳的耐压测试过程则不再赘述，可参考相应的绝缘测试过程即可。

通过单片机控制继电器组的通断来切换点与点、横排与横排、竖排与竖排、点与外壳的测试模式，并在相应模式中对应控制与测试端口连接点相连的时间继电器的通断来依次进行测试，最终完成了待测电连接器J30-51ZK的所有耐压性能测试。

采用类似的原理，即可测试其他系列其他型号的待测电连接器的耐压性能。

进一步的，当所述适配转接箱突然工作不正常导致无法进行绝缘耐压测试时，则可利用所述公共测试点1、2、3和对壳测试点进行所述的绝缘耐压测试。参考附图6，为本发明实施例绝缘耐压测试仪的电连接器转接器的连接示意图。

所述公共测试点1、2、3和对壳测试点分别连接所述正向高压输出①至④。所述绝缘耐压测试仪的电连接器转接器包括插头1至4，测试时，只需将需要测试的芯线归类分别连接到所述插头1至4中任意两个，然后将所述绝缘耐压测试仪的正向高压输入测试表笔插入绝缘耐压测试插孔其中之一，然后将与待测电连接器的待测芯线连接所述插头的其中一个对应插到所述公共测试点1、2、3和对壳测试点对应的插孔，另一个插头与所述绝缘耐压测试仪的反向高压输入测试表笔相连，则可进行相应测试。

从上述实施例可以看出，采用本发明所提供的电连接器测试适配器，利用多点接触测试板可实现点与点一一对应，一次性完成导通测试的功能，较以往的导通测试节省了时间，并且测试时更加直观；而进一步的，利用测试笔进行单点导通测试，也可快速找出存在问题的芯线；适配转接箱的使用可以大大降低了128芯测试端口与连接线插头的插拔次数从而使得所述电连接器测试适配器使用寿命得以大大的提高，从而提高了测试效率，很大提高了测试的可靠性和安全性，解决了高密度、小间距的电连接器测试难题，使得测试时接触更加稳定可靠，测试效率更高，避免了电连接器断路、短路、误配线测试等问题。并且，利用单片机和继电器配合控制，继电器和时间继电器的自动切换控制功能，一次完成了绝缘或耐压测试，大大提高了测试效率，减少了测试时间，提高了元器件的安全可靠性。

进一步的，利用绝缘耐压测试仪的绝缘电阻和耐压介质测试的自动切换功能，可以不用更换绝缘耐压测试仪的高压输入测试表笔插入的插孔位置，之间从绝缘测试切换到耐压测试，即可在绝缘测试完成后直接进行耐压测试，使得绝缘电阻和介质耐压一步测试成功，从而使得插拔一次连接线插头就可以完成绝缘、耐压、导通测试，提高了元器件的安全可靠性，有效提高了日常的测试效率，减少了测试时间。并且采用备用的绝缘耐压测试仪的电连接器转接器，使得当所述适配转接箱突然工作不正常导致无法进行绝缘耐压测试时，则可利用所述测试面板上备用设置的公共测试点1、2、3和对壳测试点进行所述的绝缘耐压测试，保证测试的可靠性。

较佳的，采用能满足耐高压的继电器，可进一步提高所述电连接器测试适配器的可靠性。

需要特别指出的是，上述实施例中，所述测试面板设置为了测试前面板和测试后面板的形式，但将接口都设置于一块面板上，而不采用前后两块面板的方式也是可以实现本发明目的的，另外，设置两块分离的前面板，当然也是可以实现本发明目的的，因此可见，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

上述实施例中，所述提示模块包括了发光二极管阵列、声音报警器和测试状态提示发光二极管。其中，测试状态提示发光二极管所述包括了电源指示、导通指示、对壳指示、单点指示、高压指示、报警指示等测试状态提示的发光二极管，但本领域普通技术人员可以想到，这里的状态提示并不都是必须的，根据相应的辅助功能设置，其还可以做出多种变化，都应该属于本发明的保护范畴。另外，所述声音报警器的功能之一是配合导通测试，并报出相应的断路线号，其使得导通测试更加的简单有效，并不应当属于本发明的必要技术特征，而用于限定本发明保护范围。

上述实施例中，所述测试电路的驱动模块包括电源芯片及变压器，本领域普通技术人员可以很容易想到，这种驱动模块设置还有很多方式，并不局限在电源芯片和变压器的这一种搭配上，其他的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

所属领域的普通技术人员应当理解：以上所述仅为本发明的具体实施例而已，并不用于限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所做的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种电连接器测试适配器，其特征在于，包括测试板和适配转接箱；

所述测试板包括测试面板和测试电路；

所述测试面板，包括：用于提供测试过程中提示信号的提示模块，用于提供测试过程中各部件之间连接接口的连接模块，以及用于选择测试功能的选择模块；

所述测试电路，包括驱动模块、控制模块和测试模块；所述驱动模块包括用于提供电源的驱动电源电路；所述控制模块包括控制电路，用于在各测试功能下控制各部件间的信号变换及传输；所述测试模块包括用于配合测试的外围电路；

所述适配转接箱，包括电连接器接口模块和转接模块，用于为所有待测电连接器提供与测试板之间的转接；

所述测试电路的控制模块包括单片机及八个时间继电器；所述时间继电器的控制端连接所述单片机，由所述单片机控制所述时间继电器的通断；所述时间继电器以反极性并联的两个继电器为一组分为四组继电器组，分别用于控制被测电连接器的点对点、横排对横排、竖排对竖排和点对壳的测试。

2.根据权利要求1所述的电连接器测试适配器，其特征在于，所述测试面板包括测试前面板和测试后面板，所述提示模块和选择模块设置在测试前面板上；所述测试面板的连接模块包括用于连接所述适配转接箱的测试端口、测试笔插座和多点接触测试板插座至少其中之一、绝缘测试插孔、耐压测试插孔、供电电源插孔和连接绝缘耐压测试仪的通信接口；所述测试端口、测试笔插座和多点接触测试板插座至少其中之一设置在所述测试前面板上；所述绝缘测试插孔、耐压测试插孔、供电电源插孔和连接绝缘耐压测试仪的通信接口设置在所述测试后面板上。

3.根据权利要求2所述的电连接器测试适配器，其特征在于，所述测试面板的连接模块还包括公共测试点和点对壳测试点，用于连接绝缘耐压测试仪的电连接器转接器。

4.根据权利要求2所述的电连接器测试适配器，其特征在于，所述测试面板的提示模块包括用于导通测试的发光二极管阵列和/或声音报警器，和/或测试状态提示发光二极管。

5.根据权利要求4所述的电连接器测试适配器，其特征在于，所述测试面板的选择模块至少包括导通测试、单点测试、高压测试、停止测试四种可选功能按钮，分别对应于测试电连接器的多点导通性能、单点导通性能、绝缘耐压性能，以及停止对电连接器测试。

6.根据权利要求2所述的电连接器测试适配器，其特征在于，所述适配转接箱的电连接器接口模块至少包括电连接器系列为J30、J30J、J63A、CDb、J40、J29A其中之一的多个型号对应的电连接器接口。

7.根据权利要求6所述的电连接器测试适配器，其特征在于，所述适配转接箱的转接模块，包括适配测试接口以及用于将所述每个电连接器接口中的每个连接点对应连接到该测试接口的连接点上的转接板和转接电路；使得所述每个电连接器接口的第1至N个连接点，对应连接到所述测试前面板上的128芯测试端口的第1至N个连接点。

8.根据权利要求7所述的电连接器测试适配器，其特征在于，所述控制模块还包括与所述测试端口的每个连接点都分别连接的一组反极性连接的时间继电器，其中一个时间继电器均正向连接到所述的高压输出的正输出，另一个时间继电器反向连接到所述的高压输的负输出。

9.根据权利要求8所述的电连接器测试适配器，其特征在于，所述测试电路的驱动模块包括电源芯片及变压器，所述电源芯片将供电电源转换为所述单片机的驱动电源，所述变压器将供电电源转换为所述继电器的控制电压。

10.根据权利要求9所述的电连接器测试适配器，其特征在于，所述测试电路的测试模块包括发光二极管驱动电路和/或声音报警电路，所述测试面板的提示模块对应于所述发光二极管驱动电路和/或声音报警电路包括发光二极管阵列和/或声音报警器，通过各发光二极管的明灭和/或声音报警器报号提示电连接器对应芯线的通断。