CN113406478A - 一种多功能安全硬件测试治具 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种多功能安全硬件测试治具，包括：外接被测试板卡的可配置的第一测试连接器；外接测试仪器的可配置的第二测试连接器；连接第一测试连接器和第二测试连接器的可配置的测试配置矩阵。本发明针对不同硬件板卡类型具有通用性，并支持多种硬件测试，可以降低测试过程中的人力物力成本，大幅提升测试工作效率。

Description

一种多功能安全硬件测试治具
技术领域
本发明功能安全硬件测试领域，尤其涉及多功能安全硬件测试治具。
背景技术
在轨道交通，汽车电子，工业控制等涉及功能安全领域，功能安全硬件开发测试验证确认过程中需要遵循安全标准规范对硬件进行各种验证测试，这些测试包含高压测试、绝缘阻抗测试、功能测试、性能测试、硬件故障注入测试等不同的测试。在现有研发测试过程中，针对不同阶段的不同测试，往往需要测试人员设计不同的测试治具或者通过手工改造被测试硬件板卡的方法进行不同的测试，测试的过程不仅耗费大量的人力物力，而且针对不同测试需要搭建不同的测试环境，测试夹具不具有通用性，测试效率比较低。比如：高压测试和绝缘阻抗测试，针对不同硬件板卡需要设计专门的测试板卡把不同组的网络通过测试板卡引出测试网络；针对功能和性能测试，又需要设计一套不同的测试板卡引入测试激励信号，引出测试对象进行测试观察；在进行硬件故障注入测试时候，由于需要按照标准对不同硬件单点故障进行模拟，往往需要对被测试硬件板卡进行手工反复改造注入故障和恢复故障。
发明内容
本发明的目的在于提供一种多功能安全硬件测试治具，针对不同硬件板卡类型具有通用性，并支持多种硬件测试，可以降低测试过程中的人力物力成本，大幅提升测试工作效率。
实现上述目的的技术方案是：
一种多功能安全硬件测试治具，包括：
外接被测试板卡的可配置的第一测试连接器；
外接测试仪器的可配置的第二测试连接器；
连接第一测试连接器和第二测试连接器的可配置的测试配置矩阵。
优选的，所述第一测试连接器按照欧式连接器标准间距设置多个测试通孔；
测试通孔通过外部测试线缆和欧式连接器外接被测试板卡；或者
测试通孔通过外部测试线缆和标准排针外接被测试板卡。
优选的，所述第一测试连接器通过内部直通的测试引线连接所述测试配置矩阵。
优选的，所述测试配置矩阵采用跳线直通连接所述第二测试连接器。
优选的，所述测试配置矩阵中每组测试点组包括：测试引线点、直通连接测试点、上拉测试点和下拉测试点，
所述测试引线点选择与所述直通连接测试点、上拉测试点或下拉测试点中任一测试点跳线连接；
所述直通连接测试点直连所述第二测试连接器；
通过所述上拉测试点注入信号固定高电平或者短路到电源故障；
通过所述下拉测试点注入信号固定低电平或者短路到地故障。
优选的，所述测试配置矩阵中每组测试点组包括：测试引线点，以及分别连接测试引线点的多个测试连接点；
所述测试引线和测试连接点相互之间隔离满足安全规范加强绝缘标准要求；
属于同一分组网络的多组测试点组中的一个测试连接点跳线连接所述第二测试连接器的同一个测试通道。
本发明的有益效果是：本发明通过通用标准间距测试通孔，配置测试连接器或者测试线缆，针对不同硬件板卡类型具有通用性。通过测试装置上可配置的测试矩阵，使用跳线实现不同测试配置可以支持：功能性能测试，高压绝缘测试，硬件故障注入测试等各类型测试。可以省去设计部署不同测试治具和人工改造被测试硬件的人力物力，并同时提高测试效率。
附图说明
图1是本发明的多功能安全硬件测试治具的结构图；
图2是本发明中3U测试延长板配置图；
图3是本发明中6U测试延长板配置图；
图4是本发明中硬件故障注入测试板配置图；
图5是本发明中高压绝缘测试配置图。
具体实施方式
下面将结合附图对本发明作进一步说明。
对于功能安全硬件在开发验证测试过程中需要进行高压测试，绝缘阻抗测试，功能测试，性能测试，硬件故障注入测试等各种测试验证。在实际研发测试中往往需要复杂的手工改造被测试硬件，或者设计多种不同的测试治具进行测试，成本大，效率低。本发明的多功能安全硬件测试治具可以用于以上各种测试，并且针对不同硬件板卡类型具有通用性，可以省去设计部署不同测试治具和人工改造被测试硬件的人力物力，并同时提高测试效率。
请参阅图1，本发明提供多功能安全硬件测试治具，包括：第一测试连接器1、第二测试连接器2、测试配置矩阵3。
第一测试连接器1均匀设置多个测试通孔，例如通用标准间距(2.54mm)测试通孔，通过可配置的测试连接器或者测试线缆，连接不同类型的被测试板卡。
对于被测试板卡使用标准欧式连接器的，可以根据被测试板卡连接器类型直接在第一测试连接器1上安装相应配对欧式连接器，利用外部测试线缆进行连接。
对于和非标准连接器连接的，可以在第一测试连接器1上安装标准排针，然后再通过外部测试线缆和被测试板卡连接,和被测试板卡连接的测试线缆需要满足加强绝缘要求。
第一测试连接器1通过内部直通的测试引线连接测试配置矩阵3。测试配置矩阵3由具有标准间距的测试通孔组成，通过不同的测试跳线配置可以支持不同类型的硬件测试。
例如：附图2所示为实施标准3U延伸板测试配置支持功能测试和性能测试，图中第一测试连接器1(J1)配置为5*32标准测试通孔，C1为内部直通的测试引线，测试引线内部之间距离符合绝缘间隙要求大于2.54mm,测试配置矩阵3(S1)使用跳线直通连接到第二测试连接器2(J2)，第二测试连接器2再通过外部测试线缆连接至测试仪器。使用类似配置可以扩展实施标准6U测试延伸板，参考附图3。图3中，J3、C2、S2和J4分别对应图2中J1、C1、S1和J2。
硬件故障注入测试配置和上述测试延长板配置的主要区别在配置测试矩阵部分。如附图4所示，测试配置矩阵3中每组测试点组包括：测试引线点E0、直通连接测试点E2、上拉测试点E1和下拉测试点E3。
测试引线点E0和直通连接测试点E2连接，直通连接测试点E2直连第二测试连接器2，可以直接连接外部测试仪器，通过外部测试仪器可以注入正常激励信号，或者异常震荡激励信号。如果断开E0和E2的短接跳线，则可注入信号开路故障。除了直通测试点E2外，还增加上拉测试点E1和下拉测试点E3，如果E0和E1连接则可以注入信号固定高电平或者短路到电源故障(上拉电阻选为0欧姆或短接)。如果E0和E3连接则可以注入信号固定低电平或者短路到地故障(下拉电阻选为0欧姆或短接)。因此，通过模拟跳线短接不同网络测试引线点E0(或直通测试点E2)，则可以模拟两个网络通道之间短路的故障；使用本发明除了可以方便的进行单点故障的注入测试和故障恢复外，也可进行多点故障的注入测试和恢复，可以大幅提高硬件故障注入测试效率。
高压隔离和绝缘阻抗测试配置如附图5所示，其和上述测试延长板的配置主要区别在于测试引线点和测试连接点的配对关系。对于测试延长板是按照直通连接测试关系一一对应连测试点，对于高压隔离和绝缘阻抗测试，则需按照安全硬件需求对不同分组进行连接。此时，测试配置矩阵3中每组测试点组包括：测试引线点，以及分别连接测试引线点的多个测试连接点(A0…、B0…、C0…、D0…、E0…)。属于同一分组网络的多组测试点组中的一个测试连接点跳线连接第二测试连接器2的同一个测试通道。例如：如果按照硬件需求A0，B3，C12，D6为一组同一分组网络，则此四点均通过跳线连接至第二测试连接器2(J2)的同一个测试通道上。考虑一般硬件分组需求和测试仪器通道限制，图5中第二测试连接器2(J2)只画了32个通道(一般复杂度板卡测试不会超过32通道)，其最大可扩展至160测试通道。测试引线和测试连接点相互之间隔离满足安全规范加强绝缘标准要求。
综上，对于功能和性能测试，通过配置直通的测试配置矩阵，对被测试板卡进行测试激励的输入和对引出的测试对象进行测试。对于高压测试和绝缘阻抗测试可以通过配置跳线或其它短接方法进行不同通道网络组合测试。对于硬件故障注入测试可以通过配置矩阵模拟开路，短路到电源，短路到地，不同信号之间短路,以及信号震荡等故障模式，只需改变测试配置矩阵跳线，操作方便简单，可以大大提高工作效率，降低测试成本。
以上实施例仅供说明本发明之用，而非对本发明的限制，有关技术领域的技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，还可以作出各种变换或变型，因此所有等同的技术方案也应该属于本发明的范畴，应由各权利要求所限定。

Claims (6)

1.一种多功能安全硬件测试治具，其特征在于，包括：
外接被测试板卡的可配置的第一测试连接器；
外接测试仪器的可配置的第二测试连接器；
连接第一测试连接器和第二测试连接器的可配置的测试配置矩阵。
2.根据权利要求1所述的多功能安全硬件测试治具，其特征在于，所述第一测试连接器按照欧式连接器标准间距设置多个测试通孔；
测试通孔通过外部测试线缆和欧式连接器外接被测试板卡；或者
测试通孔通过外部测试线缆和标准排针外接被测试板卡。
3.根据权利要求1所述的多功能安全硬件测试治具，其特征在于，所述第一测试连接器通过内部直通的测试引线连接所述测试配置矩阵。
4.根据权利要求1所述的多功能安全硬件测试治具，其特征在于，所述测试配置矩阵采用跳线直通连接所述第二测试连接器。
5.根据权利要求1所述的多功能安全硬件测试治具，其特征在于，所述测试配置矩阵中每组测试点组包括：测试引线点、直通连接测试点、上拉测试点和下拉测试点，
所述测试引线点选择与所述直通连接测试点、上拉测试点或下拉测试点中任一测试点跳线连接；
所述直通连接测试点直连所述第二测试连接器；
通过所述上拉测试点注入信号固定高电平或者短路到电源故障；
通过所述下拉测试点注入信号固定低电平或者短路到地故障。
6.根据权利要求1所述的多功能安全硬件测试治具，其特征在于，所述测试配置矩阵中每组测试点组包括：测试引线点，以及分别连接测试引线点的多个测试连接点；
所述测试引线和测试连接点相互之间隔离满足安全规范加强绝缘标准要求；
属于同一分组网络的多组测试点组中的一个测试连接点跳线连接所述第二测试连接器的同一个测试通道。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113985260A (zh) * 2021-12-06 2022-01-28 苏州奥特美自动化技术有限公司 一种fct多功能矩阵测试板卡

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0758172A (ja) * 1993-08-12 1995-03-03 Nec Corp 半導体装置試験用ユニバーサルバーンインボード
US20090100304A1 (en) * 2007-10-12 2009-04-16 Ping Li Hardware and Software Co-test Method for FPGA
CN101420095A (zh) * 2007-10-24 2009-04-29 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 转接板
CN101464490A (zh) * 2007-12-17 2009-06-24 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 一种通用型测试板及其使用方法
CN103913603A (zh) * 2013-01-04 2014-07-09 航天科工防御技术研究试验中心 电连接器测试适配器
CN207866912U (zh) * 2017-11-17 2018-09-14 河南普航电子设备有限公司 一种用于元器件测试的总线型矩阵切换装置用测试电路板
CN209728518U (zh) * 2019-05-07 2019-12-03 东风汽车集团有限公司 新能源集成控制器硬件在环测试系统
CN212965853U (zh) * 2020-08-28 2021-04-13 北京海博思创科技股份有限公司 测试系统及测试装置

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0758172A (ja) * 1993-08-12 1995-03-03 Nec Corp 半導体装置試験用ユニバーサルバーンインボード
US20090100304A1 (en) * 2007-10-12 2009-04-16 Ping Li Hardware and Software Co-test Method for FPGA
CN101420095A (zh) * 2007-10-24 2009-04-29 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 转接板
CN101464490A (zh) * 2007-12-17 2009-06-24 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 一种通用型测试板及其使用方法
CN103913603A (zh) * 2013-01-04 2014-07-09 航天科工防御技术研究试验中心 电连接器测试适配器
CN207866912U (zh) * 2017-11-17 2018-09-14 河南普航电子设备有限公司 一种用于元器件测试的总线型矩阵切换装置用测试电路板
CN209728518U (zh) * 2019-05-07 2019-12-03 东风汽车集团有限公司 新能源集成控制器硬件在环测试系统
CN212965853U (zh) * 2020-08-28 2021-04-13 北京海博思创科技股份有限公司 测试系统及测试装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113985260A (zh) * 2021-12-06 2022-01-28 苏州奥特美自动化技术有限公司 一种fct多功能矩阵测试板卡

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