CN203191515U - 测试治具 - Google Patents

测试治具 Download PDF

Info

Publication number
CN203191515U
CN203191515U CN 201320165541 CN201320165541U CN203191515U CN 203191515 U CN203191515 U CN 203191515U CN 201320165541 CN201320165541 CN 201320165541 CN 201320165541 U CN201320165541 U CN 201320165541U CN 203191515 U CN203191515 U CN 203191515U
Authority
CN
China
Prior art keywords
probes
circuit
tool
measurement jig
test
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN 201320165541
Other languages
English (en)
Inventor
傅显辉
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ETE TECHNOLOGY Ltd
Original Assignee
ETE TECHNOLOGY Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by ETE TECHNOLOGY Ltd filed Critical ETE TECHNOLOGY Ltd
Priority to CN 201320165541 priority Critical patent/CN203191515U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN203191515U publication Critical patent/CN203191515U/zh
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

本实用新型涉及一种测试治具，包括上治具和下治具，所述下治具包括：一端与被测电路板的测试点一一对应电连接的多个探针，用于固定多个探针的针盘和将多个探针的另一端对应电连接至外部测试设备的转接板，针盘位于被测电路板与转接板之间，本实用新型使用这种测试治具对被测电路板进行测试，能够减少测试治具制作的工作量，避免出现绕/焊线错误及接触不良，有效降低被测电路板至外部测试设备之间的电信号的损耗及衰减，提高测试治具准确率及制作效率。

Description

测试治具
技术领域
本实用新型涉及测试技术领域，尤其涉及一种测试治具。
背景技术
在生产印刷电路板的过程中需要对电路板的电性能及电气连接进行测试，主要检测各个元器件的信号及线路的开短路情况，测试工具是一种以电路板为模型而设计的一套专门的测试治具。传统的测试治具制作时一般是通过探针连接电路板的测试点，而从探针到排插采用绕/焊线的方式，最后通过排插连接到外部的测试设备上进行测试。
上述方法制作的测试治具适用于线路较为简单的电路板的测试，而对于高精密线路的电路板的测试，由于测试点很多，人工进行绕/焊线的工作量很大，又由于电路板过于细密，人工绕/焊线可能会产生不良接触，且容易出现绕/焊线错误，降低测试治具准确率及测试效率，人工绕/焊线由于线材的长度及质量因素，容易导致电信号的损耗及衰减。
实用新型内容
本实用新型的主要目的在于提供一种测试治具，旨在提高测试治具的准确率及制作效率。
为了达到上述目的，本实用新型提出一种测试治具，包括下治具，所述下治具包括：一端与被测电路板的测试点一一对应电连接的多个探针，用于固定所述多个探针的针盘和将所述多个探针的另一端对应电连接至外部测试设备的转接板，所述针盘位于所述被测电路板与转接板之间。
优选地，所述转接板一侧设有排插，所述排插通过排线将所述多个探针的另一端对应电连接至所述外部测试设备。
优选地，所述转接板内对应所述多个探针布有线路，每一线路的一端对应连接所述多个探针的中的一个探针，所述线路的另一端对应连接至所述排插的一端口。
优选地，所述探针为双头探针。
优选地，所述针盘对应所述多个探针设有多个通孔，所述多个探针穿套并固定在相应的所述通孔中。
优选地，所述下治具还包括护板，所述护板穿套于所述多个探针上并贴近设置于所述多个探针的端点上，将所述多个探针之间隔离。
优选地，所述护板包括上护板和下护板，所述上护板贴近设置于所述多个探针连接所述被测电路板的一端，所述下护板贴近设置于所述多个探针连接所述转接板的另一端。
优选地，所述下治具还包括一箱体和固定机构，所述针盘及所述转接板通过所述固定机构固定于所述箱体上。
优选地，所述固定机构包括用于将所述针盘固定于箱体的第一固定支架以及用于将所述转接板固定于箱体的第二固定支架。
优选地，还包括位于所述下治具上方的上治具，所述被测电路板位于所述上治具与所述下治具之间，所述上治具与所述下治具通过弹力机构连接，所述上治具包括上针板，所述上针板压缩所述弹力机构对所述被测电路板施加压力，以使所述被测电路板的测试点与所述多个探针导通。
本实用新型提出的一种测试治具，当对被测电路板进行测试时，通过使用双头探针和预先布设好线路的转接板，使待测电路板上的测试点的测试信号通过探针传导至转接板上，再经转接板上的线路传导至排插，以通过排插将测试信号输出至测试设备上，使用这种测试治具对被测电路板进行测试，能够减少测试治具制作者的工作量，避免出现绕/焊线错误，有效降低被测电路板至外部测试设备之间的电信号的损耗及衰减，提高测试治具准确率及测试治具制作效率。
附图说明
图1是本实用新型实施例测试治具的主视图；
图2是本实用新型实施例测试治具的纵向剖视图；
图3是本实用新型实施例测试治具中针盘的横向剖视图；
图4是本实用新型实施例测试治具的外形立体示意图。
具体实施方式
请结合参阅图1、图2及图3，图1为本实用新型实施例测试治具的主视图，图2为本实用新型实施例测试治具的纵向剖视图，图3为本实用新型实施例测试治具中针盘的横向剖视图。
如图1、图2及图3所示，本实用新型测试治具包括下治具10，下治具10包括多个探针101、针盘102及转接板103。
被测电路板30位于下治具10之上，多个探针101一端与被测电路板30的测试点一一对应电连接，另一端通过转接板103对应电连接至外部测试设备。本实施方式中，多个探针101都为双头探针，双头探针的两端都具有导电性，多个探针101将被测电路板30的测试点的测试信号通过其中间针体部分传导至连接转接板103的一端，再通过转接板103对应电连接至外部测试设备。
在具体实施例中，外部测试设备可以是ICT测试仪、ATE(自动化测试设备)或者示波器等。由于多个探针101的两端分别连接被测电路板30和转接板103，容易发生晃动或倾斜而导致被测电路板30的测试点与探针接触不良或者相邻探针短路，故设计一位于被测电路板30与转接板103之间的针盘102，针盘102对应多个探针101设有多个通孔1041，具体地，针盘102上密布有网格状纵横交错排列的通孔1041，多个探针101穿套并固定在相应的通孔1041中。
进一步地，转接板103一侧设有排插1031，排插1031通过排线将多个探针101的另一端对应电连接至外部测试设备。转接板103内对应多个探针101预先布设好线路，每一线路的一端对应连接多个探针101的中的一个探针，线路的另一端对应连接至排插1031的一端口。转接板103对应每一被测电路板30而专门设计，在具体实施例中，排插1031可以是牛角排插，转接板103可以预先设计好电路，被测电路板30的测试点对应在转接板103上设计连接点，并通过多个探针101将被测电路板30的测试点和转接板103的连接点对应地连接，进而连接点通过预先设计好电路将测试信号传导至排插1031中。
与现有技术相比，本实施例无需从探针到排插采用人工操作一根一根地进行绕/焊线，而是通过两端都具有导电性的多个探针将测试信号从探针传导至转接板上，再经转接板布设好的线路传导至排插，进而传导至外部测试设备。
通过上述描述可以看出：当对被测电路板进行测试时，通过使用双头探针和预先布设好线路的转接板，使待测电路板上的测试点的测试信号通过探针传导至转接板上，再经转接板上的线路传导至排插，以通过排插将测试信号输出至测试设备上，使用这种测试治具对被测电路板进行测试，能够减少测试治具制作者的工作量，避免出现绕/焊线错误，有效降低被测电路板至外部测试设备之间的电信号的损耗及衰减，提高测试治具准确率及测试治具制作效率。
请继续参阅图2，下治具10还包括护板104，护板104穿套于多个探针101上并贴近设置于多个探针101的端点上，将多个探针101之间隔离。护板104包括上护板和下护板，而针盘102位于上护板和下护板之间，上护板贴近设置于多个探针101连接被测电路板30的一端，下护板贴近设置于多个探针101连接转接板103的另一端。当被测电路板30的线路较为细密时，各个测试点之间的空间很小，多个探针101之间如果发生轻微移动，容易使测试点的连接发生错误，使用护板104贴近设置在多个探针101的端点上，可以最大限度地避免多个探针101之间发生轻微移动，进而将多个探针101进一步固定和隔离。
下治具10还包括一箱体105和固定机构106，针盘102及转接板103通过固定机构106固定于箱体105上。进一步地，固定机构106包括用于将针盘102固定于箱体105的第一固定支架以及用于将转接板103固定于箱体105的第二固定支架。在具体实施例中，固定机构106可以是固定柱、固定孔和螺栓等，固定机构106内部通过螺栓或者卡合进行固定，此处不做过多限制。
请继续结合参阅图4，测试治具还包括位于下治具10上方的上治具20，被测电路板30位于上治具20与下治具10之间，上治具20与下治具10通过弹力机构107连接。在具体实施例中，弹力机构107可以是弹簧，或者其他的具有弹性的装置等，此处不做过多限制。上治具20包括上针板201，以及位于上针板201上方的与上针板201通过连杆连接的上板。上针板201压缩弹力机构107对被测电路板30施加压力，以使被测电路板30的测试点与多个探针101对应导通。
进一步地，当上针板201压缩弹力机构107对被测电路板30施加压力时，连接转接板103的多个探针101的一端也因此受力，多个探针101对转接板103施加压力，进而多个探针101的一端对应地与转接板103导通。
本实用新型的测试治具，无需从探针101到排插1031采用人工操作一根一根地进行绕/焊线，当对被测电路板进行测试时，通过使用双头探针和预先布设好线路的转接板103，使待测电路板30上的测试点的测试信号通过探针101传导至转接板103上，再经转接板103上的线路传导至排插1031，以通过排插1031将测试信号输出至测试设备上，使用这种测试治具对被测电路板30进行测试，能够减少测试治具制作者的工作量，避免出现焊线错误，有效降低被测电路板至外部测试设备之间的电信号的损耗及衰减，提高测试治具准确率及测试效率。
以上所述仅为本实用新型的较佳实施例，并非因此限制本实用新型，凡在实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种测试治具，包括下治具，其特征在于，所述下治具包括：一端与被测电路板的测试点一一对应电连接的多个探针，用于固定所述多个探针的针盘和将所述多个探针的另一端对应电连接至外部测试设备的转接板，所述针盘位于所述被测电路板与转接板之间。
2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述转接板一侧设有排插，所述排插通过排线将所述多个探针的另一端对应电连接至所述外部测试设备。
3.根据权利要求2所述的测试治具，其特征在于，所述转接板内对应所述多个探针布有线路，每一线路的一端对应连接所述多个探针的中的一个探针，所述线路的另一端对应连接至所述排插的一端口。
4.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述探针为双头探针。
5.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述针盘对应所述多个探针设有多个通孔，所述多个探针穿套并固定在相应的所述通孔中。
6.根据权利要求1-5中任一项所述的测试治具，其特征在于，所述下治具还包括护板，所述护板穿套于所述多个探针上并贴近设置于所述多个探针的端点上，将所述多个探针之间隔离。
7.根据权利要求6所述的测试治具，其特征在于，所述护板包括上护板和下护板，所述上护板贴近设置于所述多个探针连接所述被测电路板的一端，所述下护板贴近设置于所述多个探针连接所述转接板的另一端。
8.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，所述下治具还包括一箱体和固定机构，所述针盘及所述转接板通过所述固定机构固定于所述箱体上。
9.根据权利要求8所述的测试治具，其特征在于，所述固定机构包括用于将所述针盘固定于箱体的第一固定支架以及用于将所述转接板固定于箱体的第二固定支架。
10.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于，还包括位于所述下治具上方的上治具，所述被测电路板位于所述上治具与所述下治具之间，所述上治具与所述下治具通过弹力机构连接，所述上治具包括上针板，所述上针板压缩所述弹力机构对所述被测电路板施加压力，以使所述被测电路板的测试点与所述多个探针导通。
CN 201320165541 2013-04-03 2013-04-03 测试治具 Expired - Fee Related CN203191515U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 201320165541 CN203191515U (zh) 2013-04-03 2013-04-03 测试治具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN 201320165541 CN203191515U (zh) 2013-04-03 2013-04-03 测试治具

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN203191515U true CN203191515U (zh) 2013-09-11

Family

ID=49108366

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN 201320165541 Expired - Fee Related CN203191515U (zh) 2013-04-03 2013-04-03 测试治具

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN203191515U (zh)

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103645351A (zh) * 2013-12-14 2014-03-19 佛山市中格威电子有限公司 一种带有转接板的ict针床
CN103698688A (zh) * 2013-12-16 2014-04-02 杭州华安医疗保健用品有限公司 一种电子体温计多连片功能测试装置及方法
CN103792399A (zh) * 2014-01-15 2014-05-14 中科华核电技术研究院有限公司北京分公司 多路输入输出电路板的测试夹具
CN104614610A (zh) * 2015-01-29 2015-05-13 北京四方继保自动化股份有限公司 一种测试pcba的模块化针床工装
CN104977438A (zh) * 2015-07-21 2015-10-14 柴英豪 一种断短路两端式真空吸引测试机构及其方法
CN105206308A (zh) * 2015-11-04 2015-12-30 苏州工业园区特创电子有限公司 硬盘信号转接测试装置
CN106249133A (zh) * 2016-09-07 2016-12-21 广州视源电子科技股份有限公司 接线装置
CN106291316A (zh) * 2016-07-29 2017-01-04 王汉清 一种集成电路测试装置及其测试方法
CN107831344A (zh) * 2017-12-19 2018-03-23 成都芯通软件有限公司 一种混频板测试装置、测试设备及测试方法
CN108982932A (zh) * 2018-08-07 2018-12-11 深圳市芽庄电子有限公司 隐藏式印制电路板测试治具
CN109116214A (zh) * 2018-03-30 2019-01-01 Tcl王牌电器(惠州)有限公司 机芯主板的LVDS/V-by-one信号测试治具
CN111077353A (zh) * 2020-01-19 2020-04-28 南京微桥检测技术有限公司 一种显示面板cell端检测探针及治具
CN111896860A (zh) * 2020-06-16 2020-11-06 北京航天时代光电科技有限公司 一种批量多品种电路板测试方法
CN111896859A (zh) * 2020-06-16 2020-11-06 北京航天时代光电科技有限公司 一种批量多品种电路板测试工装
CN113504456A (zh) * 2021-07-05 2021-10-15 深圳市有方科技股份有限公司 一种用于射频测试的治具及设备
CN113820585A (zh) * 2021-08-16 2021-12-21 胜宏科技（惠州）股份有限公司 一种多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机
CN113945864A (zh) * 2020-07-17 2022-01-18 合肥鑫晟光电科技有限公司 治具、检测系统、基板检测方法

Cited By (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103645351A (zh) * 2013-12-14 2014-03-19 佛山市中格威电子有限公司 一种带有转接板的ict针床
CN103698688A (zh) * 2013-12-16 2014-04-02 杭州华安医疗保健用品有限公司 一种电子体温计多连片功能测试装置及方法
CN103792399A (zh) * 2014-01-15 2014-05-14 中科华核电技术研究院有限公司北京分公司 多路输入输出电路板的测试夹具
CN104614610A (zh) * 2015-01-29 2015-05-13 北京四方继保自动化股份有限公司 一种测试pcba的模块化针床工装
CN104614610B (zh) * 2015-01-29 2017-09-19 北京四方继保自动化股份有限公司 一种测试pcba的模块化针床工装
CN104977438A (zh) * 2015-07-21 2015-10-14 柴英豪 一种断短路两端式真空吸引测试机构及其方法
CN105206308B (zh) * 2015-11-04 2019-01-22 江苏特创科技有限公司 硬盘信号转接测试装置
CN105206308A (zh) * 2015-11-04 2015-12-30 苏州工业园区特创电子有限公司 硬盘信号转接测试装置
CN106291316A (zh) * 2016-07-29 2017-01-04 王汉清 一种集成电路测试装置及其测试方法
CN106291316B (zh) * 2016-07-29 2019-05-03 健鼎（湖北）电子有限公司 一种集成电路测试装置及其测试方法
CN106249133A (zh) * 2016-09-07 2016-12-21 广州视源电子科技股份有限公司 接线装置
CN107831344A (zh) * 2017-12-19 2018-03-23 成都芯通软件有限公司 一种混频板测试装置、测试设备及测试方法
CN109116214A (zh) * 2018-03-30 2019-01-01 Tcl王牌电器(惠州)有限公司 机芯主板的LVDS/V-by-one信号测试治具
CN108982932A (zh) * 2018-08-07 2018-12-11 深圳市芽庄电子有限公司 隐藏式印制电路板测试治具
CN111077353A (zh) * 2020-01-19 2020-04-28 南京微桥检测技术有限公司 一种显示面板cell端检测探针及治具
CN111896859B (zh) * 2020-06-16 2023-06-06 北京航天时代光电科技有限公司 一种批量多品种电路板测试工装
CN111896859A (zh) * 2020-06-16 2020-11-06 北京航天时代光电科技有限公司 一种批量多品种电路板测试工装
CN111896860A (zh) * 2020-06-16 2020-11-06 北京航天时代光电科技有限公司 一种批量多品种电路板测试方法
CN111896860B (zh) * 2020-06-16 2023-06-06 北京航天时代光电科技有限公司 一种批量多品种电路板测试方法
CN113945864A (zh) * 2020-07-17 2022-01-18 合肥鑫晟光电科技有限公司 治具、检测系统、基板检测方法
CN113945864B (zh) * 2020-07-17 2024-01-16 合肥鑫晟光电科技有限公司 治具、检测系统、基板检测方法
CN113504456A (zh) * 2021-07-05 2021-10-15 深圳市有方科技股份有限公司 一种用于射频测试的治具及设备
CN113820585A (zh) * 2021-08-16 2021-12-21 胜宏科技（惠州）股份有限公司 一种多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机
CN113820585B (zh) * 2021-08-16 2024-03-08 胜宏科技（惠州）股份有限公司 一种多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN203191515U (zh) 测试治具
CN2906633Y (zh) 插槽测试模组
CN205091435U (zh) Pcb测试装置
CN101231322A (zh) 集成电路开路/短路的测试连接方法及装置
CN205506865U (zh) 测试治具针床及测试设备
CN102967845B (zh) 一种电能计量模块的电气参数测试方法与装置
CN205656212U (zh) Pcb板直针式测试架
CN208282851U (zh) 一种模组测试装置及治具
CN103941047A (zh) 一种电路板信号测试夹
CN203881860U (zh) 一种用于电子产品测试工装的连接单元
CN202995023U (zh) 一种电能计量模块的电气参数测试装置
CN202710618U (zh) 一拖二型线路板电性能测试夹具
CN209000548U (zh) 一种ssd电参数测试装置
CN209327411U (zh) 一种微型单针飞针测试头
CN204560009U (zh) 印制电路板测点引出转接板
CN203825116U (zh) 声表面波器件调试测试架
CN203825045U (zh) 电路板信号测试夹
CN207215868U (zh) 一种电路板测试装置
CN104764909A (zh) 可用于极低温测量的便捷芯片测试座
CN206696394U (zh) 集成电路测试装置及其测试探针
CN210071940U (zh) 一种滤波器性能调试夹具
CN204576255U (zh) 一种高频电源控制器测试夹具
CN112630539B (zh) 一种用于fpc性能测试的测试针模以及测试装置
CN212965292U (zh) 一种便捷式插拨测试装置
CN201126472Y (zh) 用于快速连接电表、终端接口的接表架结构

Legal Events

Date Code Title Description
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20130911

Termination date: 20200403

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee