CN113820585A - 一种多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及一种多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机,包括机箱,所述机箱内自上至下依次设有测试治具组件、转接器针盘组件和高压箱组件,所述高压箱组件由多组高压箱构成,每组高压箱上均设有多组扫描点,每组扫描点分别与转接器针盘组件连接,所述转接器针盘组件与测试治具组件连接,形成多个测试通道,每个测试通道均对应一个单PCS进行独立监测。本发明多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机能够实现多PCS连片板自动化测试及自动识别出不良PCS,且大大提升了多PCS连片板的测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及Hipot测试机技术领域,具体为一种多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机。
背景技术
传统的Hipot测试机是以单通道或8个通道为主,其不管是单通道测试机还是8个通道的测试机,其测试都只能判别整个PCS连片板是否NG。而对于单PCS板是否合格,则需辅助手动进行找点,方可识别出不合格的pcs板。该传统Hipot测试机其人力成本高,测试效率低。
发明内容
本发明提供一种自动化测试识别不合格板单PCS以及测试效率高的多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机。
为了实现上述目的,通过以下技术方案实现。
一种多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机,用于线圈板的多项目测试,包括机箱,所述机箱内自上至下依次设有测试治具组件、转接器针盘组件和高压箱组件,所述高压箱组件由多组高压箱构成,每组高压箱上均设有多组扫描点,每组扫描点分别与转接器针盘组件连接,所述转接器针盘组件与测试治具组件连接,形成多个测试通道,每个测试通道均对应一个单PCS进行独立监测。为实现多连片板Hipot自动测试,且可设备直接判别出具体的不良PCS板,提升测试效率。本发明在现有Hipot测试机结构基础上,通过增加多组高压箱,在每组高压箱上均设置多组扫描点,将每组扫描点通过本发明中的转接器针盘与测试治具组件连接,形成多个测试通道,每个测试通道均对应一个单PCS进行独立监测。本发明通过将多组高压箱、转接器针盘以及测试治具组件一起集合在测试机上,最终实现了Hipot测试时单pcs不良可直接自动监测出,实现了自动化测试识别PCS不良板,有效降低了人力成本,提升了监测效率。
进一步地,所述测试治具组件包括两个治具夹,两个治具夹之间设有若干个单PCS测试组件。所述测试治具组件的开发与设置,用于独立测试单PCS,其中若干个单PCS测试组件的设置,用于与单PCS连接并进行测试,若干个单PCS测试组件两侧两个治具夹的设置,用于放置和固定单PCS测试组件,使若干个单PCS测试组件放置稳定。
进一步地,所述治具夹包括面板承载板和治具承载架,所述面板承载反的一面与若干个单PCS测试组件接触连接,另一面设有治具承载架。所述治具承载架用于为面板承载板提供支撑,所述面板承载板用于夹持和连接若干个单PCS测试组件,确保若干个单PCS测试组件设置稳定,进而确保测试效率。
进一步地,所述治具承载架为U型架,所述U型架为一体成型结构或分体结构,所述U型架与面板承载板之间设有多个支撑柱。本发明采用U型架作为治具承载架,可有少节省材料,同时减轻治具承载架的重量,多个支撑柱的设置,使治具承载架支撑面板承载板更为稳定。
进一步地,所述单PCS测试组件包括测试面板,所述测试面板的中部设有直接与油墨接触且尺寸小于测试面板的铜块,所述铜块上设有向上凸出的铜柱,所述铜块外侧设有多组网络测试针。所述铜柱与铜块为一体,所述网络测试针分别与待测试板上对应的孔相接触,用于分别连通各层线圈网络,测试时通过设备高低压分配,实现层间耐电压、油面与外层铜面间耐电压,以及内槽与各层间线圈边缘耐电压的测试,本实施例中,所述层间耐电压的测试时,其不同线圈组的高低压不同;所述油面与外层铜面间耐电压测试时,铜块与油面接触,铜与油面下铜面为不同高低压端;所述内槽与各层间线圈边缘耐电压测试时,其内槽与各层线圈为不同高低压端。
进一步地,所述测试面板的四周设有向上凸起的防护隔离栏,所述防护隔离栏上开设有缺口。防护隔离栏的设置,起到防止测试时不同PCS间或测试针与铜块间由于相位差或设计的间距过小,易发生串流打火等异常。所述测试面板及其上防护隔离栏采用一块大面板铣出,并在防护隔离栏上铣出缺口,作为相邻单PCS间的连接位放置缺口,确保连片板能顺利放入测试面板中。
进一步地,所述转接器针盘组件包括针盘架,所述针盘架上固定有多个转换端子盒,每个转换端子盒上均设有一治具转换板,所述治具转换板通过定位PIN固定在转换端子盒上,所述转换端子盒内设有若干组转换端子探针,所述治具转换板上设有与转换端子探针相对应的连接端子针套。所述转换端子盒的底部两侧设有向外伸出的安装板,所述安装板用于将转换端子盒固定在针盘架上,所述转换端子盒上设有定位PIN,所述治具转换板上设有与定位PIN相对应的定位孔,所述治具转换板穿过定位PIN固定在转换端子盒上,所述治具转换板上的连接端子针套与转换端子盒上的转换端子探针相对应,每个连接端子针套分别套在对应的转换端子探针上。
进一步地,每个转换端子盒与两个高压箱连接。每组高压箱均设有一个低压输出端、一个高压输出端和8组扫描点,每组高压箱的8组扫描点对应8个通道。每个转换端子盒中设有两大组转换端子探针,每大组转换端子探针均包含10小组转换端子探针,每小组转换端子探针均由两个转换端子探针组成,每大组转换端子探针中的10小组转换端子探针中,其中一组与高压箱中低压输出端相连,一组与高压箱中高压输出端相连,其余8组分别与高压箱中的8组扫描点相连,也即是每个转换端子盒与两个高压箱连接形成16个通道。
进一步地,所述高压箱为12台,每组高压箱均独立输出,由于每组高压箱中有8个通道设置,则本发明测试机一共有96个通道,也即是能够一次完成96个单PCS的测试。
本发明在现有Hipot测试机结构基础上,通过增加多组高压箱,在每组高压箱上均设置多组扫描点,将每组扫描点通过本发明中的转接器针盘与测试治具组件连接,形成多个测试通道,每个测试通道均对应一个单PCS进行独立监测。本发明通过将多组高压箱、转接器针盘以及测试治具组件一起集合在测试机上,最终实现了Hipot测试时单pcs不良可直接自动监测出,实现了自动化测试识别PCS不良板,有效降低了人力成本,提升了监测效率。
附图说明
图1为本发明多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机的立体图;
图2为图1中每组高压箱的立体图;
图3为图1中转接器针盘组件的立体图;
图4为图1中转接器针盘组件的分解图;
图5为4中转换端子盒的俯视图;
图6为图1中测试治具组件的立体图;
图7为图6中单PCS测试组件的立体图。
具体实施方式
下面将结合具体实施例及附图对本发明多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机作进一步详细描述。
参照图1至图,本发明一非限制实施例,一种多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机,用于连片多且测试项目多的产品的耐压测试,包括机箱100,所述机箱100内自上至下依次设有测试治具组件200、转接器针盘组件300和高压箱组件400,所述高压箱组件400由多组高压箱构成,每组高压箱410上均设有多组扫描点413,每组扫描点413分别与转接器针盘组件300连接,所述转接器针盘组件300与测试治具组件200连接,形成多个测试通道,每个测试通道均对应一个单PCS进行独立监测。为实现多连片板Hipot自动测试,且可设备直接判别出具体的不良PCS板,提升测试效率。本发明在现有Hipot测试机结构基础上,通过增加多组高压箱,在每组高压箱410上均设置多组扫描点413,将每组扫描点413通过本发明中的转接器针盘与测试治具组件200连接,形成多个测试通道,每个测试通道均对应一个单PCS进行独立监测。本发明通过将多组高压箱、转接器针盘以及测试治具组件200一起集合在测试机上,最终实现了Hipot测试时单pcs不良可直接自动监测出,实现了自动化测试识别PCS不良板,有效降低了人力成本,提升了监测效率。
参照图1、图6和图7,本发明一非限制实施例,所述测试治具组件200包括两个治具夹210,两个治具夹210之间设有若干个单PCS测试组件220。所述测试治具组件200的开发与设置,用于独立测试单PCS,其中若干个单PCS测试组件220的设置,用于与单PCS连接并进行测试,若干个单PCS测试组件220两侧两个治具夹210的设置,用于放置和固定单PCS测试组件220,使若干个单PCS测试组件220放置稳定。
参照图1、图6和图7,本发明一非限制实施例,所述治具夹210包括面板承载板212和治具承载架211,所述面板承载板212的一面与若干个单PCS测试组件220接触连接,另一面设有治具承载架211。所述治具承载架211用于为面板承载板212提供支撑,所述面板承载板212用于夹持和连接若干个单PCS测试组件220,确保若干个单PCS测试组件220设置稳定,进而确保测试效率。
参照图1、图6和图7,本发明一非限制实施例,所述治具承载架211为U型架,本实施例中,所述U型架为分体结构,由U型架底板和放置在U型架底板两边位置处的两块条形板构成,所述U型架与面板承载板212之间设有多个支撑柱213。当然,所述U型架除本实施例中采用分体结构构成外,也可以采用整板一体成型。本发明采用U型架作为治具承载架211,可有少节省材料,同时减轻治具承载架211的重量,多个支撑柱213的设置,使治具承载架211支撑面板承载板212更为稳定。所述U型架为分体结构,
参照图1、图6和图7,本发明一非限制实施例,所述单PCS测试组件220包括测试面板221,所述测试面板221的中部设有直接与油墨接触且尺寸小于测试面板221的铜块222,所述铜块222上设有向上凸出的铜柱223,所述铜块222外侧设有多组网络测试针224。所述铜柱223与铜块222为一体,所述网络测试针224分别与待测试板上对应的孔相接触,用于分别连通各层线圈网络,测试时通过设备高低压分配,实现层间耐电压、油面与外层铜面间耐电压,以及内槽与各层间线圈边缘耐电压的测试,本实施例中,所述层间耐电压的测试时,其不同线圈组的高低压不同;所述油面与外层铜面间耐电压测试时,铜块与油面接触,铜与油面下铜面为不同高低压端;所述内槽与各层间线圈边缘耐电压测试时,其内槽与各层线圈为不同高低压端。
参照图1、图6和图7,本发明一非限制实施例,所述测试面板221的四周设有向上凸起的防护隔离栏225,所述防护隔离栏225上开设有缺口226。防护隔离栏225的设置,起到防止测试时不同PCS间或测试针224与铜块222间由于相位差或设计的间距过小,易发生串流打火等异常。所述测试面板221及其上防护隔离栏225采用一块大面板铣出,并在防护隔离栏225上铣出缺口226,作为相邻单PCS间的连接位放置缺口,确保连片板能顺利放入测试面板221中。
参照图1、图3至图5,本发明一非限制实施例,所述转接器针盘组件300包括针盘架310,所述针盘架310上固定有多个转换端子盒320,每个转换端子盒320上均设有一治具转换板330,所述治具转换板330通过定位PIN340固定在转换端子盒320上,所述转换端子盒320内设有若干组转换端子探针350,所述治具转换板330上设有与转换端子探针350相对应的连接端子针套360。所述转换端子盒320的底部两侧设有向外伸出的安装板321,所述安装板321用于将转换端子盒320固定在针盘架310上,所述转换端子盒320上设有定位PIN340,所述治具转换板330上设有与定位PIN340相对应的定位孔331,所述治具转换板330穿过定位PIN340固定在转换端子盒320上,所述治具转换板330上的连接端子针套360与转换端子盒320上的转换端子探针350相对应,每个连接端子针套360分别套在对应的转换端子探针350上。
参照图1至图5,本发明一非限制实施例,每个转换端子盒320与两个高压箱连接。每组高压箱410均设有一个低压输出端411、一个高压输出端412和8组扫描点413,每组高压箱410的8组扫描点413对应8个通道。每个转换端子盒320中设有两大组转换端子探针350,每大组转换端子探针350均包含10小组转换端子探针350,每小组转换端子探针350均由两个转换端子探针350组成,每大组转换端子探针350中的10小组转换端子探针350中,其中一组与高压箱中低压输出端411相连,一组与高压箱中高压输出端412相连,其余8组分别与高压箱中的8组扫描点413相连,转换端子盒中的“CH1、CH2、……、CH8”与每组高压箱上的“CH1、CH2、……、CH8”的8组扫描点413,每组扫描点413均包含两个连接点,对应于线路板上需要检测的线路上对应的两根测试针,可用于检测测试端口是否连接好,避免因没接触好导致的漏测试;每组高压箱上的低压输出端411、高压输出端412以及用于测试形成通道的扫描点413均分别通过线路420与转换端子盒320上的转换端子探针350连接,也即是每个转换端子盒320与两个高压箱连接形成16个独立测试通道。
参照图1至图7,本发明一非限制实施例,所述高压箱为12台,每组高压箱410均独立输出,由于每组高压箱410中有8个通道设置,则本发明测试机一共有96个通道,也即是能够一次完成96个单PCS的测试,大大提升了测试效率。
参照图1至图7,本发明多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机以复杂的线圈板为例,线圈板由于其电性要求,需要测试三个项目:1、油面与外层铜面之间耐电压;2、内槽与内层线路间耐电压;3、各层线圈间耐电压。如此复杂的线圈板其不仅测试项目多,而且连片数非常多,若以常规测试方式生产,无法实现完全的自动化测试,需手动辅助找点确定识别,其生产效率极低。本发明多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机的作业过程:
测试治具组件中的单PCS测试组件220按照线路分析进行选点、下针,对应着焊接到治具转换板330上,再通过治具转换板330与转换端子盒320的连接,最终连接到每个高压包上,通常高压箱上一组扫描点413连接治具上一个PCS板针位,一个高压箱可满足8个PCS连片板测试。具体地,转换端子盒320“CH1、CH2、……、CH8”对应高压箱“CH1……CH8” 8组扫描点413,每组扫描点413均包含两个连接点,对应于线路板上需要检测的线路上对应的两根测试针,可用于检测测试端口是否连接好,避免因没接触好导致的漏测试;
线路接好后,开始接下来的测试工作,本实施例以线圈板需测三个项目为例进行说明,本实施例线圈板需分三个测试步骤完成。第一步:测试内槽与内层线路层间耐电压;第二步:测试油面与外层铜面之间耐电压;第三步:测试各层间线路间耐电压,此项目若涉及的层间线圈网络过多,可能需再分步骤测试层间耐电压。每一个步骤测试,设备系统控制高压箱分配各扫描点接线端高低压,同时释放电压(依产品要求电压会存在不同)。系统测试OK一个项目会自动进行测试下一个项目,若测试NG,则不良PCS所对应的高压箱中继电器发送出不良信号。该高压箱再次释放电压进行复测,找出不良PCS,同时在显示器上显示不良PCS区域。如此完成多PCS连片板自动化测试及不良PCS识别。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语诸如 “上”、“下”、“前”、“后”、 “左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明的限制。
此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中,“多个”的含义是两个或两个以上,除非另有明确具体的限定。
在本发明中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
上述实施例仅为本发明的具体实施例,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些显而易见的替换形式均属于本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机,其特征在于:包括机箱,所述机箱内自上至下依次设有测试治具组件、转接器针盘组件和高压箱组件,所述高压箱组件由多组高压箱构成,每组高压箱上均设有多组扫描点,每组扫描点分别与转接器针盘组件连接,所述转接器针盘组件与测试治具组件连接,形成多个测试通道,每个测试通道均对应一个单PCS进行独立监测。
2.根据权利要求1所述的多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机,其特征在于,所述测试治具组件包括两个治具夹,两个治具夹之间设有若干个单PCS测试组件。
3.根据权利要求2所述的多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机,其特征在于,所述治具夹包括面板承载板和治具承载架,所述面板承载反的一面与若干个单PCS测试组件接触连接,另一面设有治具承载架。
4.根据权利要求3所述的多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机,其特征在于,所述治具承载架为U型架,所述U型架为一体成型结构或分体结构,所述U型架与面板承载板之间设有多个支撑柱。
5.根据权利要求3所述的多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机,其特征在于,所述单PCS测试组件包括测试面板,所述测试面板的中部设有直接与油墨接触且尺寸小于测试面板的铜块,所述铜块上设有向上凸出的铜柱,所述铜块外侧设有多组网络测试针。
6.根据权利要求5所述的多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机,其特征在于,所述测试面板的四周设有向上凸起的防护隔离栏,所述防护隔离栏上开设有缺口。
7.根据权利要求1至6任一项权利要求所述的多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机,其特征在于,所述转接器针盘组件包括针盘架,所述针盘架上固定有多个转换端子盒,每个转换端子盒上均设有一治具转换板,所述治具转换板通过定位PIN固定在转换端子盒上,所述转换端子盒内设有若干组转换端子探针,所述治具转换板上设有与转换端子探针相对应的连接端子针套。
8.根据权利要求6所述的多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机,其特征在于,每个转换端子盒与两个高压箱连接。
9.根据权利要求8所述的多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机,其特征在于,每组高压箱均设有一个低压输出端、一个高压输出端和8组扫描点,每组高压箱的8组扫描点对应8个通道。
10.根据权利要求9所述的多通道可监测出单PCS不良的Hipot测试机,其特征在于,所述高压箱为12台,每组高压箱均独立输出。
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Citations (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010034185A1 (zh) * | 2008-09-23 | 2010-04-01 | Chen Tao | 用于测试线路板专用测试机的通用转接装置及通用治具 |
US20120319713A1 (en) * | 2010-01-08 | 2012-12-20 | Photon Dynamics, Inc. | Automatic probe configuration station and method therefor |
CN203191515U (zh) * | 2013-04-03 | 2013-09-11 | 深圳市森力普电子有限公司 | 测试治具 |
CN105548843A (zh) * | 2016-01-25 | 2016-05-04 | 竞陆电子(昆山)有限公司 | 印刷电路板耐电压测试装置 |
CN205643418U (zh) * | 2016-05-27 | 2016-10-12 | 胜宏科技(惠州)股份有限公司 | 一种电感测试夹具 |
CN206945912U (zh) * | 2017-08-07 | 2018-01-30 | 胜宏科技(惠州)股份有限公司 | 一种线路板高压和油墨耐压测试治具 |
CN107942233A (zh) * | 2017-12-05 | 2018-04-20 | 徐州大工电子科技有限公司 | 一种组合线路板产品对其单板选择性检测的治具 |
CN110672999A (zh) * | 2019-10-21 | 2020-01-10 | 胜宏科技(惠州)股份有限公司 | 一种线圈板耐高压检测结构及检测方法 |
CN209992550U (zh) * | 2019-04-30 | 2020-01-24 | 胜宏科技(惠州)股份有限公司 | 一种用于线圈板测试的治具 |
CN210427725U (zh) * | 2019-06-10 | 2020-04-28 | 东莞市连威电子有限公司 | 线路板高压和油墨耐压测试治具 |
CN211741338U (zh) * | 2019-10-30 | 2020-10-23 | 安徽贵博新能科技有限公司 | 一种bcu-bdu一体机测试设备及测试系统 |
KR102233035B1 (ko) * | 2021-02-18 | 2021-03-26 | 한전케이피에스 주식회사 | Pcs 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치 |
CN213068959U (zh) * | 2020-09-30 | 2021-04-27 | 泰和电路科技(惠州)有限公司 | 一种线圈板的耐高压治具 |
-
2021
- 2021-08-16 CN CN202110935081.4A patent/CN113820585B/zh active Active
Patent Citations (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2010034185A1 (zh) * | 2008-09-23 | 2010-04-01 | Chen Tao | 用于测试线路板专用测试机的通用转接装置及通用治具 |
US20120319713A1 (en) * | 2010-01-08 | 2012-12-20 | Photon Dynamics, Inc. | Automatic probe configuration station and method therefor |
CN203191515U (zh) * | 2013-04-03 | 2013-09-11 | 深圳市森力普电子有限公司 | 测试治具 |
CN105548843A (zh) * | 2016-01-25 | 2016-05-04 | 竞陆电子(昆山)有限公司 | 印刷电路板耐电压测试装置 |
CN205643418U (zh) * | 2016-05-27 | 2016-10-12 | 胜宏科技(惠州)股份有限公司 | 一种电感测试夹具 |
CN206945912U (zh) * | 2017-08-07 | 2018-01-30 | 胜宏科技(惠州)股份有限公司 | 一种线路板高压和油墨耐压测试治具 |
CN107942233A (zh) * | 2017-12-05 | 2018-04-20 | 徐州大工电子科技有限公司 | 一种组合线路板产品对其单板选择性检测的治具 |
CN209992550U (zh) * | 2019-04-30 | 2020-01-24 | 胜宏科技(惠州)股份有限公司 | 一种用于线圈板测试的治具 |
CN210427725U (zh) * | 2019-06-10 | 2020-04-28 | 东莞市连威电子有限公司 | 线路板高压和油墨耐压测试治具 |
CN110672999A (zh) * | 2019-10-21 | 2020-01-10 | 胜宏科技(惠州)股份有限公司 | 一种线圈板耐高压检测结构及检测方法 |
CN211741338U (zh) * | 2019-10-30 | 2020-10-23 | 安徽贵博新能科技有限公司 | 一种bcu-bdu一体机测试设备及测试系统 |
CN213068959U (zh) * | 2020-09-30 | 2021-04-27 | 泰和电路科技(惠州)有限公司 | 一种线圈板的耐高压治具 |
KR102233035B1 (ko) * | 2021-02-18 | 2021-03-26 | 한전케이피에스 주식회사 | Pcs 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
许中原;周骅;穆杰;: "多通道绝缘耐压测试系统下位机及硬件设计", 微型机与应用, no. 19 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN113820585B (zh) | 2024-03-08 |
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