KR102233035B1 - Pcs 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치 - Google Patents

Pcs 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치 Download PDF

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Abstract

PCS(Plant Control System) 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치가 제공된다. 본 발명의 실시예에 따른 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치는, PCS(발전소제어계통) 전자카드 및 통신 포트의 내부 장착이 가능한 베이스 유닛(Base Unit); 및 베이스 유닛의 내부에 장착된 PCS 전자카드에 실제 구동 시와 동일한 입력 소스(Source)가 공급되도록 하고, 입력 소스에 따른 출력 값을 비교하여, PCS 전자카드의 건전성을 시험하는 정보처리 장치;를 포함한다. 이에 의해, 복수의 종류로 구성되는 PCS 전자카드들을 종류에 따라 실제 구동 시와 동일한 입력 소스가 공급되도록 하여, 전기적, 물리적 소자 특성을 정비 점검하여 건전성을 시험할 수 있다. 또한, 작업자가 PCS 전자카드의 종류에 대한 정보 또는 실제 구동 시와 동일한 입력 소스 값을 입력하지 않아도, 자동으로 식별된 PCS 전자카드들의 종류 식별 결과를 기반으로, 특정 종류의 PCS 전자카드에 적합한 입력 소스가 공급되도록 하여, 건전성 시험을 수행할 수 있어, 정비 점검 작업의 작업 효율을 높이고, 시험 정확도를 향상시킬 수 있다.

Description

PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치{Device for Plant Control System electronic card automatic diagnosis and function test}
본 발명은 PCS(Plant Control System) 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 복수의 종류(기종)로 구성되는 PCS 전자카드들의 전기적, 물리적 소자 특성을 정비 점검하여 건전성을 시험하는 장치에 관한 것이다.
일반적으로 발전소제어계통(PCS: Plant Control System)의 주제어실 및 현장 판넬에는 복수의 전자카드(6N731-1등)가 설치되어 있다.
이러한 PCS 전자카드들은 오동작으로 인한 발전정지까지 유발할 수 있어, 주기적인 정비 점검이 필요하다.
기존에는 이러한 PCS 전자카드들의 정비 점검을 위해, 한국등록특허 제10-1389434호와 같이 지그를 이용하여, 점검 대상인 PCS 전자카드들의 정비 점검하였으나, 종류별로 다른 입력 소스를 필요로 하는 PCS 전자카들 각각에 작업자가 직접 입력 소스 값을 입력하여, 정비 점검을 함으로써, 작업 효율이 떨어지고, 작업자의 입력 실수로 인하여, 정비 점검의 정확도가 떨어지는 문제점이 존재한다.
한국등록특허 제10-1389434호(발명의 명칭: 공정제어 전자카드 시험시스템)
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은, 복수의 종류로 구성되는 PCS 전자카드들을 종류에 따라 실제 구동 시와 동일한 입력 소스(Source)가 공급되도록 하여, 전기적, 물리적 소자 특성을 정비 점검하여 건전성을 시험하는 장치를 제공함에 있다.
본 발명의 또 다른 목적은, 작업자가 PCS 전자카드의 종류에 대한 정보 또는 실제 구동 시와 동일한 입력 소스 값을 입력하지 않아도, 자동으로 식별된 PCS 전자카드들의 종류 식별 결과를 기반으로, 특정 종류의 PCS 전자카드에 적합한 입력 소스가 공급되도록 하여, 건전성 시험을 수행하는 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치를 제공함에 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른, PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치는, PCS(발전소제어계통) 전자카드 및 통신 포트의 내부 장착이 가능한 베이스 유닛(Base Unit); 및 베이스 유닛의 내부에 장착된 PCS 전자카드에 실제 구동 시와 동일한 입력 소스(Source)가 공급되도록 하고, 입력 소스에 따른 출력 값을 비교하여, PCS 전자카드의 건전성을 시험하는 정보처리 장치;를 포함한다.
그리고 정보처리 장치는, PCS 전자카드가 실제 구동 시 공급되는 입력 소스에 대한 정보가 포함되는 구동 정보를 PCS 전자카드의 종류별로 생성하여 저장하고, 베이스 유닛을 통해 특정 종류의 PCS 전자카드가 장착되면, 장착된 PCS 전자카드의 종류를 식별하고, 식별 결과에 따라 기저장된 PCS 전자카드의 구동 정보를 불러온 후(로딩한 후), 불러온 구동 정보를 기반으로 장착된 PCS 전자카드에 입력 소스가 공급되도록 할 수 있다.
또한, 입력 소스는, 입력 전압, 입력 전류 및 펄스 신호 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
그리고 본 발명의 일 실시예에 따른, PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치는, 정보처리 장치에 연결되어, 베이스 유닛의 내부에 장착된 PCS 전자카드의 광통신 모듈의 신호 레벨을 측정하는 광학 입출력 시험 유닛(Optical I/O Test Unit);을 더 포함할 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 따른, PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치는, 베이스 유닛의 내부에 장착된 PCS 전자카드에 공급된 입력 소스에 따른 출력에 대한 출력 데이터를 획득하는 데이터 획득 유닛(Data Acquisition Unit);을 더 포함할 수 있다.
그리고 본 발명의 일 실시예에 따른, PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치는, 베이스 유닛의 내부에 장착된 PCS 전자카드에 DC-125V 20mA의 전원을 공급하는 고전압 공급 유닛(High Power Unit); 베이스 유닛의 내부에 장착된 PCS 전자카드에 AC-15V 1.5A의 전원을 공급하는 아날로그 전원 공급 유닛(Analog Power Unit); 베이스 유닛의 내부에 장착된 PCS 전자카드에 DC-7.5V 5A의 전원 또는 DC-24V 2A의 전원을 공급하는 저전압 공급 유닛(Low Power Unit); 및 정보처리 장치로부터 제공되는 제어 신호에 따라 고전압 공급 유닛, 아날로그 전원 공급 유닛 및 저전압 공급 유닛 중 적어도 하나가 동작하도록 제어하는 메인 컨트롤 유닛;을 더 포함할 수 있다.
또한, 정보처리 장치는, 메인 컨트롤 유닛을 통해, 베이스 유닛의 내부에 장착된 PCS 전자카드에 DC-125V 20mA의 전원, AC-15V 1.5A의 전원 및 DC-7.5V 5A의 전원 또는 DC-24V 2A의 전원을 순차적으로 공급하며, 각각의 공급된 전원에 따라 출력 값을 기설정된 판정 기준들과 개별적으로 비교하여, PCS 전자카드의 건전성을 시험할 수 있다.
그리고 정보처리 장치는, 순차적으로 공급되는 각각의 전원별 출력과 기설정된 판정 기준들의 비교 결과, PCS 전자카드가 불량으로 판단되는 경우, 불량으로 판단되는 PCS 전자카드의 전원별 출력 및 불량으로 판단된 항목에 대한 데이터만을 선별하여 PCS 전자카드의 식별정보와 매칭시켜 저장할 수 있다.
한편, 본 발명의 다른 실시예에 따른, PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치는, PCS(발전소제어계통) 전자카드가 고정되는 측정용 지그 장치; 측정용 지그 장치에 연결되되, 통신 포트의 내부 장착이 가능한 베이스 유닛(Base Unit); 및 측정용 지그 장치에 고정된 PCS 전자카드에 실제 구동 시와 동일한 입력 소스(Source)가 공급되도록 하고, 입력 소스에 따른 출력 값을 비교하여, PCS 전자카드의 건전성을 시험하는 정보처리 장치;를 포함한다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따르면, 복수의 종류로 구성되는 PCS 전자카드들을 종류에 따라 실제 구동 시와 동일한 입력 소스가 공급되도록 하여, 전기적, 물리적 소자 특성을 정비 점검하여 건전성을 시험할 수 있다.
또한, 본 발명의 실시예들에 따르면, 작업자가 PCS 전자카드의 종류에 대한 정보 또는 실제 구동 시와 동일한 입력 소스 값을 입력하지 않아도, 자동으로 식별된 PCS 전자카드들의 종류 식별 결과를 기반으로, 특정 종류의 PCS 전자카드에 적합한 입력 소스가 공급되도록 하여, 건전성 시험을 수행할 수 있어, 정비 점검 작업의 작업 효율을 높이고, 시험 정확도를 향상시킬 수 있다.
도 1은, 본 발명의 일 실시예에 따른 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치의 설명에 제공된 도면,
도 2는, 본 발명의 일 실시예에 따른 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치의 구성요소 중 PCS 전자카드의 광통신 모듈의 신호 레벨을 측정하는데 이용되는 구성요소들의 설명에 제공된 도면,
도 3은, 본 발명의 일 실시예에 따른 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치의 구성요소 중 PCS 전자카드에 실제 구동 시와 동일한 입력 소스가 공급되도록 하고, 입력 소스에 따른 출력 값을 비교하는데 이용되는 구성요소들의 설명에 제공된 도면,
도 4는, 본 발명의 일 실시예에 따른 정보처리 장치의 설명에 제공된 도면,
도 5는, 본 발명의 다른 실시예에 따른 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치의 설명에 제공된 도면,
도 6은, 상기 도 5에 따른 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치의 구성요소 중 PCS 전자카드의 광통신 모듈의 신호 레벨을 측정하는데 이용되는 구성요소들의 설명에 제공된 도면,
도 7은, 상기 도 5에 따른 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치의 구성요소 중 PCS 전자카드에 실제 구동 시와 동일한 입력 소스가 공급되도록 하고, 입력 소스에 따른 출력 값을 비교하는데 이용되는 구성요소들의 설명에 제공된 도면, 그리고
도 8은, 본 발명의 일 실시예에 따른 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치를 이용하여, PCS 전자카드의 건전성 시험을 수행하는 건전성 시험 방법의 설명에 제공된 흐름도이다.
이하에서는 도면을 참조하여 본 발명을 보다 상세하게 설명한다.
도 1은, 본 발명의 일 실시예에 따른 PCS(발전소제어계통) 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치의 설명에 제공된 도면이고, 도 2는, 본 발명의 일 실시예에 따른 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치의 구성요소 중 PCS 전자카드의 광통신 모듈의 신호 레벨을 측정하는데 이용되는 구성요소들의 설명에 제공된 도면이며, 도 3은, 본 발명의 일 실시예에 따른 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치의 구성요소 중 PCS 전자카드에 실제 구동 시와 동일한 입력 소스가 공급되도록 하고, 입력 소스에 따른 출력 값을 비교하는데 이용되는 구성요소들의 설명에 제공된 도면이다.
본 실시예에 따른 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치는, 복수의 종류로 구성되는 PCS 전자카드들을 종류에 따라 실제 구동 시와 동일한 입력 소스가 공급되도록 하여, 전기적, 물리적 소자 특성을 정비 점검하여 건전성을 시험하고, 나아가, 작업자가 PCS 전자카드의 종류에 대한 정보 또는 실제 구동 시와 동일한 입력 소스 값을 입력하지 않아도, 자동으로 식별된 PCS 전자카드들의 종류 식별 결과를 기반으로, 특정 종류의 PCS 전자카드에 적합한 입력 소스가 공급되도록 하여, 건전성 시험을 수행하기 위해 마련된다.
이를 위해, 본 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치는, 베이스 유닛(100), 정보처리 장치(200), 광학 입출력 시험 유닛(300), 데이터 획득 유닛(400), 고전압 공급 유닛(500), 아날로그 전원 공급 유닛(600), 저전압 공급 유닛(700) 및 메인 컨트롤 유닛(800)을 포함할 수 있다.
베이스 유닛(100)은, PCS 전자카드 및 통신 포트의 내부 장착이 가능하도록 구현된다.
예를 들면, 베이스 유닛(100)은, NIM(6N737-2) 보드의 RS-232 통신포트 등이 장착될 수 있다.
정보처리 장치(200)는, PCS 전자카드의 건전성 시험을 수행하기 위해 마련된다.
예를 들면, 정보처리 장치(200)는, 베이스 유닛(100)의 내부에 장착된 PCS 전자카드에 실제 구동 시와 동일한 입력 소스가 공급되도록 하고, 입력 소스에 따른 출력 값을 비교하여, PCS 전자카드의 건전성을 시험할 수 있다. 여기서, 입력 소스는, 입력 전압, 입력 전류 및 펄스 신호 중 적어도 하나를 포함할 수 있다.
이때, 정보처리 장치(200)는, PCS 전자카드의 건전성 시험을 반복적으로 수행할 수 있으며, 작업자의 선택에 따라 기등록된 모든 검사 포인트에 대한 건전성 시험을 자동 또는 수동으로 수행할 수 있다.
그리고 정보처리 장치(200)는, 광학 입출력 시험 유닛(300)을 이용하여, PCS 전자카드의 광 모듈 개별 성능을 시험하거나 또는 광 통신 상태를 모니터링할 수 있다.
구체적으로, 정보처리 장치(200)는, PCS 전자카드가 실제 구동 시 공급되는 입력 소스에 대한 정보가 포함되는 구동 정보를 PCS 전자카드의 종류별로 생성하여 저장하고, 베이스 유닛(100)을 통해 특정 종류의 PCS 전자카드가 장착되면, 장착된 PCS 전자카드의 종류를 식별하고, 식별 결과에 따라 기저장된 PCS 전자카드의 구동 정보를 불러온 후(로딩한 후), 불러온 구동 정보를 기반으로 장착된 PCS 전자카드에 입력 소스가 공급되도록 할 수 있다.
또한, 정보처리 장치(200)는, 메인 컨트롤 유닛(800)을 통해, 베이스 유닛(100)의 내부에 장착된 PCS 전자카드에 DC-125V 20mA의 전원, AC-15V 1.5A의 전원 및 DC-7.5V 5A의 전원 또는 DC-24V 2A의 전원을 순차적으로 공급하며, 각각의 공급된 전원에 따라 출력 값을 기설정된 판정 기준들과 개별적으로 비교하여, PCS 전자카드의 건전성을 시험할 수 있다.
이때, 정보처리 장치(200)는, 순차적으로 공급되는 각각의 전원별 출력과 기설정된 판정 기준들의 비교 결과, PCS 전자카드가 불량으로 판단되는 경우, 불량으로 판단되는 PCS 전자카드의 전원별 출력 및 불량으로 판단된 항목에 대한 데이터만을 선별하여 PCS 전자카드의 식별정보와 매칭시켜 저장할 수 있다.
이를 통해, 정보처리 장치(200)는, 관리자가 검사 대상 PCS 전자카드의 고장 부위별 과거 이력을 조회하거나, 또는 요청시, 관리자에게 검사 포인트별 세부 고장 내역을 제공할 수 있다.
광학 입출력 시험 유닛(300)은, 정보처리 장치(200)에 연결되어, 베이스 유닛(100)의 내부에 장착된 PCS 전자카드의 광통신 모듈의 신호 레벨을 측정할 수 있다.
예를 들면, 광학 입출력 시험 유닛(300)은, NIM(6N737-2)보드의 광통신모듈 PART의 신호 레벨을 측정할 수 있다.
데이터 획득 유닛(400)은, 정보처리 장치(200)에 연결되거나 또는 정보처리 장치(200)의 내부에 마련되어, 베이스 유닛(100)의 내부에 장착된 PCS 전자카드에 공급된 입력 소스에 따른 출력에 대한 출력 데이터를 획득할 수 있다.
고전압 공급 유닛(500)은, 검사 대상인 PCS 전자카드에 저전압 공급 유닛(700)보다 상대적으로 높은 DC 전원을 공급하기 위해 마련된다.
예를 들면, 고전압 공급 유닛(500)은, 베이스 유닛(100)의 내부에 장착된 PCS 전자카드에 DC-125V 20mA의 전원을 공급할 수 있다.
아날로그 전원 공급 유닛(600)은, 검사 대상인 PCS 전자카드에 AC 전원을 공급하기 위해 마련된다.
예를 들면, 아날로그 전원 공급 유닛(600)은, 베이스 유닛(100)의 내부에 장착된 PCS 전자카드에 AC-15V 1.5A의 전원을 공급할 수 있다.
저전압 공급 유닛(700)은, 검사 대상인 PCS 전자카드에 고전압 공급 유닛(500)보다 상대적으로 낮은 DC 전원을 공급하기 위해 마련된다.
저전압 공급 유닛(700)은, 베이스 유닛(100)의 내부에 장착된 PCS 전자카드에 DC-7.5V 5A의 전원 또는 DC-24V 2A의 전원을 공급할 수 있다.
메인 컨트롤 유닛(800)은, 정보처리 장치(200)로부터 제공되는 제어 신호를 재가공하고, 재가공된 제어 신호에 따라 고전압 공급 유닛(500), 아날로그 전원 공급 유닛(600) 및 저전압 공급 유닛(700) 중 적어도 하나가 동작하도록 제어하기 위해 마련된다.
예를 들면, 메인 컨트롤 유닛(800)은 베이스 유닛(100)의 내부에 장착된 PCS 전자카드에 DC-125V 20mA의 전원, AC-15V 1.5A의 전원 및 DC-7.5V 5A의 전원 또는 DC-24V 2A의 전원을 순차적으로 공급할 수 있다.
도 4는, 본 발명의 일 실시예에 따른 정보처리 장치(200)의 설명에 제공된 도면이다.
본 실시예에 따른 정보처리 장치(200)는, 통신부(210), 프로세서(220), 저장부(230) 및 식별부(240)를 포함할 수 있다.
통신부(210)는, 프로세서(220)가 동작함에 있어 필요한 데이터를 송수신하기 위해, 인터넷 통신 모듈이 마련될 수 있다.
통신부(210)는, RS-232 통신포트가 마련되어, 베이스 유닛(100), 광학 입출력 시험 유닛(300), 데이터 획득 유닛(400) 및 메인 컨트롤 유닛(800) 등과 연결될 수 있다.
저장부(230)는, 프로세서(220)가 동작함에 있어 필요한 데이터를 저장할 수 있다.
구체적으로, 저장부(230)는, PCS 전자카드가 실제 구동 시 공급되는 입력 소스에 대한 정보를 포함되는 구동 정보가 PCS 전자카드의 종류별로 저장할 수 있다.
식별부(240)는, 베이스 유닛(100)을 통해 특정 종류의 PCS 전자카드가 장착되면, 장착된 PCS 전자카드의 종류를 식별할 수 있다.
구체적으로, 식별부(240)는, 장착되는 각각의 PCS 전자카드에 부착된 바코드 등의 식별정보를 기반으로, 장착된 PCS 전자카드의 종류를 식별할 수 있다.
프로세서(220)는, 베이스 유닛(100)의 내부에 장착된 PCS 전자카드에 실제 구동 시와 동일한 입력 소스가 공급되도록 하고, 입력 소스에 따른 출력 값을 비교하여, PCS 전자카드의 건전성을 시험할 수 있다.
구체적으로, 프로세서(220)는, PCS 전자카드가 실제 구동 시 공급되는 입력 소스에 대한 정보가 포함되는 구동 정보를 PCS 전자카드의 종류별로 생성하여 저장부(230)에 저장하고, 식별부(240)로부터 전달된 식별 결과에 따라 기저장된 PCS 전자카드의 구동 정보를 불러온 후(로딩한 후), 불러온 구동 정보를 기반으로 장착된 PCS 전자카드에 입력 소스가 공급되도록 할 수 있다.
그리고 프로세서(220)는, 메인 컨트롤 유닛(800)을 통해, 베이스 유닛(100)의 내부에 장착된 PCS 전자카드에 DC-125V 20mA의 전원, AC-15V 1.5A의 전원 및 DC-7.5V 5A의 전원 또는 DC-24V 2A의 전원을 순차적으로 공급하며, 각각의 공급된 전원에 따라 출력 값을 기설정된 판정 기준들과 개별적으로 비교하여, PCS 전자카드의 건전성을 시험할 수 있다.
이때, 프로세서(220)는, 순차적으로 공급되는 각각의 전원별 출력과 기설정된 판정 기준들의 비교 결과, PCS 전자카드가 불량으로 판단되는 경우, 불량으로 판단되는 PCS 전자카드의 전원별 출력 및 불량으로 판단된 항목에 대한 데이터만을 선별하여 PCS 전자카드의 식별정보와 매칭시켜 저장할 수 있다.
도 5는, 본 발명의 다른 실시예에 따른 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치의 설명에 제공된 도면이며, 도 6은, 상기 도 5에 따른 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치의 구성요소 중 PCS 전자카드의 광통신 모듈의 신호 레벨을 측정하는데 이용되는 구성요소들의 설명에 제공된 도면이고, 도 7은, 상기 도 5에 따른 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치의 구성요소 중 PCS 전자카드에 실제 구동 시와 동일한 입력 소스가 공급되도록 하고, 입력 소스에 따른 출력 값을 비교하는데 이용되는 구성요소들의 설명에 제공된 도면이다.
도 5 내지 도 7은, 본 발명의 다른 실시예에 따른 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치의 구성이 도시된 도면이다.
본 실시예에 따른 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치는, 도 1 내지 도 4를 참조하여 전술한 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치의 구성요소 이외에 추가적으로, 측정용 지그 장치(900) 및 지그 연결 패널(1000)을 더 포함할 수 있다.
이를 통해, 물리적 크기 등을 이유로 베이스 유닛(100)에 장착되지 못하는 종류(기종)의 PCS 전자카드를 측정용 지그 장치(900)에 고정시켜, PCS 전자카드의 건전성 시험을 수행할 수 있다.
구체적으로, 측정용 지그 장치(900)는, 일측이 베이스 유닛(100)과 광케이블 등으로 연결되고, 타측이 지그 연결 패널(1000)과 연결될 수 있다.
그리고 지그 연결 패널(1000)은, 일측이 측정용 지그 장치(900)와 연결되고, 타측이 데이터 획득 유닛(400)과 연결될 수 있다.
즉, 측정용 지그 장치(900)는, 베이스 유닛(100)을 통해 공급되는 입력 소스에 따른 출력 데이터를 지그 연결 패널(1000)을 통해 데이터 획득 유닛(400)에 전달하게 되고, 이는 다시 정보처리 장치(200)로 전달될 수 있다.
또한, 측정용 지그 장치(900)는, 광학 입출력 시험 유닛(300)이, 측정용 지그 장치(900)에 고정된 PCS 전자카드의 광통신 모듈의 신호 레벨을 측정하는데 이용될 수 있다.
도 8은, 본 발명의 일 실시예에 따른 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치를 이용하여, PCS 전자카드의 건전성 시험을 수행하는 건전성 시험 방법의 설명에 제공된 흐름도이다.
도 8은, 도 1 내지 도 7을 참조하여 전술한 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치에 의해 실행될 수 있다.
구체적으로, 본 PCS 전자카드의 건전성 시험을 수행하는 건전성 시험 방법은, 정보처리 장치(200)를 이용하여 PCS 전자카드가 실제 구동 시 공급되는 입력 소스에 대한 정보가 포함되는 구동 정보를 PCS 전자카드의 종류별로 생성하여 저장하고(S810), 베이스 유닛(100)을 통해 특정 종류의 PCS 전자카드가 장착 또는 고정되면(S820), 장착 또는 고정된 PCS 전자카드의 종류를 식별할 수 있다(S830).
이때, 정보처리 장치(200)는, 식별 결과에 따라 기저장된 PCS 전자카드의 구동 정보를 불러온 후(로딩한 후)(S840), 불러온 구동 정보를 기반으로 장착된 PCS 전자카드에 입력 소스가 공급되도록 할 수 있다(S850).
그리고 정보처리 장치(200)는, 공급된 입력 소스에 따라 출력되는 출력 값(출력 데이터)을 획득하고(S860), 이를 기설정된 판정 기준과 비교함으로써(S870), PCS 전자카드의 건전성을 시험할 수 있다.
이를 통해, 작업자가 PCS 전자카드의 종류에 대한 정보 또는 실제 구동 시와 동일한 입력 소스 값을 입력하지 않아도, 자동으로 식별된 PCS 전자카드들의 종류 식별 결과를 기반으로, 특정 종류의 PCS 전자카드에 적합한 입력 소스가 공급되도록 하여, 건전성 시험을 수행할 수 있어, 정비 점검 작업의 작업 효율을 높이고, 시험 정확도를 향상시킬 수 있다.
이상에서는 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 도시하고 설명하였지만, 본 발명은 상술한 특정의 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진자에 의해 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 이러한 변형실시들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어져서는 안될 것이다.
100 : 베이스 유닛(Base Unit)
200 : 정보처리 장치
210 : 통신부
220 : 프로세서
230 : 저장부
240 : 식별부
300 : 광학 입출력 시험 유닛(Optical I/O Test Unit)
400 : 데이터 획득 유닛(Data Acquisition Unit)
500 : 고전압 공급 유닛(High Power Unit)
600 : 아날로그 전원 공급 유닛(Analog Power Unit)
700 : 저전압 공급 유닛(Low Power Unit)
800 : 메인 컨트롤 유닛
900 : 측정용 지그 장치
1000 : 지그 연결 패널(JIG Connection Panel)

Claims (9)

  1. PCS(발전소제어계통) 전자카드 및 통신 포트의 내부 장착이 가능한 베이스 유닛(Base Unit); 및
    베이스 유닛의 내부에 장착된 PCS 전자카드에 실제 구동 시와 동일한 입력 소스(Source)가 공급되도록 하고, 입력 소스에 따른 출력 값을 비교하여, PCS 전자카드의 건전성을 시험하는 정보처리 장치;를 포함하는 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    정보처리 장치는,
    PCS 전자카드가 실제 구동 시 공급되는 입력 소스에 대한 정보가 포함되는 구동 정보를 PCS 전자카드의 종류별로 생성하여 저장하고,
    베이스 유닛을 통해 특정 종류의 PCS 전자카드가 장착되면, 장착된 PCS 전자카드의 종류를 식별하고, 식별 결과에 따라 기저장된 PCS 전자카드의 구동 정보를 불러온 후(로딩한 후), 불러온 구동 정보를 기반으로 장착된 PCS 전자카드에 입력 소스가 공급되도록 하는 것을 특징으로 하는 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치.
  3. 청구항 2에 있어서,
    입력 소스는,
    입력 전압, 입력 전류 및 펄스 신호 중 적어도 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치.
  4. 청구항 2에 있어서,
    정보처리 장치에 연결되어, 베이스 유닛의 내부에 장착된 PCS 전자카드의 광통신 모듈의 신호 레벨을 측정하는 광학 입출력 시험 유닛(Optical I/O Test Unit);을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치.
  5. 청구항 4에 있어서,
    베이스 유닛의 내부에 장착된 PCS 전자카드에 공급된 입력 소스에 따른 출력에 대한 출력 데이터를 획득하는 데이터 획득 유닛(Data Acquisition Unit);을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치.
  6. 청구항 5에 있어서,
    베이스 유닛의 내부에 장착된 PCS 전자카드에 DC-125V 20mA의 전원을 공급하는 고전압 공급 유닛(High Power Unit);
    베이스 유닛의 내부에 장착된 PCS 전자카드에 AC-15V 1.5A의 전원을 공급하는 아날로그 전원 공급 유닛(Analog Power Unit);
    베이스 유닛의 내부에 장착된 PCS 전자카드에 DC-7.5V 5A의 전원 또는 DC-24V 2A의 전원을 공급하는 저전압 공급 유닛(Low Power Unit); 및
    정보처리 장치로부터 제공되는 제어 신호에 따라 고전압 공급 유닛, 아날로그 전원 공급 유닛 및 저전압 공급 유닛 중 적어도 하나가 동작하도록 제어하는 메인 컨트롤 유닛;을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치.
  7. 청구항 6에 있어서,
    정보처리 장치는,
    메인 컨트롤 유닛을 통해, 베이스 유닛의 내부에 장착된 PCS 전자카드에 DC-125V 20mA의 전원, AC-15V 1.5A의 전원 및 DC-7.5V 5A의 전원 또는 DC-24V 2A의 전원을 순차적으로 공급하며, 각각의 공급된 전원에 따라 출력 값을 기설정된 판정 기준들과 개별적으로 비교하여, PCS 전자카드의 건전성을 시험하는 것을 특징으로 하는 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치.
  8. 청구항 7에 있어서,
    정보처리 장치는,
    순차적으로 공급되는 각각의 전원별 출력과 기설정된 판정 기준들의 비교 결과, PCS 전자카드가 불량으로 판단되는 경우, 불량으로 판단되는 PCS 전자카드의 전원별 출력 및 불량으로 판단된 항목에 대한 데이터만을 선별하여 PCS 전자카드의 식별정보와 매칭시켜 저장하는 것을 특징으로 하는 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치.
  9. PCS(발전소제어계통) 전자카드가 고정되는 측정용 지그 장치;
    측정용 지그 장치에 연결되되, 통신 포트의 내부 장착이 가능한 베이스 유닛(Base Unit); 및
    측정용 지그 장치에 고정된 PCS 전자카드에 실제 구동 시와 동일한 입력 소스(Source)가 공급되도록 하고, 입력 소스에 따른 출력 값을 비교하여, PCS 전자카드의 건전성을 시험하는 정보처리 장치;를 포함하는 PCS 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치.
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