JPH0450777A - 電子機器用故障要因解析チェッカ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は電子機器用故障要因解析チェッカに関して、
特に、電気回路や電子部品で構成される産業用および民
生用電子機器の故障要因を解析するための電子機器用故
障要因解析チェッカに関する。

［従来の技術］ 電子機器が故障した場合、その機能を回復させるために
、回路動作状態の良否判定を行なって故障診断を行なう
必要がある。従来では、電子機器の各チエツクポイント
に関する電圧値や波形などの標準データに基づいてオシ
ロスコープや電圧計などで測定した結果を測定者の目を
通して照合を行ない、機能状態を把擺するとともに、良
否判定を行なうという手法がとられている。具体的には
、症状別の故障修理−覧表に基づいて、故障要因を推定
した後、回路図上に明記された各部電圧値あるいは各部
電圧波形を参照しながら、対応するチエツクポイントを
オシロスコープや電圧計などを用いて、電圧値２周波数
、駆動デユーティ、波形を観測し、測定器上にａカされ
るデータと標準データとの相関性を測定者の目を通し判
断能力を活用して回路を構成する部品や構造の不良箇所
を摘出する手法が一般的である。

［発明が解決しようとする課題］ ところが、上述の従来の方式によると、電子機器が動作
不良を発生した場合の要因解粧は、各種データおよび各
種測定器を必要とし、良否判定に要する時間、資料準備
などにかかる所要時間、さらには資料の精度アップなど
様々な要因において時間的な損失が多く発生する。特に
、対象となる電子機器の動作原理などに関して精通して
いない場合においては、要因解析に要する時間は膨大な
量となり、損失は極めて大きいという問題点があった。

それゆえに、この発明の主たる目的は、電子機器の故障
要因を迅速かつ的確に解析できるような電子機器用故障
要因解析チェッカを提供することである・。

口課題を解決するための手段］ 第１請求項に係る発明は、電子部品で構成される電子機
器の故障要因を解析するための電子機器用故障要因解析
チェッカであって、電子機器の任意の点における電圧−
値や周波数やデニーテイなどの情報を記憶するための記
憶手段と、電子機器の任意の点からの情報を収集するた
めのプローブと、学習モードと測定モードとを切換える
ためのモード切換え手段と、学習モードが選択され、か
つプローブによって電子−機器の任意の点の情報が収集
されたことに応じて、その情報を記憶手段に記憶させ、
測定モードが選択されかつプローブによって被測定電子
機器の・任意の一点の情報が収集されたことに応じて、
収集された情報と記憶されている当該点の情報とを比較
し、それぞれの相関関係を示す”信号を出力する制御手
段とを備えて構成される。

第２請求項に係る発明は、着脱自在に設けられ、電子機
器の任意の点における電圧値や周波数やデユーティなど
の情報を予め記憶するためのカード状記憶媒体と、電子
機器の任意の点からの情報を収集するためのプローブと
、プローブで収集された情報を取り込むための指令を与
える指令手段と、プローブによって被測定電子機器の任
意の点の情報が収集されかつ指令手段からの指令に応じ
て、カード状記憶媒体から当該点の情報を読出して収集
された・情報と比較し、相関関係を示す信号を出力する
制御手段とを備えて構成される。

［作用］ 第１請求項に係る電子機器用故障要因解析チェッカは、
正常な電子機器の任意の点からの情報をプローブで収集
して記憶しておき、被測定電子機器の任意の点の情報を
プローブで収集し、学習した情報と収集した情報とを比
較してそれぞれの相関関係を示す信号を出力することに
より、正常な電子機器の情報と実測データとの照合確認
作業を軽減でき、故障解析に要する検査時間を大幅に減
少させることができる。

第２請求項に係る電子機器用故障要因解析チェツカは、
電子機器の任意の点における電圧値や周波数やデユーテ
ィなどの情報を予めカード状記憶媒体に記憶しておき、
被測定電子機器の任意の点の情報が収集されたとき、そ
の点における情報をカード状記憶媒体から読ａして比較
することにより、相関関係を示す信号を出力する。した
がって、各電子機器に応じた情報をカード状記憶媒体を
記憶しておけば、各種電子機器の故障解析に要する検査
時間を大幅に減少させることができる。

［発明の実施例］ 第２図はこの発明の一実施例の概略ブロック図である。

第２図を参照して、ＣＰ’ＵＩにはＲＡＭ２とＲＯＭ３
とｒ／○コントロール回路４とが接続されてる。ＣＰＵ
ＩはＲＯＭ３に予め記憶されているプログラムに従って
、全体の動−作を制御する。ＲＡＭ２は、後述の第３図
に示すような各チエツクポイントにおける電圧値や周波
数や駆動デユーティや波形図などの要素データを記憶す
る。

Ｉ１０コントロール回路４には、入力レベル変換回路５
とキー人力装置６とが接続される。入力レベル変換回路
５はＣＰＵＩから出力される電圧圧縮比率・データなど
の情報に従って、テストプローブ７で収集された入力電
圧の圧縮などを制御し、テストプローブ７からの入力情
報をＩ１０コントロール回路４に与える。キー人力装置
６はチェッカとしての機能を制御するための入力手段で
ある。

第３図は第２図に示したＲＡＭに記憶される要素データ
を示す図である。Ｒ，Ａ　Ｍ　２には、各チエツクポイ
ント番号が記憶されるとともに、そのチエツクポイント
番号における電圧値２電圧圧縮比率、波形モード、周波
数、駆動デユーティなどを記憶している。

第１図はこの発明の一実施例の具体的な動作を説明する
ためのフロー図である。

次に、第１図ないし第３図を参照して、この発明の一実
施例の具体的な動作について説明する。

まず、測定者はチェッカの電源をＯＮにした後、各電子
機器ごとに設定される主要点検箇所に対応するチエツク
ポイント番号、ＡＣ，ＤＣなどの入力波形モードをキー
人力装！６から入力し、回路構成上の該当するポイント
にテストプローブ７を当てかった後、キー人力装置６か
ら電圧、波形タイミングなどの登録を意味する“登録”
キーを操作する。キー人力装置６か−らのキー人力信号
はＩ１０コントロール回路４を介してＣＰＵＩに与えら
れる。ＣＰＵＩは電源がＯＮにされたのち、キー人力装
置６に含まれる“スタート”キーが操作されたか否かを
判別し、操作されていなければ“登録”キーが操作され
たか否かを判別する。ＣＰＵＩは、“登録”キーの操作
されたことを判別すると、テストプローブ７から入力レ
ベル変換回路５およびＩ１０コントロール回路４を介し
て入力される各チエツクポイントにおける電圧値２周波
数、駆動デユーティ、波形などの要素データを判読し、
その判読を完了すると各要素データをＲＡＭ２に第３図
に示す態様で格納する。同様にして、その電子機器の他
のチエツクポイントに関しても、上述の動作を行なって
、それぞれの主要点検箇所に対応する要素データがＲＡ
Ｍ２に登録される。このようにして、標準値のデータ登
録が完了したチェッカを利用することによって、故障要
因解析者は故障機器を点検する。

すなわち、故障要因解析者は、症状別故障修理−覧表よ
り、故障箇所を推定し、対応する回路図上のチエツクポ
イント番号を確認した後、該当するチエツクポイントに
テストプローブを接続し、チエツクポイント番号をキー
人力装置６から入力するとともに、′スタート”キーを
操作する。ＣＰ　Ｕ　’１は“スタート”キーの操作さ
れたことを判別すると、電圧圧縮比率などのデータを入
力レベル変換回路５へ８カした後、テストプローブ７か
ら入力レベル変換回路５およびＩ１０コントロール回路
４を介して入力される情報から電圧値（実測電圧値÷電
圧圧縮率）、波形、タイミング（周波数、駆動デユーテ
ィなど）を判読し、予め標準値として登録されているデ
ータをＲＡＭ２から読出し、両者を照合する。そして、
電圧値や周波数／デユーティをチエツクし、正常でなけ
ればエラーフラグＥＲｆをセットし、それぞれの電圧値
や周波数／デユーティ値をセーブする。ＣＰＵＩはエラ
ーフラグＥＲｆがセットされているか否かを判別し、セ
ットされていなければ「正常に機能しています」という
ような照合結果が良好であるメツセージを出力する。も
し、エラーフラグＥＲｆがセットされている場合には、
照合結果に不具合があるとして、「正常に機能していま
せん」。

「電圧標準値ＯＯＯに対し測定値×××です」。

「周波数／駆動デユーティ標準値０００１０００に対し
、測定値×××／×××です」という判定不良メツセー
ジをデイスプレィに表示する。

したがって、故障要因解析者は、各種データに基づく各
チエツクポイントの電圧値、波形タイミングなどを個々
に照合する必要性が不要となり、迅速かつ精度の良好な
要因解析をすることができる。なお、電圧値、波形タイ
ミングなどの照合レベルに関しては、電子機器側々の特
性やばらつきなどを考慮し、キー人力装置６から±Ｎ％
の測定許容誤差を設定したり、判定レベルに関する補正
機能を持たせるようにしてもよい。

また、各電子機器に対応して切換えスイッチなどを設け
ることにより、各種の電子機器に対応可能とする仕様な
どについてもその発展性を持たせてもよい。

第４図はこの発明の他の実施例を示す概略ブロック図で
ある。この第４図に示した実施例は、各種電子機器に対
応した要素データをカード状記憶媒体としてのＲＯＭカ
ード７に記憶しておき、ＲＯＭカード７から要素データ
を読出してＲＡ　Ｍ　２に記憶し、テストプローブ７で
収集したデータと比較照合するものである。このため、
この実施例では、第２図に示した実施例のＩ１０コント
ロール回路４にＲＯＭカードインタフェースユニット８
が接続され、このＲＯＭカードインタフェースユニット
８はＲＯＭカード７に記憶されている要素データを読取
り、Ｉ１０コントロール回路４を介してＣＰＵＩに与え
る。ＣＰＵＩは、その要素データをＲＡＭ２に書込み、
テストプローブ７によって収集された被測定電子機器の
データと比較照合する。

第５図は第４図に示したＲＡＭ２に記憶される各種デー
タを示す図である。この第５図に示した例では、前述の
第３図に示した各チエツクポイントに対する要素データ
のほか、故障部品識別コードも記憶される。

第６図はこの発明の他の実施例の具体的な動作を説明す
るためのフロー図である。

次に、第４図ないし第６図を参照して、この発明の他の
実施例の具体的な動作について説明する。

まず、各電子機器用に特定されたＲＯＭカード７をＲＯ
Ｍカードインタフェースユニット８に挿入し、電源をＯ
Ｎにする。測定者は症状別故障修理−覧表より故障箇所
を推定し、対応する回路図上のチエツクポイント番号を
確認した後、キー人力装置６からチエツクポイント番号
を入力する。ＣＰＵＩはキー人力装置６からのキー人力
情報に応じて、該当するチエツクポイントの電圧、波形
などのデータをＲＯＭカード７から読取った後、入力レ
ベル変換回路５に電圧圧縮率などに関するデータをａカ
し、標準データの設定の態勢が整うと、その旨をデイス
プレィ上に表示して測定者に認識させる。

測定者はテストプローブ７を電子機器の該当するチエツ
クポイントに接続し、キー人力装置の“スタート”キー
６を操作する。ＣＰＵＩはキー人力装置６からのキー人
力を認識した後、テストプローブ７から入力レベル変換
回路５およびＩ１０コントロール回路４を介して入力さ
れる情報を読込み、測定電圧値（実測の電圧値÷電圧圧
縮率）、波形タイミング（周波数、デユーティなど）を
測定した後、ＲＯＭカード７から読込んだ電圧。

波形タイミングなどの要素データ照合し、正常であるか
否かを判別する。正常でなければエラーフラグＥＲｆ％
セットし、電圧値９周波数／デユーティ値をセーブする
。そして、前述の第１図の実施例と同様に、照合結果が
異常であればその旨表示し、照合結果が正常であれば正
常に機能している旨表示する。

したがって、この実施例においても、測定者は各種デー
タに基づく各チエツクポイントの電圧値。

波形タイミングなどを個々に照合する必要性が不要とな
り、迅速かつ高精度に要因を解析することができる。

なお、上述の実施例では、各種電子機器ごとにＲＯＭカ
ード７を用意するようにしたが、これに限ることなく、
１つのＲＯＭカードに各種の電子機器ごとの要素データ
を共に書込んでおき、スイッチを切換えて対応の電子機
器に応じた要素データを読出すようにしてもよい。

［発明の効果コ 以上のように、第１請求項に係る発明によれば、正常な
電子機器の任意の点における情報を収集して記憶してお
き、被測定電子機器の任意の点の情報がプローブで収集
されたとき、両者の情報を比較して相関関係を示す信号
を出力するようにしたので、従来のように標準値などを
記載したサービスマニュアルやテクニカルマニュアル等
と計測器により得られた実測値との照合作業を不要にで
き、迅速かつ正確な検査を行なうことができる。したが
って、サービス部門などへのサービスマニュアルやテク
ニカルマニュアルなどの配布資料を簡略化でき、資料を
作成する時間を短縮化できるばかりでなく、迅速かつ正
確なサービス体制の強化を推進できる。

第２請求項に係る発明によれば、電子機器の電圧値や周
波数やデユーティなどの情報をカード状記憶媒体に記憶
しておき、故障要因を解析するにあたってカード状記憶
媒体から情報を読取り、プローブで収集した情報と比較
することにより、相関関係を示す信号を出力するように
したので、第１請求項に係る発明と同様の効果を得るこ
とができる。

【図面の簡単な説明】

第１図はこの発明の一実施例の具体的な動作を説明する
ためのフロー図である。第２図はこの発明の一実施例の
概略ブロック図である。第３図は第２図に示したＲＡＭ
に記憶される要素データを示す図である。第４図はこの
発明の他の実施例を示す概略ブロック図である。第５図
は第４図に示すＲＡＭに記憶される要素データを示す図
である。 第６図はこの発明の他の実施例の動作を説明するための
フロー図である。第７図は従来の電子機器の故障要因を
解析するフロー図である。 図において、１はＣＰＵ、２はＲＡＭ、３はＲＯＭ１４
はＩ１０コントロール回路、５は入力レベル変換回路、
６はキー人力装置、７はテストプローブ、８はＲＯＭカ
ードインタフェースユニット、９はＲＯＭカードを示す
。 乳１図

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）電子部品で構成される電子機器の故障要因を解析
   するための電子機器用故障要因解析チェッカであって、 前記電子機器の任意の点における電圧値や周波数やデュ
   ーティなどの情報を記憶するための記憶手段、 前記電子機器の任意の点からの情報を収集するためのプ
   ローブ、 学習モードと測定モードとを切換えるためのモード切換
   え手段、および 前記モード切換え手段によって学習モードが選択されか
   つ前記プローブによって前記電子機器の任意の点の情報
   が収集されたことに応じて、その情報を前記記憶手段に
   記録させ、前記モード切換え手段によって測定モードが
   選択されかつ前記プローブによって被測定電子機器の任
   意の点の情報が収集されたことに応じて、収集された情
   報と前記記憶手段に記憶されている当該点の情報とを比
   較し、それぞれの相関関係を示す信号を出力する制御手
   段を備えた、電子機器用故障要因解析チェッカ。
2. （２）電子部品で構成される電子機器の故障要因を解析
   するための電子機器用故障要因解析チェッカであって、 着脱自在に設けられ、前記電子機器の任意の点における
   電圧値や周波数やデューティなどの情報を予め記憶する
   ためのカード状記憶媒体、 前記電子機器の任意の点からの情報を収集するためのプ
   ローブ、 前記プローブで収集された情報を取込むための指令を与
   える指令手段、および 前記プローブによって被測定電子機器の任意の点の情報
   が収集されかつ前記指令手段からの指令に応じて、前記
   カード状記憶媒体から当該点の情報を読出して前記収集
   された情報と比較し、相関関係を示す信号を出力する制
   御手段を備えた、電子機器用故障要因解析チェッカ。