KR101651570B1

KR101651570B1 - 지문인식기 성능 검사 장치 및 방법

Info

Publication number: KR101651570B1
Application number: KR1020140050741A
Authority: KR
Inventors: 안석철; 최영
Original assignee: 에스테크놀러지(주)
Priority date: 2014-04-28
Filing date: 2014-04-28
Publication date: 2016-09-05
Also published as: KR20150124199A

Abstract

본 발명에 따른 지문인식기 성능 검사 장치는 상기 지문인식기와 제1 통신경로로 연결되며, 상기 지문인식기의 성능을 검사하는 테스트 프로그램이 내장되어 있는 메모리부, 상기 지문인식기와 제2 통신경로를 통해 연결되며, 상기 메모리부의 테스트 프로그램이 상기 지문인식기의 성능 검사를 순차적으로 실행하도록 제어하고, 성능 검사 항목별로 성능 검사 결과를 표시하는 화면부를 포함하는 컴퓨터를 포함하며, 상기 컴퓨터는 에러가 발생한 성능 검사 항목만을 재검사하도록 제어하는 것을 특징으로 한다.

Description

지문인식기 성능 검사 장치 및 방법{Method and apparatus for testing a fingerprint recognition device}

본 발명은 지문인식기 성능 검사 장치 및 방법에 관한 것이다.

지문은 태어나면서 죽을 때까지 같은 형태를 유지하며, 외부 요인에 의해 상처가 생겼을 때도 금방 기존의 형태로 재생된다. 이 때문에 타인과 같은 형태의 지문을 가질 확률은 10억분의 1밖에 되지 않는다. 지문인식기술은 지문의 이러한 특성을 이용한 것으로, 사용자의 손가락을 전자적으로 읽어 미리 입력된 데이터와 비교해 본인 여부를 판별하는 기술이다.

지문인식기는 생체인식기술 가운데 안정성과 편리성 면에서 기능이 뛰어나고, 가장 간편하면서도 비용이 많이 들지 않아 다양한 분야에서 적용되고 있다. 적용 분야를 보면, 출입통제, 근태관리, 빌딩통합시스템, 금융자동화기기, 컴퓨터 보안분야, 전자상거래 인증, 공항정보 시스템 등 다양하다.

적용분야가 다양한 만큼 지문인식기에 요구되는 기능도 다양해졌으며 이러한 기능을 검사하는 검사시간도 증가하고 있다.

또한, 제조회사마다 약간씩 다른 특징을 갖는 지문인식기를 개발함으로써, 성능을 검사하는 과정에서 요구되는 검사 항목이 달라 지문인식기마다 그에 대응되는 검사 장비를 제작해야 하는 문제가 있다.

본 발명은 전술한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 본 발명의 일부 실시예는 최소한의 시간에 지문인식기의 다양한 성능 최대한 정확하게 검사하는데 그 목적이 있다.

또한 본 발명은 전술한 종래 기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 하나의 검사 장비를 이용하여 복수의 지문인식기를 각각 성능 검사할 수 있는 검사 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.

상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 기술적 수단으로서, 본 발명의 제 1 측면 (일 실시예)에 따른 지문인식기 성능 검사 장치는, 상기 지문인식기와 제1 통신경로로 연결되며, 상기 지문인식기의 성능을 검사하는 프로그램이 내장되어 있는 메모리부, 상기 지문인식기와 제2 통신경로를 통해 연결되며, 상기 메모리부의 테스트 프로그램이 상기 지문인식기의 성능 검사를 순차적으로 실행하도록 제어하고, 성능 검사 항목별로 성능 검사 결과를 표시하는 화면부를 포함하는 컴퓨터를 포함한다.

이때, 상기 성능 검사 항목은 상기 컴퓨터를 통해 선택된 일부 항목인 것을 특징으로 구성될 수 있다.

바람직하게, 상기 컴퓨터는 에러가 발생한 성능 검사 항목만을 재검사하도록 제어하는 것을 특징으로 구성될 수 있다.

이때, 상기 컴퓨터는 에러가 발생한 성능 검사 항목과 에러가 발생하지 않은 성능 검사 항목을 서로 다른 색으로 표시하는 것을 특징으로 구성될 수 있다.

여기서, 상기 컴퓨터는 성능 검사 실행 중 에러가 발생하면 검사를 중지하도록 제어하는 것을 특징으로 구성될 수 있다.

여기서, 상기 지문인식기와 상기 제2 통신경로를 통해 레벨 신호(RS232통신)를 송, 수신하며, 제3 통신경로를 통해 차동 신호(RS422통신)를 송, 수신하는 통신용 지그를 더 포함하며, 상기 컴퓨터는 상기 통신용 지그와 상기 지문인식기가 상기 제2 통신경로를 통해 상기 레벨 신호를 전송하도록 제어하고, 전송 결과를 상기 성능 검사 결과로 표시하고, 상기 컴퓨터는 상기 통신용 지그와 상기 지문인식기가 상기 제3 통신경로를 통해 상기 차동 신호를 전송하도록 제어하고, 전송 결과를 상기 성능 검사 결과로 표시하는 것을 특징으로 구성될 수 있다.

여기서, 상기 컴퓨터는 상기 지문인식기의 고유 인식 번호와 성능 검사 결과를 매칭하여 서버에 저장되도록 제어하고, 상기 서버는 상기 컴퓨터 내부 또는 외부에 위치하는 것을 특징으로 구성될 수 있다.

여기서, 상기 지문리더기와 상기 통신용 지그 사이에 연결되어 전류를 측정하는 전류계, 상기 지문리더기와 상기 통신용 지그 사이에 연결되어 전압을 측정하는 전압계를 더 포함하며, 상기 컴퓨터는 상기 전류계 및 전압계에서 측정된 전류 및 전압을 이용하여 상기 지문인식기의 최대 소비 전류를 검사하는 것을 특징으로 구성될 수 있다.

또한, 본 발명의 제 2 측면(다른 실시예)에 따른 지문인식기 성능 검사 방법은, 상기 지문인식기의 성능을 검사하는데 필요한 프로그램이 내장되어 있는 메모리부와 상기 지문인식기를 연결하고, 상기 지문인식기와 컴퓨터를 연결하는 단계, 상기 컴퓨터의 명령에 의해 상기 지문인식기의 성능을 항목별로 순차적으로 검사하는 단계, 상기 지문인식기의 성능 검사 결과를 상기 컴퓨터에 표시하고 저장하는 단계를 포함한다.

이때, 상기 컴퓨터는 상기 성능 검사 결과 에러가 발생한 항목에 대해서 재검사를 실시하도록 제어하는 단계를 더 포함한다.

이때, 상기 지문인식기의 검사 항목은 미리 설정된 항목 전체일 수 있고, 선택된 일부 항목일 수 있는 것을 특징으로 포함할 수 있다.

이때, 상기 컴퓨터는 에러가 발생한 성능 검사 항목과 에러가 발생하지 않은 성능 검사 항목을 서로 다른 색으로 표시하는 것을 특징으로 포함할 수 있다.

이때, 상기 컴퓨터는 상기 지문인식기의 고유 인식 번호와 성능 검사 결과를 매칭하여 저장하는 것을 특징으로 포함할 수 있다.

전술한 본 발명의 과제 해결 수단에 의하면, 본 발명에 따른 지문인식기 성능 검사 장치는, 검사 항목을 프로그램화하고 이를 순차적으로 진행함으로써 최소한의 시간에 지문인식기의 다양한 성능 검사를 실시할 수 있다.

또한, 에러가 발생한 항목에 대해서만 재검사를 함으로써, 보다 정확하게 지문인식장치의 성능을 검사할 수 있다.

더하여, 본 발명에 따른 지문인식기 성능 검사 장치는 지문인식기별로 요구되는 검사 항목을 선택적으로 실시함으로써, 하나의 장비를 이용하여 다양한 지문인식기의 성능을 검사할 수 있다.

도 1은 지문인식기 성능 검사 장치를 나타내는 도면이다.
도 2는 도1의 컴퓨터의 화면부를 나타내는 도면이다.
도 3은 도 2의 화면부 중 일부를 나타내는 도면이다.
도 4는 지문인식 성능 검사 방법을 나타내는 도면이다.

아래에서는 첨부한 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다. 그리고 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.

명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "전기적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다. 또한 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.

도 1은 지문인식기 성능 검사 장치를 나타내는 도면이고, 도 2는 컴퓨터의 화면부를 나타내는 도면이고, 도 3은 도 2의 화면부 중 일부를 나타내는 도면이다.

도 1에 도시된 바와 같이, 지문인식기 성능 검사 장치는 메모리부(110), 컴퓨터(120), 통신용 지그(130), 전원 공급부(140), 제1 및 제2 전압계(150, 160), 전류계(170)를 포함한다.

메모리부(110)는 제1 통신경로(1)를 통해 지문인식기(10)와 연결되고, 메모리부(110)에는 지문인식기(10)의 성능을 검사하는 테스트 프로그램이 내장되어 있다.

컴퓨터(120)는 제2 통신경로(2)를 통해 지문인식기(10)와 연결되고, 메모리부(110)의 테스트 프로그램이 지문인식기(10)의 성능 검사를 실행하도록 제어하고, 성능 검사 항목별로 성능 검사 결과를 표시하는 화면부(121)를 포함한다.

도 2에 도시된 바와 같이, 화면부(121)는 텍스트 메시지를 표시하는 제1 화면부(121-1)와 성능 검사 항목 및 성능 검사 결과를 표시하는 제2 화면부(121-2)로 구성된다. 도 2에서는 성능 검사 항목을 20개 도시하였으나, 성능 검사 항목의 개수 및 내용은 실시 변경 가능하다. 도 2에 도시된 20개의 항목에 대해서는 하기에서 보다 구체적으로 설명하도록 한다.

또한, 도 3에 도시된 바와 같이, 컴퓨터(120)를 통해 검사하고자 하는 성능 검사 항목을 선택 가능하다. 검사하고자 하는 성능 검사 항목을 선택한 후, “선택시험”을 클릭한 상태에서 “테스트 시작”버튼을 누르면, 컴퓨터(120)는 선택된 항목에 대응되는 성능을 순차적으로 검사하도록 제어한다.

선택된 성능 검사 항목에 없는 상태에서 “자동시험”을 클릭하고 “테스트 시작” 버튼을 누르면, 컴퓨터(120)는 1번 항목부터 20번 항목까지 순차적으로 성능 검사를 실시하도록 제어한다.

검사 결과, 컴퓨터(120)는 에러가 발생된 항목에 대해서는 제1 색(도 2에서는 빨간색임)으로 표시하고, 에러가 발생되지 않은 항목에 대해서는 제2색(도 2에서는 초록색임)으로 표시한다. 본 발명에서는 에러가 발생된 항목과 발생되지 않은 항목을 서로 다른 색으로 표시함으로써, 운전자가 에러 항목을 쉽게 판단할 수 있도록 하는 효과가 있다.

컴퓨터(120)는 성능 검사가 끝나면 에러가 발생된 항목만을 재검사하도록 제어한다. 이로 인해, 에러가 발생된 검사 항목에 대해 보다 정확한 측정이 가능하다.

또한, 컴퓨터(120)는 지문인식기(10)의 성능 검사가 완료되면, 지문인식기(10)의 고유 인식 번호와 성능 검사 결과를 매칭하여 서버에 저장되도록 한다.

이때, 서버는 컴퓨터(120)에 내장될 수 있고 랜을 통해 외부에 설치될 수도 있다.

통신용 지그(130)는 지문인식기(10)와 제2 통신경로(2) 및 제3 통신경로(3)를 통해 연결되어 있다.

컴퓨터(120)는 제2 통신경로(2)를 통해 지문인식기(10)과 통신용 지그(130)가 레벨 신호를 전송하도록 제어하고, 제3 통신경로(3)를 통해 지문인식기(10)와 통신용 지그(130)가 차동 신호를 전송하도록 제어한다. 이때, 제2 통신경로(2)는 RS-232 통신을 하고, 제3 통신경로(3)는 RS-422 통신을 할 수 있다.

그리고, 컴퓨터(120)는 지문인식기(10)와 통신용 지그(130) 사이에 전송 결과를 성능 검사 결과로 표시한다.

전원 공급부(140)는 지문인식기(10)와 통신용 지그(130)로 전원을 공급하고, 제1 전압계(150)는 전원 공급부(140)에서 출력되는 전압을 측정하고, 제2 전압계(160)는 지문인식기(10)와 통신용 지그(130) 사이의 전압을 측정한다.

전류계(170)는 지문인식기(10)로 인가되는 전류를 측정한다.

제1 및 제2 전압계(150, 160), 전류계(170)를 통해 측정된 전압, 전류값은 컴퓨터(120)의 제2화면부(121-2)에 표시된다.

이와 같이, 본 발명에서는 성능 검사 항목을 프로그램화하여 이를 순차적으로 진행함으로써, 최소한의 시간에 다양한 성능 검사를 실시할 수 있다.

또한, 본 발명에서는 지문인식기(10)에 따라 성능 검사 항목을 선택함으로써, 다양한 지문인식기(10)별로 적정한 성능 검사를 할 수 있으며, 성능 검사 시간을 단축시킬 수 있고, 하나의 지문인식기 성능 검사 장치로 다양한 지문인식기(10)의 성능을 검사할 수 있다.

도 2의 성능 검사 항목을 설명하면 다음과 같다.

“1. 최대 전류 12V”는 전원공급부(140)를 통해 인가되는 전압이12V일 때, 지문인식기(10)에 인가되는 최대 전류값을 측정하고, 최대 전류가 오차범위 이내에 있는지를 여부를 판단하는 항목이다. 이때, 최대 전류를 보다 정확하게 측정하기 위해서 지문인식기(10)의 모든 동작을 온(ON)시켜 최대 전류를 측정한다. 제1 화면부(121-1)에 최대 전류값 테스트가 완료되었다는 텍스트가 출력되면, 컴퓨터(120)는 지문인식기(10)의 동작을 오프(OFF)시킨다.

“최대 전류 12V” 검사 결과, 최대 전류값이 정상범위에 속하면 성능 검사 결과를 나타내는 칸을 제2색(초록색)로 표시하고, 정상범위를 벗어나는 에러가 발생하면 제1색(빨간색)으로 표시한다.

“2. 최대전류 24V” 는 전원공급부(140)를 통해 인가되는 전압이 24V일 때, 지문인식기(10)에 인가되는 전류값을 측정하는 것으로, 제어 동작은 “1. 최대 전류 12V”와 동일하므로 생략한다.

“3. LED”는 지문인식기(10)에 설치되어 있는 LED를 순차적으로 온/오프시켜 LED의 성능을 검사하는 항목이다. 경비, 해제, 방향 버튼, 숫자 버튼 등 모든 LED를 검사할 수 있고, 선택적으로 일부 LED를 검사할 수도 있다.

“4. TAMPER” 은 기기의 뚜껑 상태를 감지하는 항목이다.

“5. Exit”는 지문인식기(10)에 있는 Exit 버튼의 동작을 검사하는 항목이다.

“6. Door”는 지문인식기(10)가 문이 열린 상태와 닫힌 상태를 감지할 수 있는지 검사하는 항목이다.

“7. Voice”는 다양한 음성메시지가 적정하게 출력되는지 확인하는 항목이다. 지문인식기(10)에서 출력 가능한 음성메시지는 다양하므로, 모든 음성메시지를 순차적으로 확인할 수 있고, 일부 음성메시지를 대표적으로 확인할 수도 있다.

“8. Keypad”는 지문인식기(10)에 설치된 키패드가 터치에 따라 정상적으로 인식되는지 검사하는 항목이다.

“9. RF Card”는 카드 인식을 검사하는 항목이다. 설정된 리딩 거리 내에서 카드가 인식되는지 여부를 검사하며, 설정된 인식 회수만큼 반복 검사한다.

“10. Ethernet”은 소켓을 초기화하는 성능을 검사하는 항목이다.

“11. RS-422”는 지문인식기(10)와 통신용 지그(130)가 제3 통신경로(3)를 통해 RS-422 통신이 원활하게 이루어지고 있는지를 검사하는 항목이다.

“12. LCD 시험”은 지문인식기(10)에 설치된 LCD 화면이 출력되는지를 검사하는 항목이다.

“13. FP 테스트”는 지문을 등록하고, 저장하고, 확인하는 성능을 검사하는 항목이다.

“14. RTC Write”는 지문인식기(10)에 시간과 같은 정보를 쓰는 기능을 검사하는 항목이다.

“15. Watchdog”는 지문인식기(10)가 재부팅되는지 검사하는 항목이다.

“16. RTC Read”는 지문인식기(10)가 연결된 컴퓨터(120)의 날짜, 시간과 출력이 일치하는지를 검사하는 항목이다.

“17. F/W Version”은 펌웨어(Firmware)의 버전을 확인하기 위한 항목이다.

“18. 제품초기화”는 지문인식기(10)를 초기화 값으로 되돌리는 항목이다.

“19. 기본등록값”은 지문인식기(10)에 기본등록값을 설정하는 항목이다.

“20. 테스트 성공”은 1내지 19 항목 중 에러가 발생한 항목이 있는지 없는지 여부를 다시 확인하는 항목이다.

1 내지 19 항목 중 어느 한 항목에서 에러가 발생할 경우, “20. 테스트 성공 항목”은 제1색(빨간색)으로 표시되고, 1 내지 19 항목이 모두 제2 색(초록색)으로 표시되면 “20. 테스트 성공 항목”은 초록색으로 표시된다.

이하에서는 상기한 본 발명의 구성에 기초하여 지문인식기의 성능을 검사하는 방법에 대해 설명한다.

도 4는 본 발명의 지문인식기 성능 검사 방법을 나타내는 도면이다.

도 1에 도시된 바와 같이, 지문인식기(10)를 지문인식기 성능 검사 장치(100)와 연결한다(S410).

보다 구체적으로, 지문인식기(10)와 메모리부(110)를 제1 통신경로(1)를 통해 연결하고, 지문인식기(10)와 컴퓨터(120)를 제2 통신경로(2)를 통해 연결한다.

지문인식기(10)에 따라 요구되는 검사 항목을 선택한다(S420).

이때, “자동시험”이 선택된 경우에는 모든 검사 항목이 선택된 것으로 판단한다.

“테스트 시작” 버튼이 실행되면, 선택된 항목에 대해 지문인식기(10)의 성능 검사를 시작한다(S430).

이때, 선택된 항목은 전체 항목일 수도 있다.

검사가 완료된 항목에 대해서는 컴퓨터(120)의 제2 화면부(121-2)에 검사 결과를 색깔로 표시한다. 선택된 항목에 대해 검사가 완료되면(S440), 컴퓨터(120)는 검사 결과를 화면부(121)에 표시하고 검사 결과가 저장되도록 제어한다(S450).

검사 결과는 지문인식기(10)의 고유 인식 번호와 매칭되어 서버(도시하지 않음)에 저장되며, 서버는 컴퓨터(120)에 내장될 수 있으며 외부에 설치될 수도 있다.

검사 결과, 컴퓨터(120)는 에러가 발생한 항목에 대해서 재검사하도록 제어한다(S460).

재검사 결과는 지문인식기(10)의 고유 인식 번호와 매칭되어 서버에 저장된다.

상기한 바와 같이, 본 발명에서는 지문인식기(10)에 따라 성능 검사 항목을 선택함으로써, 다양한 지문인식기(10)별로 적정한 성능 검사를 할 수 있으며, 성능 검사 시간을 단축시킬 수 있고, 하나의 지문인식기 성능 검사 장치로 다양한 지문인식기(10)의 성능을 검사할 수 있다.

또한, 본 발명에서는 성능 검사 항목을 프로그램화하여 이를 순차적으로 진행함으로써, 최소한의 시간에 다양한 성능 검사를 실시할 수 있다.

마지막으로 본 발명에서는 에러가 발생한 항목에 대해서 재검사함으로써, 중복 검사를 통해 보다 정확한 검사 결과를 도출할 수 있다.

전술한 본 발명의 설명은 예시를 위한 것이며, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가진 자는 본 발명의 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 쉽게 변형이 가능하다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 예를 들어, 단일형으로 설명되어 있는 각 구성 요소는 분산되어 실시될 수도 있으며, 마찬가지로 분산된 것으로 설명되어 있는 구성 요소들도 결합된 형태로 실시될 수 있다.

본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 균등 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.

10: 지문인식기
100: 지문인식기 성능 검사 장치
110: 메모리부
120: 컴퓨터
130: 통신용 지그
140: 전원 공급부
150, 160: 전압계
170: 전류계

Claims

지문인식기의 성능을 검사하는 장치에 있어서,
상기 지문인식기와 제1 통신경로로 연결되며, 상기 지문인식기의 성능을 검사하기 위한 복수의 성능 검사 항목들을 포함하는 테스트 프로그램이 내장되어 있는 메모리부, 및
상기 지문인식기와 제2 통신경로를 통해 연결되며, 상기 메모리부의 테스트 프로그램이 상기 지문인식기의 성능 검사를 순차적으로 실행하도록 제어하고, 성능 검사 항목별로 성능 검사 결과를 표시하는 화면부를 포함하는 컴퓨터와;
상기 지문인식기와 상기 제2 통신경로를 통해 레벨 신호를 송, 수신하며, 제3 통신경로를 통해 차동 신호를 송, 수신하는 통신용 지그와;
상기 지문인식기와 상기 통신용 지그 사이에 연결되어, 상기 지문인식기에 인가되는 전류를 측정하는 전류계와;
상기 지문인식기와 상기 통신용 지그 사이에 연결되어, 전원 공급부에서 출력되는 전압과, 상기 지문인식기와 상기 통신용 지그 사이의 전압을 측정하는 전압계를 포함하고,
상기 복수의 성능 검사 항목들은, 상기 전류계 및 상기 전압계에서 측정된 전류 및 전압을 이용한 상기 지문인식기의 최대 소비 전류 검사, 상기 지문인식기에 설치되어 있는 LED의 성능 검사, 상기 지문인식기의 뚜껑 상태 검사, 상기 지문인식기가 설치된 문이 열린 상태와 닫힌 상태의 검사, 음성메시지의 출력 상태 검사, 키패드의 인식 상태 검사, 카드 인식 상태 검사, 소켓 초기화 성능 검사, 통신 상태 검사, LCD 화면의 출력 상태 검사, 지문을 등록, 저장 및 확인하는 성능 검사, 정보 쓰는 기능 검사, 재부팅 검사, 상기 컴퓨터의 날짜, 시간 및 출력과의 일치 검사, 펌웨어의 버전 확인 검사, 초기화 검사, 기본 등록값 설정 검사를 포함하고,
상기 컴퓨터는, 상기 복수의 성능 검사 항목들 중에서 상기 지문인식기에 따라 요구되는 검사 항목이 선택되면 선택된 항목들에 대해 검사하고, 선택된 성능 검사 항목이 없으면 상기 복수의 성능 검사항목들을 순차적으로 모두 검사하는 지문인식기 성능 검사 장치.
삭제
제1항에 있어서,
상기 컴퓨터는 에러가 발생한 성능 검사 항목만을 재검사하도록 제어하는 하는 지문인식기 성능 검사 장치.
제1항에 있어서,
상기 컴퓨터는 에러가 발생한 성능 검사 항목과 에러가 발생하지 않은 성능 검사 항목을 서로 다른 색으로 표시하는 지문인식기 성능 검사 장치.
제1항에 있어서,
상기 컴퓨터는 상기 통신용 지그와 상기 지문인식기가 상기 제2 통신경로를 통해 상기 레벨 신호를 전송하도록 제어하고, 전송 결과를 상기 성능 검사 결과로 표시하고,
상기 컴퓨터는 상기 통신용 지그와 상기 지문인식기가 상기 제3 통신경로를 통해 상기 차동 신호를 전송하도록 제어하고, 전송 결과를 상기 성능 검사 결과로 표시하는 지문인식기 성능 검사 장치.
제1항에 있어서,
상기 컴퓨터는 상기 지문인식기의 고유 인식 번호와 성능 검사 결과를 매칭하여 서버에 저장되도록 제어하고,
상기 서버는 상기 컴퓨터 내부 또는 외부에 위치하는 지문인식기 성능 검사 장치.
삭제
지문인식기의 성능을 검사하는 방법에 있어서,
상기 지문인식기의 성능을 검사하는데 필요한 프로그램이 내장되어 있는 메모리부와 상기 지문인식기를 연결하고, 상기 지문인식기와 컴퓨터를 연결하는 단계,
상기 컴퓨터의 명령에 의해 상기 지문인식기의 최대 소비 전류 검사, 상기 지문인식기에 설치되어 있는 LED의 성능 검사, 상기 지문인식기의 뚜껑 상태 검사, 상기 지문인식기가 설치된 문이 열린 상태와 닫힌 상태의 검사, 음성메시지의 출력 상태 검사, 키패드의 인식 상태 검사, 카드 인식 상태 검사, 소켓 초기화 성능 검사, 통신 상태 검사, LCD 화면의 출력 상태 검사, 지문을 등록, 저장 및 확인하는 성능 검사, 정보 쓰는 기능 검사, 재부팅 검사, 상기 컴퓨터의 날짜, 시간 및 출력과의 일치 검사, 펌웨어의 버전 확인 검사, 초기화 검사, 기본 등록값 설정 검사를 포함하는 성능 검사 항목들 중 적어도 일부를 순차적으로 검사하는 단계,
상기 지문인식기의 성능 검사 결과를 상기 컴퓨터에 표시하고 저장하는 단계를 포함하고,
상기 검사하는 단계에서는, 복수의 상기 성능 검사 항목들 중에서 상기 지문인식기에 따라 요구되는 검사 항목이 선택되면 선택된 검사 항목들에 대해 검사하고, 선택된 검사 항목이 없는 자동시험이 선택되면 상기 성능 검사 항목들을 모두 검사하는 지문인식기 성능 검사 방법.
제8항에 있어서,
상기 컴퓨터는 상기 성능 검사 결과 에러가 발생한 항목에 대해서 재검사를 실시하도록 제어하는 단계를 더 포함하는 지문인식기 성능 검사 방법.
삭제
제8항에 있어서,
상기 컴퓨터는 에러가 발생한 성능 검사 항목과 에러가 발생하지 않은 성능 검사 항목을 서로 다른 색으로 표시하는 지문인식기 성능 검사 방법.
제8항에 있어서,
상기 컴퓨터는 상기 지문인식기의 고유 인식 번호와 성능 검사 결과를 매칭하여 저장하는 지문인식기 성능 검사 방법