KR20100076641A - 플랜트 콘트롤 시스템 계통의 전자카드 검사장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 플랜트 콘트롤 시스템 계통의 전자카드 검사장치에 관한 것으로, 데이터로저 유닛(10)과; 아날로그 테스트유닛(20)과; 디지털 테스트유닛(30)과; 아날로그 지그 콘넥트유닛(40)과; 디지털 지그 콘넥트유닛(50)과; 제 1, 2전원공급 유닛(60, 60')과; 시험용 지그(70) 및; 컴퓨터(80)로 구성되어 회로기능 테스트(FCT; function circuit test)를 채용하여 전자카드의 기능을 자동으로 점검하고 원하는 데이터를 컴퓨터 하드디스크에 저장하여 보관할 수 있으며, 전자카드의 아날로그회로와 디지털회로를 각각 검사할 수 있도록 검사장치를 2원화 하여 전자카드에서 아날로그회로와 디지털회로를 분리하지 않고 검사함으로써 검사의 신뢰도 및 능률이 향상되고, 전자카드의 검사에 소요되는 작업시간이 단축되어 검사공정의 단축으로 짧은 시간에 원인 분석을 통한 정상복구가 가능하고, 투입 인력을 대폭 감소할 수 있어 경제성이 탁월할 뿐만 아니라 간단한 구성으로 표준화의 실현이 가능하여 조작이 간편하므로 누구나 쉽게 전자카드를 점검할 수 있으면서 전자카드의 개별적인 특성 및 점검 사항을 데이터 베이스 하여 이력관리, 전자소자 특성변화 및 트렌드 분석 등 체계적인 관리가 가능한 각별한 장점이 있는 유용한 발명이다.
플랜트 콘트롤 시스템, 전자카드, 검사장치, 프로세스.
Description
본 발명은 원자력 발전소 내의 각종기기 및 프로세스에 대한 정보를 수집, 분석, 지시하고 각종 공정기기를 주제어반 혹은 정지반에서 원격제어하는 플랜트 콘트롤 시스템(PCS; plant control system)의 검사장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 회로기능 테스트(FCT; function circuit test)를 채용하여 실제로 동작하는 것과 동이한 상태를 만들어 전자카드의 기능을 자동으로 점검하고 원하는 데이터를 컴퓨터 하드디스크에 저장하여 보관할 수 있도록 하는 플랜트 콘트롤 시스템 계통의 전자카드 검사장치에 관한 것이다.
일반적으로 원자력 발전소에는 발전소 내의 각종기기 및 프로세스에 대한 정보를 수집, 분석, 지시하고 각종 공정기기를 주제어반 혹은 정지반에서 원격조작, 감시 및 기기보호를 위해 설치되는 공정계통의 연속제어기를 포함한 약 1,300 여개의 기기를 제어하기 위한 계통으로 플랜트 콘트롤 시스템(PCS; plant control system)이 설치되어 있다.
상기 플랜트 콘트롤 시스템에는 현장의 신호들을 처리하여 플랜트 콘트롤 시 스템의 컴퓨터로 전송하기 위해 전자카드가 설치되어 있다.
또한 상기 전자카드는 발전소의 계획예방정비시 기능시험을 위해 매번 점검하게 되는데, 전자카드를 점검하는 종래의 방법으로는 전자카드에 미세 신호를 인가하여 부품의 전압, 전류특성을 검사하는 ICT(In Circuit Test) 방법이 이용되고 있었다.
상기 ICT(In Circuit Test) 방법은 성능이 양호한 전자카드를 이용하여 카드에 부착되어 있는 소자의 단자와 접지간에 전압을 인가하고 측정된 값을 기준값으로 저장한 후 점검대상 동종의 전자카드를 동일한 방법으로 측정하여 그 결과값을 기준값과 비교하여 전자카드의 불량 여부를 판정하였다.
따라서, 이러한 종래의 전자카드 검사장치는 검사하는 과정에서 전자소자와 접지 사이의 인가전압이 5VDC로 낮아 정확한 측정값을 취득할 수 없다고 하는 결점이 있었다.
또한 아날로그회로와 디지털회로가 혼재되어 있는 전자카드에서는 측정시마다 측정값이 달라서 신뢰성을 확보할 수 없으므로 아날로그회로와 디지털회로를 분리하여 측정하여야 하고, 그에 따라 측정의 번거로움뿐만 아니라 측정시간이 길어지고 측정에 소요되는 인력이 증가하게 되어 경제성이 낮아지며, 검사의 신뢰성도 저하되는 문제점이 있었다.
본 발명은 상기한 실정을 감안하여 종래 ICT(In Circuit Test) 방법을 채용 한 전자카드 검사장치에서 야기 되는 여러 가지 결점 및 문제점 들을 해결하고자 발명한 것으로서, 그 목적은 회로기능 테스트(FCT; function circuit test)를 채용하여 전자카드의 기능을 자동으로 점검하고 원하는 데이터를 컴퓨터 하드디스크에 저장하여 보관할 수 있는 플랜트 콘트롤 시스템 계통의 전자카드 검사장치를 제공하는 데 있다.
본 발명의 다른 목적은 전자카드의 아날로그회로와 디지털회로를 각각 검사할 수 있도록 검사장치를 2원화 하여 전자카드에서 아날로그회로와 디지털회로를 분리하지 않고 검사함으로써 검사의 신뢰도 및 능률이 향상되는 플랜트 콘트롤 시스템 계통의 전자카드 검사장치를 제공하는 데 있다.
본 발명의 또 다른 목적은 전자카드의 검사에 소요되는 작업시간이 단축되어 검사공정의 단축으로 짧은 시간에 원인 분석을 통한 정상복구가 가능하고, 투입 인력을 대폭 감소할 수 있어 경제성이 탁월한 플랜트 콘트롤 시스템 계통의 전자카드 검사장치를 제공하는 데 있다.
본 발명의 또 다른 목적은 간단한 구성으로 표준화의 실현이 가능하여 조작이 간편하므로 누구나 쉽게 전자카드를 점검할 수 있으면서 전자카드의 개별적인 특성 및 점검 사항을 데이터 베이스 하여 이력관리, 전자소자 특성변화 및 트렌드 분석 등 체계적인 관리가 가능한 플랜트 콘트롤 시스템 계통의 전자카드 검사장치를 제공하는 데 있다.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명 플랜트 콘트롤 시스템 계통의 전자카 드 검사장치는 아날로그/디지털 포인터별로 데이터를 처리하는 데이터로저 유닛(10)과; 상기 데이터로저 유닛(10)에 연결되어 아날로그 전자회로 및 소자를 테스트 하는 아날로그 테스트유닛(20)과; 상기 데이터로저 유닛(10)에 연결되어 디지털 전자회로 및 소자를 테스트 하는 디지털 테스트유닛(30)과; 상기 아날로그 테스트유닛(20)과 시험용 지그를 연결하는 아날로그 지그 콘넥트유닛(40)과; 상기 디지털 테스트유닛(30)와 시험용 지그를 연결하는 디지털 지그 콘넥트유닛(50)과; 상기 각 유닛에 전원을 공급하는 제 1, 2전원공급 유닛(60, 60')과; 검사할 전자카드가 실장되어 상기 아날로그/디지털 지그 콘넥트유닛(40, 50)에 연결되는 시험용 지그(70)및; 운용프로그램이 저장되어 아날로그/디지털 테스트유닛(20, 30)의 전자카드 시험을 제어하고 시험결과를 디스플레이하는 컴퓨터(80)로 구성되는 것을 특징으로 한다.
본 발명은 회로기능 테스트(FCT; function circuit test)를 채용하여 전자카드의 기능을 자동으로 점검하고 원하는 데이터를 컴퓨터 하드디스크에 저장하여 보관할 수 있으며, 전자카드의 아날로그회로와 디지털회로를 각각 검사할 수 있도록 검사장치를 2원화 하여 전자카드에서 아날로그회로와 디지털회로를 분리하지 않고 검사함으로써 검사의 신뢰도 및 능률이 향상되고, 전자카드의 검사에 소요되는 작업시간이 단축되어 검사공정의 단축으로 짧은 시간에 원인 분석을 통한 정상복구가 가능하고, 투입 인력을 대폭 감소할 수 있어 경제성이 탁월할 뿐만 아니라 간단한 구성으로 표준화의 실현이 가능하여 조작이 간편하므로 누구나 쉽게 전자카드를 점 검할 수 있으면서 전자카드의 개별적인 특성 및 점검 사항을 데이터 베이스 하여 이력관리, 전자소자 특성변화 및 트렌드 분석 등 체계적인 관리가 가능한 각별한 장점이 있다.
이하, 첨부 도면을 참조하여 본 발명 플랜트 콘트롤 시스템 계통의 전자카드 검사장치의 바람직한 실시예를 상세하게 설명한다.
도 1은 본 발명 플랜트 콘트롤 시스템 계통의 전자카드 검사장치의 구성도, 도 2는 전자카드의 아날로그회로 검사시 본 발명 플랜트 콘트롤 시스템 계통의 전자카드 검사장치의 구성도, 도 3은 전자카드의 디지털회로 검사시 본 발명 플랜트 콘트롤 시스템 계통의 전자카드 검사장치의 구성도로서, 본 발명 플랜트 콘트롤 시스템 계통의 전자카드 검사장치는 아날로그/디지털 포인터별로 데이터를 처리하는 데이터로저 유닛(10)과; 상기 데이터로저 유닛(10)에 연결되어 아날로그 전자회로 및 소자를 테스트 하는 아날로그 테스트유닛(20)과; 상기 데이터로저 유닛(10)에 연결되어 디지털 전자회로 및 소자를 테스트 하는 디지털 테스트유닛(30)과; 상기 아날로그 테스트유닛(20)과 시험용 지그를 연결하는 아날로그 지그 콘넥트유닛(40)과; 상기 디지털 테스트유닛(30)와 시험용 지그를 연결하는 디지털 지그 콘넥트유닛(50)과; 상기 각 유닛에 전원을 공급하는 제 1, 2전원공급 유닛(60, 60')과; 검사할 전자카드가 실장되어 상기 아날로그/디지털 지그 콘넥트유닛(40, 50)에 연결되는 시험용 지그(70) 및; 운용프로그램이 저장되어 아날로그/디지털 테스트유닛(20, 30)의 전자카드 시험을 제어하고 시험결과를 디스플레이하는 컴퓨터(80)로 구성되어 있다.
상기한 구성을 갖는 본 발명은 전자카드의 아날로그회로 검사시에는 아날로그/디지털 포인터별로 데이터를 처리하는 데이터로저 유닛(10)과; 상기 데이터로저 유닛(10)에 연결되어 아날로그 전자회로 및 소자를 테스트 하는 아날로그 테스트유닛(20)과; 상기 아날로그 테스트유닛(20)과 시험용 지그를 연결하는 아날로그 지그 콘넥트유닛(40)과; 상기 아날로그 지그 콘넥트유닛(40)에 연결되는 검사할 전자카드가 실장되는 시험용 지그(70) 및; 운용프로그램이 저장되어 아날로그 테스트유닛(20)의 전자카드 시험을 제어하고 시험결과를 디스플레이하는 컴퓨터(80)로 구성되고, 전자카드의 디지털회로 검사시에는 아날로그/디지털 포인터별로 데이터를 처리하는 데이터로저 유닛(10)과; 상기 데이터로저 유닛(10)에 연결되어 디지털 전자회로 및 소자를 테스트 하는 디지털 테스트유닛(30)과; 상기 디지털 테스트유닛(30)과 시험용 지그를 연결하는 디지털 지그 콘넥트유닛(50)과; 상기 디지털 지그 콘넥트유닛(50)에 연결되는 검사할 전자카드가 실장되는 시험용 지그(70) 및; 운용프로그램이 저장되어 디지털 테스트유닛(30)의 전자카드 시험을 제어하고 시험결과를 디스플레이하는 컴퓨터(80)로 구성된다.
다음에는 상기한 바와 같이 구성된 본 발명 플랜트 콘트롤 시스템 계통의 전자카드 검사장치를 사용하여 전자카드를 시험하는 시험에 대하여 설명한다.
먼저 검사할 전자카드를 시험용 지그(70)에 실장한 후 컴퓨터(80)를 온 하면, 도 4a에 나타낸 바와 같이 컴퓨터(80)의 화면상에 전자카드의 종류가 나타나고, 이 상태에서 전자카드 점검자는 선택키로 시험용 지그(70)에 실장한 검사할 전 자카드를 선택하면 도 4b에 나타낸 바와 같이 전자카드를 시험할 환경설정 화면이 나타나게 된다.
그러면 전자카드 점검자는 컴퓨터(80)와 장비의 통상포트(COM1)를 설정하고, 점검 및 측정된 데이터가 저장될 폴더를 선택하고, 도 4c에 나타낸 바와 같이 시험할 전자카드의 각종 정보를 등록함과 더불어 도 4d에 나타낸 바와 같이 전자카드의 각 부품에 대한 정보를 등록한다.
다음으로 전자카드 점검자는 도 4e에 나타낸 바와 같이 측정 포인트를 설정하는데 측정 포인트로는 부품코드, 측정 포인트가 디지털인지 아날로그인지의 선택, 측정 포인트가 TTL인지 전압인지의 선택, 측정 포인트별로 정상인지 판정하는 최소값, 측정 포인트별로 정상인지 판정하는 최대값 전자카드의 채널번호를 포함한다.
이어서 전자카드 점검자는 도 4f에 나타낸 바와 같이 이력관리로서 조회기간 전자카드 코드 및 일련번호를 선택하여 검색하고, 도 4a에 도시한 전자카드 선택모드로 되돌아가 운용프로그램을 실행시킨다.
그 다음 장비의 건전성을 확인하기 위하여 시험용 지그(70)를 검사하고, 검사할 전자카드를 선택하면 컴퓨터(80)의 화면상에 선택된 카드가 도 4g에 나타낸 바와 같이 나타난다.
이어서 측정항목 선택에서 측정항목(디지털, 아날로그, 전체, 사용자) 중 검사할 측정항목을 선택하면, 도 4h에 도시한 바와 같이 컴퓨터(80) 화면상에 점검 결과에 따라서 특성이 변화된 전자소자가 붉은 색으로 표시되고, 측정값에 대한 결 과가 표시되며, 표시된 전자소자를 터치하면 주변회로가 표시된다.
이와 같이 하여 전자소자 중 불량 소자를 수리하고, 마지막으로 도 4i에 도시한 바와 같이 수리내역 등록 화면에서 사용된 전자소자의 사양 및 수리내용을 등록한다.
지금까지 본 발명을 바람직한 실시예로서 설명하였으나, 본 발명은 이에 한정되지 않고 발명의 요지를 이탈하지 않는 범위 내에서 다양하게 변형하여 실시할 수 있음은 물론이다.
도 1은 본 발명 플랜트 콘트롤 시스템 계통의 전자카드 검사장치의 구성도,
도 2는 전자카드의 아날로그회로 검사시 본 발명 플랜트 콘트롤 시스템 계통의 전자카드 검사장치의 구성도,
도 3은 전자카드의 디지털회로 검사시 본 발명 플랜트 콘트롤 시스템 계통의 전자카드 검사장치의 구성도,
도 4a 내지 도 4i는 본 발명의 전자카드 검사장치로 전자카드를 검사할 때 검사 단계별 컴퓨터의 화면상에 나타나는 영상이다.
〈도면의 주요부분에 대한 부호의 설명〉
10 : 데이터로저 유닛 20 : 아날로그 테스트유닛
30 : 디지털 테스트유닛 40 : 아날로그 지그 콘넥트유닛
50 : 디지털 지그 콘넥트유닛 60, 60' : 제 1, 2전원공급 유닛
70 : 시험용 지그 80 : 컴퓨터
Claims (3)
- 아날로그/디지털 포인터별로 데이터를 처리하는 데이터로저 유닛(10)과; 상기 데이터로저 유닛(10)에 연결되어 아날로그 전자회로 및 소자를 테스트 하는 아날로그 테스트유닛(20)과; 상기 데이터로저 유닛(10)에 연결되어 디지털 전자회로 및 소자를 테스트 하는 디지털 테스트유닛(30)과; 상기 아날로그 테스트유닛(20)과 시험용 지그를 연결하는 아날로그 지그 콘넥트유닛(40)과; 상기 디지털 테스트유닛(30)와 시험용 지그를 연결하는 디지털 지그 콘넥트유닛(50)과; 상기 각 유닛에 전원을 공급하는 제 1, 2전원공급 유닛(60, 60')과; 검사할 전자카드가 실장되어 상기 아날로그/디지털 지그 콘넥트유닛(40, 50)에 연결되는 시험용 지그(70)및; 운용프로그램이 저장되어 아날로그/디지털 테스트유닛(20, 30)의 전자카드 시험을 제어하고 시험결과를 디스플레이하는 컴퓨터(80)로 구성된 것을 특징으로 하는 플랜트 콘트롤 시스템 계통의 전자카드 검사장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 전자카드 검사장치는 전자카드의 아날로그회로 검사시에 아날로그/디지털 포인터별로 데이터를 처리하는 데이터로저 유닛(10)과; 상기 데이터로저 유닛(10)에 연결되어 아날로그 전자회로 및 소자를 테스트 하는 아날로그 테스트유닛(20)과; 상기 아날로그 테스트유닛(20)과 시험용 지그를 연결하는 아날로그 지그 콘넥트유닛(40)과; 상기 아날로그 지그 콘넥트유닛(40)에 연결되는 검사할 전자카드가 실장되는 시험용 지그(70) 및; 운용프로그램이 저장되어 아날로그 테스트유닛(20)의 전자카드 시험을 제어하고 시험결과를 디스플레이하는 컴퓨터(80)로 구성되는 것을 특징으로 하는 플랜트 콘트롤 시스템 계통의 전자카드 검사장치.
- 제 1항에 있어서, 상기 전자카드 검사장치는 전자카드의 디지털회로 검사시에 아날로그/디지털 포인터별로 데이터를 처리하는 데이터로저 유닛(10)과; 상기 데이터로저 유닛(10)에 연결되어 디지털 전자회로 및 소자를 테스트 하는 디지털 테스트유닛(30)과; 상기 디지털 테스트유닛(30)과 시험용 지그를 연결하는 디지털 지그 콘넥트유닛(50)과; 상기 디지털 지그 콘넥트유닛(50)에 연결되는 검사할 전자카드가 실장되는 시험용 지그(70) 및; 운용프로그램이 저장되어 디지털 테스트유닛(30)의 전자카드 시험을 제어하고 시험결과를 디스플레이하는 컴퓨터(80)로 구성되는 것을 특징으로 하는 플랜트 콘트롤 시스템 계통의 전자카드 검사장치.
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2008
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| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E601 | Decision to refuse application |