KR100831945B1

KR100831945B1 - 전자회로보드 검사 방법 및 시스템

Info

Publication number: KR100831945B1
Application number: KR1020070005072A
Authority: KR
Inventors: 최성훈; 하영열; 김민수
Original assignee: 삼성중공업 주식회사
Priority date: 2007-01-17
Filing date: 2007-01-17
Publication date: 2008-05-26

Abstract

본 발명은 전자회로보드 방법 및 시스템에 관한 것으로, 전자회로보드, 특히 FPGA 등의 집적회로소자가 실장된 전자회로보드의 동작에 대한 검사를 자동화하여, 신속하고 정확한 전자회로보드의 동작에 대한 검사가 가능하도록 하며, 해당 전자회로보드의 서지 및 버스트문제를 검사할 수 있는 한 전자회로보드 검사 방법 및 시스템을 제공하는 것이다.

따라서, 전자회로보드의 동작에 대한 신뢰성 및 안정성을 향상시킴은 물론, 제품(전자회로보드)의 생산성을 향상시킬 수 있는 것이다.

또한, 해당 전자회로보드가 탑재되는 시스템 전체의 신뢰성 및 안전성을 향상시킬 수 있는 효과를 기대할 수 있는 것이다.

전자회로보드, FPGA, JTAG, 서지검사, 버스트검사

Description

전자회로보드 검사 방법 및 시스템{The method and system for testing of electronic circuit board}

도 1은 본 발명에 의한 전자회로보드 검사 시스템의 일 예를 나타낸 구성도이다.

도 2는 본 발명에 의한 전자회로보드 검사 방법의 일 예를 나타낸 흐름도이다.

도 3는 도 2를 보다 상세히 나타낸 순서도이다.

도 4a 내지 도 4e는 본 발명에 의한 전자회로보드 검사 프로그램의 일 예에 대한 화면을 나타낸 도면이다.

도 5는 본 발명에 의한 전자회로보드 검사 시스템의 다른 예를 나타낸 구성도이다.

<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>

100 : 검사장치 110 : 검사관리모듈

120 : 검사제어모듈 130 : 검사신호입출력모듈

200 : 검사대상보드 300 : 영역주사제어기

400 : 입력장치 500 : 출력장치

600 : 어댑터보드 700 : 버스트검사장치

800 : 서지검사장치

본 발명은 전자회로보드 검사 방법 및 시스템에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 본 발명은 전자회로보드, 특히 FPGA 등의 집적회로소자가 실장된 전자회로보드의 동작에 대한 검사를 자동화하여, 신속하고 정확한 전자회로보드의 검사가 가능하도록 한 것이다.

또한, 본 발명의 해당 전자회로보드의 서지 및 버스트문제를 검사할 수 있는 한 전자회로보드 검사 방법 및 시스템을 제공하는 것이다.

또한, 해당 전자회로보드가 탑재되는 시스템 전체의 신뢰성 및 안전성을 향상시킬 수 있는 것이다.

최근 들어, 전자기술의 진보로 인하여 메모리나 FPGA(Field-Programmable Gate Array) 등의 집적회로소자에 대한 소형화 및 저전력화가 가속화되는 가운데, 지속적으로 개발되는 집적회로소자의 동작에 대한 이상여부 검사(Test)를 집적회로소자 단위에서 수행하기에는 어려움이 많다.

특히, 공장자동화로 대량생산되는 집적회로소자에 대하여 검수자(생산제품의 이상여부를 확인하는 자)가 집적회로소자의 모든 핀들에 대해 일일이 검사할 경우, 검사에 많은 시간이 소요되며, 집적회로의 소형화로 인해 불특정 핀의 검사누락 및 인접핀과의 단락 등이 발생되는 경우가 빈번하여, 정확하고 신속한 검사가 이루어지지 못하는 문제점이 있었다.

한편, 상기 집적회로소자가 실장된 전자회로보드(PCB : Printed Circuit Board)의 검사에 있어서도, 상기 집적회로소자의 검사 시 발생되는 문제점이 그대로 나타나게 된다. 만약, 정확한 검사가 이루어지지 않은 전자회로보드가 특정 시스템에 탑재된 경우, 해당 시스템 전체의 성능 및 안정성을 저해하는 요소로 작용하기 때문에, 보다 신속하고 정확한 전자회로보드의 검사가 요구되는 실정이다.

상기와 같은 요구에 의해 안출된 것으로, 본 발명은 전자회로보드, 특히 FPGA 등의 집적회로소자가 실장된 전자회로보드의 검사를 자동화하여, 신속하고 정확한 전자회로보드의 검사가 가능하도록 한 전자회로보드 검사 방법 및 시스템을 제공하는데 목적이 있다.

또한, 본 발명의 목적은 해당 전자회로보드의 서지 및 버스트문제를 검사할 수 있는 한 전자회로보드 검사 방법 및 시스템을 제공하는 것이다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위해서, 본 발명에 따른 전자회로보드 검사 방법은, a) 검사대상보드를 테스트하기 위한 검사 프로그램을 실행하는 단계; b) 상기 검사대상보드의 식별자 및 이력정보를 입력 받아 검사목록을 생성하는 단계; c) 상기 생성한 검사목록 중 적어도 하나의 검사항목을 선택 받고, 상기 선택 받은 해 당 검사항목에 대응하는 검사패턴목록을 생성하는 단계; d) 상기 생성된 검사패턴목록 중 적어도 하나의 검사패턴항목을 선택 받고, 상기 선택 받은 해당 검사패턴항목에 의해 상기 검사대상보드를 검사하는 단계; 및 e) 상기 검사결과를 출력하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.

그리고, 상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 전자회로보드 검사 시스템은, 검사대상보드의 식별자 및 이력정보와 검사요청정보를 입력 받기 위한 화면을 출력장치로 전송하고, 입력장치를 통해 입력된 검사대상보드의 식별자 및 이력정보와 검사요청정보를 처리하여 상기 검사대상보드를 검사하기 위한 검사데이터를 생성하여 출력하는 검사관리장치; 상기 검사관리장치에서 출력된 검사데이터를 수신하여 해당 검사요청정보에 대응하는 적어도 하나의 패턴신호를 생성하여 출력하는 검사제어기; 상기 검사제어기에서 출력된 적어도 하나의 패턴신호를 수신하여 설정된 우선순위에 의해 상기 적어도 하나의 패턴신호 중 어느 하나를 출력하여 상기 검사대상보드로 전송하는 검사신호입출력장치; 및 상기 검사신호입출력장치에서 전송된 어느 하나의 패턴신호를 입력 받은 상기 검사대상보드의 동작을 감시하여 검사결과정보를 생성하고, 상기 생성된 검사결과정보를 상기 검사관리장치로 전송하는 영역주사제어기를 포함하여 구성한 것을 특징으로 한다.

또한, 본 발명에 따른 전자회로보드 검사 시스템에 있어, 상기 검사관리장치는, 상기 검사대상보드에 구성된 반도체소자를 검사하기 위한 영역주사요청신호를 생성하여 상기 영역주사제어기로 전송하고, 상기 영역주사제어기는, 정해진 규약에 기초하여 상기 전송된 영역주사요청신호에 대응하는 패턴신호를 생성하고, 상기 생 성된 패턴신호를 상기 검사대상보드로 전송하며, 상기 검사신호입출력장치는, 상기 영역주사제어기에서 전송된 패턴신호를 입력 받은 상기 검사대상보드의 동작을 감시하여 검사결과정보를 생성하여 상기 검사제어기로 전송하고, 상기 검사제어기는 전송된 검사결과정보를 상기 검사관리장치로 전송하는 것을 특징으로 한다.

따라서, 집적회로소자가 실장된 전자회로보드의 검사를 자동화하여, 신속하고 정확한 전자회로보드의 검사가 가능하도록 한 것이다.

이하에서는 첨부된 도면을 참조하여, 본 발명에 한 전자회로보드 검사 방법 및 시스템의 가장 바람직한 실시 예에 대하여 설명하기로 한다.

도 1은 본 발명에 의한 전자회로보드 검사 시스템의 일 예를 나타낸 구성도로서, 검사관리장치(100), 검사제어기(200), 검사신호입출력장치(300), 영역주사제어기(400), 어댑터(Adaptor)보드(500), 검사대상보드(600), 입력장치(700), 출력장치(800)를 포함하여 구성된다.

상기 검사관리(Test Management)장치(100)는, 검사대상보드(600)를 검사하기 위한 프로그램이 탑재되어 있으며, 상기 프로그램을 실행하여 상기 검사대상보드(600)의 식별자(고유 ID) 및 이력정보(제조연월일, 생산지, 생산자, 제품명 등)를 입력 받고, 상기 입력장치(700)를 통해 해당 검사대상보드(600)를 검사하기 위한 검사요청정보(검사목록, 검사항목, 검사패턴목록, 검사패턴항목 등)를 선택 받는다. 상기 입력 및 선택이 완료되면 상기 검사대상보드(600)에 대한 검사를 요청하는 검사데이터를 생성하고, 상기 출력장치(800)를 통해 해당 검사결과를 출력한다.

여기서, 상기 프로그램은 검사대상이 되는 검사대상보드(600)의 종류에 따라 다수의 프로그램이 탑재될 수 있으며, 상기 프로그램의 알고리즘은 당업자의 요구에 따라 다양하게 적용될 수 있음은 당연하다.

또한, 상기 검사결과는 검사관리장치(100)의 내부에 구성된 메모리 또는 별도의 저장장치(도시하지 않음)에 저장함으로써 이력정보로 활용할 수 있다.

상기 검사제어기(200)는, 상기 검사관리장치(100)에서 생성, 출력된 검사데이터를 수신하여 해당 검사요청정보에 대응하는 적어도 하나의 패턴신호를 생성하는 것으로, 아날로그 검사(Analog Test)일 경우 아날로그 패턴신호를 생성하고, 디지털 검사(Digital Test)일 경우 디지털 패턴신호를 생성한다.

즉, 상기 검사제어기(200)는 상기 검사요청정보에 포함된 검사항목 및 검사패턴항목 등에 의하여 검사하고자 하는 목적(전자회로보드의 전체 또는 일부에 대한 검사)에 대응하는 아날로그 패턴신호 또는 디지털 패턴신호를 생성하는 것이다.

상기 검사신호입출력장치(300)는, 상기 검사제어기(200)에서 생성된 패턴신호를 수신하고, 상기 수신한 패턴신호의 우선순위에 따라 상기 검사대상보드(600)를 순차적으로 검사하게 된다.

예를 들어, 도 4d에 나타난 바와 같이, 검사관리장치(100)에서 전자회로보드에 실장된 메모리의 검사가 선택되고, 도 4d의 개별 검사 패턴창에 나타난 검사패턴항목이 선택되면, 검사제어기(200)는 개별 검사 패턴창에 나타난 데이터(data)값(0x6CA33888/Ox74A86C99/Ox3D716A4E…)에 대한 패턴신호를 생성하여 검사신호입출력장치(300)로 전송하며, 상기 검사신호입출력장치(300)는 우선순위가 가장 높은 '0x6CA33888'에 대한 검사를 수행하여 그 결과를 수행하고, 이후 순차적으로 'Ox74A86C99', 'Ox3D716A4E' 등에 대한 검사를 수행하는 것이다.

상기 영역주사제어기(400)는, 검사대상보드(600)에 실장된 집적회로(FPGA 등) 등의 반도체소자를 검사하기 위한 영역주사검사(Boundary Scan Test)용 장치로서, 상기 패턴신호에 의한 검사대상보드(600)의 동작을 감시하여, 그 검사결과정보를 검사관리장치(100)로 전송하는 것이다.

여기서, 상기 영역주사검사란, 전자회로보드상의 칩을 소프트웨어적으로 검사하는 방법으로, JTAG(Joint Test Action Group)에서 만든 아키텍처(Architecture)를 표준화한 IEEE Standard 1149.1을 바탕으로 한 검사방법이다.

한편, 상기 검사대상보드(600)가 특정한 하나의 제품이 아니라, 다수의 다양한 제품으로 구성될 수 있으며, 이러한 경우 각 제품의 특성에 맞도록 패턴신호를 변환해줄 필요가 있다.

상기 어댑터보드(500)는, 상기 검사신호입출력장치(300)에서 출력되는 패턴신호를, 서로 다른 검사대상보드(600)의 특성에 맞도록 변환하는 것으로, 상기 패턴신호의 변환방법은 당업자의 요구 및 검사대상보드(600)의 특성에 따라 다양하게 적용될 수 있으므로, 특정한 것에 한정하지 않음은 당연하다.

상기 입력장치(700)는, 검수자(또는 제품생산 관리자 등)에 의해 상기 검사대상보드(600)의 식별자 및 이력정보를 입력 및 검사요청정보를 선택 받기 위한 것으로, 키보드(Keyboard) 및 마우스(Mouse) 등을 포함하여 구성된다.

상기 출력장치(800)는, 검사대상보드(600)의 식별자 및 이력정보를 입력 및 검사요청정보를 선택 받기 위한 화면을 출력하고, 검사대상보드(600)의 검사결과를 출력하기 위한 것으로, CRT(Cathode-Ray Tube) 모니터 및 LCD(Liquid Crystal Display) 모니터 등을 포함하여 구성된다.

또한, 상기 출력장치(800)에는 스티커 라벨 프린터(Sticker Label Printer)가 포함될 수 있으며, 상기 스티커 라벨 프린터는 검사대상보드(600)의 식별자, 이력정보 및 검사결과정보(정상동작 여부 등)를 스티커에 인쇄하기 위한 것이다. 상기 인쇄된 스티커는 검사대상보드(600)에 부착하여, 해당 검사대상보드(600)에 대한 정보와 더불어 검사대상보드(600)가 검사를 마친 것임을 알려주게 된다.

상기와 같이 구성된 본 발명의 전자회로보드 검사 시스템의 동작은, 도 2에 나타난 바와 같이, 검사대상보드를 테스트하기 위한 검사 프로그램을 실행하는 단계(S101), 상기 검사대상보드의 식별자 및 이력정보를 입력 받는 단계(S102), 상기 입력 받은 검사대상보드의 이력정보에 의해 검사요청정보(검사목록, 검사항목, 검사패턴목록, 검사패턴항목 등)를 생성하고 검사항목 및 검사패턴항목을 선택 받는 단계(S103), 상기 선택된 검사패턴항목에 대응되는 패턴신호를 생성하여 검사대상보드를 검사하는 단계(S104) 및 상기 검사결과를 출력하고 저장하는 단계(S105)로 이루어진다.

이하에서, 도 3을 참조하여 도 2에 나타난 전자회로보드 검사 방법에 대하여 보다 상세히 살펴보기로 한다.

먼저, 검사하고자 하는 검사대상보드(600)를 영역주사제어기(400) 및 어댑터보드(500)와 전기적으로 연결하고(S201), 각 장치들로 구동전원을 공급하면(S202), 검사관리장치(100)는 출력장치(800)를 통해 검사프로그램을 선택하도록 요청하게 된다.

검수자가 해당 검사대상보드(600)에 대응되는 검사프로그램을 선택하게 되면(S203), 상기 검사관리장치(100)는 해당 검사프로그램을 실행하여 그 결과를 출력장치(800)에 출력하게 된다.

예를 들어, 전자회로보드에 FPGA가 탑재된 경우에는 FPGA용 검사프로그램을 실행하고(S204), FPGA가 탑재되지 않은 경우에는 일반 검사프로그램을 실행하게 된다(S205). 이는, FPGA 등의 집적회로가 탑재된 전자회로보드의 경우에는 영역주사제어기(400) 및 어댑터보드(500)를 이용하고, 집적회로가 탑재되지 않은 전자회로보드의 경우에는 어댑터보드(500)만을 이용하기 때문이다. 또한, 집적회로라 하더라도 그 종류 및 사양에 따라 서로 다른 검사프로그램을 실행할 수 있음은 당연하다. 이하에서는 FPGA가 탑재된 전자회로보드에 대하여 설명하기로 한다.

상기와 같이 FPGA용 검사프로그램이 실행되면(S204), 도 4a에 나타난 바와 같이 검사대상보드(600)의 식별자 및 이력정보를 입력하기 위한 입력창이 화면으로 출력된다.

검수자는 도 4b의 (a)에 나타난 바와 같이 검사대상보드(600)의 식별자 입력창에 해당 검사대상보드(600)의 식별자를 입력하고, 'Add'버튼을 클릭하면 도 4b의 (b)에 나타난 바와 같이 해당 검사대상보드(600)의 이력정보를 입력하는 창이 추가로 출력된다.

상기 이력정보 입력창에 해당 검사대상보드(600)의 이력정보를 입력하고, 도 4c의 (c)에 나타난 바와 같이 'Get'버튼을 클릭하면, 검사관리장치(100)는 영역주사제어기(400) 및/또는 어댑터보드(500)를 통해 검사대상보드(600)의 연결여부를 확인하고, 해당 상기 검사대상보드(600)에 탑재된 FPGA의 식별자를 출력하게 된다(S206). 상기 검사대상보드(600)의 식별자 및 이력정보의 입력확인은 도 4c의 (c)에 나타난 검사대상보드 정보 표시창을 통해 확인할 수 있다.

상기와 같이 해당 검사대상보드(600)의 식별자 및 이력정보가 입력되면, 검사관리장치(100)는 입력된 정보에 기초하여 해당 검사대상보드(600)의 검사요청정보를 생성하게 된다(S207). 여기서, 상기 검사요청정보는 검사대상보드(600)에 탑재된 전자소자(예를 들어 메모리, DAC, ADC, 모터구동제어기 등)를 포함하는 검사목록과, 상기 검사목록에 포함된 각각의 검사항목(예를 들어, 메모리 등)과, 해당 검사항목을 검사하기 위한 검사패턴목록(예를 들어 랜덤하게 생성된 다수의 데이터값 또는 주소값 등) 및 상기 검사패턴목록에 포함된 각각의 검사패턴항목(예를 들어 다수의 데이터값 중 어느 하나) 등을 포함한다.

검수자가 도 4c의 (d)에 나타난 바와 같이, 'Auto'버튼을 클릭하게 되면(S208), 검사관리장치(100)는 상기 생성한 검사요청정보의 모든 검사패턴항목을 검사대상보드(600)를 검사하기 위한 검사패턴항목으로 생성한다(S209).

만약, 검사대상보드(600)에 탑재된 전자소자 중 적어도 하나를 선택적으로 검사하고자 할 경우, 검수자는 도 4c의 (e)에 나타난 바와 같이 검사대상보드의 구성요소 목록, 즉 검사목록을 확인한다.

이후, 상기 검사목록 중 검사 받고자 하는 구성요소를 선택하고(S208), 해당 구성요소의 검사패턴목록에서 검사하고자 하는 검사패턴항목을 선택한다(S210).

예를 들어, 메모리를 검사하고자 할 경우, 도 4d에 나타난 바와 같이 검사목록 중 'External Memory'를 클릭하면, 검사관리장치(100)는 해당 메모리의 검사패턴목록을 개별 검사 패턴창에 출력한다. 검수자는 개별 검사 패턴창에 출력된 검사패턴목록을 확인하고 검사하고자 하는 검사패턴항목을 선택하게 된다. 여기서, 상기 검사패턴항목은 설정된 우선순위에 의해 정렬되며, 상기 우선순위는 검사대상보드(600) 또는 검사대상보드(600)에 탑재된 전자소자의 특성에 따라 다양하게 설정될 수 있다.

또한, 모터 구동 제어기를 검사하고자 할 경우, 도 4e에 나타난 바와 같이 검사목록 중 'Motor Driver Control'을 클릭한 후, 개별 검사 패턴창에 출력된 검사패턴목록 중 원하는 검사패턴항목을 선택한다.

상기와 같이 검사패턴항목의 선택이 완료되면, 검수자는 도 4d 및 도 4e에 나타난 바와 같이 'Test' 버튼을 클릭하며, 검사관리장치(100)는 상기 'Test' 버튼이 클릭되면, 상기 선택 받은 검사패턴항목에 대응하는 검사데이터를 생성한다.

상기 생성된 검사데이터(예를 들어, 도 4d에 나타난 메모리 검사용 데이터)는 검사제어기(200)로 전송되며, 상기 검사제어기(200)는 해당 검사데이터에 대응되는 패턴신호(예를 들어, 도 4d의 개별 검사 패턴창에 출력된 10개의 데이터값의 패턴신호)를 생성하여 검사신호입출력장치(300)로 전송하며, 상기 검사신호입출력장치(300)는 입력된 패턴신호 중 우선순위가 가장 높은 하나(예를 들어, 도 4d의 개별 검사 패턴창에 출력된 10개의 데이터값 중 1번에 해당하는 데이터값)를 어댑 터보드(500)로 전송한다.

상기 어댑터보드(500)는 입력된 패턴신호를 변환하여 검사대상보드(600)로 전송하며, 상기 패턴신호에 의한 검사대상보드(600)의 동작결과는 영역주사제어기(400)를 통해 측정된다.

상기 영역주사제어기(400)는 측정된 검사결과정보를 검사관리장치(100)로 전송하며, 상기 검사관리장치(100)는 수신한 검사결과정보를 도 4d의 결과창에 출력한다.

상기와 같이 우선순위 1번에 해당하는 검사가 완료되면, 검사관리장치(100)는 검사가 완료됨을 검사제어기(200)에 통보하고, 상기 검사제어기(200)는 검사신호입출력장치(300)에 우선순위 2번의 검사를 요청한다.

상기 검사신호입출력장치(300)는 검사제어기(200)의 요청에 의해, 도 4d의 개별 검사 패턴창에 출력된 10개의 데이터값 중 2번에 해당하는 데이터값을 어댑터보드(500)로 전송하며, 상기 과정을 반복하여 해당 전자회로보드의 메모리에 대한 검사를 실행하게 된다(S211).

검수자가 선택한 검사패턴항목에 대한 검사가 모두 완료되면, 검사관리장치(100)는 도 4d의 결과창에 검사결과(OK 또는 Error)를 출력하고 해당 검사 결과를 저장한다(S212).

만약, 다른 검사대상보드(600)를 검사하고자 할 경우(S213), 상기 단계 S201 내지 S212를 반복한다.

한편, 전자회로보드가 탑재되는 시스템은 외부 또는 내부에서 버스트(Burst) 및 서지(Surge)가 발생되는 경우가 있으며, 이러한 버스트 및 서지에 대하여 적응력을 가지고 있어야만, 해당 시스템이 안전성을 유지하게 된다. 따라서, 해당 시스템에 탑재되는 전자회로보드도 이러한 버스트 및 서지에 대해 적응력이 있어야만 하며, 전자회로보드의 검사 시 상기 버스트 및 서지 문제에 대한 검사도 병행함이 바람직하다.

따라서, 도 5에 나타난 바와 같이 서지(Surge)검사장치(910)와 버스트(Burst)검사장치(920)를 더 포함함이 바람직하다.

상기 서지검사장치(910)는 해당 전자회로보드로 입력될 수 있는 서지신호를 생성하여 검사대상보드(600)의 서지문제를 검사하기 위한 것이다.

예를 들어, 검사관리장치(100)가 상기 검사패턴항목에 대한 검사가 완료된 후, 상기 서지검사장치(910)로 서지검사요청신호를 전송하면, 상기 서지검사장치(910)는 서지검사신호를 생성하여 검사신호입출력장치(300)로 전송한다.

상기 검사신호입출력장치(300)로 입력된 서지검사신호는, 상기 서지검사신호에 대응하는 서지패턴신호로 변환된 후, 어댑터보드(500)를 거쳐 검사대상보드(600)에 입력되며, 영역주사제어기(400)는 상기 서지패턴신호의 입력에 의한 검사대상보드(600)의 안전성 여부를 감지하여 검사관리장치(100)로 전송한다.

상기 버스트검사장치(920)는 해당 전자회로보드로 입력될 수 있는 버스트신호를 생성하여 검사대상보드(600)의 버스트문제를 검사하기 위한 것으로, 오픈케이블 등으로 구성된다.

상기 버스트문제를 검사하기 위해서는, 검사대상보드(600)에 오픈케이블을 연결하고, 상기 검사관리장치(100)에서 생성된 버스트신호를 오픈케이블에 공급하여 이루어진다.

예를 들어, 검사관리장치(100)가 상기 검사패턴항목에 대한 검사가 완료된 후, 상기 버스트검사장치(920)로 버스트검사요청신호를 전송하면, 상기 버스트검사장치(920)는 버스트검사요청신호에 대응하는 버스트패턴신호를 생성하여 검사대상보드(600)에 입력한다. 여기서, 상기 버스트검사장치(920)가 오픈케이블일 경우, 상기 버스트검사요청신호를 버스트패턴신호로 하여 검사대상보드(600)에 직접 입력하게 된다

상기와 같이 버스트패턴신호가 검사대상보드(600)에 입력되면, 영역주사제어기(400)는 상기 버스트패턴신호의 입력에 의한 검사대상보드(600)의 안전성 여부를 감지하여 검사관리장치(100)로 전송한다.

이상에서, 본 발명에 의한 전자회로보드의 검사 방법에 대하여, 검사를 위한 신호(또는 데이터)의 전송순서를 검사관리장치(100) → 검사제어기(200) → 검사신호입출력장치(300) → 어댑터보드(500) → 검사대상보드(600) → 영역주사제어기(400) → 검사관리장치(100)의 순으로 설명하였다. 이는 검사관리장치(100)가 전자회로보드를 검사함에 있어, 전자회로보드에 특정신호를 인가하고 해당 신호에 의해 FPGA가 정상적으로 동작하는지에 대한 검사를 수행한 것이다.

한편, 검사관리장치(100)가 전자회로보드를 검사함에 있어, 전자회로보드에 탑재된 FPGA에 특정신호를 인가하고 해당 신호에 의해 FPGA가 동작한 후, 그 결과에 의하여 해당 전자회로보드가 정상적으로 동작하는지에 대한 검사를 수행할 수 있다.

이러한 경우에는, 상기 설명된 방법의 역순, 예를 들어 검사를 위한 신호(또는 데이터)의 전송순서를 검사관리장치(100) → 영역주사제어기(400) → 검사대상보드(600) → 어댑터보드(500) → 검사신호입출력장치(300) → 검사제어기(200) → 검사관리장치(100)의 순으로 전송하면서 검사할 수 있음은 당연하다.

이상에서 본 발명에 의한 전자회로보드 검사 방법 및 시스템에 대하여 설명하였다. 이러한 본 발명의 기술적 구성은, 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자에 의하여 그 기술적 사상이나 필수적 특징을 포함한 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있음은 당연하다.

그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며, 한정적인 것이 아닌 것으로서 이해되어야 하고, 본 발명의 범위는 전술한 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 그 등가개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.

상기와 같은 본 발명은 전자회로보드, 특히 FPGA 등의 집적회로소자가 실장된 전자회로보드의 동작에 대한 검사를 자동화하여, 신속하고 정확한 전자회로보드의 검사가 가능하도록 한 것이다.

특히, FPGA로부터 전자회로보드의 입출력단으로의 검사와 더불어, 전자회로보드의 입출력단으로부터 FPGA의 검사를 병행함으로써, 보다 정확한 검사가 이루어 질 수 있는 것이다.

또한, 전자회로보드 및 해당 전자회로보드가 탑재되는 시스템의 신뢰성 및 안전성을 저해하는 서지 및 버스트문제를 검사함으로써, 전자회로보드의 동작에 대한 신뢰성 및 안정성을 향상시킴은 물론, 해당 전자회로보드가 탑재되는 시스템 전체의 신뢰성 및 안전성을 향상시킬 수 있는 것이다.

또한, 전자회로보드의 검사를 자동화함으로써, 전자회로보드의 생산성을 향상시킬 수 있는 것이다.

Claims

a) 검사대상보드를 테스트하기 위한 검사 프로그램을 실행하는 단계;

b) 상기 검사대상보드의 식별자 및 이력정보를 입력 받아 검사목록을 생성하는 단계;

c) 상기 생성한 검사목록 중 적어도 하나의 검사항목을 선택 받고, 상기 선택 받은 해당 검사항목에 대응하는 검사패턴목록을 생성하는 단계;

d) 상기 생성된 검사패턴목록 중 적어도 하나의 검사패턴항목을 선택 받고, 상기 선택 받은 해당 검사패턴항목에 의해 상기 검사대상보드를 검사하는 단계; 및

e) 상기 검사결과를 출력하는 단계를 포함하여 이루어진 전자회로보드 검사 방법.
제 1항에 있어서,

상기 단계 a)는,

a-1) 상기 검사대상보드에 대응하는 검사 프로그램을 선택 받는 과정;

a-2) 상기 선택 받은 검사 프로그램을 실행하는 과정; 및

a-3) 검사 대상보드의 식별자 및 이력정보를 입력 받기 위한 화면을 출력하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자회로보드 검사 방법.
제 1항에 있어서,

상기 단계 b)는,

b-1) 상기 검사대상보드의 식별자 및 이력정보를 입력 받는 과정;

b-2) 상기 검사대상보드의 연결여부를 확인하는 과정;

b-3) 상기 검사대상보드의 검사목록을 생성하는 과정; 및

b-4) 상기 생성한 검사목록을 화면에 출력하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자회로보드 검사 방법.
제 1항에 있어서,

상기 단계 c)는,

c-1) 상기 생성한 검사목록 중 적어도 하나의 검사항목을 선택 받는 과정;

c-2) 상기 선택 받은 검사항목에 대응하는 검사패턴항목을 검색하는 과정;

c-3) 상기 검색한 검사패턴항목에 의해 검사패턴목록을 생성하는 과정;

c-4) 상기 생성한 검사패턴목록을 화면에 출력하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자회로보드 검사 방법.
제 1항에 있어서,

상기 단계 d)는,

d-1) 상기 생성한 검사패턴목록 중 적어도 하나의 검사패턴항목을 선택 받는 과정;

d-2) 상기 선택 받은 검사패턴항목에 대응하여 상기 검사대상보드를 검사하 는 과정; 및

d-3) 상기 검사한 결과와 해당 검사패턴항목을 매칭하는 과정을 포함하고,

상기 단계 e)는,

e-1) 상기 매칭한 결과를 화면에 출력하는 과정을 포함하는 것을 특징으로 하는 전자회로보드 검사 방법.
제 1항 내지 제 5항 중 어느 한 항에 있어서,

상기 단계 e) 이후에,

f) 상기 검사대상보드의 식별자 및 이력정보와, 상기 검사대상보드의 검사목록/검사항목/검사패턴목록/검사패턴항목/검사결과 중 적어도 하나를 매칭하여 저장하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자회로보드 검사 방법.
검사대상보드의 식별자 및 이력정보와 검사요청정보를 입력 받기 위한 화면을 출력장치로 전송하고, 입력장치를 통해 입력된 검사대상보드의 식별자 및 이력정보와 검사요청정보를 처리하여 상기 검사대상보드를 검사하기 위한 검사데이터를 생성하여 출력하는 검사관리장치;

상기 검사관리장치에서 출력된 검사데이터를 수신하여 해당 검사요청정보에 대응하는 적어도 하나의 패턴신호를 생성하여 출력하는 검사제어기;

상기 검사제어기에서 출력된 적어도 하나의 패턴신호를 수신하여 설정된 우선순위에 의해 상기 적어도 하나의 패턴신호 중 어느 하나를 출력하여 상기 검사대 상보드로 전송하는 검사신호입출력장치; 및

상기 검사신호입출력장치에서 전송된 어느 하나의 패턴신호를 입력 받은 상기 검사대상보드의 동작을 감시하여 검사결과정보를 생성하고, 상기 생성된 검사결과정보를 상기 검사관리장치로 전송하는 영역주사제어기를 포함하여 구성한 전자회로보드 검사 시스템.
제 7항에 있어서,

상기 검사신호입출력장치에서 출력하는 어느 하나의 패턴신호를 수신하여, 상기 검사대상보드에서 처리 가능한 신호로 변환하고, 상기 변환된 신호를 상기 검사대상보드로 전송하는 어댑터보드를 더 포함하여 구성한 것을 특징으로 하는 전자회로보드 검사 시스템.
제 7항에 있어서,

상기 검사관리장치는, 상기 검사대상보드에 구성된 반도체소자를 검사하기 위한 영역주사요청신호를 생성하여 상기 영역주사제어기로 전송하고,

상기 영역주사제어기는, 정해진 규약에 기초하여 상기 전송된 영역주사요청신호에 대응하는 패턴신호를 생성하고, 상기 생성된 패턴신호를 상기 검사대상보드로 전송하며,

상기 검사신호입출력장치는, 상기 영역주사제어기에서 전송된 패턴신호를 입력 받은 상기 검사대상보드의 동작을 감시하여 검사결과정보를 생성하여 상기 검사 제어기로 전송하고,

상기 검사제어기는 전송된 검사결과정보를 상기 검사관리장치로 전송하는 것을 특징으로 하는 전자회로보드 검사 시스템.
제 9항에 있어서,

상기 검사대상보드의 동작을 감시하여 상기 검사신호입출력장치에서 처리 가능한 신호로 변환하고, 상기 변환된 신호를 상기 검사신호입출력장치로 전송하는 어댑터보드를 더 포함하여 구성한 것을 특징으로 하는 전자회로보드 검사 시스템.
제 7항 내지 제 10항 중 어느 한 항에 있어서,

상기 검사관리장치는 상기 검사대상보드의 서지검사를 위한 서지검사요청신호를 생성하여 출력하고,

상기 검사관리장치에서 출력된 서지검사요청신호를 수신하여 서지검사신호를 생성하고, 상기 생성된 서지검사신호를 상기 검사신호입출력장치로 전송하는 서지검사장치를 더 포함하며,

상기 검사신호입출력장치는 상기 서지검사장치에서 전송된 서지검사신호에 대응하는 서지패턴신호를 생성하여 출력하는 것을 특징으로 하는 전자회로보드 검사 시스템.
제 7항 내지 제 10항 중 어느 한 항에 있어서,

상기 검사관리장치는 상기 검사대상보드의 버스트검사를 위한 버스트검사요청신호를 생성하여 출력하고,

상기 검사관리장치에서 출력된 버스트검사요청신호를 수신하고, 상기 버스트검사요청신호에 대응하는 버스트패턴신호를 생성하여 검사대상보드로 전송하는 버스트검사장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 전자회로보드 검사 시스템.