JP2008026224A - 機能診断装置の自己診断方法 - Google Patents
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Abstract
【課題】 作業の容易化と作業時間の短縮を向上させることができる機能診断装置の自己診断方法を提供すること。
【解決手段】 機能診断装置1の2系統の出力回路31及び出力コネクタ33と入力回路32及び入力コネクタ34をそれぞれストレート接続するストレート接続ボックス6と、機能診断装置1の2系統の出力回路31及び出力コネクタ33と入力回路32及び入力コネクタ34をそれぞれクロス接続するクロス接続ボックス7とにより自己診断を行うようにした。
【選択図】 図1
【解決手段】 機能診断装置1の2系統の出力回路31及び出力コネクタ33と入力回路32及び入力コネクタ34をそれぞれストレート接続するストレート接続ボックス6と、機能診断装置1の2系統の出力回路31及び出力コネクタ33と入力回路32及び入力コネクタ34をそれぞれクロス接続するクロス接続ボックス7とにより自己診断を行うようにした。
【選択図】 図1
Description
本発明は、電子製品の機能を診断する機能診断装置の自己診断方法の技術分野に属する。
従来では、診断システムは、動作チェック項目の動作データを記憶するメモリを備えたビデオカメラと、診断ソフトが供給され、接続ケーブルを介してビデオカメラとの接続がなされてメモリに記憶した動作データの入力が可能なパソコンとから構成され、電子機器の故障時にどの部分が悪いのかが一目でわかるようにパソコンを介してディスプレイ表示している(例えば、特許文献1参照。)。
また、入力された回路選択信号に応じてチェック端子より信号を入力させるか出力させるかを選択する入出力選択手段と、出力が選択されたとき、回路選択信号に応じて選択された回路の出力信号をチェック端子に出力する信号出力手段と、入力が選択されたとき、回路選択信号に応じて選択された回路に対してチェック端子よりの信号を入力する信号入力手段とを備え、チェック端子を削減しているものもある(例えば、特許文献2参照。)。
特開平6−313783号公報(第2−4頁、全図)
特開平7−260885号公報(第2−5頁、全図)
しかしながら、従来にあっては、作業時間や作業の容易化が充分なものではなかった。
この点について詳しく説明する。
通常作業において、製品種類毎のOKサンプル確認が必要であった。また、異常発生時の確認行為が多いものであった。例えば、状態を変える度にOKサンプルでの確認を行う、ハーネス、インターフェース回路部の目視確認を行う、ハーネスの電気的確認を行うなどである。また、機能診断装置のインターフェースで入力部の不具合か、出力部の不具合かの判定が困難で専門知識が必要であり、機能診断装置の入力及び出力ポイントを、一点づつ実際に計測機器を用いて解析を行うため、時間がかかるものであった。
通常作業において、製品種類毎のOKサンプル確認が必要であった。また、異常発生時の確認行為が多いものであった。例えば、状態を変える度にOKサンプルでの確認を行う、ハーネス、インターフェース回路部の目視確認を行う、ハーネスの電気的確認を行うなどである。また、機能診断装置のインターフェースで入力部の不具合か、出力部の不具合かの判定が困難で専門知識が必要であり、機能診断装置の入力及び出力ポイントを、一点づつ実際に計測機器を用いて解析を行うため、時間がかかるものであった。
本発明は、上記問題点に着目してなされたもので、その目的とするところは、作業の容易化と作業時間の短縮を向上させることができる機能診断装置の自己診断方法を提供することにある。
上記目的を達成するため、本発明では、2系統の出力部で電子製品への出力を行い、2系統の入力部で前記電子製品からの入力を行い、試験プログラムの実行により前記電子製品の機能を診断する機能診断装置において、前記機能診断装置の2系統の出力部と入力部をそれぞれストレート接続するストレート接続手段と、前記機能診断装置の2系統の出力部と入力部をそれぞれクロス接続するクロス接続手段と、を備え、前記機能診断装置の診断は、前記ストレート接続手段を用いた状態での自己診断と、前記クロス接続手段を用いた状態での自己診断とを行って、違う接続状態における診断結果から故障箇所を特定するようにした、ことを特徴とする。
よって、本発明にあっては、作業の容易化と作業時間の短縮を向上させることができる。
以下、本発明の機能診断装置の自己診断方法を実現する実施の形態を、請求項1,2に係る発明に対応する実施例1に基づいて説明する。
まず、構成を説明する。
図1は実施例1の機能診断装置の説明図である。
機能診断装置1は、パソコン2、インターフェース部3、ハーネス5、ストレート接続ボックス6、クロス接続ボックス7、試験用ハーネス8を主要な構成としている。
パソコン2は、故障診断処理、事故診断処理のプログラムを内蔵し、実行する。これら処理に際しては、インターフェース部3との通信を行う。
図1は実施例1の機能診断装置の説明図である。
機能診断装置1は、パソコン2、インターフェース部3、ハーネス5、ストレート接続ボックス6、クロス接続ボックス7、試験用ハーネス8を主要な構成としている。
パソコン2は、故障診断処理、事故診断処理のプログラムを内蔵し、実行する。これら処理に際しては、インターフェース部3との通信を行う。
インターフェース部3は、出力回路31と入力回路32を備え、被試験製品4への電源供給、入出力を行う。
出力回路31にはRL回路を用い、オープン/電圧(Hi)とオープン/GNDショート(Lo)の2系統の出力を出力コネクタ33から出力する。また、入力回路32は、スレッシュ電圧(Hi・Lo)の2系統の入力を入力コネクタ34から行う。
出力回路31にはRL回路を用い、オープン/電圧(Hi)とオープン/GNDショート(Lo)の2系統の出力を出力コネクタ33から出力する。また、入力回路32は、スレッシュ電圧(Hi・Lo)の2系統の入力を入力コネクタ34から行う。
ハーネス5は、インターフェース部3の出力コネクタ33及び入力コネクタ34と、被試験製品4のコネクタの間を電気的に接続する複数の信号線が集められたものである。
ストレート接続ボックス6は、インターフェース部3のオープン/電圧(Hi)とオープン/GNDショート(Lo)の2系統の出力を、それぞれ、HiはHi側の入力、LoはLo側の入力となるいわゆるストレート接続となるように、インターフェース部3のHi,Loの2系統の入力に返すものである。
クロス接続ボックス7は、インターフェース部3のオープン/電圧(Hi)とオープン/GNDショート(Lo)の2系統の出力を、HiはLo側の入力へ、LoはHi側の入力へとなるいわゆるクロス接続となるように、インターフェース部3のHi,Loの2系統の入力に返すものである。
試験用ハーネス8は、ハーネスの異常を確認するためのハーネスである。
試験用ハーネス8は、ハーネスの異常を確認するためのハーネスである。
作用を説明する。
[製品試験作業処理]
図2に示すのは、実施例1の機能診断装置を用いる製品試験作業の流れを示すフローチャートで、以下各ステップについて説明する。
[製品試験作業処理]
図2に示すのは、実施例1の機能診断装置を用いる製品試験作業の流れを示すフローチャートで、以下各ステップについて説明する。
ステップS11では、生産対象処理プログラムを選択する。
ステップS12では、OKサンプルを機能診断装置1に接続して確認を行う。
ステップS13では、チェック結果がOKかNGかを判断し、OKならばステップS14へ進み、NGならばステップS23へ進む。
ステップS14では、ワークをセットし製品チェックを開始する。
ステップS15では、チェック結果がOKかNGかを判断し、OKならばステップS16へ進み、NGならばステップS18へ進む。
ステップS16では、ワークをセットし製品チェックを開始する。
ステップS17では、処理を継続するかどうかを判断し、継続するならばステップS14へ戻り、継続しないならば処理を終了する。
ステップS18では、NGが連続したかどうかを判断し、連続であるならばステップS19へ進み、連続でないならばステップS17へ進む。
ステップS19では、OKサンプルの確認を行う。
ステップS20では、チェック結果がOKかNGかを判断し、OKならばステップS21へ進み、NGならばステップS25へ進む。
ステップS21〜S22では、製品解析処理を行い、ステップS17へ進む。
ステップS23ではサンプルもしくはOK品の確認を行う。
ステップS24では、チェック結果がOKかNGかを判断し、OKならばステップS14へ進み、NGならばステップS25へ進む。
ステップS25〜S26では、故障診断処理(修理)を行う。
[従来の故障診断処理]
図3に示すのは、従来において実行される機能診断処理の流れを示すフローチャートで、以下、各ステップについて説明する。
図3に示すのは、従来において実行される機能診断処理の流れを示すフローチャートで、以下、各ステップについて説明する。
ステップS101では、故障診断処理を開始する。
ステップS102では、パソコン稼動状態のチェックを行う。
ステップS103では、異常の有無を判断し、異常があるならばステップS120へ進み、異常がないならばステップS104へ進む。
ステップS104では、ハーネスチェックを行う。
ステップS105では、ハーネスチェックとして目視にて、傷や損傷がないかなどのチェックを行う。
ステップS106では、異常の有無を判断し、異常があるならばステップS120へ進み、異常がないならばステップS107へ進む。
ステップS107では、テスターによるチェックを行う。
ステップS108では、異常の有無を判断し、異常があるならばステップS120へ進み、異常がないならばステップS109へ進む。
ステップS109では、NG項目関連として予め設定されている回路チェックを行う。
ステップS110では、回路を目視でチェックを行う。
ステップS111では、異常の有無を判断し、異常があるならばステップS120へ進み、異常がないならばステップS112へ進む。
ステップS112では、インターフェースボードを交換するチェックを行う。
ステップS113では、交換してもチェックが可能であったかどうかを判断し、可能ならステップS118へ進み、できないならステップS114へ進む。
ステップS114では、リレー、IC交換を行う。
ステップS115では、OKサンプルを接続して確認を行う。
ステップS116では、チェック結果を判断し、OKならばステップS120へ進み、NGならばステップS117へ進む。
ステップS117では、次の修理段階レベルをレベル2とし、レベル2の処理を行う。
ステップS118では、OKサンプルを接続して確認を行う。
ステップS119では、チェック結果を判断し、OKならばステップS120へ進み、NGならばステップS117へ進む。
ステップS120では、不具合箇所を修理する。
ステップS121では、OKサンプルを確認する。
ステップS122では、チェック結果を判断し、OKならば処理を終了し、NGならばステップS117へ進む。
[製品機能診断について]
ここで、従来の製品機能診断について図2、図3を参照して説明する。
従来は、被試験製品を製品機能診断装置で、機能試験を行う際には、図2の作業フローの通り、被試験製品に対応した試験プログラムを選択し(ステップS11)、被試験製品のOKサンプルを製品機能診断装置で実際に試験を行い(ステップS12)、チェック結果がOKである場合に、量産品の機能試験を行っている(ステップS14〜S16)。
ここで、従来の製品機能診断について図2、図3を参照して説明する。
従来は、被試験製品を製品機能診断装置で、機能試験を行う際には、図2の作業フローの通り、被試験製品に対応した試験プログラムを選択し(ステップS11)、被試験製品のOKサンプルを製品機能診断装置で実際に試験を行い(ステップS12)、チェック結果がOKである場合に、量産品の機能試験を行っている(ステップS14〜S16)。
OKサンプルによる確認でNGとなった場合及び、量産品試験で連続してNGが発生し且つOKサンプルで再チェックしNGとなった場合には、図3の故障診断フローに従って診断及び修理を行う。
パソコン自体の確認(ステップS102)で異常がない場合には、被試験製品と機能試験装置を接続しているハーネスを取り外して、ハーネスに断線等がないか目視での確認を行う(ステップS105)。
パソコン自体の確認(ステップS102)で異常がない場合には、被試験製品と機能試験装置を接続しているハーネスを取り外して、ハーネスに断線等がないか目視での確認を行う(ステップS105)。
目視での確認で異常がない場合には、ハーネスを元の状態に接続し、NG項目から、製品図面及び、機能試験装置の図面等を用いて機能試験装置のインターフェースボードの故障していると思われる回路を目視確認する(ステップS110)。
目視確認で異常がなく、インターフェースボードの予備がある場合には、インターフェースボードを交換して、OKサンプルによる確認(ステップS118)を行う。なお、インターフェースボードを交換しての確認ができない場合には、該当する回路上のRELAYまたはSW用ICの交換を行い(ステップS114)、OKサンプルの確認を行う。
以上の従来の処理において、機能診断装置の自己診断については、上記で説明のように、作業時間がかかり、作業に困難性があるものであった。
本実施例1では、これらの問題を解決したものである。
目視確認で異常がなく、インターフェースボードの予備がある場合には、インターフェースボードを交換して、OKサンプルによる確認(ステップS118)を行う。なお、インターフェースボードを交換しての確認ができない場合には、該当する回路上のRELAYまたはSW用ICの交換を行い(ステップS114)、OKサンプルの確認を行う。
以上の従来の処理において、機能診断装置の自己診断については、上記で説明のように、作業時間がかかり、作業に困難性があるものであった。
本実施例1では、これらの問題を解決したものである。
[機能診断装置の自己診断処理]
図4に示すには、実施例1の機能診断装置で実行する自己診断処理の流れを示すフローチャートで、以下各ステップについて説明する。
図4に示すには、実施例1の機能診断装置で実行する自己診断処理の流れを示すフローチャートで、以下各ステップについて説明する。
ステップS31では、故障診断処理を開始する。
ステップS32では、パソコン稼動状態をチェックする。
ステップS33では、異常の有無を判断し、異常がある場合にはステップS44に進み、異常がない場合にはステップS34へ進む。
ステップS34では、機能診断装置1に被試験製品の代わりにストレート接続ボックス6を取り付ける。
ステップS35では、自己診断を行う。
ステップS36では、ハーネスを変更した後でチェックを行う。
ステップS37では、自己診断を行う。
ステップS38では、異常の有無を判断し、異常がある場合にはステップS39に進み、異常がない場合にはステップS44へ進む。
ステップS39では、機能診断装置1に被試験製品の代わりにクロス接続ボックス7を取り付ける。
ステップS40では、自己診断を行う。
ステップS41では、故障部位の特定を行う。
ステップS42では、故障部位の特定ができたかどうかを判断し、できたならばステップS44へ進み、できないならばステップS43へ進む。
ステップS43では、修理段階の次のレベルであるレベル2の修理を行う。
つまり、さらに専門の人による調査や修理などである。
つまり、さらに専門の人による調査や修理などである。
ステップS44では、不具合箇所の修理を行う。
ステップS45では、OKサンプルによる確認を行う。
ステップS46では、チェック結果を判断し、OKならば処理を終了し、NGならばステップs43へ進む。
[機能診断装置の自己診断作用]
図5は実施例1の機能診断装置の自己診断方法におけるストレート接続ボックスに接続した状態を示す説明図である。図6は実施例1の機能診断装置の自己診断方法におけるクロス接続ボックスに接続した状態を示す説明図である。図7は実施例1の機能診断装置の自己診断方法におけるハーネスを取り替えて接続した状態を示す説明図である。
図5は実施例1の機能診断装置の自己診断方法におけるストレート接続ボックスに接続した状態を示す説明図である。図6は実施例1の機能診断装置の自己診断方法におけるクロス接続ボックスに接続した状態を示す説明図である。図7は実施例1の機能診断装置の自己診断方法におけるハーネスを取り替えて接続した状態を示す説明図である。
本実施例1の機能診断装置1の自己診断方法では、図2の作業処理において、機能試験装置を立ち上げる際に、図5に示すようにストレート接続ボックス6を用いて自己診断プログラムによる自己診断を行い、被試験製品4に対応した試験プログラムの選択後に行っている、被試験製品のOKサンプルによる試験を廃止する。
自己診断による確認でNGになった場合、及び量産品試験で連続してNGが発生した場合には、図4の故障診断フローに従って診断及び修理を行う。
パソコン自体の確認(ステップS32)で異常がない場合には、ストレート接続ボックス6にて自己診断を行い(ステップS35)、その結果をパソコンの画面上で表示する。
パソコン自体の確認(ステップS32)で異常がない場合には、ストレート接続ボックス6にて自己診断を行い(ステップS35)、その結果をパソコンの画面上で表示する。
次に、被試験製品4と機能診断装置1を接続しているハーネス5を試験用ハーネス8に変更して、自己診断を行い(ステップS37)、ここでOKであれば、交換したハーネスで、パソコン画面で表示している端子がNGであることが判別できる。
ハーネスを交換しての自己診断でもNGであった場合には、図6に示すように、クロス接続ボックス7に接続し、自己診断を行い、NG項目から、入力部、出力部、どちらの回路の故障であるかが特定できる。このデータを基に、パソコン2上で対応するインターフェースボード番号、回路番号等をパソコン2の画面上に表示させる。
さらに、本実施例1の機能診断装置の自己診断方法の作用について、言い換えて説明する。
実施例1の機能診断装置1では、出力回路31及び出力コネクタ33と、入力回路32及び入力コネクタ34がそれぞれ2系統であり、出力側は、オープン/電圧(Hi)とオープン/電圧(Lo)である。入力回路32は、スレッシュ電圧(Hi・Lo)2系統によるオンオフ判断(オープンコレクタ検知)である。
実施例1の機能診断装置1では、出力回路31及び出力コネクタ33と、入力回路32及び入力コネクタ34がそれぞれ2系統であり、出力側は、オープン/電圧(Hi)とオープン/電圧(Lo)である。入力回路32は、スレッシュ電圧(Hi・Lo)2系統によるオンオフ判断(オープンコレクタ検知)である。
そのため、ストレート接続した際には、Hi側出力をHi側入力、Lo側出力をLo側入力となり、クロス接続させた際には、Hi側出力をLo側入力、Lo側出力をHi側入力となり、同じ出力(例えばオンオフ出力)に対しても、異なる検出結果となる。また、同じ検出結果となる場合もある。このことと、出力信号を変化させるなどを組合せる自己診断プログラムを実行させることによって、特定が可能になるのである。
本実施例1では、この自己診断プログラムの内容については詳細には説明しないが、ここで説明のように、接続状態の違いにより検出結果が異なる場合、同じ場合の組合せが故障箇所の特定に充分に寄与することは明らかである。
また、このような自己診断が、従来のように、製品側をOKサンプルに固定して、機能診断装置側をテスターや回路交換、リレーやICの交換などを行う従来の診断に比較してその作業時間と作業の容易性で有利であることも明らかである。
また、このような自己診断が、従来のように、製品側をOKサンプルに固定して、機能診断装置側をテスターや回路交換、リレーやICの交換などを行う従来の診断に比較してその作業時間と作業の容易性で有利であることも明らかである。
次に、効果を説明する。
実施例1の機能診断装置の自己診断方法にあっては、下記に列挙する効果を得ることができる。
実施例1の機能診断装置の自己診断方法にあっては、下記に列挙する効果を得ることができる。
(1)2系統の出力回路31及び出力コネクタ33で被試験製品4への出力を行い、2系統の入力回路32及び入力コネクタ34で被試験製品4からの入力を行い、パソコン2による試験プログラムの実行により被試験製品4の機能を診断する機能診断装置1において、機能診断装置1の2系統の出力回路31及び出力コネクタ33と入力回路32及び入力コネクタ34をそれぞれストレート接続するストレート接続ボックス6と、機能診断装置1の2系統の出力回路31及び出力コネクタ33と入力回路32及び入力コネクタ34をそれぞれクロス接続するクロス接続ボックス7とを備え、機能診断装置1の診断は、ストレート接続ボックス6を用いた状態での自己診断と、クロス接続ボックス7を用いた状態での自己診断とを行って、違う接続状態における診断結果から故障箇所を特定するようにしたため、作業の容易化と作業時間の短縮を向上させることができる。
さらに効果について説明する。
実施例1の機能診断装置の自己診断方法により、各製品単位でのOKサンプル確認の廃止ができ、作業時間の短縮ができる。このことは、生産性の向上につながるものである。なぜならば、通常の生産開始時等で行う必要が従来では生じるからである。
また、出力回路31及び入力回路32での不具合箇所の特定が容易になり、作業容易化、作業時間の短縮化を行うことができる。つまり、ボックスの取替え作業を行えばよく、機能診断装置自体の構造を熟知している必要なく、不具合箇所の特定ができる。
また、ストレート接続ボックス6及びクロス接続ボックス7は、使用する装置が簡単であり、製作及び維持のための費用が低く抑えることができる。
実施例1の機能診断装置の自己診断方法により、各製品単位でのOKサンプル確認の廃止ができ、作業時間の短縮ができる。このことは、生産性の向上につながるものである。なぜならば、通常の生産開始時等で行う必要が従来では生じるからである。
また、出力回路31及び入力回路32での不具合箇所の特定が容易になり、作業容易化、作業時間の短縮化を行うことができる。つまり、ボックスの取替え作業を行えばよく、機能診断装置自体の構造を熟知している必要なく、不具合箇所の特定ができる。
また、ストレート接続ボックス6及びクロス接続ボックス7は、使用する装置が簡単であり、製作及び維持のための費用が低く抑えることができる。
(2)ストレート接続ボックス6及びクロス接続ボックス7では、機能診断装置と前記被試験製品4を電気的に接続するハーネスに対して、被試験製品4に相当するものを接続し、それぞれストレート接続及びクロス接続を行うようにし、ストレート接続ボックス6を用いた状態での自己診断に加えて、ハーネスを予め正常であることを確認した別のハーネスに取り替えて、自己診断を行うことで、ハーネスの異常有無を検出できるようにしたため、ハーネス異常を容易に短時間で検出でき、作業の容易化と作業時間の短縮を向上させることができる。
以上、本発明の機能診断装置の自己診断方法を実施例1に基づき説明してきたが、具体的な構成については、これらの実施例に限られるものではなく、特許請求の範囲の各請求項に係る発明の要旨を逸脱しない限り、設計の変更や追加等は許容される。
実施例1における入力回路32はオープンコレクタ検知であったが、他の検知回路であってもよい。
実施例1における入力回路32はオープンコレクタ検知であったが、他の検知回路であってもよい。
1 機能診断装置
2 パソコン
3 インターフェース部
4 被試験製品
5 ハーネス
6 ストレート接続ボックス
7 クロス接続ボックス
8 試験用ハーネス
31 出力回路
32 入力回路
33 出力コネクタ
34 入力コネクタ
2 パソコン
3 インターフェース部
4 被試験製品
5 ハーネス
6 ストレート接続ボックス
7 クロス接続ボックス
8 試験用ハーネス
31 出力回路
32 入力回路
33 出力コネクタ
34 入力コネクタ
Claims (2)
- 2系統の出力部で電子製品への出力を行い、2系統の入力部で前記電子製品からの入力を行い、試験プログラムの実行により前記電子製品の機能を診断する機能診断装置において、
前記機能診断装置の2系統の出力部と入力部をそれぞれストレート接続するストレート接続手段と、
前記機能診断装置の2系統の出力部と入力部をそれぞれクロス接続するクロス接続手段と、
を備え、
前記機能診断装置の診断は、前記ストレート接続手段を用いた状態での自己診断と、前記クロス接続手段を用いた状態での自己診断とを行って、違う接続状態における診断結果から故障箇所を特定するようにした、
ことを特徴とする機能診断装置の自己診断方法。 - 請求項1に記載の機能診断装置の自己診断方法において、
前記ストレート接続手段及び前記クロス接続手段では、
前記機能診断装置と前記電子製品を電気的に接続するハーネスに対して、電子製品に相当するものを接続し、それぞれストレート接続及びクロス接続を行うようにし、
前記ストレート接続手段を用いた状態での自己診断に加えて、前記ハーネスを予め正常であることを確認した別のハーネスに取り替えて、自己診断を行うことで、ハーネスの異常有無を検出できるようにした、
ことを特徴とする機能診断装置の自己診断方法。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN109412146A (zh) * | 2018-10-17 | 2019-03-01 | 国网上海市电力公司 | 一种电力电缆交叉互联在线修正装置及方法 |
CN110927427A (zh) * | 2018-09-20 | 2020-03-27 | 矢崎总业株式会社 | 具有自诊断功能的电压测量设备及其自诊断方法 |
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2006
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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CN110927427B (zh) * | 2018-09-20 | 2022-02-18 | 矢崎总业株式会社 | 具有自诊断功能的电压测量设备及其自诊断方法 |
CN109412146A (zh) * | 2018-10-17 | 2019-03-01 | 国网上海市电力公司 | 一种电力电缆交叉互联在线修正装置及方法 |
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