JP2008026224A - 機能診断装置の自己診断方法 - Google Patents

Abstract

【課題】 作業の容易化と作業時間の短縮を向上させることができる機能診断装置の自己診断方法を提供すること。
【解決手段】 機能診断装置１の２系統の出力回路３１及び出力コネクタ３３と入力回路３２及び入力コネクタ３４をそれぞれストレート接続するストレート接続ボックス６と、機能診断装置１の２系統の出力回路３１及び出力コネクタ３３と入力回路３２及び入力コネクタ３４をそれぞれクロス接続するクロス接続ボックス７とにより自己診断を行うようにした。
【選択図】 図１

Description

本発明は、電子製品の機能を診断する機能診断装置の自己診断方法の技術分野に属する。

従来では、診断システムは、動作チェック項目の動作データを記憶するメモリを備えたビデオカメラと、診断ソフトが供給され、接続ケーブルを介してビデオカメラとの接続がなされてメモリに記憶した動作データの入力が可能なパソコンとから構成され、電子機器の故障時にどの部分が悪いのかが一目でわかるようにパソコンを介してディスプレイ表示している（例えば、特許文献１参照。）。

また、入力された回路選択信号に応じてチェック端子より信号を入力させるか出力させるかを選択する入出力選択手段と、出力が選択されたとき、回路選択信号に応じて選択された回路の出力信号をチェック端子に出力する信号出力手段と、入力が選択されたとき、回路選択信号に応じて選択された回路に対してチェック端子よりの信号を入力する信号入力手段とを備え、チェック端子を削減しているものもある（例えば、特許文献２参照。）。
特開平６−３１３７８３号公報（第２−４頁、全図） 特開平７−２６０８８５号公報（第２−５頁、全図）

しかしながら、従来にあっては、作業時間や作業の容易化が充分なものではなかった。

この点について詳しく説明する。
通常作業において、製品種類毎のＯＫサンプル確認が必要であった。また、異常発生時の確認行為が多いものであった。例えば、状態を変える度にＯＫサンプルでの確認を行う、ハーネス、インターフェース回路部の目視確認を行う、ハーネスの電気的確認を行うなどである。また、機能診断装置のインターフェースで入力部の不具合か、出力部の不具合かの判定が困難で専門知識が必要であり、機能診断装置の入力及び出力ポイントを、一点づつ実際に計測機器を用いて解析を行うため、時間がかかるものであった。

本発明は、上記問題点に着目してなされたもので、その目的とするところは、作業の容易化と作業時間の短縮を向上させることができる機能診断装置の自己診断方法を提供することにある。

上記目的を達成するため、本発明では、２系統の出力部で電子製品への出力を行い、２系統の入力部で前記電子製品からの入力を行い、試験プログラムの実行により前記電子製品の機能を診断する機能診断装置において、前記機能診断装置の２系統の出力部と入力部をそれぞれストレート接続するストレート接続手段と、前記機能診断装置の２系統の出力部と入力部をそれぞれクロス接続するクロス接続手段と、を備え、前記機能診断装置の診断は、前記ストレート接続手段を用いた状態での自己診断と、前記クロス接続手段を用いた状態での自己診断とを行って、違う接続状態における診断結果から故障箇所を特定するようにした、ことを特徴とする。

よって、本発明にあっては、作業の容易化と作業時間の短縮を向上させることができる。

以下、本発明の機能診断装置の自己診断方法を実現する実施の形態を、請求項１，２に係る発明に対応する実施例１に基づいて説明する。

まず、構成を説明する。
図１は実施例１の機能診断装置の説明図である。
機能診断装置１は、パソコン２、インターフェース部３、ハーネス５、ストレート接続ボックス６、クロス接続ボックス７、試験用ハーネス８を主要な構成としている。
パソコン２は、故障診断処理、事故診断処理のプログラムを内蔵し、実行する。これら処理に際しては、インターフェース部３との通信を行う。

インターフェース部３は、出力回路３１と入力回路３２を備え、被試験製品４への電源供給、入出力を行う。
出力回路３１にはＲＬ回路を用い、オープン／電圧（Ｈｉ）とオープン／ＧＮＤショート（Ｌｏ）の２系統の出力を出力コネクタ３３から出力する。また、入力回路３２は、スレッシュ電圧（Ｈｉ・Ｌｏ）の２系統の入力を入力コネクタ３４から行う。

ハーネス５は、インターフェース部３の出力コネクタ３３及び入力コネクタ３４と、被試験製品４のコネクタの間を電気的に接続する複数の信号線が集められたものである。

ストレート接続ボックス６は、インターフェース部３のオープン／電圧（Ｈｉ）とオープン／ＧＮＤショート（Ｌｏ）の２系統の出力を、それぞれ、ＨｉはＨｉ側の入力、ＬｏはＬｏ側の入力となるいわゆるストレート接続となるように、インターフェース部３のＨｉ，Ｌｏの２系統の入力に返すものである。

クロス接続ボックス７は、インターフェース部３のオープン／電圧（Ｈｉ）とオープン／ＧＮＤショート（Ｌｏ）の２系統の出力を、ＨｉはＬｏ側の入力へ、ＬｏはＨｉ側の入力へとなるいわゆるクロス接続となるように、インターフェース部３のＨｉ，Ｌｏの２系統の入力に返すものである。
試験用ハーネス８は、ハーネスの異常を確認するためのハーネスである。

作用を説明する。
[製品試験作業処理]
図２に示すのは、実施例１の機能診断装置を用いる製品試験作業の流れを示すフローチャートで、以下各ステップについて説明する。

ステップＳ１１では、生産対象処理プログラムを選択する。

ステップＳ１２では、ＯＫサンプルを機能診断装置１に接続して確認を行う。

ステップＳ１３では、チェック結果がＯＫかＮＧかを判断し、ＯＫならばステップＳ１４へ進み、ＮＧならばステップＳ２３へ進む。

ステップＳ１４では、ワークをセットし製品チェックを開始する。

ステップＳ１５では、チェック結果がＯＫかＮＧかを判断し、ＯＫならばステップＳ１６へ進み、ＮＧならばステップＳ１８へ進む。

ステップＳ１６では、ワークをセットし製品チェックを開始する。

ステップＳ１７では、処理を継続するかどうかを判断し、継続するならばステップＳ１４へ戻り、継続しないならば処理を終了する。

ステップＳ１８では、ＮＧが連続したかどうかを判断し、連続であるならばステップＳ１９へ進み、連続でないならばステップＳ１７へ進む。

ステップＳ１９では、ＯＫサンプルの確認を行う。

ステップＳ２０では、チェック結果がＯＫかＮＧかを判断し、ＯＫならばステップＳ２１へ進み、ＮＧならばステップＳ２５へ進む。

ステップＳ２１〜Ｓ２２では、製品解析処理を行い、ステップＳ１７へ進む。

ステップＳ２３ではサンプルもしくはＯＫ品の確認を行う。

ステップＳ２４では、チェック結果がＯＫかＮＧかを判断し、ＯＫならばステップＳ１４へ進み、ＮＧならばステップＳ２５へ進む。

ステップＳ２５〜Ｓ２６では、故障診断処理（修理）を行う。

[従来の故障診断処理]
図３に示すのは、従来において実行される機能診断処理の流れを示すフローチャートで、以下、各ステップについて説明する。

ステップＳ１０１では、故障診断処理を開始する。

ステップＳ１０２では、パソコン稼動状態のチェックを行う。

ステップＳ１０３では、異常の有無を判断し、異常があるならばステップＳ１２０へ進み、異常がないならばステップＳ１０４へ進む。

ステップＳ１０４では、ハーネスチェックを行う。

ステップＳ１０５では、ハーネスチェックとして目視にて、傷や損傷がないかなどのチェックを行う。

ステップＳ１０６では、異常の有無を判断し、異常があるならばステップＳ１２０へ進み、異常がないならばステップＳ１０７へ進む。

ステップＳ１０７では、テスターによるチェックを行う。

ステップＳ１０８では、異常の有無を判断し、異常があるならばステップＳ１２０へ進み、異常がないならばステップＳ１０９へ進む。

ステップＳ１０９では、ＮＧ項目関連として予め設定されている回路チェックを行う。

ステップＳ１１０では、回路を目視でチェックを行う。

ステップＳ１１１では、異常の有無を判断し、異常があるならばステップＳ１２０へ進み、異常がないならばステップＳ１１２へ進む。

ステップＳ１１２では、インターフェースボードを交換するチェックを行う。

ステップＳ１１３では、交換してもチェックが可能であったかどうかを判断し、可能ならステップＳ１１８へ進み、できないならステップＳ１１４へ進む。

ステップＳ１１４では、リレー、ＩＣ交換を行う。

ステップＳ１１５では、ＯＫサンプルを接続して確認を行う。

ステップＳ１１６では、チェック結果を判断し、ＯＫならばステップＳ１２０へ進み、ＮＧならばステップＳ１１７へ進む。

ステップＳ１１７では、次の修理段階レベルをレベル２とし、レベル２の処理を行う。

ステップＳ１１８では、ＯＫサンプルを接続して確認を行う。

ステップＳ１１９では、チェック結果を判断し、ＯＫならばステップＳ１２０へ進み、ＮＧならばステップＳ１１７へ進む。

ステップＳ１２０では、不具合箇所を修理する。

ステップＳ１２１では、ＯＫサンプルを確認する。

ステップＳ１２２では、チェック結果を判断し、ＯＫならば処理を終了し、ＮＧならばステップＳ１１７へ進む。

[製品機能診断について]
ここで、従来の製品機能診断について図２、図３を参照して説明する。
従来は、被試験製品を製品機能診断装置で、機能試験を行う際には、図２の作業フローの通り、被試験製品に対応した試験プログラムを選択し（ステップＳ１１）、被試験製品のＯＫサンプルを製品機能診断装置で実際に試験を行い（ステップＳ１２）、チェック結果がＯＫである場合に、量産品の機能試験を行っている（ステップＳ１４〜Ｓ１６）。

ＯＫサンプルによる確認でＮＧとなった場合及び、量産品試験で連続してＮＧが発生し且つＯＫサンプルで再チェックしＮＧとなった場合には、図３の故障診断フローに従って診断及び修理を行う。
パソコン自体の確認（ステップＳ１０２）で異常がない場合には、被試験製品と機能試験装置を接続しているハーネスを取り外して、ハーネスに断線等がないか目視での確認を行う（ステップＳ１０５）。

目視での確認で異常がない場合には、ハーネスを元の状態に接続し、ＮＧ項目から、製品図面及び、機能試験装置の図面等を用いて機能試験装置のインターフェースボードの故障していると思われる回路を目視確認する（ステップＳ１１０）。
目視確認で異常がなく、インターフェースボードの予備がある場合には、インターフェースボードを交換して、ＯＫサンプルによる確認（ステップＳ１１８）を行う。なお、インターフェースボードを交換しての確認ができない場合には、該当する回路上のＲＥＬＡＹまたはＳＷ用ＩＣの交換を行い（ステップＳ１１４）、ＯＫサンプルの確認を行う。
以上の従来の処理において、機能診断装置の自己診断については、上記で説明のように、作業時間がかかり、作業に困難性があるものであった。
本実施例１では、これらの問題を解決したものである。

[機能診断装置の自己診断処理]
図４に示すには、実施例１の機能診断装置で実行する自己診断処理の流れを示すフローチャートで、以下各ステップについて説明する。

ステップＳ３１では、故障診断処理を開始する。

ステップＳ３２では、パソコン稼動状態をチェックする。

ステップＳ３３では、異常の有無を判断し、異常がある場合にはステップＳ４４に進み、異常がない場合にはステップＳ３４へ進む。

ステップＳ３４では、機能診断装置１に被試験製品の代わりにストレート接続ボックス６を取り付ける。

ステップＳ３５では、自己診断を行う。

ステップＳ３６では、ハーネスを変更した後でチェックを行う。

ステップＳ３７では、自己診断を行う。

ステップＳ３８では、異常の有無を判断し、異常がある場合にはステップＳ３９に進み、異常がない場合にはステップＳ４４へ進む。

ステップＳ３９では、機能診断装置１に被試験製品の代わりにクロス接続ボックス７を取り付ける。

ステップＳ４０では、自己診断を行う。

ステップＳ４１では、故障部位の特定を行う。

ステップＳ４２では、故障部位の特定ができたかどうかを判断し、できたならばステップＳ４４へ進み、できないならばステップＳ４３へ進む。

ステップＳ４３では、修理段階の次のレベルであるレベル２の修理を行う。
つまり、さらに専門の人による調査や修理などである。

ステップＳ４４では、不具合箇所の修理を行う。

ステップＳ４５では、ＯＫサンプルによる確認を行う。

ステップＳ４６では、チェック結果を判断し、ＯＫならば処理を終了し、ＮＧならばステップｓ４３へ進む。

[機能診断装置の自己診断作用]
図５は実施例１の機能診断装置の自己診断方法におけるストレート接続ボックスに接続した状態を示す説明図である。図６は実施例１の機能診断装置の自己診断方法におけるクロス接続ボックスに接続した状態を示す説明図である。図７は実施例１の機能診断装置の自己診断方法におけるハーネスを取り替えて接続した状態を示す説明図である。

本実施例１の機能診断装置１の自己診断方法では、図２の作業処理において、機能試験装置を立ち上げる際に、図５に示すようにストレート接続ボックス６を用いて自己診断プログラムによる自己診断を行い、被試験製品４に対応した試験プログラムの選択後に行っている、被試験製品のＯＫサンプルによる試験を廃止する。

自己診断による確認でＮＧになった場合、及び量産品試験で連続してＮＧが発生した場合には、図４の故障診断フローに従って診断及び修理を行う。
パソコン自体の確認（ステップＳ３２）で異常がない場合には、ストレート接続ボックス６にて自己診断を行い（ステップＳ３５）、その結果をパソコンの画面上で表示する。

次に、被試験製品４と機能診断装置１を接続しているハーネス５を試験用ハーネス８に変更して、自己診断を行い（ステップＳ３７）、ここでＯＫであれば、交換したハーネスで、パソコン画面で表示している端子がＮＧであることが判別できる。

ハーネスを交換しての自己診断でもＮＧであった場合には、図６に示すように、クロス接続ボックス７に接続し、自己診断を行い、ＮＧ項目から、入力部、出力部、どちらの回路の故障であるかが特定できる。このデータを基に、パソコン２上で対応するインターフェースボード番号、回路番号等をパソコン２の画面上に表示させる。

さらに、本実施例１の機能診断装置の自己診断方法の作用について、言い換えて説明する。
実施例１の機能診断装置１では、出力回路３１及び出力コネクタ３３と、入力回路３２及び入力コネクタ３４がそれぞれ２系統であり、出力側は、オープン／電圧（Ｈｉ）とオープン／電圧（Ｌｏ）である。入力回路３２は、スレッシュ電圧（Ｈｉ・Ｌｏ）２系統によるオンオフ判断（オープンコレクタ検知）である。

そのため、ストレート接続した際には、Ｈｉ側出力をＨｉ側入力、Ｌｏ側出力をＬｏ側入力となり、クロス接続させた際には、Ｈｉ側出力をＬｏ側入力、Ｌｏ側出力をＨｉ側入力となり、同じ出力（例えばオンオフ出力）に対しても、異なる検出結果となる。また、同じ検出結果となる場合もある。このことと、出力信号を変化させるなどを組合せる自己診断プログラムを実行させることによって、特定が可能になるのである。

本実施例１では、この自己診断プログラムの内容については詳細には説明しないが、ここで説明のように、接続状態の違いにより検出結果が異なる場合、同じ場合の組合せが故障箇所の特定に充分に寄与することは明らかである。
また、このような自己診断が、従来のように、製品側をＯＫサンプルに固定して、機能診断装置側をテスターや回路交換、リレーやＩＣの交換などを行う従来の診断に比較してその作業時間と作業の容易性で有利であることも明らかである。

次に、効果を説明する。
実施例１の機能診断装置の自己診断方法にあっては、下記に列挙する効果を得ることができる。

(1)２系統の出力回路３１及び出力コネクタ３３で被試験製品４への出力を行い、２系統の入力回路３２及び入力コネクタ３４で被試験製品４からの入力を行い、パソコン２による試験プログラムの実行により被試験製品４の機能を診断する機能診断装置１において、機能診断装置１の２系統の出力回路３１及び出力コネクタ３３と入力回路３２及び入力コネクタ３４をそれぞれストレート接続するストレート接続ボックス６と、機能診断装置１の２系統の出力回路３１及び出力コネクタ３３と入力回路３２及び入力コネクタ３４をそれぞれクロス接続するクロス接続ボックス７とを備え、機能診断装置１の診断は、ストレート接続ボックス６を用いた状態での自己診断と、クロス接続ボックス７を用いた状態での自己診断とを行って、違う接続状態における診断結果から故障箇所を特定するようにしたため、作業の容易化と作業時間の短縮を向上させることができる。

さらに効果について説明する。
実施例１の機能診断装置の自己診断方法により、各製品単位でのＯＫサンプル確認の廃止ができ、作業時間の短縮ができる。このことは、生産性の向上につながるものである。なぜならば、通常の生産開始時等で行う必要が従来では生じるからである。
また、出力回路３１及び入力回路３２での不具合箇所の特定が容易になり、作業容易化、作業時間の短縮化を行うことができる。つまり、ボックスの取替え作業を行えばよく、機能診断装置自体の構造を熟知している必要なく、不具合箇所の特定ができる。
また、ストレート接続ボックス６及びクロス接続ボックス７は、使用する装置が簡単であり、製作及び維持のための費用が低く抑えることができる。

(2)ストレート接続ボックス６及びクロス接続ボックス７では、機能診断装置と前記被試験製品４を電気的に接続するハーネスに対して、被試験製品４に相当するものを接続し、それぞれストレート接続及びクロス接続を行うようにし、ストレート接続ボックス６を用いた状態での自己診断に加えて、ハーネスを予め正常であることを確認した別のハーネスに取り替えて、自己診断を行うことで、ハーネスの異常有無を検出できるようにしたため、ハーネス異常を容易に短時間で検出でき、作業の容易化と作業時間の短縮を向上させることができる。

以上、本発明の機能診断装置の自己診断方法を実施例１に基づき説明してきたが、具体的な構成については、これらの実施例に限られるものではなく、特許請求の範囲の各請求項に係る発明の要旨を逸脱しない限り、設計の変更や追加等は許容される。
実施例１における入力回路３２はオープンコレクタ検知であったが、他の検知回路であってもよい。

実施例１の機能診断装置の説明図である。 実施例１の機能診断装置を用いる製品試験作業の流れを示すフローチャートである。 従来において実行される機能診断処理の流れを示すフローチャートである。 実施例１の機能診断装置で実行する自己診断処理の流れを示すフローチャートである。 実施例１の機能診断装置の自己診断方法におけるストレート接続ボックスに接続した状態を示す説明図である。 実施例１の機能診断装置の自己診断方法におけるクロス接続ボックスに接続した状態を示す説明図である。 実施例１の機能診断装置の自己診断方法におけるハーネスを取り替えて接続した状態を示す説明図である。

符号の説明

１ 機能診断装置
２ パソコン
３ インターフェース部
４ 被試験製品
５ ハーネス
６ ストレート接続ボックス
７ クロス接続ボックス
８ 試験用ハーネス
３１ 出力回路
３２ 入力回路
３３ 出力コネクタ
３４ 入力コネクタ

Claims (2)

1. ２系統の出力部で電子製品への出力を行い、２系統の入力部で前記電子製品からの入力を行い、試験プログラムの実行により前記電子製品の機能を診断する機能診断装置において、
   前記機能診断装置の２系統の出力部と入力部をそれぞれストレート接続するストレート接続手段と、
   前記機能診断装置の２系統の出力部と入力部をそれぞれクロス接続するクロス接続手段と、
   を備え、
   前記機能診断装置の診断は、前記ストレート接続手段を用いた状態での自己診断と、前記クロス接続手段を用いた状態での自己診断とを行って、違う接続状態における診断結果から故障箇所を特定するようにした、
   ことを特徴とする機能診断装置の自己診断方法。
2. 請求項１に記載の機能診断装置の自己診断方法において、
   前記ストレート接続手段及び前記クロス接続手段では、
   前記機能診断装置と前記電子製品を電気的に接続するハーネスに対して、電子製品に相当するものを接続し、それぞれストレート接続及びクロス接続を行うようにし、
   前記ストレート接続手段を用いた状態での自己診断に加えて、前記ハーネスを予め正常であることを確認した別のハーネスに取り替えて、自己診断を行うことで、ハーネスの異常有無を検出できるようにした、
   ことを特徴とする機能診断装置の自己診断方法。
   

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