KR100674239B1 - Lcd 모듈 검사 장치 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (5)
- LCD 모듈 검사 장치에 있어서,제 1 신호와 제 2 신호를 출력하는 아날로그 패턴 발생기,상기 제 1 신호를 수신하여 상기 LCD 모듈에 대한 디지털 기능의 검사가 가능하도록 제 3 신호로 변환하는 디지털 기능 검사부, 및상기 제 2 신호를 수신하여 상기 LCD 모듈의 아날로그 기능 및 DDC 기능을 검사하는 아날로그/DDC 검사부를 일체로 구비하는 LCD 모듈 검사 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 아날로그 패턴 발생기의 동작은 제어 컴퓨터의 제어에 의하여 수행되는 것을 특징으로하는 LCD 모듈 검사 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 제 2 신호는 아날로그 신호이며, 상기 아날로그/DDC 검사부는 제어 컴퓨터로부터 전송되는 제어 신호를 수신하여 상기 LCD 모듈에 대한 아날로그 기능과 DDC 기능을 선택적 혹은 병행적으로 수행하는 것을 특징으로하는 LCD 모듈 검사 장치.
- 삭제
- 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 신호 및 제 3 신호는 디지털 신호이며, 상기 제 1 신호는 TTL 레벨 신호이고, 상기 제 3 신호는 LVDS 레벨 신호인 것을 특징으로하는 LCD 모듈 검사 장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020030019942A KR100674239B1 (ko) | 2003-03-31 | 2003-03-31 | Lcd 모듈 검사 장치 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020030019942A KR100674239B1 (ko) | 2003-03-31 | 2003-03-31 | Lcd 모듈 검사 장치 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20040085299A KR20040085299A (ko) | 2004-10-08 |
KR100674239B1 true KR100674239B1 (ko) | 2007-01-25 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020030019942A KR100674239B1 (ko) | 2003-03-31 | 2003-03-31 | Lcd 모듈 검사 장치 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100674239B1 (ko) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20190073700A (ko) | 2017-12-19 | 2019-06-27 | 학교법인 김천대학교 | Lcd모듈 검사시스템 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100732617B1 (ko) * | 2004-11-18 | 2007-06-27 | (주)동아엘텍 | 이중시험 화면 출력기능을 이용한 tft-lcd모듈 시험장치 및 방법 |
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- 2003-03-31 KR KR1020030019942A patent/KR100674239B1/ko active IP Right Grant
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20190073700A (ko) | 2017-12-19 | 2019-06-27 | 학교법인 김천대학교 | Lcd모듈 검사시스템 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20040085299A (ko) | 2004-10-08 |
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