KR20040085299A - Ｌｃｄ 모듈 검사 장치 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 LCD 모듈에 대한 아날로그, 디지털 테스트, 및 DDC 테스트를 통합적으로 수행할 수 있는 LCD 모듈 검사 장치에 관한 것으로, 제 1 신호와 제 2 신호를 출력하는 아날로그 패턴 발생기,상기 제 1 신호를 수신하여 상기 LCD 모듈의 디지털 기능을 검사하는 디지털 기능 검사부, 및 상기 제 2 신호를 수신하여 상기 LCD 모듈의 아날로그 기능 및 DDC 기능을 검사하는 아날로그/DDC 검사부를 일체로 구비한다.
본 발명의 실시예에 따를 경우, 작업자 한 명이 LCD 모듈에 대한 전체 기능을 검사할 수 있으므로 매우 효율적이며, 종래와 달리 작업에 불편함이 없다는 장점이 있음을 알 수 있다.
Description
본 발명은 LCD 모듈 검사 장치에 관한 것으로, 특히 LCD 모듈에 대한 아날로그, 디지털 테스트, 및 DDC 테스트를 통합적으로 수행할 수 있는 LCD 모듈 검사 장치에 관한 것이다.
일반적으로, LCD 모듈을 완성한 후에는 정상적인 동작이 가능한지 여부를 검사하기 위하여 일련의 신호를 LCD 모듈에 인가하여 검사하는 단계가 필요한 데, 기존 LCD 제조사의 경우 주로 디지털 신호를 필요로 하는 LCD 모듈을 테스트 하기 위하여 디지털 전용 테스트 장비를 사용하였고, 아날로그 기능이 있는 i-Module/Smart Panel 등의 제품에 대해서는 아날로그 패턴 발생기가 있는 Chroma 장비를 사용하였다. 또한, 아날로그 기능이 있는 LCD 모듈의 DDC(Display Data Generater) 테스트는 별도의 DDC 테스트 장비를 사용하여 테스트 하였다.
도 1a, 1b, 1c 는 일반적으로 수행되고 있는 LCD 모듈 검사 장치를 설명하기 위한 도면으로, 도 1a 는 아날로그 패턴 발생기를 이용하여 LCD 모듈의 아날로그 기능을 검사하는 방법을 도시하며, 도 1b 는 디지털 검사 장비를 이용하여 LCD 모듈의 디지털 기능을 검사하는 방법을 도시하고, 도 1c 는 DDC 검사 장비를 이용하여 LCD 모듈에 대한 DDC 기능을 검사하는 방법을 도시한다.
도 2a, 2b, 2c 는 도 1 에 도시한 LCD 모듈 검사 장치를 사용하여 LCD 모듈을 검사하는 일반적인 단계를 흐름도로 도시하고 있다. 도시된 바와같이, 종래의 경우, 각 검사 단계는 개별적으로 수행되고 있음을 알 수 있다.
예컨대, 도 2a, 2b 에서 알 수 있듯이, 종래의 경우 LCD 모듈의 아날로그 기능 및 DDC 기능 및 디지털 기능을 검사하기 위해서, 먼저 LCD 모듈과 검사 장비간에 커넥터를 체결시킨 다음 원하는 검사를 수행하고 있다. 즉, LCD 모듈에 대한 아날로그 기능, DDC 기능, 디지털 기능을 검사하기 위해서는 먼저 아날로그 패턴 발생기와 LCD 모듈간에 커넥터를 체결하여 아날로그 기능을 검사한 후 커넥터를 분리한다. 다음, DDC 기능을 검사하기 위하여 DDC 검사 장비와 LCD 모듈간에 필요한커넥터를 체결하여 DDC 기능을 검사한 후 커넥터를 분리한다. 마지막으로, 디지털 기능을 검사하기 위하여 디지털 검사 장비와 LCD 모듈간에 커넥터를 체결하여 디지털 기능을 검사한 후 커넥터를 분리하고, LCD 모듈 제품을 다음 작업 단계로 인계한다.
도 2c 는 아날로그/디지털 기능을 겸용하는 LCD 모듈에 대한 검사 방법을 도시한 것으로, 그 방법은 도 2a, 2b 와 사실상 동일하므로, 반복적인 설명은 생략하기로 한다.
이상에서 알 수 있듯이, 전술한 종래의 검사 장비와 검사 방법을 사용하는 경우 그 작업 과정이 불편하고 복잡함을 알 수 있고, 또한 검사 단계별로 작업자가 필요하였으므로 그 업무가 매우 비효율적이었다.
본 발명은 전술한 종래의 문제점을 해결하기 위하여 제안된 것으로, LCD 모듈에 대하여 개별적으로 수행되던 각 기능을 통합적으로 수행할 수 있는 검사 장비를 제공하는 것이다.
도 1a, 1b, 1c 는 일반적으로 수행되고 있는 LCD 모듈 검사 장치를 설명하기 위한 도면.
도 2a, 2b, 2c 는 도 1 에 도시한 LCD 모듈 검사 장치를 사용하여 LCD 모듈을 검사하는 일반적인 단계를 설명하는 흐름도.
도 3 은 본 발명의 실시예에 따른 LCD 모듈 검사 장치를 도시한 도면.
도 4는 제어 컴퓨터를 통하여 작업자가 어떻게 상기의 작업을 수행하는 가를 설명하는 도면.
도 5는 본 발명에 따른 LCD 모듈 검사 장치를 이용한 검사 방법을 설명하는 흐름도.
본 발명에 따른 실시예로서의 LCD 모듈 검사 장치는 제 1 신호와 제 2 신호를 출력하는 아날로그 패턴 발생기, 제 1 신호를 수신하여 LCD 모듈의 디지털 기능을 검사하는 디지털 기능 검사부, 및 제 2 신호를 수신하여 LCD 모듈의 아날로그 기능 및 DDC 기능을 검사하는 아날로그/DDC 검사부를 일체로 구비한다.
본 발명의 일실시예에서, 아날로그 패턴 발생기의 동작은 제어 컴퓨터의 제어에 의하여 수행된다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 있어서, 제 2 신호는 아날로그 신호이며, 아날로그/DDC 검사부는 제어 컴퓨터로부터 전송되는 제어 신호를 수신하여 LCD 모듈에 대한 아날로그 기능과 DDC 기능을 선택적 혹은 병행적으로 수행한다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 있어서, 디지털 기능 검사부는 제 1 신호를 상기 LCD 모듈에 대한 디지털 기능의 검사가 가능하도록 제 3 신호로 변환한다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 있어서, 제 1 신호 및 제 3 신호는 디지털 신호이며, 제 1 신호는 TTL 레벨 신호이고, 제 3 신호는 LVDS 레벨 신호이다.
(실시예)
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 대하여 보다 구체적으로 설명하기로 한다.
도 3 은 본 발명의 실시예에 따른 LCD 모듈 검사 장치를 도시한다.
도시된 바와같이, 본 발명의 실시예인 LCD 모듈 검사 장치는 TTL 레벨의 디지털 신호인 제 1 신호와 아날로그 신호인 제 2 신호를 출력하는 아날로그 패턴 발생기, 제 1 신호를 수신하여 LCD 모듈의 디지털 기능을 검사하는 디지털 기능 검사부, 및 제 2 신호를 수신하여 상기 LCD 모듈의 아날로그 기능 및 DDC 기능을 검사하는 아날로그/DDC 검사부를 일체로 구비한다. 본 발명에 있어서, 아날로그 패턴 발생기 및 아날로그/DDC 검사부의 동작은 제어 컴퓨터의 제어에 의하여 수행된다.
도시된 바와같이, 먼저, 제 1 신호를 출력하는 동작과 관련하여, 아날로그 패턴 발생기에 디지털 보드를 부착하여 디지털 신호를 출력한다. 본 발명의 실시예에서, 디지털 보드로부터 출력되는 신호는 TTL 레벨의 디지털 신호이다. TTL 레벨의 디지털 신호는 TTL 신호를 TMDS(Transition Minimized Differential Signaling) 신호로 변화시키는 어댑터 카드부로 인가되며, 어댑터 카드부의 출력신호는 수신 보드로 인가된다. 수신보드는 입력된 TMDS 신호를 TTL 신호로 전환시킨다. 수신 보드의 출력신호는 TTL 신호를 LVDS(Low Voltage Differential Signaling) 신호로 변환하는 또 다른 어댑터 카드로 인가되며, 이 어댑터 카드의 출력신호는 LCD 모듈에 대한 디지털 기능을 검사하는 신호로 사용된다. 이 경우, LCD 모듈의 사양이 다른 경우, 어댑터 카드를 변경하여 검사에 적합한 디지털 신호를 인가할 수 있다.
다음, 제 2 신호를 출력하는 동작과 관련하여, 아날로그/DDC 검사부는 제 1 신호를 아날로그 패턴 발생부로부터 수신하여 TFT 모듈에 대한 아날로그 기능 및 DDC 기능을 검사하는 신호를 출력한다. 이 경우, 아날로그/DDC 검사부로부터 출력되는 아날로그 신호는 Mode 변환에 따른 검사가 가능하며, DDC 검사는 아날로그/DDC 검사부의 내부에 구현된 FPGA 로직 회로부에 의하여 수행된다. 아날로그/DDC 검사부의 동작은 제어 컴퓨터에 의하여 통제된다.
도 4는 제어 컴퓨터를 통하여 작업자가 어떻게 상기의 작업을 수행하는 가를 설명하는 도면이다.
도시된 바와같이, 작업자는 제어 컴퓨터상에서 본 발명에 따른 LCD 모듈 검사 장치의 동작을 제어하는 프로그램을 가동한 후, 시작 버튼을 선택(마우스로 클릭)한 다음, LCD 모듈에 대한 검사를 위한 모드를 선택하게 되며, 이러한 과정은프로그램을 구현하는 방법에 따라서 다양하게 변형할 수 있을 것이다. 최종, 검사가 종료된 후, 작업자는 종료 버튼을 선택하여 작업을 끝내게 된다.
도 5는 본 발명에 따른 LCD 모듈 검사 장치를 이용한 검사 방법을 설명하는 흐름도이다.
도시된 바와같이, 본 발명에 따른 검사 장치를 이용하는 경우, 아날로그 기능, 디지털 기능, 또는 DDC 기능을 검사하기 위하여 LCD 모듈의 특정 부위와 커넥터를 체결한 후, 그에 대응하는 기능 검사를 제어 컴퓨터상에서 선택함으로써 필요한 작업을 용이하게 종료할 수 있다.
본 발명에 따른 각 검사는 동시 또는 순차적으로 가능하며, 이는 제어 컴퓨터에 설치된 구동 프로그램에 따라 변형 가능하다.
이상에서 살펴 본 바와같이, 본 발명의 실시예에 따를 경우, 종래의 경우와 달리 작업자 한 명이 LCD 모듈에 대한 전체 기능을 검사할 수 있으므로 매우 효율적이며, 종래와 달리 작업에 불편함이 없다는 장점이 있음을 알 수 있다.
Claims (5)
- LCD 모듈 검사 장치에 있어서,제 1 신호와 제 2 신호를 출력하는 아날로그 패턴 발생기,상기 제 1 신호를 수신하여 상기 LCD 모듈의 디지털 기능을 검사하는 디지털 기능 검사부, 및상기 제 2 신호를 수신하여 상기 LCD 모듈의 아날로그 기능 및 DDC 기능을 검사하는 아날로그/DDC 검사부를 일체로 구비하는 LCD 모듈 검사 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 아날로그 패턴 발생기의 동작은 제어 컴퓨터의 제어에 의하여 수행되는 것을 특징으로하는 LCD 모듈 검사 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 제 2 신호는 아날로그 신호이며, 상기 아날로그/DDC 검사부는 제어 컴퓨터로부터 전송되는 제어 신호를 수신하여 상기 LCD 모듈에 대한 아날로그 기능과 DDC 기능을 선택적 혹은 병행적으로 수행하는 것을 특징으로하는 LCD 모듈 검사 장치.
- 제 1 항에 있어서, 상기 디지털 기능 검사부는 상기 제 1 신호를 상기 LCD 모듈에 대한 디지털 기능의 검사가 가능하도록 제 3 신호로 변환하는 것을 특징으로하는 LCD 모듈 검사 장치.
- 제 4 항에 있어서, 상기 제 1 신호 및 제 3 신호는 디지털 신호이며, 상기 제 1 신호는 TTL 레벨 신호이고, 상기 제 3 신호는 LVDS 레벨 신호인 것을 특징으로하는 LCD 모듈 검사 장치.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1020030019942A KR100674239B1 (ko) | 2003-03-31 | 2003-03-31 | Ｌｃｄ 모듈 검사 장치 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20040085299A true KR20040085299A (ko) | 2004-10-08 |
| KR100674239B1 KR100674239B1 (ko) | 2007-01-25 |
Family
ID=37368311
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020030019942A KR100674239B1 (ko) | 2003-03-31 | 2003-03-31 | Ｌｃｄ 모듈 검사 장치 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR100674239B1 (ko) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100732617B1 (ko) * | 2004-11-18 | 2007-06-27 | (주)동아엘텍 | 이중시험 화면 출력기능을 이용한 ｔｆｔ-ｌｃｄ모듈 시험장치 및 방법 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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-
2003
- 2003-03-31 KR KR1020030019942A patent/KR100674239B1/ko active IP Right Grant
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|---|---|---|---|---|
| KR100732617B1 (ko) * | 2004-11-18 | 2007-06-27 | (주)동아엘텍 | 이중시험 화면 출력기능을 이용한 ｔｆｔ-ｌｃｄ모듈 시험장치 및 방법 |
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|---|---|
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