CN111405202B - Tconless主板信号转换装置及检测系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种TCONLESS主板信号转换装置及检测系统。本发明通过在TCONLESS主板中内置SOC芯片，在TCONLESS主板上设置有信号切换测试点及屏信号输出接口，在信号切换测试点为第一电平时，通过SOC芯片切换屏信号，获得待转换屏信号；屏信号输出接口与信号转接板连接，将待转换屏信号发送至信号转接板；信号转接板与测试装置连接，通过线序转换将待转换屏信号转换成兼容测试装置的预设信号。其中，通过TCONLESS主板和信号转接板的信号转换，使需要检测的信号兼容测试装置，进而兼容普通液晶屏，解决了需要专用液晶屏完成主板检测的技术问题，提高了检测效率。

Description

TCONLESS主板信号转换装置及检测系统

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，尤其涉及一种TCONLESS主板信号转换装置及检测系统。

背景技术

液晶电视正常显示时一般需要TCON(Time Control，逻辑板)提供给液晶屏可以直接使用的DATA数据信号及驱动控制信号。目前电视市场上TCON存在形式主要有两种：一种是单独的TCON，靠近液晶屏端有单独的TCON板，将电视主板输出信号经过转换后送给液晶屏。另一种是TCONLESS方案，TCON内置于电视主板内，直接输出P2P(Point to Point，点对点)信号送到液晶屏显示。

随着技术的发展，以及市场竞争日益激烈，市场对液晶电视的成本提出了更高的要求，而将液晶屏的TCON整合到电视主板上、并进一步将TCON整合到SOC芯片中可有效降低成本，因此此类电视主板逐渐成为主流。电视主板中集成TCON芯片或将TCON芯片集成在SOC芯片中，此类主板通常简称为TCONLESS主板。

在TCONLESS主板的生产测试环节，通常是FCT(Functional Circuit Test，功能测试)测试仪将主板输出的V-BY-ONE信号、LVDS信号和MINI LVDS信号转换为VGA信号或HDMI信号，然后进行自动测试，确保主板各功能正常。然而目前不同厂家的液晶面板规格信息和通信协议存在差异，如EPI协议、CEDS协议等，生产检测过程中，当TCONLESS主板采用上述非标准协议的规格时，无法使用FCT测试仪自动检测，而是需要准备相应规格的液晶屏，才能点亮TCONLESS主板，生产检测成本高且效率低。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种TCONLESS主板信号转换装置及检测系统，旨在解决现有技术中使用非标准协议进行生产测试需要专用液晶屏导致成本高且效率低的技术问题。

为实现上述目的，本发明提供一种TCONLESS主板信号转换装置，所述TCONLESS主板信号转换装置包括TCONLESS主板及信号转接板；其中，

所述TCONLESS主板，内置SOC芯片，所述TCONLESS主板上设置有信号切换测试点及屏信号输出接口，所述屏信号输出接口与所述信号转接板连接；所述TCONLESS主板用于在所述信号切换测试点为第一电平时，通过所述SOC芯片切换屏信号，获得待转换屏信号，并通过所述屏信号输出接口发送所述待转换屏信号至所述信号转接板；

信号转接板，与测试装置连接，用于将所述待转换屏信号转换成预设信号，所述预设信号兼容所述测试装置。

优选地，所述屏信号输出接口包括第一屏信号输出接口及第二屏信号输出接口，所述第一屏信号输出接口及所述第二屏信号输出接口均与所述信号转接板连接。

优选地，所述第一屏信号输出接口及所述第二屏信号输出接口均兼容所述待转换信号。

优选地，所述第一屏信号输出接口及所述第二屏信号输出接口为EPI接口或CEDS接口。

优选地，所述信号切换测试点通过所述屏信号输出接口与所述SOC芯片连接，或所述信号切换测试点与所述SOC芯片连接。

优选地，所述信号转接板包括第一输入接口、第二输入接口及输出接口；所述第一输入接口与所述第一屏信号输出接口连接，所述第二输入接口与所述第二屏信号输出接口连接，所述输出接口与所述测试装置连接。

优选地，所述TCONLESS主板上还设置有控制信号测试点，所述信号转接板还包括第三输入接口，所述控制信号测试点与所述第三输入接口连接，所述控制信号测试点将控制信号发送至所述第三输入接口。

本发明还提出一种TCONLESS主板检测系统，所述TCONLESS主板检测系统包括测试装置及如上所述的TCONLESS主板信号转换装置；所述测试装置分别与所述信号转接板及显示屏连接。

优选地，所述信号转接板与所述信号切换测试点连接。

优选地，还包括检测工装，所述检测工装分别与所述TCONLESS主板、所述信号转接板及所述测试装置连接，所述检测工装还通过顶针与所述信号切换测试点连接。

本发明公开了一种TCONLESS主板信号转换装置及检测系统。本发明通过在TCONLESS主板信号转换装置中设置TCONLESS主板及信号转接板；其中，TCONLESS主板内置SOC芯片，TCONLESS主板上设置有信号切换测试点及屏信号输出接口，在信号切换测试点为第一电平时，通过SOC芯片切换屏信号，获得待转换屏信号；屏信号输出接口与信号转接板连接，将待转换屏信号发送至信号转接板；信号转接板与测试装置连接，通过线序转换将待转换屏信号转换成兼容测试装置的预设信号。其中，通过TCONLESS主板和信号转接板的信号转换，使需要检测的信号兼容测试装置，进而兼容普通液晶屏，解决了需要专用液晶屏完成主板检测的技术问题，提高了检测效率，降低了检测成本。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。

图1是本发明TCONLESS主板信号转换装置一实施例的结构示意图；

图2是图1中屏信号输出接口信号物理兼容一实施例的结构示意图；

图3是图1中信号转接板一实施例的结构示意图；

图4是TCONLESS主板检测系统一实施例的结构示意图；

图5是TCONLESS主板检测系统另一实施例的结构示意图。

附图标号说明：

标号	名称	标号	名称
				10	TCONLESS主板	R	电阻
20	信号转接板	CN1	第一输入接口
				30	测试装置	CN2	第二输入接口
40	检测工装	CN3	第三输入接口
				50	显示屏	OUT	转接板输出接口
J	屏信号输出接口	P1	信号切换测试点
				J1	第一屏信号输出接口	P2	控制信号测试点
J2	第二屏信号输出接口

本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

需要说明，若本发明实施例中有涉及方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)，则该方向性指示仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。

另外，若本发明实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本发明要求的保护范围之内。

本发明提供一种TCONLESS主板信号转换装置，参照图1，在一实施例中，所述TCONLESS主板信号转换装置包括TCONLESS主板10及信号转接板20；其中，所述TCONLESS主板10，内置SOC芯片(未标示)，所述TCONLESS主板10上设置有信号切换测试点P1及屏信号输出接口J，所述屏信号输出接口J与所述信号转接板20连接；所述TCONLESS主板10用于在所述信号切换测试点P1为第一电平时，通过所述SOC芯片切换屏信号，获得待转换屏信号，并通过所述屏信号输出接口J发送所述待转换屏信号至所述信号转接板20；信号转接板20，与测试装置30连接，用于将所述待转换屏信号转换成预设信号，所述预设信号兼容所述测试装置30。

需要说明的是，在生产测试环节，TCONLESS主板10通常通过屏信号输出接口J将TCON芯片提供的DATA数据信号及驱动控制信号(如V-BY-ONE信号、LVDS信号或MINI LVDS信号)发送至测试装置30，如FCT测试仪，测试装置30将上述信号转换为VGA或HDMI信号，然后进行自动测试。然而，当TCONLESS主板10的屏信号输出接口J为EPI接口或其他非标准协议接口时，在生产测试环节中，测试装置30通常无法兼容该屏信号输出接口J输出的信号，无法自动测试，从而需要连接专用液晶屏，导致生产测试成本较高并且效率低。本实施例通过在TCONLESS主板10上预留信号切换测试点P1，同时在主板硬件上对屏信号输出接口J进行物理兼容，通过SOC芯片实现在信号切换测试点P1为第一电平时，将主板输出的屏信号切换为预制的可被测试装置30解析的屏信号，再使用信号转接板20通过调整线序实现转接板输出接口OUT与测试装置30接口兼容，使测试装置30进行自动测试。

可理解的是，TCONLESS主板10通过设置信号切换测试点P1，可以实现输出信号的切换，作为一实施例，当信号切换测试点P1为低电平时，SOC芯片将TCONLESS主板10输出的屏信号切换为预制的可被FCT测试仪解析的信号，如V-BY-ONE信号或LVDS信号；信号切换测试点P1为高电平时，TCONLESS主板10输出的屏信号保持为实际的P2P信号，如CEDS信号或EPI信号。

需要说明的是，信号切换测试点P1可以通过屏信号输出接口J与SOC芯片连接，也可以直接与SOC芯片连接。当信号切换测试点P1与屏信号输出接口J连接时，通过对信号转接板20做拉低处理，可以实现信号切换点P1为低电平，同时，屏信号输出接口J与SOC芯片连接，使SOC芯片检测到该低电平，并切换屏信号。当信号切换测试点P1与SOC芯片连接时，可以通过其他设备(如检测工装)做拉低处理，实现信号切换点P1为低电平，由于信号切换测试点P1与SOC芯片连接，SOC芯片可以检测到该低电平，并切换屏信号。

在具体实现中，TCONLESS主板10中可以分别集成TCON芯片(图未示)及SOC芯片，也可以将TCON芯片集成在SOC芯片中，当分别集成TCON芯片及SOC芯片时，TCON芯片与SOC芯片连接；当TCON芯片集成在SOC芯片中时，可以有效节约产品成本。无论TCON芯片是否集成在SOC芯片中，均由TCON芯片输出DATA数据信号及驱动控制信号，即待转换信号。

进一步地，所述屏信号输出接口J包括第一屏信号输出接口J1及第二屏信号输出接口J2，所述第一屏信号输出接口J1及所述第二屏信号输出接口J2均与所述信号转接板20连接。

应当理解的是，当TCON芯片集成在SOC芯片中时，TCON芯片分别与所述第一屏信号输出接口J1及所述第二屏信号输出接口J2连接，以将TCON芯片提供的待转换屏信号发送至信号转接板20。

需要说明的是，为了保障屏信号输出接口可以将待转换屏信号成功发送，所述第一屏信号输出接口J1及所述第二屏信号输出接口J2均需要兼容待转换信号。其中，所述第一屏信号输出接口J1及所述第二屏信号输出接口J2可以为EPI接口、CEDS接口或其他格式的接口。

作为一实施例，请一并参照图2，当第一屏信号输出接口J1及第二屏信号输出接口J2均为EPI接口时，在生产测试过程中，将信号切换测试点P1保持为低电平，TCONLESS主板10输出V-BY-ONE信号或LVDS信号(即待转换信号)，该信号需要通过EPI接口传输至测试装置30中，因此，EPI接口需要做物理兼容处理，使其兼容V-BY-ONE信号或LVDS信号(即待转换信号)。图2中，EPI11+、EPI11-、EPI12+、EPI12-为第一屏信号输出接口J1，EPI1+、EPI1-至EPI6+、EPI6-为第二屏信号输出接口J2，所有的EPI接口均兼容V-BY-ONE信号。其中，EPI11+兼容VX1_LANE0P、EPI11-兼容VX1_LANE0N，依次类推。

进一步地，请一并参照图1、图2及图3，所述信号转接板20包括第一输入接口CN1、第二输入接口CN2及转接板输出接口OUT；所述第一输入接口CN1与所述第一屏信号输出接口J1连接，所述第二输入接口CN2与所述第二屏信号输出接口J2连接，所述转接板输出接口OUT与所述测试装置30连接。

应当理解的是，信号转接板20根据TCONLESS主板10屏信号输出接口J物理兼容定义，将需要的DATA数据信号及驱动控制信号的线序进行转换，通过标准屏信号接口(如V-BY-ONE接口或LVDS接口)输出，以实现与测试装置30接口的兼容。

进一步地，所述TCONLESS主板10上还设置有控制信号测试点P2，所述信号转接板20还包括第三输入接口CN3，所述控制信号测试点P2与所述第三输入接口CN3连接。

应当理解的是，考虑到TCON芯片输出的部分控制信号可能无法实现物理兼容，可以在TCONLESS主板10上额外预留控制信号测试点P2，控制信号测试点P2与第三输入接口CN3连接，可以将该部分控制信号传输至信号转接板20，信号转接板20通过将第一输入接口CN1、第二输入接口CN2及第三输入接口CN3接收到的信号进行线序调整，形成标准屏信号。

以下，结合图1至图3，以检测装置为FCT测试仪为例，说明本实施例的工作原理：

TCONLESS主板10在硬件上预留信号切换测试点P1，信号切换测试点P1与主板中SOC芯片的控制引脚相连或信号切换测试点P1与屏信号输出接口J连接，SOC芯片在信号切换测试点P1为低电平时，将主板输出的屏信号切换为预制的可被FCT测试仪解析的信号，如V-BY-ONE信号或LVDS信号；信号切换测试点P1为高电平时，主板输出的屏信号保持为实际的P2P信号，如CEDS信号或EPI信号。同时在硬件上实现对屏信号输出接口J进行不同格式DATA数据信号及驱动控制信号的物理兼容，使屏输出接口可以兼容输出V-BY-ONE信号或LVDS信号。若部分驱动控制信号无法实现物理兼容，则在主板上额外预留控制信号测试点P2。

考虑到屏信号输出接口J为EPI接口等非标准协议接口时，TCONLESS主板10不能输出标准的V-BY-ONE信号或LVDS信号，信号转接板20根据TCONLESS主板10屏信号输出接口J物理兼容定义，将需要的DATA数据信号及驱动控制信号的线序转换成标准屏信号接口，如V-BY-ONE或LVDS接口，实现与FCT测试仪的接口兼容连接，FCT测试仪将屏信号解析并通过显示屏显示出来，测试主板相关功能是否正常。

本实施例通过在TCONLESS主板信号转换装置中设置TCONLESS主板及信号转接板；其中，TCONLESS主板内置SOC芯片，TCONLESS主板上设置有信号切换测试点及屏信号输出接口，在信号切换测试点为第一电平时，通过SOC芯片切换屏信号，获得待转换屏信号；屏信号输出接口与信号转接板连接，将待转换屏信号发送至信号转接板；信号转接板与测试装置连接，通过线序转换将待转换屏信号转换成兼容测试装置的预设信号。其中通过对TCONLESS主板软硬件增加小幅度修改设计，结合信号转接板，使需要检测的信号兼容测试装置，实现使用测试装置对TCONLESS主板进行自动测试，而无需使用配套原装屏，提高了生产效率，降低了生产成本。

请参照图4及图5，本发明还提出一种TCONLESS主板检测系统，所述TCONLESS主板检测系统包括测试装置30及如上所述的TCONLESS主板信号转换装置；所述测试装置30分别与所述信号转接板20及显示屏50连接。

其中，所述TCONLESS主板信号转换装置的结构可参照上述实施例，在此不再赘述；可以理解的是，由于本实施例的TCONLESS主板检测系统采用了上述TCONLESS主板信号转换装置的技术方案，因此所述TCONLESS主板检测系统具有上述所有的有益效果。

请返回参照图4，图4为本发明TCONLESS主板检测系统一实施例的结构示意图。所述信号转接板20与所述信号切换测试点P1连接。

在具体实现中，通过对信号转接板20做拉低处理，可以实现信号切换点P1为低电平，同时，屏信号输出接口J与SOC芯片连接，使SOC芯片检测到该低电平，并切换屏信号。

请返回参照图5，图5为本发明TCONLESS主板检测系统另一实施例的结构示意图。该系统还包括检测工装40，所述检测工装40分别与所述TCONLESS主板10、所述信号转接板20及所述测试装置30连接。

在具体实现中，检测工装40通过顶针与TCONLESS主板10的信号切换测试点P1连接，将信号切换测试点P1电压拉低，并通过顶针将无法实现物理兼容的控制信号测试点P2与信号转接板20连接，同时实现其他测试点与测试装置30连接。

应当理解的是，测试装置30为主板的功能检测装置，比如FCT测试仪等。当信号转接板20输出预设信号(即标准的屏信号)后，FCT测试仪将预设信号解析，通过显示屏50显示出来，并采集主板其他各测试点信号，测试主板相关功能及关键测试点电压是否正常。

本实施例通过在TCONLESS主板上预留信号切换测试点，同时在主板硬件上对屏信号输出接口进行物理兼容，通过信号转换板或检测工装实现信号切换测试点电平转换，通过SOC芯片实现在信号切换测试点为低电平时，将主板输出的屏信号切换为预制的屏信号，再使用信号转接板调整线序与FCT测试仪接口兼容，实现FCT测试仪自动测试，提高了检测效率。

以上仅为本发明的优选实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (9)

1.一种TCONLESS主板信号转换装置，其特征在于，所述TCONLESS主板信号转换装置包括TCONLESS主板及信号转接板；其中，

所述TCONLESS主板，内置SOC芯片，所述TCONLESS主板上设置有信号切换测试点及屏信号输出接口，所述屏信号输出接口与所述信号转接板连接；所述TCONLESS主板用于在所述信号切换测试点为第一电平时，通过所述SOC芯片切换屏信号，获得待转换屏信号，并通过所述屏信号输出接口发送所述待转换屏信号至所述信号转接板；

信号转接板，与测试装置连接，用于将所述待转换屏信号转换成预设信号，所述预设信号兼容所述测试装置，其中，所述信号转接板包括转接板输出接口，所述信号转接板通过调整线序实现所述转接板输出接口与所述测试装置的兼容；

所述TCONLESS主板上还设置有控制信号测试点，所述信号转接板还包括第三输入接口，所述控制信号测试点与所述第三输入接口连接，所述控制信号测试点将控制信号发送至所述第三输入接口。

2.如权利要求1所述的TCONLESS主板信号转换装置，其特征在于，所述屏信号输出接口包括第一屏信号输出接口及第二屏信号输出接口，所述第一屏信号输出接口及所述第二屏信号输出接口均与所述信号转接板连接。

3.如权利要求2所述的TCONLESS主板信号转换装置，其特征在于，所述第一屏信号输出接口及所述第二屏信号输出接口均兼容所述待转换信号。

4.如权利要求3所述的TCONLESS主板信号转换装置，其特征在于，所述第一屏信号输出接口及所述第二屏信号输出接口为EPI接口或CEDS接口。

5.如权利要求3所述的TCONLESS主板信号转换装置，其特征在于，所述信号切换测试点通过所述屏信号输出接口与所述SOC芯片连接，或所述信号切换测试点与所述SOC芯片连接。

6.如权利要求3至5中任一项所述的TCONLESS主板信号转换装置，其特征在于，所述信号转接板包括第一输入接口、第二输入接口及转接板输出接口；所述第一输入接口与所述第一屏信号输出接口连接，所述第二输入接口与所述第二屏信号输出接口连接，所述转接板输出接口与所述测试装置连接。

7.一种TCONLESS主板检测系统，其特征在于，包括测试装置及如权利要求1至6任一项所述的TCONLESS主板信号转换装置；所述测试装置分别与所述信号转接板及显示屏连接。

8.如权利要求7所述的TCONLESS主板检测系统，其特征在于，所述信号转接板与所述信号切换测试点连接。

9.如权利要求7所述的TCONLESS主板检测系统，其特征在于，还包括检测工装，所述检测工装分别与所述TCONLESS主板、所述信号转接板及所述测试装置连接，所述检测工装还通过顶针与所述信号切换测试点连接。

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