CN103376404B - 芯片的输入/输出接口识别方法 - Google Patents

芯片的输入/输出接口识别方法 Download PDF

Info

Publication number
CN103376404B
CN103376404B CN201210127242.8A CN201210127242A CN103376404B CN 103376404 B CN103376404 B CN 103376404B CN 201210127242 A CN201210127242 A CN 201210127242A CN 103376404 B CN103376404 B CN 103376404B
Authority
CN
China
Prior art keywords
input
output interface
oscillograph
chip
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201210127242.8A
Other languages
English (en)
Other versions
CN103376404A (zh
Inventor
黄仁文
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shenzhen Yuzhan Precision Technology Co ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Original Assignee
Shenzhen Yuzhan Precision Technology Co ltd
Hon Hai Precision Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shenzhen Yuzhan Precision Technology Co ltd, Hon Hai Precision Industry Co Ltd filed Critical Shenzhen Yuzhan Precision Technology Co ltd
Priority to CN201210127242.8A priority Critical patent/CN103376404B/zh
Priority to TW101116097A priority patent/TWI547700B/zh
Priority to US13/871,162 priority patent/US9081056B2/en
Publication of CN103376404A publication Critical patent/CN103376404A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN103376404B publication Critical patent/CN103376404B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/31712Input or output aspects
    • G01R31/31715Testing of input or output circuits; test of circuitry between the I/C pins and the functional core, e.g. testing of input or output driver, receiver, buffer

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

一种芯片的输入/输出接口识别方法,包括步骤:驱动该芯片,使该芯片工作;利用一示波器测试的探针检测该至少一输入/输出接口上的信号波形,并对应显示该信号的波形图像;利用人体接触该示波器的探针,以将人体中的电荷传导至该示波器的探针上,并同时观察波形变化,其中,当该示波器上显示的对应波形图像改变时,表示该至少一输入/输出接口处于输入状态;当该示波器上显示对应该信号的波形图像未改变时,表示该至少一输入/输出接口处于输出状态。

Description

芯片的输入/输出接口识别方法
技术领域
本发明涉及一种接口处于输入/输出状态的识别方法,特别涉及一种芯片的输入/输出接口(I/O接口)处于输入状态或者输出状态的识别方法。
背景技术
电子产品在人们的生活、生产越来越广泛地应用,例如家电、消费性电子产品或者大型生产设备等。一般来说,电子产品均使用具有多个分立电子元件与集成电路芯片的电路板,同时配合一定软件程序来完成驱动、信号处理及传输等功能。例如:电脑的主板,是通过信号线将多个集成芯片和电子元件进行电连接,从而实现信号在不同电子元件中的传递。
然而,信号在不同电子元件之间传递时,由于软件程序或者硬件的原因,常常出现通信混乱的现象,想要了解通信混乱现象的原因,通常首先会查看作为信号输入/输出的接口处于输入状态还是输出状态,一般的解决方案都是软件设断点,也即是单步执行软件程序,看问题能否重现,若能重新再现通信混乱的现象,再通过编译器查看信号输入/输出接口的状态,此类识别方法速度较慢,有时还会无法重现当时的信号线上通信混乱的现象,不便于使用。
发明内容
为解决现有技术中判定芯片的输入/输出接口处于输入状态还是输出状态的速度较慢,提供一种方便、快速地识别芯片的输入/输出接口状态的识别方法。
一种芯片的输入/输出接口识别方法,包括以下步骤:
驱动该芯片,使该芯片工作,并且使得该芯片的至少一输入/输出接口开始进行信号传输;
利用一示波器测试的探针检测该至少一输入/输出接口上的信号波形,并对应显示该信号的波形图像;及
进一步利用人体接触该示波器的探针,以将人体中的电荷传导至该示波器的探针上,并同时观察波形变化,其中,当该示波器上显示的对应波形图像改变时,表示该至少一输入/输出接口处于输入状态;当该示波器上显示对应该信号的波形图像未改变时,表示该至少一输入/输出接口处于输出状态。
相较于现有技术,该测试方法利用常用的测试设备,测试者即可快速、方便地以及准确了解芯片的输入/输出接口处于输入状态还是输出状态。
附图说明
图1是本发明芯片的输入/输出接口识别方法一优选实施方式中待测元件的结构示意图。
图2是本发明芯片的输入/输出接口识别方法一实施方式的流程图。
图3、图4、图5为芯片的输入/输出接口执行各步骤时待测元件与测试工具的状态示意图。
主要元件符号说明
示波器 20
探针 21
显示屏 22
电路板 10
第一输入/输出接口 101
第二输入/输出接口 102
信号线 103
第一芯片 U1
第二芯片 U2
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
请参阅图1,其为本发明芯片的输入/输出接口一优选实施方式中的待测元件结构示意图,待测元件为电路板10。该待测的电路板10上包括有两个集成芯片,该两个集成芯片可为第一芯片U1与第二芯片U2,该两个集成芯片分别具有至少一个输入/输出接口,该两个输入/输出接口可为第一输入/输出接口101与第二输入/输出接口102,以及连接该两个输入/输出接口的信号线103,该信号线103可为一导电金属线。
该两个集成芯片中均烧录有软件程序,并且在上电后执行烧录在其中的软件程序,在执行该软件程序过程中,集成芯片通过第一输入/输出接口101与第二输入/输出接口102之间的信号线103传递信号。
请参阅图2,其为本发明芯片的输入/输出接口识别方法一实施方式的流程图,其包括步骤:
步骤S101,为该电路板10提供一工作信号,驱动电路板10上的第一芯片U1与第二芯片U2工作,使得第一输入/输出接口101与第二输入/输出接口102通过信号线103开始传递信号。
步骤S102,将示波器20测试用的探针21电性接触该第一芯片U1的第一输入/输出接口101,并显示对应该第一输入/输出接口101上的信号的波形图像,也即是第一输入/输出接口101输入或者输出的信号的波形图像。具体地,如图3所示,将具有探针21以及显示屏22的示波器20的探针21与第一输入/输出接口101电性接触,其中,该探针21用于将待测的物体的信号输入示波器20中,显示屏22则对应显示该第一输入/输出接口101上的信号的波形图像。示波器20的显示屏22显示该第一输入/输出接口101输入或者输出的信号的波形图像,如方波。
步骤S103,人体接触该示波器20的探针21,以将人体中的电荷传导至探针21上,观察示波器20的显示屏22所显示的波形图像的变化,当该示波器20上显示的对应该信号的波形图像改变时,表示该第一输入/输出接口101处于输入状态;当该示波器20所显示对应该信号的波形图像未改变时,表示该输入/输出接口处于输出状态。具体地,请参阅图4,测试者将手指接触该探针21,当示波器20所显示的波形图像仍然如图3所示,并未改变,则表示该第一输入/输出接口101处于输出状态;当该示波器20所显示的波形图像发生了改变,如图5所示,则表示该第一输入/输出接口101处于输出状态。
应当可以理解,对于第二输入/输出接口102或者其他用于传递信号的接口,可以重复步骤S102、S103,从而获知第二输入/输出接口102的状态。
优选地,该识别方法还包括一消除人体静电的步骤,测试者手指在接触该示波器20的探针21之前,触摸一些导电物体,以将身体的静电电荷导走,从而有效防止人体的静电影响第一输入/输出接口101或者第二输入/输出接口102中的信号。
在本发明其他变更实施方式中,电路板10也可以仅包括一个集成芯片,例如第一芯片U1,第二芯片U2则可以为其他电子元件或者集成电路,例如电阻、电容。
综上所述,相较于现有技术,该测试方法利用常用的测试设备,测试者即可快速、方便地以及准确了解芯片的输入/输出接口处于输入状态还是输出状态。
以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制,尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明,本领域的普通技术人员应当理解,可以对本发明的技术方案进行修改或等同替换,而不脱离本发明技术方案的精神和范围。

Claims (3)

1.一种芯片的输入/输出接口识别方法,其特征在于,包括以下步骤:
驱动该芯片,使该芯片工作,并且使得该芯片的至少一输入/输出接口开始进行信号传输;
利用一示波器测试用的探针检测该至少一输入/输出接口上的信号波形,该示波器对应显示该信号的波形图像;及
进一步利用人体接触该示波器测试用的探针,以将人体中的电荷传导至该示波器测试用的探针上,并同时观察波形变化,其中,当该示波器上显示的对应该信号的波形图像改变时,表示该至少一输入/输出接口处于输入状态;当该示波器上显示对应该信号的波形图像未改变时,表示该至少一输入/输出接口处于输出状态。
2.根据权利要求1所述的接口识别方法,其特征在于,利用人体的手指触摸该示波器测试用的探针。
3.根据权利要求1所述的接口识别方法,其特征在于,人体在接触该示波器测试用的探针之前,进一步包括一消除人体静电的步骤。
CN201210127242.8A 2012-04-27 2012-04-27 芯片的输入/输出接口识别方法 Active CN103376404B (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210127242.8A CN103376404B (zh) 2012-04-27 2012-04-27 芯片的输入/输出接口识别方法
TW101116097A TWI547700B (zh) 2012-04-27 2012-05-04 晶片之輸入/輸出介面識別方法
US13/871,162 US9081056B2 (en) 2012-04-27 2013-04-26 Method for detecting working state of I/O pins of electronic components using charges from human body

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201210127242.8A CN103376404B (zh) 2012-04-27 2012-04-27 芯片的输入/输出接口识别方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN103376404A CN103376404A (zh) 2013-10-30
CN103376404B true CN103376404B (zh) 2017-06-13

Family

ID=49461823

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201210127242.8A Active CN103376404B (zh) 2012-04-27 2012-04-27 芯片的输入/输出接口识别方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9081056B2 (zh)
CN (1) CN103376404B (zh)
TW (1) TWI547700B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10041995B2 (en) 2015-01-15 2018-08-07 Amazing Microelectronic Corp. Test method for eliminating electrostatic charges

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002303640A (ja) * 2000-11-03 2002-10-18 Tektronix Inc 試験装置
CN201548649U (zh) * 2009-11-25 2010-08-11 广东易事特电源股份有限公司 一种单板测试工装
CN101971154A (zh) * 2008-02-14 2011-02-09 国际商业机器公司 用于确定输入/输出操作的状态的计算机命令和响应
CN102183725A (zh) * 2010-01-06 2011-09-14 通用电气公司 通用通道接口测试电路和系统

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3760262A (en) * 1972-02-28 1973-09-18 Us Army Electrostatic spark ignition sensitivity test apparatus and method
US7545152B2 (en) * 2006-01-11 2009-06-09 Thermo Fisher Scientific, Inc. Transmission line pulse measurement system for measuring the response of a device under test
AR073129A1 (es) * 2008-08-26 2010-10-13 Spx Corp Modulo de osciloscopio digital con deteccion de fallas en la recepcion de la senal.
AR073128A1 (es) * 2008-08-26 2010-10-13 Spx Corp Modulo de osciloscopio digital
US20100244868A1 (en) * 2009-03-26 2010-09-30 Tektronix, Inc. Wireless Clamp-on Current Probe
US8339152B2 (en) * 2010-03-30 2012-12-25 Freescale Semiconductor, Inc. Test structure activated by probe needle

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002303640A (ja) * 2000-11-03 2002-10-18 Tektronix Inc 試験装置
CN101971154A (zh) * 2008-02-14 2011-02-09 国际商业机器公司 用于确定输入/输出操作的状态的计算机命令和响应
CN201548649U (zh) * 2009-11-25 2010-08-11 广东易事特电源股份有限公司 一种单板测试工装
CN102183725A (zh) * 2010-01-06 2011-09-14 通用电气公司 通用通道接口测试电路和系统

Also Published As

Publication number Publication date
TW201344217A (zh) 2013-11-01
US9081056B2 (en) 2015-07-14
US20130285689A1 (en) 2013-10-31
CN103376404A (zh) 2013-10-30
TWI547700B (zh) 2016-09-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104459400B (zh) 用于自容式触摸屏的检测电路和检测方法
CN104820637B (zh) 一种手持式usb3.0协议分析仪
CN101413973B (zh) 一种线路板特性阻抗测试系统和方法
CN204789908U (zh) 基于LabVIEW的电路板自动测试系统
CN208818807U (zh) 出口继电器性能测试设备及测试系统
CN104459516A (zh) 一种用于smt首件检测的测试方法
CN110579701A (zh) 一种集成芯片的引脚连通性的检测方法
CN104614607B (zh) 一种测试方法及测试系统
CN104391616B (zh) 一种触摸屏的像素点电容值检测范围的获取方法和装置
CN114167132B (zh) 无线终端的功耗检测方法、装置、电子设备及存储介质
CN102809722A (zh) 唤醒信号测试系统及其测试卡
CN103376404B (zh) 芯片的输入/输出接口识别方法
CN204129151U (zh) 触摸屏测试机
CN107909952A (zh) 检测显示屏的方法和治具
WO2019079939A1 (zh) 触控设备抗干扰能力的测试系统及方法
CN103048611A (zh) Cob模组通用测试方式
CN105486970A (zh) 一种Pogopin模组性能测试系统及其测试方法
CN109935181A (zh) 一种驱动电路、检测连接部件阻抗的方法及显示器
CN110764029B (zh) 一种对pcba中连接器引脚是否虚焊进行单端检测的方法
CN205787002U (zh) 用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置
CN211528662U (zh) 一种单端检测pcba中连接器引脚是否虚焊的装置
CN106990343A (zh) 电子元器件的测试方法及系统
CN103901249A (zh) 接口信号测试装置
CN102928767A (zh) 一种与双层膜结构绑定的fpc通用测试方法
CN104730446B (zh) 电路板的测试系统

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant