CN104730446B - 电路板的测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种电路板的测试系统包括一测试治具以及一电脑系统。测试治具包括连接于一电路板的一接触元件、连接于接触元件的一开关电路、一连接模块以及一数据撷取元件。连接模块用以连接电路板以及电脑系统，使电脑系统经由连接模块传输一电力至电路板。数据撷取元件通过驱动连接模块而获得对应于电子元件的一实际电压值。连接于测试治具的电脑系统根据实际电压值而判断电子元件是否通过测试。

Description

电路板的测试系统

技术领域

本发明关于一种测试系统，尤其关于电路板的测试系统。

背景技术

随着科技的发展，电子设备已普及化至个人使用者，常见的电子设备包括电脑主机、笔记本电脑、手机等可携式电子设备，且其周边输入装置可配合电子设备使用，以提升操作电子设备的便利性。其中，周边输入装置包括滑鼠装置、键盘装置以及轨迹球装置等。

无论是电子设备或其周边输入装置，其内部皆设置有电路板，以使电子设备或其周边输入装置通过电路板上的电路以及电子元件而运作。于电子设备或其周边输入装置的制造过程中，必须进行测试，以确保电子设备或其周边输入装置的功能正常。其测试包含有于电子设备或其周边输入装置组装完成前的电路板测试，以及其组装完成后的功能性测试。其中，对电路板的测试是为了避免于电子设备或其周边输入装置组装完成之后才发现电路板有缺陷存在时，必须拆卸电子设备或其周边输入装置来除错，其将造成的工时浪费。

一般而言，电路板的测试包含有静态测试以及动态测试，静态测试即为断电测试，通过不供电至电路板而测试电路板上的电子元件，其中电子元件包括电感、电容或电阻等包含有电阻值的电子元件。至于动态测试即为通电测试，通过供电至电路板而测试电路板上的电子元件的功能是否可正常运作。

电路板的静态测试测试人员利用电表上的接触探针依序对电路板上的多个电子元件测量，不但耗时，更耗人力，测试人员经过长时间手动测试之后，测试人员容易因疲累而重复测量，或者接触探针无法准确地与电子元件接触以造成误判。故以人力测试的传统静态测试方法不但耗时耗力，亦容易发生误判的情形。

至于电路板的动态测试即为通电测试，其必须对电路板通电，且进行电路板的功能性测试。传统动态测试方法如下：测试人员将电路板连接于电脑系统，使电路板通电且与电脑系统进行通信，且电脑系统与电路板互相交换其装置信息(包含辨识身分信息以及规格信息等等)。当电脑系统辨识出电路板之后，测试人员可利用电表的接触探针依序测量电路板上的电子元件的电压值，且测试人员可通过所测量到的电压值是否符合预期而判定电路板是否通过测试。通过人力测试的传统动态测试方法的缺点与前述传统静态测试方法相同：测试人员经过长时间手动测试之后，测试人员容易因疲累而重复测量，或者接触探针无法准确地与电子元件接触以造成误判。

因此，需要一种不需以人力测量的电路板的测试系统。

发明内容

本发明的目的在于提供一种不需以人力测量的测试电路板的测试系统。

于一较佳实施例中，本发明提供一种电路板的测试系统，包括一电脑系统以及一测试治具，该测试治具分别连接于一电路板以及该电脑系统，用以获得该电路板的一电子元件的一实际电压值。该测试治具包括一接触元件、一开关电路、一连接模块以及一数据撷取元件，该接触元件设置于该测试治具上，用以与该电路板的该电子元件接触，而该开关电路连接于该接触元件。该连接模块连接于该开关电路以及该电路板，用以连接该电路板以及该电脑系统，使该电脑系统与该电路板进行通信沟通，且该电脑系统经由该连接模块传输一电力至该电路板。该数据撷取元件电性连接于该开关电路以及该电脑系统，用以提供一启动电压至该开关电路，使该连接模块运作，并获得该电子元件的一实际电压值。该数据撷取元件包括一数字输出接脚以及一模拟输入接脚，该数字输出接脚连接于该开关电路，用以输出该启动电压至该开关电路。该模拟输入接脚连接于该电子元件，用以获得该电子元件的该实际电压值；其中当该模拟输入接脚获得该实际电压值时，该数据撷取元件传输该实际电压值至该电脑系统，使该电脑系统根据该实际电压值而判断该电路板是否通过测试。

附图说明

图1是本发明电路板的测试系统于第一较佳实施例中的方块示意图。

图2是本发明电路板的测试系统于第一较佳实施例中的电路示意图。

图3是本发明电路板的测试系统的开关电路于第一较佳实施例中闭路的电路示意图。

图4是本发明电路板的测试系统的连接模块于第一较佳实施例中闭路的电路示意图。

图5是本发明电路板的测试系统于第二较佳实施例中的方块示意图。

图6是本发明电路板的测试系统于第二较佳实施例中的电路示意图。

图7是本发明电路板的测试系统于第三较佳实施例中的电路示意图。

图8是本发明电路板的测试系统于第四较佳实施例中的电路示意图。

其中，附图标记说明如下：

1、2、4 电路板的测试系统

11、21、31、41 测试治具

12、22、32、42 电脑系统

111、211、311、411 接触元件

112、212、412 开关电路

113、213、313、413 连接模块

114、214、314、414 数据撷取元件

121、221、321、421 电脑主机

122、222、322、422 显示屏幕

123、223 通用串行总线介面

124、224、324、424 第一传输接脚

125、225、325、425 第二传输接脚

126、226、326、426 第三传输接脚

1121 第一单刀单掷继电器

1122、2121、3121 驱动电路

1131、2131、3131、4131 供电电路

1132、2132、3132、4132 通信电路

1133 第二单刀单掷继电器

1134 双刀双掷继电器

2122～2126 单刀单掷继电器

2133、3133 第一双刀双掷继电器

2134、3134 第二双刀双掷继电器

4121 光继电器

AI1～AI7 模拟输入接脚

AO 数字输出接脚

B1～B4 光束

D1 第一二极管、第一光发射器

D2 第二二极管、第二光发射器

D3 第三光发射器

D4 第四光发射器

DO1～DO7 数字输出接脚

F1～F4 金属氧化物半导体场效晶体管

IN1～IN7 输入接脚

OUT1～OUT7 输出接脚

P、P1 电路板

R1～R5 固定电阻

Rp、Rp1～Rp5 预设电阻值范围

S1 第一信号接点

S2 第二信号接点

S3 第三信号接点

T1～T5 电子元件

Vh 启动电压

Vp、Vp1～Vp5 预设电压值范围

Vt 测试电压

VAI、VAI1～VAI5 静态测试的实际电压值

VAI*、VAI1*～VAI5* 动态测试的实际电压值

具体实施方式

首先，定义电路板上的电子元件，其电子元件包括电感、电容或电阻等包含有电阻值的任何电子元件，而非限定为电阻。

鉴于现有技术的问题，本发明提供一种可解决现有技术问题的电路板的测试系统。请参阅图1，其为本发明电路板的测试系统于第一较佳实施例中的方块示意图。电路板的测试系统1可适用于电路板的静态测试以及动态测试，电路板的测试系统1包括一测试治具11以及一电脑系统12，测试治具11用以连接于一待测试的电路板P，且获得电路板P的一电子元件T1的一实际电压值，而电脑系统12电性连接于测试治具11，用以判断电子元件T1是否通过静态测试或动态测试。测试治具11包括一接触元件111、一开关电路112、一连接模块113以及一数据撷取(Data Acquisition，DAQ)元件114，接触元件111设置于测试治具11上且对应于电子元件T1，用以与电路板P上的电子元件T1接触。开关电路112连接于接触元件111，连接模块113连接于开关电路112以及电路板P，用以连接电路板P以及电脑系统12，使电脑系统12与电路板P进行通信沟通，且电脑系统12经由连接模块113而传输一电力至电路板P。数据撷取元件114电性连接于开关电路112，用以提供一测试电压Vt(请参照图2)以及一启动电压Vh(请参照图2)至开关电路112而对电路板P进行静态测试，且可提供启动电压Vh至连接模块113而对电路板P进行动态测试。于本较佳实施例中，电路板P为一印刷电路板(Printed CircuitBoard，PCB)，而接触元件111为接触探针。

接下来说明本发明电路板的测试系统的电路结构。请同时图1以及图2，图2为本发明电路板的测试系统于第一较佳实施例中的电路示意图。测试治具11中，开关电路112包括一固定电阻R1、一第一单刀单掷(Single Pole SingleThrow，SPST)继电器1121以及一驱动电路1122，固定电阻R1对应于电子元件T1。单刀单掷继电器1121包括一共用端(图2中以接点3表示)、一常开端(图2中以接点4表示)以及一常闭端(图2中以接点5表示)，且常闭端连接于固定电阻R1。驱动电路1122连接于数据撷取元件114以及第一单刀单掷继电器1121，用以根据数据撷取元件114的运作而启动第一单刀单掷继电器1121或连接模块113。其中，驱动电路1122包括多个输入接脚IN1～IN3以及多个输出接脚OUT1～OUT3，于本较佳实施例中，驱动电路1122为驱动芯片。

图2中，数据撷取元件114包括多个数字输出接脚DO1～DO3、一模拟输出接脚AO以及一模拟输入接脚AI，数字输出接脚DO1连接于驱动电路1122的输入接脚IN1，用以输出启动电压Vh至驱动电路1122，而启动第一单刀单掷继电器1121。数字输出接脚DO2～DO3则分别连接于输入接脚IN2～IN3，且对应于输入接脚IN2～IN3的输出接脚OUT2～OUT3则连接于连接模块113，用以输出启动电压Vh至连接模块113而启动连接模块113。模拟输出接脚AO连接于固定电阻R1，用以输出测试电压Vt，而模拟输入接脚AI分别连接于电子元件T1以及单刀单掷继电器1121的共用端，用以获得电子元件T1的实际电压值。

连接模块113包括一供电电路1131以及一通信电路1132，供电电路1131连接于驱动电路1122、电脑系统12以及电路板P，用以于供电电路1131被启动时，传输电脑系统12的电力至电路板P。供电电路1131包括一第二单刀单掷继电器1133以及一第一二极管D1，第二单刀单掷继电器1133连接于驱动电路1122，且第二单刀单掷继电器1133的一共用端(图2中以接点3表示)连接于电脑系统12，而第二单刀单掷继电器1133的一常闭端(图2中以接点5表示)连接于电路板P的一第一信号接点S1。第一二极管D1连接于第二单刀单掷继电器1133，用以防止通过供电电路1131的一第一电流(未显示于图中)逆流。其中，当第二单刀单掷继电器1133闭路时，供电电路1131被启动而传输电力至电路板P。

通信电路1132连接于驱动电路1122、电脑系统12以及电路板P，用以于通信电路1132被启动时，传输电脑系统12的一电脑通信协定信息(未显示于图中)至电路板，且传输电路板P的一装置通信协定信息(未显示于图中)至电脑系统12。通信电路1132包括一双刀双掷继电器1134以及一第二二极管D2，双刀双掷继电器1134连接于驱动电路1122，且双刀双掷继电器1134的一第一共用端(图2中以接点13表示)连接于电脑系统12，双刀双掷继电器1134的一第二共用端(图2中以接点4表示)连接于电脑系统12。而双刀双掷继电器1134的一第一常闭端(图2中以接点9表示)连接于电路板P的一第二信号接点S2，且双刀双掷继电器1134的一第二常闭端(图2中以接点8表示)连接于电路板P的一第三信号接点S3。第二二极管D2连接于双刀双掷继电器1134，用以防止通过通信电路1132的一第二电流(未显示于图中)逆流。其中，当双刀双掷继电器1134闭路时，通信电路1132被启动，且电脑系统12传输该电脑通信协定信息至电路板P，而电路板P则传输该装置通信协定信息至电脑系统12。

请再次参阅图1，电脑系统12包括一电脑主机121以及一显示屏幕122，电脑主机121连接于数据撷取元件114以及连接模块113，其中，电脑主机121通过一通用串行总线(USB)介面123而连接于数据撷取元件114，且电脑主机121通过一第一传输接脚124而连接于第二单刀单掷继电器1133的共用端，电脑主机121通过一第二传输接脚125而连接于双刀双掷继电器的第一共用端，而电脑主机121通过一第三传输接脚126而连接于双刀双掷继电器的第二共用端。于本较佳实施例中，第一传输接脚124、第二传输接脚125以及第三传输接脚126共同形成一另一通用串行总线介面，且第一传输接脚124为VDD接脚，第二传输接脚125为D－接脚，而第三传输接脚126为D+接脚。

另外，电脑主机121具有一预设电阻值范围Rp以及一预设电压值范围Vp，预设电阻值范围Rp用以供电脑主机121判断电路板P是否通过静态测试，而预设电压值范围Vp则用以供电脑主机121判断电路板P是否通过动态测试。显示屏幕122连接于电脑主机121，用以显示电路板P的测试结果。

需特别说明的是，测试治具11中的开关电路112以及数据撷取元件114的运作对电路板P上的电子元件T1进行静态测试，而连接模块113以及数据撷取元件114的运作则对电路板P上的电子元件T1进行动态测试，其中，电路板P的测试过程先进行静态测试，待电路板P通过静态测试之后，才可进行动态测试。其原因在于，电路板P的动态测试必须使电路板P通电，故电路板P必须先经过静态测试以确保电路板P上的电子元件T1确实妥善焊接，而不会于电路板P通电时发生短路或开路等情形。否则，电路板P会发生烧毁的情形。

首先简单说明电路板P的静态测试的运作情形。当本发明电路板的测试系统1欲开始对电路板P上的电子元件T1进行静态测试之前，测试人员必须放置电路板P于测试治具11上，并使测试治具11的接触元件111与电子元件T1接触，其中，接触元件111不但可固定电路板P测试治具11上，亦可建立电子元件T1与数据撷取元件114之间的电性连接。当电路板P于测试治具11上设置妥善之后，数据撷取元件114通过数字输出接脚DO1输出启动电压Vh至驱动电路1122的输入接脚IN1，其中，驱动电路1122中对应于输入接脚IN1的输出接脚OUT1输出该启动电压Vh至第一单刀单掷继电器1121，使第一单刀单掷继电器1121的共用端由与常开端接触的状态变更至与常闭端接触的状态，亦即第一单刀单掷继电器1121闭路，如图3所示。另一方面，数据撷取元件114通过模拟输出接脚AO而输出测试电压Vt，使电子元件T1与固定电阻R1形成一等效电路。于本较佳实施例中，启动电压Vh为一高逻辑电平电压，例如5伏特。

接下来，模拟输入接脚AI连接于等效电路且根据欧姆定律，使模拟输入接脚AI由等效电路中获得对应于电子元件T1的实际电压值VAI，且数据撷取元件114通过通用串行总线介面123而传输静态测试的实际电压值VAI至电脑主机121。其中，实际电压值VAI为电子元件T1进行静态测试时的电压值。

当电脑主机121接收到静态测试的实际电压值VAI之后，由于电脑主机121中预设有计算出对应于电子元件T1的实际电阻值的公式：对应于电子元件T1的实际电阻值Rt＝(实际电压值VAI×固定电阻R1的电阻值)/(测试电压Vt×实际电压值VAI)，其中，上述公式根据等效电路以及欧姆定律而获得。因此，电脑主机121可根据上述公式而计算出电子元件T1的实际电阻值Rt，且电脑主机121于获得实际电阻值Rt之后，判断实际电阻值Rt是否介于预设电阻值范围Rp之间。当电脑主机121判断实际电阻值Rt介于预设电阻值范围Rp之间时，电脑主机121判断电子元件T1通过静态测试，且显示屏幕122显示一通过静态测试信息(未显示于图中)，以供测试人员观看。反之，当电脑主机121判断实际电阻值Rt未介于预设电阻值范围Rp之间时，电脑主机121则判断电子元件T1静态测试失败，且显示屏幕122显示一静态测试失败信息(未显示于图中)。因此，测试人员可根据显示屏幕122所显示的测试结果而得知电子元件T1是否通过静态测试。

于电子元件T1通过静态测试之后，开始进行电路板P的动态测试。于进行动态测试之前，测试人员必须利用连接模块113而连接电脑主机121以及电路板P，亦即，将电脑主机121的第一传输接脚124连接于第二单刀单掷继电器1133的共用端，且连接电脑主机121的第二传输接脚125以及双刀双掷继电器1134的第一共用端，连接电脑主机121的第三传输接脚126以及双刀双掷继电器1134的第二共用端。另一方面，将电路板P的第一信号接点S1连接于第二单刀单掷继电器1133的常闭端，且将电路板P的第二信号接点S2连接于双刀双掷继电器1134的第一常闭端，而将电路板P的第三信号接点S3连接于双刀双掷继电器1134的第二常闭端。

接下来开始进行电路板P的动态测试。图2中，数据撷取元件114通过数字输出接脚DO2～DO3输出启动电压Vh至驱动电路1122的输入接脚IN2～IN3，且驱动电路1122中对应于输入接脚IN2～IN3的输出接脚OUT2～OUT3分别输出启动电压Vh至供电电路1131以及通信电路1132。供电电路1131中，第二单刀单掷继电器1133的共用端根据输出接脚OUT2所传输的启动电压Vh而由与常开端接触的状态变更至与常闭端接触的状态，亦即第二单刀单掷继电器1133闭路，如图4所示。此时，供电电路1131被启动而建立电脑主机121以及电路板P之间的电性连接，使电脑主机121得以通过供电电路1131而传输电力至电路板P。

通信电路1132中，双刀双掷继电器1134的第一共用端根据输出接脚OUT2所传输的启动电压Vh而由与第一常开端接触的状态变更至与第一常闭端接触的状态，且双刀双掷继电器1134的第二共用端亦根据输出接脚OUT3所传输的启动电压Vh而由与第二常开端接触的状态变更至与第二常闭端接触的状态，亦即双刀双掷继电器1134闭路，如图4所示。此时，通信电路1132被启动而建立电脑主机121以及电路板P之间的通信协定连接，使电脑主机121得以通过通信电路1132而传输电脑通信协定信息至电路板P，且电路板P亦通过通信电路1132而传输装置通信协定信息至电脑主机121，以便于电脑主机121辨识电路板P且获得电路板P的相关信息。

于供电电路1131以及通信电路1132被启动之后，电路板P获得来自于电脑主机121的电力而被通电，且电路板P上的电子元件T1亦被通电，此时，数据撷取元件114中连接于电子元件T1的模拟输入接脚AI获得对应于电子元件T1的实际电压值VA1*，且数据撷取元件114通过通用串行总线介面123而实际电压值VAI*至电脑主机121，其中该实际电压值VA1*为电子元件T1进行动态测试时的电压值。

当电脑主机121接收到动态测试的实际电压值VAI*之后，电脑主机121通过判断实际电压值VAI*是否介于预设电压值范围Vp之间而判断电子元件T1是否通过动态测试。当电脑主机121判断实际电压值VAI*介于预设电压值范围Vp之间时，电脑主机121判断电子元件T1通过动态测试，且显示屏幕122显示一通过动态测试信息(未显示于图中)，以供测试人员观看。反之，当电脑主机121判断实际电压值VAI*未介于预设电压值范围Vp之间时，电脑主机121则判断电子元件T1动态测试失败，且显示屏幕122显示一动态测试失败信息(未显示于图中)。因此，测试人员可根据显示屏幕122所显示的动态测试结果而得知电子元件T1是否通过动态测试。

需特别说明的是，动态测试中的连接电脑主机121以及电路板P的动作并非限定于静态测试完成之后再进行，亦可以于静态测试开始之前进行。数据撷取元件114可通过数字输出接脚DO1输出启动电压Vh而启动驱动电路1122，以进行电路板P的静态测试，且数据撷取元件114亦可通过数字输出接脚DO2～DO3输出启动电压Vh而启动连接模块113，以进行电路板P的动态测试。换言之，当本发明电路板的测试系统1进行静态测试时，数据撷取元件114的数字输出接脚DO1运作，而其数字输出接脚DO2～DO3不运作。反之，当本发明电路板的测试系统1进行动态测试时，数据撷取元件114的数字输出接脚DO2～DO3运作，而其数字输出接脚DO1不运作。

根据上述可知，本发明电路板的测试系统通过上述架构而模拟测试人员以人力对电子元件进行静态测试以及动态测试的运作，以通过静态测试判断电子元件是否妥善被设置于电路板上，且通过动态测试判断电子元件是否可正常运作，亦即进行电子元件的功能性测试(Function Testing)。本较佳实施例中仅以电路板P上具有一个电子元件T1为例，以便于说明，但并非限制本发明电路板的测试系统仅可测试具有单一电子元件的电路板，以下将提供可测试具有多个电子元件于其上的电路板的测试系统。

再者，本发明更提供一第二较佳实施例。请同时参阅图5以及图6，图5为本发明电路板的测试系统于第二较佳实施例中的方块示意图，图6为本发明电路板的测试系统于第二较佳实施例中的电路示意图。电路板的测试系统2用以对包含有多个电子元件T1～T5的电路板P1进行静态测试以及动态测试，且电路板的测试系统2包括一测试治具21以及一电脑系统22，电脑系统22包括一电脑主机221以及一显示屏幕222，其中电脑主机221通过一通用串行总线介面223而连接于测试治具21，且电脑主机221具有多个预设电阻值范围Rp1～Rp5以及预设电压值范围Vp1～Vp5。本较佳实施例的电脑系统22的结构以及功能皆与前述第一较佳实施例中的电脑系统12相同，故不再赘述。而本较佳实施例与第一较佳实施例中不同之处在于测试治具21的结构，其中，测试治具21中的各元件的功能仍与第一较佳实施例中的测试治具11相同，但其各元件的连接方式稍有变化，详细说明如下。

请继续参阅图5以及图6，测试治具21包括多个接触元件211、一开关电路212、连接模块213以及一数据撷取元件214，多个接触元件211设置于测试治具21上且对应于多个电子元件T1～T5，用以与电路板上的多个电子元件T1～T5接触，其中一个接触元件211对应于一个电子元件，也就是说，本较佳实施例的测试治具21包括5个接触元件211。开关电路212连接于多个接触元件211，其包括多个固定电阻R1～R5、一驱动电路2121以及多个单刀单掷继电器2122～2126，多个固定电阻R1～R5以及多个单刀单掷继电器2122～2126皆对应于多个电子元件T1～T5，且其运作与前述第一较佳实施例中的固定电阻R1以及单刀单掷继电器1121相同。驱动电路2121连接于数据撷取元件214以及多个单刀单掷继电器2122～2126，用以根据数据撷取元件214的运作而选择性地启动一个或多个单刀单掷继电器2122～2126。驱动电路包括多个输入接脚IN1～IN7以及多个输出接脚OUT1～OUT7，其中，驱动电路2121每次可根据数据撷取元件214的运作而选择启动任一个单刀单掷继电器2122～2126。于本较佳实施例中，驱动电路2121为驱动芯片。

图6中，数据撷取元件214包括多个数字输出接脚DO1～DO7、一模拟输出接脚AO以及多个模拟输入接脚AI1～AI5，多个数字输出接脚DO0～DO7对应于多个输入接脚IN1～IN7且分别连接于相对应的输入接脚IN1～IN7。多个模拟输入接脚AI1～AI5对应于多个电子元件T1～T5以及多个单刀单掷继电器2122～2126且分别连接于相对应的电子元件T1～T5以及单刀单掷继电器2122～2126。而模拟输出接脚AO则分别连接于多个固定电阻R1～R5。需特别说明的是，固定电阻R1～R5的电阻值并非限定互相相同，其可根据需求采用电阻值互相不同的固定电阻，于另一较佳实施例中，亦可采用电阻值互相相同的固定电阻。

图5以及图6中，连接模块213包括一供电电路2131以及一通信电路2132，供电电路2131连接于驱动电路2121的输出接脚OUT6、电脑主机221以及电路板P1，用以于供电电路2131被启动时，传输电脑主机221的一电力至电路板P1。供电电路2131包括一第一双刀双掷继电器2133以及一第一二极管D1，第一双刀双掷继电器2133连接于驱动电路2121，且第一双刀双掷继电器2133的一第一共用端(图6中以接点13表示)连接于电脑主机221的一第一传输接脚224，而第一双刀双掷继电器2133的一第一常闭端(图6中以接点9表示)连接于电路板P1的一第一信号接点S1。第一二极管D1连接于第一双刀双掷继电器2133，用以防止通过供电电路2131的一第一电流(未显示于图中)逆流。其中，当第一双刀双掷继电器2133闭路时，供电电路2131被启动而传输来自于电脑主机221的电力至电路板P1。

请继续参阅图6，通信电路2132连接于驱动电路2121的输出接脚OUT7、电脑系统22以及电路板P1，用以于通信电路2132被启动时，传输电脑主机221的一电脑通信协定信息(未显示于图中)至电路板P1，且传输电路板P1的一装置通信协定信息(未显示于图中)至电脑主机221。通信电路2132包括一第二双刀双掷继电器2134以及一第二二极管D2，第二双刀双掷继电器2134连接于驱动电路2121，且第二双刀双掷继电器2134的一第一共用端(图6中以接点13表示)连接于电脑主机221的一第二传输接脚225，第二双刀双掷继电器2134的一第二共用端(图6中以接点4表示)连接于电脑主机221的一第三传输接脚226。而第二双刀双掷继电器2134的一第一常闭端(图6中以接点9表示)连接于电路板P1的一第二信号接点S2，且第二双刀双掷继电器2134的一第二常闭端(图6中以接点8表示)连接于电路板P1的一第三信号接点S3。第二二极管D2连接于第二双刀双掷继电器2134，用以防止通过通信电路2132的一第二电流(未显示于图中)逆流。其中，当第二双刀双掷继电器2134闭路时，通信电路2132被启动，且电脑主机221传输该电脑通信协定信息至电路板P1，而电路板P1则传输该装置通信协定信息至电脑主机221。

关于本发明电路板的测试系统2的静态测试以及动态测试的运作情形大致上本发明电路板的测试系统1相同，其不同之处仅在于本发明电路板的测试系统2测试的电子元件数量增加为5个。因此，于数据撷取元件214的数字输入接脚AI1～AI5获得的VAI1～VAI5以及VAI1*～VAI5*之后，电脑主机221中221具有多个预设电阻值范围Rp1～Rp5以及预设电压值范围Vp1～Vp5，以便分别对电子元件T1～T5进行静态测试以及动态测试。其中，实际电压值VA1～VAI5为电子元件T1～T5进行静态测试时的电压值，而实际电压值VA1*～VAI5*为电子元件T1～T5进行动态测试时的电压值。

需特别说明的是，虽然数据撷取元件的模拟输出接脚AO分别连接于多个固定电阻R1～R5，但由于电路板的测试系统2每次仅针对一个电子元件进行静态测试，故模拟输出接脚AO每次所提供的参考电压Vt足以使电子元件与相对应的固定电阻形成等效电路，以进行静态测试。于实际操作上，电路板的测试系统每次可针对二个至三个电子元件进行静态测试，其模拟输出接脚所提供的参考电压仍足以使该二至三个电子元件与相对应的固定电阻形成等效电路。也就是说，驱动电路每次可根据数据撷取元件的运作而选择启动开关电路中的多个单刀单掷继电器或多个双刀双掷继电器。因此，本发明电路板的测试系统并非限制每次仅可测试一个电子元件，亦可每次测试多个个电子元件，以提升其测试效率。

再者，本发明更提供一第三较佳实施例。请参阅图7，其为本发明电路板的测试系统于第三较佳实施例中的电路示意图。电路板的测试系统包括一测试治具31以及一电脑系统32，电脑系统32包括一电脑主机321以及一显示屏幕322，且测试治具31包括多个接触元件311、一开关电路(未显示于图中)、连接模块313以及一数据撷取元件314，开关电路连接于多个接触元件311，其包括多个固定电阻R1～R5、一驱动电路3121以及多个单刀单掷继电器3122～3126。本较佳实施例的电路板的测试系统的结构以及运作情形皆与前述第二较佳实施例中的电路板的测试系统相同，故不再赘述，而本较佳实施例的电路板的测试系统与第二较佳实施例的电路板的测试系统中不同之处仅在于，连接模块313分别与电脑系统以及电路板(未显示于图中)的连接方式不同，详细说明如下。

图7中，连接模块313包括一供电电路3131以及一通信电路3132，供电电路3131连接于开关电路312的一驱动电路3121、电脑系统以及电路板，且供电电路3131包括一第一双刀双掷继电器3133以及一第一二极管D1，第一双刀双掷继电器3133以及第一二极管D1的功能以及运作情形皆与前述第二较佳实施例相同，而该两者的不同之处仅在于，第一双刀双掷继电器3133连接于驱动电路3121的输出接脚OUT6，且第一双刀双掷继电器3133的一第一共用端(图8中以接点13表示)连接于电路板的一第一信号接点S1，而第一双刀双掷继电器3133的一第一常闭端(图8中以接点9表示)连接于电脑系统的一第一传输接脚324。也就是说，本较佳实施例中的第一双刀双掷继电器3133连接于电脑系统以及电路板的连接方式与第二较佳实施例相反，而不影响其动态测试的运作过程。

另一方面，通信电路3132连接于驱动电路3121、电脑系统以及电路板，且通信电路3132包括一第二双刀双掷继电器3134以及一第二二极管D2，第二双刀双掷继电器3134以及第二二极管D2的功能以及运作情形皆与前述第二较佳实施例相同，而该两者的不同之处仅在于，第二双刀双掷继电器3134连接于驱动电路3121的输出接脚OUT7，且第二双刀双掷继电器3134的一第一共用端(图8中以接点13表示)连接于电路板的一第二信号接点S2，第二双刀双掷继电器3134的一第二共用端(图7中以接点4表示)连接于电路板P1的一第三信号接点S3。而第二双刀双掷继电器3134的一第一常闭端(图7中以接点9表示)连接于电脑系统的一第二传输接脚325，且第二双刀双掷继电器3134的一第二常闭端(图7中以接点8表示)连接于电脑系统的一第三传输接脚326。也就是说，本较佳实施例中的第二双刀双掷继电器3134连接于电脑系统以及电路板的连接方式与第二较佳实施例相反，而不影响其动态测试的运作过程。

关于本较佳实施例中的电路板的测试系统对电路板进行静态测试以及动态测试的运作接与第二较佳实施例相同，故不再多加说明。

需特别说明的是，第一较佳实施例中的电路板的测试系统1的连接模块113连接于电脑主机121以及电路板P的方式亦可采用与第三较佳实施例中相同的连接方式，也就是说，于供电电路1131中，可将其第二单刀单掷继电器1133的共用端连接于电路板P的一第一信号接点S1，且将第二单刀单掷继电器1133的常闭端连接于电脑主机121的第一传输接脚124。而于通信电路1132中，可将双刀双掷继电器1134的第一共用端连接于电路板P的第二信号接点S2，且双刀双掷继电器1134的第二共用端电路板P的第三信号接点S3。而将双刀双掷继电器1134的第一常闭端连接于电脑主机121的第二传输接脚125，且双刀双掷继电器1134的第二常闭端连接于电脑主机121的第三传输接脚125。上述不同的连接方式不影响电路板的测试系统1的动态测试的运作过程，故其运作过程则不再赘述。

此外，本发明更提供一第四较佳实施例。请参阅图8，其为本发明电路板的测试系统于第四较佳实施例中的电路示意图。电路板的测试系统4包括一测试治具41以及一电脑系统42，电脑系统42包括一电脑主机421以及一显示屏幕422，且测试治具41包括一接触元件411、一开关电路412、连接模块413以及一数据撷取元件414。本较佳实施例的电路板的测试系统的结构以及运作情形皆与前述第一较佳实施例中的电路板的测试系统相同，故不再赘述，而本较佳实施例的电路板的测试系统与第一较佳实施例的电路板的测试系统中不同之处仅在于，开关电路412以及连接模块413的内部电路的结构，详细说明如下。

图8中，开关电路412连接于接触元件411，其包括一固定电阻R1以及一光继电器4111，光继电器4111用以根据启动电压Vh而使电子元件T1与固定电阻R1形成一等效电路。第一光继电器4111包括一第一光发射器D1以及一第一金属氧化物半导体场效晶体管F1，第一光发射器D1的一第一输入端(图8中以接点1表示)连接于数据撷取元件413的数字输出接脚DO1，且第一光发射器D1的一第二输入端(图8中以接点2表示)接地，用以根据启动电压Vh而输出一第一光束B1。第一金属氧化物半导体场效晶体管F1的一第一输出端(图8中以接点3表示)连接于固定电阻R1，且第一金属氧化物半导体场效晶体管F1的一第二输出端(图8中以接点4表示)连接于数据撷取元件413的模拟输入接脚AI1以及电子元件T1，用以根据第一光束B1而闭路且启动光继电器4111。于本较佳实施例中，光继电器4111为单刀单掷常开型的光继电器。

当光继电器4111被启动时，数据撷取元件413的模拟输入接脚AI1可获得静态测试的实际电压值VAI(未显示于图中)，接下来，电路板的测试系统4继续进行静态测试的运作，且其运作过程与第一较佳实施例相同，而不再赘述。

图8中，连接模块413包括一供电电路4131以及一通信电路4132，供电电路4131连接于数据撷取元件413的数字输出接脚DO2、电脑主机42以及电路板(未显示于图中)。供电电路4131包括一第二光发射器D2以及一第二金属氧化物半导体场效晶体管F2，第二光发射器D2的一第三输入端(图8中以接点1表示)连接于数据撷取元件413的数字输出接脚DO2，且第二光发射器D2的一第四输入端(图8中以接点2表示)接地，用以根据启动电压Vh而输出一第二光束B2。第二金属氧化物半导体场效晶体管F2的一第三输出端(图8中以接点3表示)连接于电脑主机41的一第一传输接脚424，且第二金属氧化物半导体场效晶体管F的一第四输出端(图8中以接点4表示)连接于电路板的一第一信号接点S1，用以根据第二光束B2而闭路且启动供电电路4131。其中，当第二金属氧化物半导体场效晶体管F2闭路时，供电电路4131被启动而传输来自于电脑主机421的电力至电路板。于本较佳实施例中，供电电路4131为单刀单掷常开型的光继电器。

通信电路4132连接于数据撷取元件413的数字输出接脚DO3、电脑主机42以及电路板，通信电路4132包括一第三光发射器D3、一第三金属氧化物半导体场效晶体管F3、一第四光发射器D4以及一第四金属氧化物半导体场效晶体管F4。第三光发射器D3的一第五输入端(图8中以接点1表示)连接于数据撷取元件413的数字输出接脚DO3，且第三光发射器D3的一第六输入端(图8中以接点2表示)接地，用以根据启动电压Vh而输出一第三光束B3。第三金属氧化物半导体场效晶体管F3的一第五输出端(图8中以接点8表示)连接于电脑主机41的一第二传输接脚425，且第三金属氧化物半导体场效晶体管F3的一第六输出端(图8中以接点7表示)连接于电路板的一第二信号接点S2，用以根据第三光束B3而闭路。

第四光发射器D4的一第七输入端(图8中以接点3表示)亦连接于数据撷取元件413的数字输出接脚DO3，且第四光发射器D4的一第八输入端(图8中以接点4表示)接地，用以根据启动电压Vh而输出一第四光束B4。第四金属氧化物半导体场效晶体管F4的一第七输出端(图8中以接点6表示)连接于电脑主机41的一第二传输接脚426，且第四金属氧化物半导体场效晶体管F4的一第八输出端(图8中以接点5表示)连接于电路板的一第三信号接点S3，用以根据第四光束B3而闭路。其中当第二金属氧化物半导体场效晶体管F2以及第三金属氧化物半导体场效晶体管F3皆闭路时，启动通信电路4132，且传输电脑主机421的一电脑通信协定信息(未显示于图中)至电路板，且传输电路板的一装置通信协定信息(未显示于图中)至电脑主机421。于本较佳实施例中，通信电路4132为双刀双掷常开型的光继电器。至于本较佳实施例的电路板的测试系统4的动态测试的运作情形与前述第一较佳实施例中相同，而不再赘述。

本较佳实施例的电路板的测试系统4的开关电路412中以光继电器4111取代传统的单刀单掷继电器，而通信模块413中双刀双掷常开型的光继电器取代传统的单刀单掷继电器以及双刀双掷继电器。与传统的单刀单掷继电器以及双刀双掷继电器相比，光继电器可降低前述两种传统继电器所需损耗的电流，而具有可大幅降低激磁损耗的优点。另外，由于光继电器中的光发射器仅需低电压即可被驱动，故开关电路412不需设置有驱动电路，而可减少元件的成本。

需特别说明的是，本发明电路板的测试系统中的数据撷取元件以及驱动电路的接脚数量虽然有限，但可额外分别于数据撷取元件以及驱动电路上增设多工器(Multiplexer)，以扩充数据撷取元件以及驱动电路的接脚数量，以便于数据撷取元件以及驱动电路可连接于更多的单刀单掷继电器或双刀双掷继电器，而进一步地增加可测试的电子元件数量。换言之，测试人员于测试一个电路板的过程中，可测试的电子元件数量越多，其静态测试效率越高。

根据上述各较佳实施例可知，本发明电路板的测试系统可通过于测试治具上设置数据撷取元件以及开关电路，使得所欲测试的电子元件以及相对应的固定电阻形成等效电路，而得以由等效电路中取得对应于进行静态测试中的电子元件的实际电压值。之后由电脑系统通过公式以及该静态测试的实际电压值而计算获得对应于电子元件的实际电阻值，且电脑系统再判断实际电阻值是否介于预设电阻值范围，以判断该电子元件是否通过静态测试。

另外，本发明电路板的测试系统可通过数据撷取元件以及连接模块而形成电路板连接于电脑系统的模拟电路，使得电路板获得来自电脑系统的电力而通电，以便于利用数据撷取元件获得对应于进行动态测试中的电子元件的实际电压值。之后，电脑系统再判断该实际电压值是否介于预设电压值范围，以判断该电子元件是否通过动态测试。相较于现有人力测试方式，本发明电路板的测试系统可取代人力反复以电表上的接触探针依序接触每一欲测试的电子元件，而可节省人力以及时间，且具有较佳的测试效率。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，并非用以限定本发明的权利要求范围，因此凡其它未脱离本发明所揭示的精神下所完成的等效改变或修饰，均应包含于本案的权利要求范围内。

Claims (12)

1.一种电路板的测试系统，包括：

一电脑系统，用以判断一电路板上的一电子元件是否通过静态测试及动态测试；

一测试治具，分别连接于该电路板以及该电脑系统，用以获得该电路板的该电子元件的一实际电压值，该测试治具包括：

一接触元件，设置于该测试治具上，用以与该电路板的该电子元件接触；

一开关电路，连接于该接触元件，该开关电路包括一对应该电子元件的一固定电阻；

一连接模块，连接于该开关电路以及该电路板，用以连接该电路板以及该电脑系统，使该电脑系统与该电路板进行通信沟通，且该电脑系统经由该连接模块传输一电力至该电路板；以及

一数据撷取元件，电性连接于该开关电路以及该电脑系统，用以提供一启动电压至该开关电路，使该连接模块运作，并获得该电子元件的一实际电压值，该数据撷取元件包括：

一数字输出接脚，连接于该开关电路，用以输出该启动电压至该开关电路，使该电子元件与该固定电阻形成一等效电路；以及

一模拟输入接脚，连接于该电子元件，用以获得该电子元件于该静态测试中的该实际电压值；其中当该模拟输入接脚获得该实际电压值时，该数据撷取元件传输该实际电压值至该电脑系统，使该电脑系统根据该实际电压值而计算该电子元件于该静态测试中的一实际电阻值，当该实际电阻值介于一预设电阻值范围之间时，该电脑系统判断该电路板通过该静态测试；以及，该电子元件通过该静态测试后，对该电子元件进行该动态测试，且于该动态测试中，该数据撷取元件输出该启动电压至该开关电路且该开关电路将该启动电压传送至该连接模块，使该电脑系统经由该连接模块而传输电力至该电路板，以及，该数据撷取元件传送该电子元件于该动态测试中的该实际电压值至该电脑系统且该电脑系统于判断该实际电压值介于一默认电压值范围之间时，判断该电子元件通过该动态测试。

2.如权利要求1的电路板的测试系统，其中该连接模块包括：

一供电电路，连接于该开关电路、该电脑系统以及该电路板，用以于该供电电路被启动时，传输该电脑系统的该电力至该电路板；以及

一通信电路，连接于该开关电路、该电脑系统以及该电路板，用以于该通信电路被启动时，传输该电脑系统的一电脑通信协定信息至该电路板，且传输该电路板的一装置通信协定信息至该电脑系统。

3.如权利要求2的电路板的测试系统，其中该供电电路包括：

一单刀单掷继电器，连接于该开关电路的一驱动电路，且该单刀单掷继电器的一共用端连接于该电脑系统的一第一传输接脚，而该单刀单掷继电器的一常闭端连接于该电路板的一第一信号接点，用以于该单刀单掷继电器闭路时，传输该电力至该电路板；以及

一第一二极管，连接于该单刀单掷继电器，用以防止通过该供电电路的一电流逆流；而该通信电路包括：

一双刀双掷继电器，连接于该驱动电路，且该双刀双掷继电器的一第一共用端连接于该电脑系统的一第二传输接脚，该双刀双掷继电器的一第二共用端连接于该电脑系统的一第三传输接脚，而该双刀双掷继电器的一第一常闭端连接于该电路板的一第二信号接点，且该双刀双掷继电器的一第二常闭端连接于该电路板的一第三信号接点，用以于该双刀双掷继电器闭路时，传输该电脑通信协定信息至该电路板，且传输该装置通信协定信息至该电脑系统；以及

一第二二极管，连接于该双刀双掷继电器，用以防止通过该通信电路的一另一电流逆流。

4.如权利要求2的电路板的测试系统，其中该供电电路包括：

一第一双刀双掷继电器，连接于该开关电路的一驱动电路，且该第一双刀双掷继电器的一第一共用端连接于该电脑系统的一第一传输接脚，而该第一双刀双掷继电器的一第一常闭端连接于该电路板的一第一信号接点，用以于该第一双刀双掷继电器闭路时，传输该电力至该电路板；以及

一第一二极管，连接于该第一双刀双掷继电器，用以防止通过该供电电路的一电流逆流；而该通信电路包括：

一第二双刀双掷继电器，连接于该驱动电路，且该第二双刀双掷继电器的一第一共用端连接于该电脑系统的一第二传输接脚，该第二双刀双掷继电器的一第二共用端连接于该电脑系统的一第三传输接脚，而该第二双刀双掷继电器的一第一常闭端连接于该电路板的一第二信号接点，且该第二双刀双掷继电器的一第二常闭端连接于该电路板的一第三信号接点，用以于该第二双刀双掷继电器闭路时，传输该电脑通信协定信息至该电路板，且传输该装置通信协定信息至该电脑系统；以及

一第二二极管，连接于该第二双刀双掷继电器，用以防止通过该通信电路的一另一电流逆流。

5.如权利要求2的电路板的测试系统，其中该供电电路包括：

一第一光发射器，该第一光发射器的一第一输入端连接于该数据撷取元件，且该第一光发射器的一第二输入端接地，用以根据该启动电压而输出一第一光束；以及

一第一金属氧化物半导体场效晶体管，该第一金属氧化物半导体场效晶体管的一第一输出端连接于该电脑系统的一第一传输接脚，且该第一金属氧化物半导体场效晶体管的一第二输出端连接于该电路板的一第一信号接点，用以根据该第一光束而闭路且启动该供电电路；而该通信电路包括：

一第二光发射器，该第二光发射器的一第三输入端连接于该数据撷取元件，且该第二光发射器的一第四输入端接地，用以根据该启动电压而输出一第二光束；

一第二金属氧化物半导体场效晶体管，该第二金属氧化物半导体场效晶体管的一第三输出端连接于该电脑系统的一第二传输接脚，且该第二金属氧化物半导体场效晶体管的一第四输出端连接于该电路板的一第二信号接点，用以根据该第二光束而闭路；

一第三光发射器，该第三光发射器的一第五输入端连接于该数据撷取元件，且该第三光发射器的一第六输入端接地，用以根据该启动电压而输出一第三光束；以及

一第三金属氧化物半导体场效晶体管，该第三金属氧化物半导体场效晶体管的一第五输出端连接于该电脑系统的一第三传输接脚，且该第二金属氧化物半导体场效晶体管的一第六输出端连接于该电路板的一第三信号接点，用以根据该第三光束而闭路；其中当该第二金属氧化物半导体场效晶体管以及该第三金属氧化物半导体场效晶体管皆闭路时，启动该通信电路，并传输该电脑通信协定信息至该电路板，且传输该装置通信协定信息至该电脑系统。

6.如权利要求2的电路板的测试系统，其中该供电电路包括：

一单刀单掷继电器，连接于一驱动电路，且该单刀单掷继电器的一常闭端连接于该电脑系统的一第一传输接脚，而该单刀单掷继电器的一共用端连接于该电路板的一第一信号接点，用以于该单刀单掷继电器闭路时，传输该电力至该电路板；以及

一第一二极管，连接于该单刀单掷继电器，用以防止通过该供电电路的一电流逆流；而该通信电路包括：

一双刀双掷继电器，连接于该驱动电路，且该双刀双掷继电器的一第一常闭端连接于该电脑系统的一第二传输接脚，该双刀双掷继电器的一第二常闭端连接于该电脑系统的一第三传输接脚，而该双刀双掷继电器的一第一共用端连接于该电路板的一第二信号接点，且该双刀双掷继电器的一第二共用端连接于该电路板的一第三信号接点，用以于该双刀双掷继电器闭路时，传输该电脑通信协定信息至该电路板，且传输该装置通信协定信息至该电脑系统；以及

一第二二极管，连接于该双刀双掷继电器，用以防止通过该通信电路的一另一电流逆流。

7.如权利要求2的电路板的测试系统，其中该供电电路包括：

一第一双刀双掷继电器，连接于一驱动电路，且该第一双刀双掷继电器的一第一常闭端连接于该电脑系统的一第一传输接脚，而该第一双刀双掷继电器的一第一共用端连接于该电路板的一第一信号接点，用以于该第一双刀双掷继电器闭路时，传输该电力至该电路板；以及

一第一二极管，连接于该第一双刀双掷继电器，用以防止通过该供电电路的一电流逆流；而该通信电路包括：

一第二双刀双掷继电器，连接于该驱动电路，且该第二双刀双掷继电器的一第一常闭端连接于该电脑系统的一第二传输接脚，该第二双刀双掷继电器的一第二常闭端连接于该电脑系统的一第三传输接脚，而该第二双刀双掷继电器的一第一共用端连接于该电路板的一第二信号接点，且该第二双刀双掷继电器的一第二共用端连接于该电路板的一第三信号接点，用以于该第二双刀双掷继电器闭路时，传输该电脑通信协定信息至该电路板，且传输该装置通信协定信息至该电脑系统；以及

一第二二极管，连接于该第二双刀双掷继电器，用以防止通过该通信电路的一另一电流逆流。

8.如权利要求1的电路板的测试系统，其中该电脑系统包括：

一电脑主机，连接于该数据撷取元件以及该连接模块，且该电脑主机具有一预设电压值范围，该电脑主机用以判断该电路板是否通过测试；以及

一显示屏幕，连接于该电脑主机，用以显示该电路板的测试结果；其中当该电脑主机接收到该实际电压值时，判断该实际电压值是否介于该预设电压值范围之间，当该电脑系统判断该实际电压值不介于该预设电压值范围之间时，判断该电子元件未通过测试，且该显示屏幕显示一测试失败信息；而当该电脑主机判断该实际电压值介于该预设电压值范围之间时，判断该电子元件通过测试，且该显示屏幕显示一通过测试信息。

9.如权利要求1的电路板的测试系统，其中，该开关电路的该固定电阻连接于该数据撷取元件的一模拟输出接脚，且该开关电路还包括：

一单刀单掷继电器，该单刀单掷继电器的一常开端连接于该固定电阻，且该单刀单掷继电器的一共用端连接于该电子元件以及该模拟输入接脚；以及

一驱动电路，连接于该数据撷取元件以及该单刀单掷继电器，用以根据该启动电压而启动该连接模块或该单刀单掷继电器；其中当该连接模块被启动时，该电路板与该电脑系统之间的连接被建立，且该电路板被通电，使该数据撷取元件的该模拟输入接脚获得该电子元件的该实际电压值。

10.如权利要求1的电路板的测试系统，其中，该开关电路的该固定电阻连接于该数据撷取元件的一模拟输出接脚，且该开关电路还包括：

一第二固定电阻，对应于该电路板的一另一电子元件，且连接于该模拟输出接脚；

一双刀双掷继电器，该双刀双掷继电器的一第一常开接点连接于该固定电阻，且该双刀双掷继电器的一第二常开接点连接于该第二固定电阻，该双刀双掷继电器的一第一共用端连接于该电子元件以及该模拟输入接脚，而该双刀双掷继电器的一第二共用端连接于该另一电子元件以及该数据撷取元件的一另一模拟输入接脚；以及

一驱动电路，连接于该数据撷取元件以及该双刀双掷继电器，用以根据该启动电压而启动该连接模块或该双刀双掷继电器；其中当该连接模块被启动时，该电路板与该电脑系统之间的连接被建立，且该电路板被通电，使该数据撷取元件的该模拟输入接脚获得该电子元件的该实际电压值，且该数据撷取元件的该另一模拟输入接脚获得该另一电子元件的一另一实际电压值。

11.如权利要求1的电路板的测试系统，其中该开关电路还包括：

一光继电器，连接于该数据撷取元件以及该固定电阻，用以根据该启动电压而使该电子元件与该固定电阻形成一等效电路，该光继电器包括：

一第四光发射器，该光发射器的一第七输入端连接于该数据撷取元件，且该光发射器的一第八输入端接地，用以根据该启动电压而输出一第四光束；以及

一第四金属氧化物半导体场效晶体管，该第四金属氧化物半导体场效晶体管的一第七输出端连接于该固定电阻，且该第四金属氧化物半导体场效晶体管的一第八输出端连接于该数据撷取元件，用以根据该第四光束而闭路且启动该光继电器；其中当该光继电器被启动时，该电子元件与该固定电阻形成该等效电路；其中当该连接模块被启动时，该电路板与该电脑系统之间的连接被建立，且该电路板被通电，使该数据撷取元件的一模拟输入接脚获得该电子元件的该实际电压值。

12.如权利要求3的电路板的测试系统，其中该驱动电路系一驱动芯片，且该接触元件系一接触探针，而该启动电压系一高逻辑电平电压。