CN205787002U - 用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置 - Google Patents
用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN205787002U CN205787002U CN201520969255.9U CN201520969255U CN205787002U CN 205787002 U CN205787002 U CN 205787002U CN 201520969255 U CN201520969255 U CN 201520969255U CN 205787002 U CN205787002 U CN 205787002U
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- test
- probe card
- test machine
- motherboard
- liquid crystal
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Abstract
本实用新型公开了一种用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置，包括测试机和探针卡，所述的测试机和探针卡之间直接扣接；所述探针卡是CP测试时连接所述测试机与母板的设备；所述母板与所述测试机的测试通道相连，所述探针卡安装在所述母板上后，通过探针直接接触到所述测试机的Pad上，将芯片连接到整个测试系统之中；本实用新型的优点在于：能够有效的降低测试通道的各种噪声干扰，适合频率较高、引脚数目多的IC测试，提高了工作效率，降低了生产成本。
Description
技术领域
本发明涉及一种芯片测试装置，具体地说是一种用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置，属于芯片测试装置领域。
背景技术
LCD驱动控制芯片是典型的数-模混合SOC芯片，对于该类型芯片，芯片的管脚数目众多，且多为模拟管脚，如此大规模的输入、输出管脚对任何一个ATE设备来说都是一个不小的挑战，且模拟管脚测试时容易受到管脚寄生电容的影响，使得测试精度变差。其中，对于晶片测试(CP测试)环节，由于被测器件管脚非常多，探针卡和接口的设计与制做是CP测试的关键点，也是测试的难点之一。传统的测试机与探针卡之间的接口为电缆连接，电缆连接方式使用方便，成本低，但抗干扰能力若，主要应用低频测试(低于10MHz)。
发明内容
为了解决上述问题，本发明设计了一种用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置，能够有效的降低测试通道的各种噪声干扰，适合频率较高、引脚数目多的IC测试，提高了工作效率，降低了生产成本。
本发明的技术方案为：
用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置，包括测试机和探针卡，所述的测试机和探针卡之间直接扣接。
本实用新型直接扣接方式可以有效的降低测试通道的各种噪声干扰，适合频率较高、引脚数目多的IC测试，虽然直接扣接方式相对于电缆连接方式成本要高，但随着半导体产业的发展，集成电路结构更复杂，频率越来越高，直接扣接方式也会越来越普遍。
其中，所述探针卡是CP测试时连接测试机与母板的设备。所述母板与所述测试机的测试通道相连，探针卡安装在母板上后，通过探针直接接触到测试机的Pad上，将芯片连接到整个测试系统之中。
本发明的优点在于：能够有效的降低测试通道的各种噪声干扰，适合频率较高、引脚数目多的IC测试，提高了工作效率，降低了生产成本。
下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明。
附图说明
图1为本发明实施例的结构示意图。
具体实施方式
以下对本发明的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明，并不用于限定本发明。
实施例1
如图1所示，一种用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置，包括测试机和探针卡，所述的测试机和探针卡之间直接扣接。
本实用新型直接扣接方式可以有效的降低测试通道的各种噪声干扰，适合频率较高、引脚数目多的IC测试，虽然直接扣接方式相对于电缆连接方式成本要高，但随着半导体产业的发展，集成电路结构更复杂，频率越来越高，直接扣接方式也会越来越普遍。
其中，所述探针卡是CP测试时连接测试机与母板的设备。所述母板与所述测试机的测试通道相连，探针卡安装在母板上后，通过探针直接接触到测试机的Pad上，将芯片连接到整个测试系统之中。
最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (1)
1.用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置，其特征在于：包括测试机和探针卡，所述的测试机和探针卡之间直接扣接；所述探针卡是CP测试时连接所述测试机与母板的设备；所述母板与所述测试机的测试通道相连，所述探针卡安装在所述母板上后，通过探针直接接触到所述测试机的Pad上，将芯片连接到整个测试系统之中。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201520969255.9U CN205787002U (zh) | 2015-12-01 | 2015-12-01 | 用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201520969255.9U CN205787002U (zh) | 2015-12-01 | 2015-12-01 | 用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN205787002U true CN205787002U (zh) | 2016-12-07 |
Family
ID=57412891
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN201520969255.9U Expired - Fee Related CN205787002U (zh) | 2015-12-01 | 2015-12-01 | 用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN205787002U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106707140A (zh) * | 2017-01-04 | 2017-05-24 | 上海东软载波微电子有限公司 | Lcd驱动芯片的测试系统及方法 |
-
2015
- 2015-12-01 CN CN201520969255.9U patent/CN205787002U/zh not_active Expired - Fee Related
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106707140A (zh) * | 2017-01-04 | 2017-05-24 | 上海东软载波微电子有限公司 | Lcd驱动芯片的测试系统及方法 |
| CN106707140B (zh) * | 2017-01-04 | 2019-10-22 | 上海东软载波微电子有限公司 | Lcd驱动芯片的测试系统及方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US8484524B2 (en) | Integrated circuit with self-test feature for validating functionality of external interfaces | |
| CN202939234U (zh) | 一种电连接器件插拔通用测试系统 | |
| CN204789908U (zh) | 基于LabVIEW的电路板自动测试系统 | |
| CN106199385A (zh) | 一种用于芯片的测试插座及其测试电路 | |
| US20130046502A1 (en) | Motherboard test device | |
| CN109189617A (zh) | 一种通用串行总线c型接口检测方法和终端 | |
| CN107452305A (zh) | 一种用于屏幕检测的电流检测装置、系统和方法 | |
| CN205787002U (zh) | 用于液晶屏显示驱动芯片测试的晶片测试装置 | |
| CN202119855U (zh) | 集成电路开短路测试系统 | |
| CN206832849U (zh) | Plc主板测试治具 | |
| CN103163395B (zh) | 开关机测试装置 | |
| CN107422214B (zh) | 一种触摸屏测试装置 | |
| CN105974622B (zh) | 液晶显示模组及其制造方法、电子装置 | |
| CN205645200U (zh) | 用于液晶屏显示驱动芯片测试的色阶测试装置 | |
| CN103376404B (zh) | 芯片的输入/输出接口识别方法 | |
| CN103901249A (zh) | 接口信号测试装置 | |
| CN103197222B (zh) | 晶体管漏电流的测试方法 | |
| CN102141952A (zh) | 系统管理总线测试装置 | |
| CN208076622U (zh) | 一种便携式液体阻抗测量仪 | |
| CN104882434B (zh) | 一种电性测试结构及方法 | |
| CN106814296A (zh) | 液晶屏显示驱动芯片测试方法 | |
| CN206178072U (zh) | 一种tz‑603b自动探针台测试仪 | |
| CN208109948U (zh) | 一种新型自电容触控按键的测试工具 | |
| CN207351929U (zh) | 一种公路桥梁承载能力检测装置 | |
| CN105632960B (zh) | 优化探针台测试针压参数的方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20161207 Termination date: 20201201 |
|
| CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |