CN106707140B - Lcd驱动芯片的测试系统及方法 - Google Patents

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Abstract

一种LCD驱动芯片的测试系统及方法，所述测试系统包括：芯片承载台以及测试机，其中：所述芯片承载台，与所述测试机耦接，适于承载所测LCD驱动芯片；所述测试机，与所述所测LCD驱动芯片耦接，适于向所述所测LCD驱动芯片输出工作模式设置指令，以设置所述所测LCD驱动芯片的实际工作模式；在所述实际工作模式下，接收所述所测LCD驱动芯片输出的波形，依次提取每帧波形在每一个状态下的电压值，并分别与所述每帧波形每一个状态下预设的电压阈值进行比较，获取每帧波形的比较结果；将所述每帧波形的比较结果与所述实际工作模式下每帧波形的预设值进行对比，获取所述实际工作模式下所有帧波形的比较结果。上述方案能够提高LCD驱动芯片测试的准确度及测试效率。

Description

LCD驱动芯片的测试系统及方法
技术领域
本发明涉及芯片测试领域，尤其涉及一种LCD驱动芯片的测试系统及方法。
背景技术
目前，液晶屏显示器(Liquid Crystal Display，LCD)已经广泛应用于数码产品领域，与之配套的LCD驱动芯片的需求量也大幅度增加。LCD驱动芯片的测试贯穿在芯片的设计、制造与应用的全过程中，是保证驱动芯片品质的重要手段。
现有技术中，在对LCD驱动芯片进行测试时，通常是将LCD驱动芯片的波形所对应的显示器图形通过模拟器进行显示，测试人员通过示波器观察LCD显示驱动芯片的输出波形或模拟器的显示界面，并与理论上的仿真波形进行比对，来验证LCD驱动芯片的功能是否符合要求。
然而，现有的LCD驱动芯片测试方法易受测试人员的主观因素影响，测试准确度较差。此外，通过人工观察芯片的输出波形存在测试效率较低的问题。
发明内容
本发明实施例解决的技术问题是如何提高LCD驱动芯片测试的准确度及测试效率。
为解决上述技术问题，本发明实施例提供一种LCD驱动芯片的测试系统，包括：芯片承载台以及测试机，其中：所述芯片承载台，与所述测试机耦接，适于承载所测LCD驱动芯片；所述测试机，与所述所测LCD驱动芯片耦接，适于向所述所测LCD驱动芯片输出工作模式设置指令，以设置所述所测LCD驱动芯片的实际工作模式；在所述实际工作模式下，接收所述所测LCD驱动芯片输出的波形，依次提取每帧波形在每一个状态下的电压值，并分别与所述每帧波形每一个状态下预设的电压阈值进行比较，获取每帧波形的比较结果；将所述每帧波形的比较结果与所述实际工作模式下所述每帧波形的预设值进行对比，获取所述实际工作模式下所有帧波形的比较结果。
可选的，所述测试机，将每帧波形在第j个状态下的电压值Vj与预设的第一电压阈值Vi1和第二电压阈值Vi2进行比较，当Vj＞Vi1时，将所述第j个状态对应的比较结果设定为第一状态码；当Vj＜Vi2时，将所述第j个状态对应的比较结果设定为第二状态码；其中，Vi＞Vi1＞Vi2＞Vi+1，1≤i≤n-1，Vi为第i个档位对应的电压值，Vi+1为第i+1个档位对应的电压值，n为根据预设的理论波形电压值所划分出的档位数目，且i、n均为整数；每帧波形在每一个状态下对应的所述第一状态码以及所述第二状态码的集合为所述每帧波形的比较结果。
可选的，所述测试机，还适于接收所述所测LCD驱动芯片输出的偏置电压，并将所述偏置电压与所述实际工作模式下的预设偏置电压门限值进行比较，获取偏置电压的比较结果；所述测试机输出测试结果，所述测试结果包括：所述所有帧波形的比较结果，以及所述偏置电压的比较结果。
可选的，所述测试机，还适于将所述测试结果输出至所述芯片承载台；所述芯片承载台还适于在接收到所述测试结果时，根据所述测试结果将所述所测LCD驱动芯片进行分类或标记。
可选的，所述LCD驱动芯片包括时钟信号输入端，所述时钟信号输入端与所述测试机的时钟信号输出端耦接；所述测试机，适于根据向所述所测LCD驱动芯片输出时钟信号的时刻点，对接收到的所述所测LCD驱动芯片输出的波形进行同步。
可选的，所述芯片承载台包括以下任一种：机械手、探针台。
本发明实施例还提供了一种LCD驱动芯片的测试方法，包括：向所测LCD驱动芯片输出工作模式设置指令；设置所述所测LCD驱动芯片的实际工作模式；接收所述所测LCD驱动芯片输出的波形；依次提取每帧波形在每一个状态下的电压值；将所述每帧波形在每一个状态下的电压值分别与所述每帧波形每一个状态下预设的电压阈值进行比较，获取每帧波形的比较结果；将所述每帧波形的比较结果与所述实际工作模式下所述每帧波形的预设值进行对比，获取所述实际工作模式下所有帧波形的比较结果；输出所述测试结果。
可选的，将所述每帧波形在每一个状态下的电压值分别与所述每帧波形每一个状态下预设的电压阈值进行比较，包括：将每帧波形在第j个状态下的电压值Vj与预设的第一电压阈值Vi1和第二电压阈值Vi2进行比较，当Vj＞Vi1时，将所述第j个状态对应的比较结果设定为第一状态码；当Vj＜Vi2时，将所述第j个状态对应的比较结果设定为第二状态码；其中，Vi＞Vi1＞Vi2＞Vi+1，1≤i≤n-1，Vi为第i个档位对应的电压值，Vi+1为第i+1个档位对应的电压值，n为根据预设的理论波形电压值所划分出的档位数目，且i、n均为整数；每帧波形在每一个状态下对应的所述第一状态码以及所述第二状态码的集合为所述每帧波形的比较结果。
可选的，在输出所述测试结果之前，还包括：接收所述所测LCD驱动芯片输出的偏置电压；将所述偏置电压与所述实际下的预设偏置电压门限值进行比较，获取偏置电压的比较结果；所述测试结果还包括所述偏置电压的比较结果。
可选的，所述输出测试结果，包括：将所述测试结果输出至承载所述所测LCD驱动芯片的芯片承载台，使得所述芯片承载台根据所述测试结果将所述所测LCD驱动芯片进行分类或标记。
可选的，所述芯片承载台包括以下任一种：机械手、探针台。
可选的，在向所述所测LCD驱动芯片输出工作模式设置指令之前，还包括：向所述所测LCD驱动芯片的时钟信号输入端输入时钟信号；根据向所述所测LCD驱动芯片输出时钟信号的时刻点，对接收到的所述所测LCD驱动芯片输出的波形进行同步。
与现有技术相比，本发明实施例的技术方案具有以下有益效果：
在接收到所测LCD驱动芯片生成的与实际工作模式对应的波形时，提取每帧波形在每一个状态下的电压值，并分别与实际工作模式下每帧波形每一个状态下预设的电压阈值进行比较，从而可以获取每帧波形的比较结果。将每帧波形的比较结果与实际工作模式下每帧波形的预设值进行对比，获取实际工作模式下所有帧波形的比较结果，从而完成对所测LCD驱动芯片的测试。上述方案将所测LCD驱动芯片输出的波形对应的电压与实际工作模式预设的电压阈值进行比较，并不依赖于人工观察芯片的输出波形，故可以提高LCD驱动芯片测试的准确度及测试效率。
进一步，在测试完成后，测试机将测试结果输出至芯片承载台。芯片承载台根据测试结果将LCD驱动芯片进行分类或标记，可以自动地完成芯片分类，进一步提高LCD驱动芯片的测试效率。
附图说明
图1是本发明实施例中的一种LCD驱动芯片的测试系统的结构示意图；
图2是本发明实施例中的一种偏置电压生成单元的结构示意图；
图3是本发明实施例中的一种LCD驱动芯片输出的波形示意图；
图4是本发明实施例中的一种LCD驱动芯片的COM0端口输出波形示意图；
图5是本发明实施例中的一种LCD驱动芯片的测试方法的流程图。
具体实施方式
现有技术中，在对LCD驱动芯片进行测试时，通常是将LCD驱动芯片的波形所对应的显示器图形通过模拟器进行显示，测试人员通过示波器观察LCD显示驱动芯片的输出波形或模拟器的显示界面，并与理论上的仿真波形进行比对，来验证LCD驱动芯片的功能是否符合要求。
然而，现有的LCD驱动芯片测试方法易受测试人员的主观因素影响，测试准确度较差。此外，通过人工观察芯片的输出波形需要花费大量的时间，导致LCD驱动芯片的测试效率较低。
在本发明实施例中，在接收到所测LCD驱动芯片生成的与实际工作模式对应的波形时，提取每帧波形在每一个状态下的电压值，并分别与实际工作模式下每帧波形每一个状态下预设的电压阈值进行比较，从而可以获取每帧波形的比较结果。将每帧波形的比较结果与实际工作模式下每帧波形的预设值进行对比，获取实际工作模式下所有帧波形的比较结果，从而完成对所测LCD驱动芯片的测试。上述方案将所测LCD驱动芯片输出的波形对应的电压与实际工作模式预设的电压阈值进行比较，并不依赖于人工观察芯片的输出波形，故可以提高LCD驱动芯片测试的准确度及测试效率。
为使本发明的上述目的、特征和有益效果能够更为明显易懂，下面结合附图对本发明的具体实施例做详细的说明。
参照图1，本发明实施例提供了一种LCD驱动芯片的测试系统，包括：芯片承载台102以及测试机101。
在具体实施中，芯片承载台102，适于承载所测LCD驱动芯片103，以便于测试机101对所测LCD驱动芯片103进行测试。在芯片承载台102上，可以设置有探针或者插槽，以与所测LCD驱动芯片103的引脚建立电连接。
芯片承载台102可以为机械手，也可以为探针台，还可以为其他类型的承载装置。
在实际应用中，在对LCD驱动芯片进行测试之前，先将所测LCD驱动芯片放置在芯片承载台102。可以通过人工将所测LCD驱动芯片放置在芯片承载台102，也可以通过机械抓手等装置将所测LCD驱动芯片自动地放置在芯片承载台102。
在具体实施中，当所测LCD驱动芯片103放置在芯片承载台102上之后，测试机101可以与所测LCD驱动芯片103进行通信。当测试机101检测到测试人员输入的开始测试的触发信号时，向所测LCD驱动芯片103输出工作模式设置指令，以设置所测LCD驱动芯片103的实际工作模式。
所测LCD驱动芯片103在接收到工作模式设置指令后，根据工作模式设置指令设置实际工作模式，并输出与实际工作模式对应的波形。测试机101在接收到所测LCD驱动芯片103输出的波形后，依次提取每帧波形在每一个状态下的电压值，并分别与实际工作模式下每帧波形每一个状态下预设的电压阈值进行比较，获取每帧波形的比较结果。在获取到每帧波形的比较结果之后，将每帧波形的比较结果与实际工作模式下每帧波形的预设值进行比对，获取实际工作模式下所有帧波形的比较结果，将得到的比较结果作为测试结果。
当每帧波形的比较结果与实际工作模式下每帧波形的预设值相同时，得到的结果为所测LCD驱动芯片103功能正常。反之，当每帧波形的比较结果与实际工作模式下每帧波形的预设值不同时，得到的结果为所测LCD驱动芯片103功能异常。
在具体实施中，可以预先模拟出功能正常的LCD驱动芯片对应的理论波形，并根据电压值大小，将每帧理论波形电压值划分为n个档位。在实际应用中可知，每帧波形包括8个状态。针对每一个状态，其对应的电压值均可能不同。在一帧波形中，可能存在部分状态对应的电压值相同的情况。
例如，在一帧波形中，第1个状态和第3个状态、第4个状态对应的电压值均为V1，第2个状态和第6个状态对应的电压值均为V2，第5个状态和第8个状态对应的电压值均为V3，第7个状态对应的电压值为V0。则可以将该帧波形划分为4个档位，依次为第1档位、第2档位、第3档位以及第4档位，第1档位对应的电压值为V3，第2档位对应的电压值为V2，第3档位对应的电压值为V1，第四档位对应的电压值为V0。
在每两个档位之间，分别设置第一电压阈值以及第二电压阈值，第一电压阈值大于第二电压阈值且小于两个档位中的最大电压值，第二电压阈值大于两个档位中的最小电压值。
在具体实施中，针对第i个档位，设定Vi为第i个档位对应的电压值，Vi+1为第i+1个档位对应的电压值，Vi1为第一电压阈值，Vi2为第二电压阈值，且Vi＞Vi1＞Vi2＞Vi+1，1≤i≤n-1，n为根据预设的理论波形电压值所划分出的档位数目，且i、n均为整数。
将每帧波形在第j个状态下的电压值Vj与第i个档位对应的第一电压阈值Vi1、第二电压阈值Vi2进行比较，当Vj＞Vi1时，将第j个状态对应的比较结果设定为第一状态码；当Vj＜Vi2时，将第j个状态对应的比较结果设定为第二状态码。在对一帧波形的每一个状态完成比较之后，可以得到该帧波形对应的比较结果，每帧波形的比较结果为：每帧波形在每一个状态下的第一状态码以及第二状态码的集合。
在具体实施中，可以将第一状态码设定为H，将第二状态码设定L。
在实际应用中可知，一帧波形对应8个状态，因此，得到的一帧波形的比较结果为由H和L组成的8位数据。
由于每帧波形被划分为n个档位，针对每两个相邻的档位，均设置对应的第一电压阈值以及第二电压阈值，并将第j个状态下的电压值分别与第一电压值以及第二电压值进行比较。因此，一帧波形的比较结果包括n-1组。
在得到一帧波形的n-1组比较结果之后，可以将n-1组比较结果分别与该帧波形的n-1组预设值进行比较，得到的比较结果包括：与预设值完全相同、与预设值不完全相同。在将所有帧波形的n-1组比较结果与该帧波形的n-1组预设值进行比较之后，即可获知所有帧波形的比较结果。当所有帧波形比较结果均为与预设值完全相同时，得到的测试结果为所测LCD驱动芯片103功能正常；反之，当其中一帧波形的比较结果为与预设值不完全相同时，得到的测试结果为所测LCD驱动芯片103功能异常。
在具体实施中，每帧波形的n-1组预设值可以通过理论仿真得出。在仿真工具中，设置LCD驱动芯片的实际工作模式，使得LCD驱动芯片输出相应的波形。提取LCD驱动芯片输出的每帧波形在每一个状态下的电压值，并将其与每两个相邻档位设置的第一电压阈值以及第二电压阈值进行比较，得到的n-1组比较结果作为n-1组预设值，并保存在测试机101中。
在具体实施中，测试机101在得到测试结果后，可以将测试结果输出至芯片承载台102。芯片承载台102可以根据测试结果对所测LCD驱动芯片103进行分类或标记。
例如，芯片承载台包括两个出料口，分别为功能正常芯片出料口以及功能异常芯片出料口。当接收到的测试结果为所测LCD驱动芯片功能正常时，将所测LCD驱动芯片输出至功能正常芯片出料口。当接收到的测试结果为所测LCD驱动芯片功能异常时，将所测LCD驱动芯片输出至功能异常芯片出料口。
芯片承载台根据测试结果将所测LCD驱动芯片通过相应出料口输出，可以自动地将所测LCD驱动芯片分类，而无需人工将所测LCD驱动芯片分类，故能够提高芯片测试效率。
又如，芯片承载台在接收到测试机输出的测试结果时，根据测试结果，将功能异常的所测LCD驱动芯片表面通过打墨点进行标记，功能正常的所测LCD驱动芯片表面则不做标记。
可以理解的是，芯片承载台还可以采用其他的方法，根据测试结果对所测LCD驱动芯片进行分类或标记，此处不做赘述。
在具体实施中，所测LCD驱动芯片103的时钟信号由能够产生固定振荡周期的晶体振荡器提供。然而，若采用独立的晶体振荡器为所测LCD驱动芯片103提供时钟信号，则可能存在晶体振荡器输出的时钟信号的初始相位不固定的问题，也即每一次晶体振荡器输出的时钟信号的初始相位可能均不相同，导致测试机101难以对LCD驱动芯片输出的波形进行同步测试。
在本发明实施例中，为避免上述问题的出现，在进行测试时，测试机101的时钟信号输出端与所测LCD驱动芯片103的时钟信号输入端耦接，由测试机101为所测LCD驱动芯片103提供时钟信号。测试机101在为所测LCD驱动芯片103提供时钟信号时，可以记录向所测LCD驱动芯片103输出时钟信号的时刻点。在接收到所测LCD驱动芯片103输出的波形时，根据向所测LCD驱动芯片103输出时钟信号的时刻点t0，对接收到的所测LCD驱动芯片103输出的波形进行同步处理。
在实际应用中，测试人员可以预先通过仿真软件，仿真所测LCD驱动芯片103从接收到时钟信号到输出波形的时长t。测试机101在向所测LCD驱动芯片103输出时钟信号后，即可将同步时刻点设置为时刻点t0+t，也即：从时刻点t0+t开始，测试机101依次提取每帧波形在每一个状态下的电压值，并获取每帧波形的比较结果。
下面对本发明上述实施例中提供的LCD驱动芯片的测试系统的工作原理及测试流程进行说明。
在实际应用中可知，LCD驱动芯片包括公共背电极端(COM)端口以及公共段电极端(SEG)接口。所测LCD驱动芯片在接收到工作模式设置指令之后，设置实际工作模式，分别通过COM端口和SEG端口输出波形。
对LCD驱动芯片进行测试时，分别对LCD驱动芯片的COM端口以及SEG端口进行测试。
在具体实施中，所测LCD驱动芯片中设置有偏置电压生成单元、COM端口波形生成单元以及SEG端口波形生成单元。所测LCD驱动芯片在接收到测试机101发送的工作模式设置指令时，设置实际工作模式并生成与实际工作模式对应的偏置电压，并分别输出至COM端口波形生成单元以及SEG端口波形生成单元。COM端口波形生成单元在偏置电压的驱动下，生成相应波形并通过COM端口输出至测试机101。SEG端口波形生成单元在偏置电压的驱动下，生成相应波形并通过SEG端口输出至测试机101。
在对所测LCD驱动芯片的COM端口进行测试时，测试机101可以获取COM端口的输出波形，提取COM端口的输出波形在每一个状态下的电压值，并与预设的实际工作模式下COM端口在每一个状态下预设的电压阈值进行比较，得到COM端口的每帧波形的比较结果。
相应地，在对所测LCD驱动芯片的SEG端口进行测试时，测试机101可以获取SEG端口的输出波形，提取SEG端口的输出波形在每一个状态下的电压值，并与预设的实际工作模式下SEG端口在每一个状态下的电压阈值进行比较，得到SEG端口的每帧波形的比较结果。
参照图2，给出了本发明实施例中的一种偏置电压生成单元20的结构示意图。图2中，偏置电压生成单元20包括三个信号输入端口：信号输入口bias0、信号输入口bias1以及信号输入口bias2。此外，偏置电压生成单元20包括分压电阻R1～R6，每一个分压电阻的阻值均相等。分压电阻R1～R5的两端均分别并联有开关S1～S5。
可以理解的是，图2示出的分压电阻以及开关仅为示意图，在实际应用中偏置电压生成单元20的结构并不仅限于图2中所示。
测试机101根据工作模式设置指令，选择三个信号输入端口中的一个，以确定实际工作模式。在不同的实际工作模式下，各个偏置电压输出端口输出的电压不同。
当测试机101输出的实际工作模式为工作模式0时，信号输入口bias0输入高电平信号。此时，偏置电压生成单元20中的分压电阻R1对应的开关S1闭合，也即分压电阻R1被短路。偏置电压生成单元20中的5个偏置电压输出端口的输出电压依次为：V4’＝VLCD，V3’＝4/5*VLCD，V2’＝3/5*VLCD，V1’＝2/5*VLCD，V0’＝1/5*VLCD。
当测试机101输出的实际工作模式为工作模式1时，信号输入口bias1输入高电平信号。此时，偏置电压生成单元20中的分压电阻R1对应的开关S1闭合，也即分压电阻R1被短路；分压电阻R2对应的开关S2闭合，也即分压电阻R2被短路。偏置电压生成单元20中的5个偏置电压输出端口的输出电压依次为：V4’＝VLCD，V3’＝VLCD，V2’＝3/4*VLCD，V1’＝2/4*VLCD，V0’＝1/4*VLCD。
当测试机101输出的实际工作模式为工作模式2时，信号输入口bias2输入高电平信号。此时，偏置电压生成单元20中的分压电阻R1对应的开关S1闭合，也即分压电阻R1被短路；分压电阻R2对应的开关S2闭合，也即分压电阻R2被短路；分压电阻R3对应的开关S3闭合，也即分压电阻R3被短路。偏置电压生成单元20中的5个偏置电压输出端口的输出电压依次为：V4’＝VLCD，V3’＝VLCD，V2’＝VLCD，V1’＝2/3*VLCD，V0’＝1/3*VLCD。
从上述对偏置电压生成单元的描述可知，针对测试机101输出的实际工作模式的不同，偏置电压生成单元输出的偏置电压不同。
偏置电压生成单元生成的偏置电压输出至COM端口波形生成单元以及SEG端口波形生成单元。当输入的偏置电压不同时，COM端口波形生成单元生成的波形的幅度不同；相应地，SEG端口波形生成单元生成的波形的幅度也不相同。
COM端口波形生成单元以及SEG端口波形生成单元输出的波形对应的电压值包括4个档位，第1档位对应的电压值为V3，第2档位对应的电压值为V2，第3档位对应的电压值为V1，第4档位对应的电压值为V0。
在一帧内，COM端口波形生成单元输出的波形和SEG端口波形生成单元输出的波形会发生时间相等的8次变化，也即：在一帧内，在T1、T2、……、T8，COM端口波形生成单元输出的波形存在8次跳变，SEG端口波形生成单元输出的波形同样存在8次跳变。
由上可见，在每一帧内，COM端口波形生成单元输出的波形以及SEG端口波形生成单元输出的波形一直处于变化的状态。若通过人工将COM端口波形生成单元输出的波形以及SEG端口波形生成单元输出的波形与预设的波形进行比对，工作量较大，且精度较差。
参照图3，给出了本发明实施例中的一种LCD驱动芯片的输出的波形示意图。在实际应用中，LCD驱动芯片包括四个COM端口以及两个SEG端口，四个COM端口依次为COM0、COM1、COM2以及COM3，两个SEG端口依次为SEG0、SEG1。
在本发明一实施例中，当i＝1时，设定V4为第1档位与第2档位之间的第一电压阈值，设定V5为第1档位与第2档位之间的第二电压阈值，且V3＞V4＞V5＞V2。当i＝2时，设定V6为第2档位与第3档位之间的第一电压阈值，设定V7为第2档位与第3档位之间的第二电压阈值。当i＝3时，设定V8为第3档位与第4档位之间的第一电压阈值，设定V9为第3档位与第4档位之间的第二电压阈值。设定第一状态码为H，第二状态码为L。
测试机提取T1时刻～T8时刻的波形的电压值，并分别与V4和V5进行比较、与V6和V7进行比较以及与V8和V9进行比较，得到三组比较结果。
下面结合图4，以COM端口COM0为例进行说明。
图4中，针对COM端口COM0，在T1时刻，第1个状态下的电压值为V0，且V0＜V5，则判定第1个状态下COM0对应的比较结果为L。在T2时刻，第2个状态下的电压值为V3，且V3＞V4，则判定第2个状态下COM0对应的比较结果为H。在T3时刻，第3个状态下的电压值为V2，且V2＜V5，则判定第3个状态下COM0对应的比较结果为L。在T4时刻，第4个状态下的电压值为V1，且V1＜V5，则判定第4个状态下COM0对应的比较结果为L。在T5时刻，第5个状态下的电压值为V2，且V2＜V5，则判定第5个状态下COM0对应的比较结果为L。在T6时刻，第6个状态下的电压值为V1，则判定第6个状态下COM0对应的比较结果为L。在T7时刻，第7个状态下的电压值为V2，则判定第7个状态下COM0对应的比较结果为L。在T8时刻，第8个状态下的电压值为V1，则判定第8个状态下COM0对应的比较结果为L。
因此，T1时刻～T8时刻对应的比较结果为：LHLLLLLL，也即得到的第一组比较结果为LHLLLLLL。
相应地，针对COM端口COM0，在T1时刻～T8时刻，将每一个状态下的电压值分别与V6、V7进行比较。
在T1时刻，V0＜V7，故第1个状态下COM0对应的比较结果为L。在T2时刻，V3＞V6，故第2个状态下COM0对应的比较结果为H。在T3时刻，V2＞V6，故第3个状态下COM0对应的比较结果为H。在T4时刻，V1＜V7，故第4个状态下COM0对应的比较结果为L。在T5时刻，V2＞V6，故第5个状态下COM0对应的比较结果为H。在T6时刻，V1＜V7，故第6个状态下COM0对应的比较结果为L。在T7时刻，V2＞V6，故第7个状态下COM0对应的比较结果为H。在T8时刻，V1＜V7，故第8个状态下COM0对应的比较结果为L。
因此，T1～T8时刻对应的比较结果为：LHHLHLHL，也即得到的第二组比较结果为LHHLHLHL。
相应地，针对COM端口COM0，在T1时刻～T8时刻，将每一个状态下的电压值分别与V8、V9进行比较。
在T1时刻，V0＜V9，故第1个状态下COM0对应的比较结果为L。在T2时刻，V3＞V8，故第2个状态下COM0对应的比较结果为H。在T3时刻，V2＞V8，故第3个状态下COM0对应的比较结果为H。在T4时刻，V1＞V8，故第4个状态下COM0对应的比较结果为H。在T5时刻，V2＞V8，故第5个状态下COM0对应的比较结果为H。在T6时刻，V1＞V8，故第6个状态下COM0对应的比较结果为H。在T7时刻，V2＞V8，故第7个状态下COM0对应的比较结果为H。在T8时刻，V1＞V8，故第8个状态下COM0对应的比较结果为H。
因此，T1～T8时刻对应的比较结果为：LHHHHHHH，也即得到的第三组比较结果为LHHHHHHH。
通过上述步骤，得到三组比较结果。
在得到三组比较结果之后，可以分别将三组比较结果分别与实际工作模式下每帧波形的预设值进行比较。
例如，实际工作模式0的第一组预设值为LHLLLLLL，第二组预设值为LHHLHLHL，第三组预设值为LHHHHHHH。将工作模式0的三组预设值分别与三组比较结果进行比较，可以得知三组预设值分别与三组比较结果均相等，因此，得到的结果为“在T1～T8时刻，COM0端口测试正常”，也即测试结果为“T1～T8时刻，COM0端口测试正常”。
又如，实际工作模式0的第一组预设值为LHLLLLLL，第二组预设值为LHHHHHHL，第三组预设值为LHHHHHHH。将工作模式0的三组预设值分别与三组比较结果进行比较，可以得知第二组预设值与第二组比较结果不同，因此，得到的结果为“在T1～T8时刻，COM0端口测试错误”，也即测试结果为“T1～T8时刻，COM0端口测试错误”。
在实际应用中，可以采用上述方法，并行地对COM0～COM4以及SEG0～SEG1进行测试，以提高测试速度和测试效率。
当所有的COM端口以及SEG端口均正常时，判定所测LCD驱动芯片为功能正常的芯片。当COM端口以及SEG端口中的任一个测试结果为测试错误时，判定所测LCD驱动芯片为功能异常的芯片。
测试机101将测试结果发送至芯片承载台102。芯片承载台102根据测试结果，对所测LCD驱动芯片进行分类或标记。芯片承载台可以将功能正常的所测LCD驱动芯片归为一类并放置在一起，将功能异常的所测LCD驱动芯片归为一类并放置在一起。芯片承载台也可以将功能异常的所测LCD驱动芯片的表面通过打墨点进行标记，而功能正常的所测LCD驱动芯片的表面则不做标记。
由此可见，在接收到所测LCD驱动芯片生成的与实际工作模式对应的波形时，提取每帧波形在每一个状态下的电压值，并分别与实际工作模式下每帧波形每一个状态下预设的电压阈值进行比较，从而可以获取每帧波形的比较结果。将每帧波形的比较结果与实际工作模式下每帧波形的预设值进行对比，获取实际工作模式下所有帧波形的比较结果，从而完成对所测LCD驱动芯片的测试。上述方案将所测LCD驱动芯片输出的波形对应的电压与实际工作模式预设的电压阈值进行比较，并不依赖于人工观察芯片的输出波形，故可以提高LCD驱动芯片测试的准确度及测试效率。
在现有技术中，大部分的测试机在对所测LCD驱动芯片进行测试时，仅设置一组比较电压阈值，导致测试结果的准确性较差。而在本发明实施例中，在对所测LCD驱动芯片进行测试时，在两个档位之间设置两个不同的电压比较阈值，可以提高测试结果的准确性。
在具体实施中，在对所测LCD驱动芯片进行测试时，还可以对所测LCD驱动芯片输出的偏置电压进行测试。当偏置电压的比较结果为正常，且每帧波形的比较结果与实际工作模式下每帧波形的预设值均相同时，判定所测LCD驱动芯片的功能正常；当偏置电压的比较结果为异常，或者每帧波形的比较结果与实际工作模式下每帧波形的预设值不完全相同时，判定所测LCD驱动芯片的功能异常。
在对所测LCD驱动芯片输出的偏置电压进行测试时，可以将所测LCD驱动芯片输出的偏置电压与实际工作模式下的预设偏置电压门限值进行比较。当所测LCD驱动芯片输出的偏置电压与预设偏置电压门限值相同时，则判定偏置电压的比较结果为正常；当所测LCD驱动芯片输出的偏置电压与预设偏置电压门限值不同时，则判定偏置电压的比较结果异常。
在具体实施中，当偏置电压生成单元包括多个偏置电压输出端口时，所测LCD驱动芯片输出的偏置电压为多个。在预先设置实际工作模式对应的偏置电压门限值时，需要设置相应个数的偏置电压门限值，且每一个偏置电压输出端口存在一一对应的偏置电压门限值。
例如，参照图2，偏置电压生成单元包括5个偏置电压输出端口，则每一个实际工作模式对应的偏置电压门限值为5个，且5个偏置电压输出端口与5个偏置电压门限值一一对应。
结合图2可知，针对不同的实际工作模式，偏置电压生成单元生成的偏置电压不同。例如，当测试机设置的实际工作模式为工作模式1时，5个偏置电压输出端口的输出电压依次为：V4’＝VLCD，V3’＝4/5*VLCD，V2’＝3/5*VLCD，V1’＝2/5*VLCD，V0’＝1/5*VLCD。当测试机设置的实际工作模式为工作模式2时，5个偏置电压输出端口的输出电压依次为：V4’＝VLCD，V3’＝VLCD，V2’＝3/4*VLCD，V1’＝2/4*VLCD，V0’＝1/4*VLCD。
在对所测LCD驱动芯片输出的偏置电压进行测试时，将偏置电压生成单元输出的偏置电压与预设的实际工作模式下对应的预设偏置电压门限值进行比较。
例如，预设的实际工作模式为工作模式1，则可以预先设定5个偏置电压输出端口输出的偏置电压门限值分别为：VLCD、4/5*VLCD、3/5*VLCD、2/5*VLCD以及1/5*VLCD。在对所测LCD驱动芯片输出的偏置电压进行测试时，将5偏置电压输出端口输出的偏置电压分别与各自对应的偏置电压门限值进行比较。当5个偏置电压输出端口输出的偏置电压分别与各自对应的偏置电压门限值均相同时，判定偏置电压的比较结果正常；反之，当5个偏置电压输出端口输出的偏置电压中的其中一个与自身对应的偏置电压门限值不同时，则判定偏置电压的比较结果异常。
参照图5，给出了本发明实施例中的一种LCD驱动芯片的测试方法，以下通过具体步骤进行详细说明。
步骤S501，向所测LCD驱动芯片输出工作模式设置指令。
在具体实施中，当测试人员存在对LCD驱动芯片的测试需求时，可以对测试机进行操作。当测试机检测到测试人员对测试机的操作时，向所测LCD驱动芯片输出工作模式设置指令，以设置所测LCD驱动芯片的实际工作模式。
例如，在测试机的操作界面，测试人员点击“开始测试”选项。当测试机检测到“开始测试”选项被触发时，向所测LCD驱动芯片输出工作模式设置指令。
在具体实施中，在执行步骤S501之前，测试机可以通过时钟信号输出端口向所测LCD驱动芯片输出时钟信号。所测LCD驱动芯片根据测试机输出的时钟信号，输出相应的波形。
步骤S502，接收所述所测LCD驱动芯片输出的波形。
在具体实施中，当所测LCD驱动芯片接收到工作模式设置指令之后，生成与工作模式设置指令对应的波形并输出至测试机。
步骤S503，依次提取每帧波形在每一个状态下的电压值。
在具体实施中，每一帧波形对应多个状态，测试机可以依次提取每一帧波形在每一个状态下的电压值。
步骤S504，将所述每帧波形在每一个状态下的电压值分别与所述每帧波形每一个状态下预设的电压阈值进行比较。
在具体实施中，可以预先模拟出正常的LCD驱动芯片对应的理论波形，并根据电压值大小，将理论波形电压值划分为n个档位。将每帧波形在第j个状态下的电压值Vj与预设的第一电压阈值Vi1和第二电压阈值Vi2进行比较，当Vj＞Vi1时，将第j个状态对应的比较结果设定为第一状态码；当Vj＜Vi2时，将第j个状态对应的比较结果设定为第二状态码，其中：Vi＞Vi1＞Vi2＞Vi+1，Vi为第i个档位对应的电压值，Vi+1为第i+1个档位对应的电压值，n为根据预设的理论波形电压值所划分出的档位数目，且i、n均为整数。
步骤S505，获取每帧波形的比较结果。
在具体实施中，每帧波形在每一个状态下对应的所述第一状态码以及所述第二状态码的集合为所述每帧波形的比较结果。
步骤S506，将所述每帧波形的比较结果与所述实际工作模式下所述每帧波形的预设值进行对比，获取所述实际工作模式下所有帧波形的比较结果作为测试结果并输出。
在具体实施中，测试机可以将得到的测试结果输出至承载所测LCD驱动芯片的芯片承载台，使得芯片承载台根据测试结果将所测LCD驱动芯片分类。
例如，芯片承载台根据测试结果，将功能正常的芯片归为一类并放置在一起，将功能异常的芯片归为一类并放置在一起。芯片承载台也可以将功能异常的所测LCD驱动芯片的表面通过打墨点进行标记，而功能正常的所测LCD驱动芯片的表面则不做标记。
在具体实施中，芯片承载台可以为机械手，也可以为探针台，还可以为其他能够承载所测LCD驱动芯片的承载装置。
在具体实施中，测试机还可以接收所测LCD驱动芯片输出的偏置电压，将偏置电压与实际工作模式下对应的预设偏置电压门限值进行比较，获取偏置电压的比较结果。此时，测试结果可以包括：每帧波形对应的比较结果与所述实际工作模式下每帧波形对应的预设值进行对比得到的结果，以及偏置电压的比较结果。
步骤S501～步骤S506的具体执行流程可以参照本发明上述实施例中提供的LCD驱动芯片的测试系统中的具体描述，此处不做赘述。
本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序可以存储于一计算机可读存储介质中，存储介质可以包括：ROM、RAM、磁盘或光盘等。
虽然本发明披露如上，但本发明并非限定于此。任何本领域技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与修改，因此本发明的保护范围应当以权利要求所限定的范围为准。

Claims (10)

1.一种LCD驱动芯片的测试系统，其特征在于，包括：芯片承载台以及测试机，其中：
所述芯片承载台，与所述测试机耦接，适于承载所测LCD驱动芯片；
所述测试机，与所述所测LCD驱动芯片耦接，适于向所述所测LCD驱动芯片输出工作模式设置指令，以设置所述所测LCD驱动芯片的实际工作模式；在所述实际工作模式下，接收所述所测LCD驱动芯片输出的波形，依次提取每帧波形在每一个状态下的电压值，将每帧波形在第j个状态下的电压值Vj与预设的第一电压阈值Vi1和第二电压阈值Vi2进行比较，当Vj＞Vi1时，将所述第j个状态对应的比较结果设定为第一状态码；当Vj＜Vi2时，将所述第j个状态对应的比较结果设定为第二状态码；其中，Vi＞Vi1＞Vi2＞Vi+1，1≤i≤n-1，Vi为第i个档位对应的电压值，Vi+1为第i+1个档位对应的电压值，n为根据预设的理论波形电压值所划分出的档位数目，且i、n均为整数；每帧波形在每一个状态下对应的所述第一状态码以及所述第二状态码的集合为所述每帧波形的比较结果；将所述每帧波形的比较结果与所述实际工作模式下所述每帧波形的预设值进行对比，获取所述实际工作模式下所有帧波形的比较结果。
2.如权利要求1所述的LCD驱动芯片的测试系统，其特征在于，所述测试机，还适于接收所述所测LCD驱动芯片输出的偏置电压，并将所述偏置电压与所述实际工作模式下的预设偏置电压门限值进行比较，获取偏置电压的比较结果；所述测试机输出测试结果，所述测试结果包括：所述所有帧波形的比较结果，以及所述偏置电压的比较结果。
3.如权利要求2所述的LCD驱动芯片的测试系统，其特征在于，所述测试机，还适于将所述测试结果输出至所述芯片承载台；
所述芯片承载台还适于在接收到所述测试结果时，根据所述测试结果将所述所测LCD驱动芯片进行分类或标记。
4.如权利要求1所述的LCD驱动芯片的测试系统，其特征在于，所述LCD驱动芯片包括时钟信号输入端，所述时钟信号输入端与所述测试机的时钟信号输出端耦接；所述测试机，适于根据向所述所测LCD驱动芯片输出时钟信号的时刻点，对接收到的所述所测LCD驱动芯片输出的波形进行同步。
5.如权利要求1～4任一项所述的LCD驱动芯片的测试系统，其特征在于，所述芯片承载台包括以下任一种：机械手、探针台。
6.一种LCD驱动芯片的测试方法，其特征在于，包括：
向所测LCD驱动芯片输出工作模式设置指令；
设置所述所测LCD驱动芯片的实际工作模式；
接收所述所测LCD驱动芯片输出的波形；
依次提取每帧波形在每一个状态下的电压值；
将所述每帧波形在每一个状态下的电压值分别与所述每帧波形每一个状态下预设的电压阈值进行比较，获取每帧波形的比较结果，包括：将每帧波形在第j个状态下的电压值Vj与预设的第一电压阈值Vi1和第二电压阈值Vi2进行比较，当Vj＞Vi1时，将所述第j个状态对应的比较结果设定为第一状态码；当Vj＜Vi2时，将所述第j个状态对应的比较结果设定为第二状态码；其中，Vi＞Vi1＞Vi2＞Vi+1，1≤i≤n-1，Vi为第i个档位对应的电压值，Vi+1为第i+1个档位对应的电压值，n为根据预设的理论波形电压值所划分出的档位数目，且i、n均为整数；每帧波形在每一个状态下对应的所述第一状态码以及所述第二状态码的集合为所述每帧波形的比较结果；
将所述每帧波形的比较结果与所述实际工作模式下所述每帧波形的预设值进行对比，获取所述实际工作模式下所有帧波形的比较结果作为测试结果；
输出所述测试结果。
7.如权利要求6所述的LCD驱动芯片的测试方法，其特征在于，在所述输出所述测试结果之前，还包括：
接收所述所测LCD驱动芯片输出的偏置电压；
将所述偏置电压与所述实际工作模式下的预设偏置电压门限值进行比较，获取偏置电压的比较结果；
所述测试结果还包括所述偏置电压的比较结果。
8.如权利要求6所述的LCD驱动芯片的测试方法，其特征在于，所述输出所述测试结果，包括：将所述测试结果输出至承载所述所测LCD驱动芯片的芯片承载台，使得所述芯片承载台根据所述测试结果将所述所测LCD驱动芯片进行分类或标记。
9.如权利要求8所述的LCD驱动芯片的测试方法，其特征在于，所述芯片承载台包括以下任一种：机械手、探针台。
10.如权利要求6所述的LCD驱动芯片的测试方法，其特征在于，在向所述所测LCD驱动芯片输出工作模式设置指令之前，还包括：向所述所测LCD驱动芯片的时钟信号输入端输入时钟信号；根据向所述所测LCD驱动芯片输出时钟信号的时刻点，对接收到的所述所测LCD驱动芯片输出的波形进行同步。
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