KR101465589B1 - 프로브 카드 핀 검사 시스템 및 그 방법 - Google Patents

프로브 카드 핀 검사 시스템 및 그 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101465589B1
KR101465589B1 KR1020130055329A KR20130055329A KR101465589B1 KR 101465589 B1 KR101465589 B1 KR 101465589B1 KR 1020130055329 A KR1020130055329 A KR 1020130055329A KR 20130055329 A KR20130055329 A KR 20130055329A KR 101465589 B1 KR101465589 B1 KR 101465589B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
probe card
channel
pin
information processing
pogo
Prior art date
Application number
KR1020130055329A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20140135055A (ko
Inventor
이덕규
임창민
심상범
Original Assignee
주식회사 에스디에이
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 에스디에이 filed Critical 주식회사 에스디에이
Priority to KR1020130055329A priority Critical patent/KR101465589B1/ko
Publication of KR20140135055A publication Critical patent/KR20140135055A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101465589B1 publication Critical patent/KR101465589B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
    • G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

본 발명은 프로브 카드의 채널 개수에 상응하여 그 개수가 구비된 서로 다른 위치의 다수의 포고 핀 및, 입력 단자와 특정 위치의 포고 핀 접촉시, 접촉된 해당 포고 핀의 채널 식별자를 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치로 출력하는 인터페이스 장치를 포함하고, 상기 인터페이스 장치는 상기 다수의 포고 핀 각각에 자리가 일대일 매핑되어, 입력 단자와 특정 위치의 포고 핀 접촉시, 상기 접촉된 포고 핀에 매핑된 자리에서 접촉 신호를 인가하는 시프트 레지스터를 구비한 신호 입력부 및, 상기 시프트 레지스터의 각 자리마다 서로 다른 채널 식별자를 매핑시키고, 상기 신호 입력부가 접촉 신호를 인가한 자리에 매핑된 채널 식별자를 상기 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치로 출력하는 제어부를 포함하여 이루어진 프로브 카드 핀 검사 시스템에 관한 것으로, 인터페이스 장치가 프로브 카드의 각 채널의 식별자(예: 채널 번호 또는 채널 ID) 정보를 가지고 있어 입력단자로 프로브 카드의 어느 한 핀을 찍으면 그 핀의 채널 식별자 정보를 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치(예: PC)에 알려줄 수 있으며, 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치(예: PC)는 이를 가지고 어떤 핀이 접촉되었는지를 사용자에게 알려 줌과 더불어, 현재 검사할 프로브 카드 채널 맵(map) 데이터와 비교하여 오픈, 쇼트, 크로스(Open, Short, Cross) 등의 핀 검사 결과를 알려줄 수 있게 된다.

Description

프로브 카드 핀 검사 시스템 및 그 장치와 방법{Probe card pin examination system and apparatus and method}
본 발명은 프로브 카드 핀 검사 시스템 및 그 장치와 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 인터페이스 장치가 프로브 카드의 각 채널의 식별자(예: 채널 번호 또는 채널 ID) 정보를 가지고 있어 입력단자로 프로브 카드의 어느 한 핀을 찍으면 그 핀의 채널 식별자 정보를 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치(예: PC)에 알려줄 수 있도록 하고, 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치(예: PC)는 이를 가지고 어떤 핀이 접촉되었는지를 사용자에게 알려 줌과 더불어, 현재 검사할 프로브 카드 채널 맵(map) 데이터와 비교하여 오픈, 쇼트, 크로스(Open, Short, Cross) 등의 핀 검사 결과를 알려줄 수 있도록 하는, 프로브 카드 핀 검사 시스템 및 그 장치와 방법에 관한 것이다.
일반적으로, RSF의 품질부에서는 프로브 카드의 각 핀에 대한 오픈, 쇼트, 크로스(Open, Short, Cross)를 검사하기 위해 멀티 메타를 사용하여 사람이 수동으로 핀을 하나씩 검사한다.
그러나, 이 공정은 상당히 힘든 작업으로 3명의 인력이 필요로 한다.
즉, 핀 이름을 불러 주는 사람 1명, 인쇄회로기판(PCB) 위에 그 핀에 해당하는 패드(Pad)에 멀티 메타의 한쪽 단자를 접촉하는 사람 1명, 지정된 핀에 해당하는 니들(핀)에 멀티 메타 또 다른 한쪽 단자를 접촉하는 사람 1명이 필요하다.
따라서, 이 공정을 간소화하여 생산성을 높일 수 있는 장비가 필요로 한다.
본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위해 개발된 것으로, 인터페이스 장치가 프로브 카드의 각 채널의 식별자(예: 채널 번호 또는 채널 ID) 정보를 가지고 있어 입력단자로 프로브 카드의 어느 한 핀을 찍으면 그 핀의 채널 식별자 정보를 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치(예: PC)에 알려줄 수 있도록 하고, 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치(예: PC)는 이를 가지고 어떤 핀이 접촉되었는지를 사용자에게 알려 줌과 더불어 현재 검사할 프로브 카드 채널 맵(map) 데이터와 비교하여 오픈, 쇼트, 크로스(Open, Short, Cross) 등의 핀 검사 결과를 알려줄 수 있도록 하는, 프로브 카드 핀 검사 시스템 및 그 장치와 방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 프로브 카드 핀 검사 시스템은,
프로브 카드 핀 검사 정보처리장치를 구비한 프로브 카드 핀 검사 시스템에 있어서, 프로브 카드의 채널 개수에 상응하여 그 개수가 구비된 서로 다른 위치의 다수의 포고 핀 및, 입력 단자와 특정 위치의 포고 핀 접촉시, 접촉된 해당 포고 핀의 채널 식별자를 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치로 출력하는 인터페이스 장치를 포함하고, 상기 인터페이스 장치는 상기 다수의 포고 핀 각각에 자리가 일대일 매핑되어, 입력 단자와 특정 위치의 포고 핀 접촉시, 상기 접촉된 포고 핀에 매핑된 자리에서 접촉 신호를 인가하는 시프트 레지스터를 구비한 신호 입력부 및, 상기 시프트 레지스터의 각 자리마다 서로 다른 채널 식별자를 매핑시키고, 상기 신호 입력부가 접촉 신호를 인가한 자리에 매핑된 채널 식별자를 상기 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치로 출력하는 제어부를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치는 프로브 카드의 각 채널별로 서로 다른 검사 순서가 설정된 프로브 카드 채널 맵 데이터를 구비하고, 상기 제어부로부터 출력되는 채널 식별자의 출력 순서가 해당되는 채널의 설정 검사 순서와 상이한 경우 크로스(cross) 된 것으로 판별하여 사용자에게 알려주는 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치는 상기 프로브 카드 채널 맵 데이터에 연결된 채널 정보를 더 구비하고, 상기 제어부로부터 다수의 채널 식별자가 더불어 출력되는 경우, 상기 더불어 출력되는 채널 식별자가 연결된 채널들이고 그 더불어 출력되는 채널 식별자의 개수가 설정 개수보다 적은 경우 오픈(open) 된 것으로 판별하여 사용자에게 알려주고, 상기 더불어 출력되는 채널 식별자가 연결된 채널들이고, 그 더불어 출력되는 채널 식별자의 개수가 설정 개수보다 많은 경우 쇼트(short) 된 것으로 판별하여 사용자에게 알려주는 것을 특징으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위한 또 다른 본 발명에 따른 프로브 카드 핀 검사 장치는,
프로브 카드의 채널 개수에 상응하여 그 개수가 구비된 서로 다른 위치의 다수의 포고 핀 각각에 자리가 일대일 매핑되어, 입력 단자와 특정 위치의 포고 핀 접촉시, 상기 접촉된 포고 핀에 매핑된 자리에서 접촉 신호를 인가하는 시프트 레지스터를 구비한 신호 입력부 및, 상기 시프트 레지스터의 각 자리마다 서로 다른 채널 식별자를 매핑시키고, 상기 신호 입력부가 접촉 신호를 인가한 자리에 매핑된 채널 식별자를 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치로 출력하는 제어부를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위한 또 다른 본 발명에 따른 프로브 카드 핀 검사 방법은,
프로브 카드의 채널 개수에 상응하여 그 개수가 구비된 서로 다른 위치의 다수의 포고 핀과, 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치 및, 상기 다수의 포고 핀과 상기 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치 사이의 인터페이스 장치를 구비한 프로브 카드 핀 검사 시스템의 프로브 카드 핀 검사 방법에 있어서, 상기 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치가 입력 단자와 특정 위치의 포고 핀 접촉시, 접촉된 해당 포고 핀의 채널 식별자를 상기 인터페이스 장치로부터 입력받는 단계 및, 상기 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치가 상기 입력받은 채널 식별자를 화면에 표시하여 사용자에게 알려주는 단계를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치는 프로브 카드의 각 채널별로 서로 다른 검사 순서가 설정된 프로브 카드 채널 맵 데이터를 구비하고, 상기 인터페이스 장치로부터 입력된 채널 식별자의 출력 순서가 해당되는 채널의 설정 검사 순서와 상이한 경우 크로스(cross) 된 것으로 판별하여 사용자에게 알려주는 단계를 더 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.
그리고, 상기 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치는 상기 프로브 카드 채널 맵 데이터에 연결된 채널 정보를 더 구비하고, 상기 인터페이스 장치로부터 다수의 채널 식별자가 더불어 입력되는 경우, 상기 더불어 출력되는 채널 식별자가 연결된 채널들이고 그 더불어 출력되는 채널 식별자의 개수가 설정 개수보다 적은 경우 오픈(open) 된 것으로 판별하고, 상기 더불어 출력되는 채널 식별자가 연결된 채널들이고, 그 더불어 출력되는 채널 식별자의 개수가 설정 개수보다 많은 경우 쇼트(short) 된 것으로 판별하는 단계 및, 상기 판별 결과를 화면에 표시하여 사용자에게 알려주는 단계를 더 포함하여 이루어진 것을 특징으로 한다.
본 발명은 다음과 같은 효과가 있다.
1. 기계적 릴레이가 아닌 반도체 게이트(Gate)를 이용하기 때문에 릴레이보다 100배 이상 빠르다(한 채널당 약 10usec).
2. 릴레이 사용시 장비 수명이 있는 반면, 반도체 게이트(Gate)는 반영구적임
3. 핀 검사가 시작되면 사용자는 핀만 접촉하면 되므로 사용하기 쉽다.
4. 검사 인원이 1/3으로 줄어듦 --> 인건비 감소
5. 다양한 분야에 활용할 수 있어 상품성 가치가 있음(신호 입력 보드로 활용)
6. RS232로 PC와 통신하기 때문에 인터페이스(Interface) 보드가 필요 없으며, 드라이버(Driver)를 따로 개발하지 않아도 된다.
도 1은 본 발명에 따른 프로브 카드 핀 검사 장비의 구성을 도시한 도면
도 2는 본 발명에 따른 프로브 카드 핀 검사 시스템의 구성을 도시한 도면
도 3은 본 발명에 따른 프로브 카드 핀 검사 시스템의 동작을 순서대로 도시한 플로우 챠트
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명을 설명한다.
다만, 이하에서 설명되는 실시예는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 발명을 쉽게 실시할 수 있을 정도로 상세하게 설명하기 위한 것에 불과하며, 이로 인해 본 발명의 보호범위가 한정되는 것을 의미하지는 않는다.
본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
명세서 및 청구범위 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성 요소를 포함한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성 요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 포함할 수 있는 것을 의미한다.
도 1은 본 발명에 따른 프로브 카드 핀 검사 장비를 도시한 도면이고, 도 2는 본 발명에 따른 프로브 카드 핀 검사 시스템을 도시한 도면이다.
도 1과 도 2에 도시된 바와 같이, 본 시스템은 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치(예: PC)를 구비한 프로브 카드 핀 검사 시스템에 있어서, 프로브 카드의 채널 개수(예: 2800개)에 상응하여 그 개수(예: 2800개)가 구비된 서로 다른 위치의 다수의 포고 핀 및, 입력 단자와 특정 위치의 포고 핀 접촉시, 접촉된 해당 포고 핀의 채널 식별자(예: 채널 번호 또는, 채널 ID)를 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치(200)로 출력하는 인터페이스 장치(100)를 포함하여 이루어진 구조이다.
여기서, 인터페이스 장치(100)는 입력 단자와 특정 위치의 포고 핀 접촉시, 접촉된 해당 포고 핀의 채널 식별자(예: 채널 번호 또는, 채널 ID)를 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치(예: PC)(200)로 출력하는 것이다. 구체적으로는, 상기 다수의 포고 핀 각각에 자리가 일대일 매핑되어, 입력 단자와 특정 위치의 포고 핀 접촉시, 상기 접촉된 포고 핀에 매핑된 자리에서 접촉 신호를 인가하는(예를 들어, 접촉 시 "0", 비 접촉시 "1"을 인가) 시프트 레지스터를 구비한 신호 입력부(101) 및, 상기 시프트 레지스터의 각 자리마다 서로 다른 채널 식별자를 매핑시키고, 상기 신호 입력부(101)가 접촉 신호를 인가한 자리에 매핑된 채널 식별자를 상기 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치(200)로 출력하는 제어부(102)를 포함하여 이루어진 구조이다.
프로브 카드 핀 검사 정보처리장치(200)는 프로브 카드의 각 채널별로 서로 다른 검사 순서가 설정된 프로브 카드 채널 맵 데이터를 구비하고, 상기 제어부(102)로부터 출력되는 채널 식별자의 출력 순서가 설정 검사 순서와 상이한 경우 크로스(cross) 된 것으로 판별하여 사용자에게 알려준다. 예를 들어, 특정 채널 식별자(예; 채널 2번)의 출력 순서가 2 번째이고, 설정 검사 순서는 3 번째인 경우 크로스(cross) 된 것으로 판별하여 사용자에게 소정의 표시수단을 통해 알려준다. 그리고, 상기 프로브 카드 채널 맵 데이터에 연결된 채널 정보를 더 구비하고, 상기 제어부(102)로부터 다수의 채널 식별자(예: 2번, 3번, 4번)가 더불어 출력되는 경우, 상기 더불어 출력되는 채널 식별자(예: 2번, 3번, 4번)가 연결된 채널들이고 그 더불어 출력되는 채널 식별자의 개수(위의 예에서는 3개)가 설정 개수보다 적은 경우(예를 들어, 연결된 채널의 개수가 2개인 경우) 오픈(open) 된 것으로 판별하여 사용자에게 알려주고, 상기 더불어 출력되는 채널 식별자가 연결된 채널들이고, 그 더불어 출력되는 채널 식별자의 개수가 설정 개수보다 많은 경우(예를 들어, 연결된 채널의 개수가 4개인 경우) 쇼트(short) 된 것으로 판별하여 사용자에게 표시수단을 통해 알려준다. 구체적으로는, 프로브 카드의 각 채널별로 서로 다른 검사 순서가 설정된 프로브 카드 채널 맵 데이터를 저장한 저장부(미도시), 상기 인터페이스 장치(100)의 제어부(102)로부터 출력되는 채널 식별자의 출력 순서가 설정 검사 순서와 상이한 경우 크로스(cross) 된 것으로 판별하여 사용자에게 알려줄 수 있도록 하는 메인 제어부(미도시)를 포함하여 이루어진 구조이다. 그리고, 상기 프로브 카드 채널 맵 데이터에 연결된 채널 정보를 더 구비하고, 상기 메인 제어부는 상기 인터페이스 장치(100)의 제어부(102)로부터 다수의 채널 식별자가 더불어 출력되는 경우, 상기 더불어 출력되는 채널 식별자가 연결된 채널들이고 그 더불어 출력되는 채널 식별자의 개수가 설정 개수보다 적은 경우 오픈(open) 된 것으로 판별하여 사용자에게 알려줄 수 있도록 하고, 상기 더불어 출력되는 채널 식별자가 연결된 채널들이고, 그 더불어 출력되는 채널 식별자의 개수가 설정 개수보다 많은 경우 쇼트(short) 된 것으로 판별하여 사용자에게 표시수단을 통해 알려줄 수 있도록 한다.
도 3은 본 발명에 따른 프로브 카드 핀 검사 시스템의 동작을 순서대로 도시한 도면이다.
이하, 도 1, 2의 본 발명에 따른 프로브 카드 핀 검사 시스템의 동작을 도 3을 참조해 설명한다.
도 3에 도시된 바와 같이, 본 시스템은 입력 단자와 특정 위치의 포고 핀 접촉시(S301), 접촉된 해당 포고 핀의 채널 식별자(예: 채널 번호 또는, 채널 ID)를 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치(예: PC)로 출력한다.
구체적으로는 다음과 같다.
먼저, 신호 입력부는 상기 다수의 포고 핀 각각에 자리가 일대일 매핑되어, 입력 단자와 특정 위치의 포고 핀 접촉시, 상기 접촉된 포고 핀에 매핑된 자리에서 접촉 신호를 인가하는(예를 들어, 접촉 시 "0", 비 접촉시 "1"을 인가) 시프트 레지스터를 구비한다.
그래서, 예를 들어 입력 단자와 3번째 위치의 포고 핀 접촉시, 상기 접촉된 포고 핀에 매핑된 시프트 레지스터의 해당 자리(예: 3번째 자리)에서 접촉 신호로 "0"을 인가한다(S302).
그러면, 제어부는 상기 시프트 레지스터의 각 자리마다 서로 다른 채널 식별자를 매핑시키고, 상기 신호 입력부가 접촉 신호를 인가한 자리에 매핑된 채널 식별자를 상기 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치로 출력한다(S303).
예를 들어, 상기 예에서 시프트 레지스터의 3번째 자리에서 접촉 신호를 인가받은 경우, 그 접촉 신호를 인가한 3번째 자리에 매핑된 채널 식별자 예컨대 채널 3번에 관한 정보를 RS232를 통해 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치로 출력한다.
그러면, 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치는 상기 제어부로부터 출력된 채널 식별자 정보(즉, 입력단자와 접촉된 해당 포고 핀의 채널 식별자(예: 채널 번호 또는, 채널 ID))를 표시수단을 통해 사용자에게 알려주게 된다.
한편, 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치는 프로브 카드의 각 채널별로 서로 다른 검사 순서가 설정된 프로브 카드 채널 맵 데이터를 구비할 수 있으며, 이 경우 상기 제어부로부터 출력되는 채널 식별자의 출력 순서가 설정 검사 순서와 상이한 경우 크로스(cross) 된 것으로 판별하여 사용자에게 알려준다(S304~S306).
예를 들어, 특정 채널 식별자(예; 채널 2번)의 출력 순서가 2 번째이고, 설정 검사 순서는 3 번째인 경우 크로스(cross) 된 것으로 판별하여 사용자에게 소정의 표시수단을 통해 알려준다.
그리고, 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치는 상기 프로브 카드 채널 맵 데이터에 연결된 채널 정보를 더 구비하고, 상기 제어부로부터 다수의 채널 식별자가 더불어 출력되는 경우, 상기 더불어 출력되는 채널 식별자가 연결된 채널들이고 그 더불어 출력되는 채널 식별자의 개수가 설정 개수보다 적은 경우 오픈(open) 된 것으로 판별하여 사용자에게 알려준다(S307~S309).
예를 들어, 상기 제어부로부터 채널 식별자 2번, 3번, 4번이 함께 출력되는 경우, 그 함께 출력되는 채널 식별자 2번, 3번, 4번이 연결된 채널들이고 그 개수(위의 예에서는 3개)가 설정 개수보다 적은 경우(예를 들어, 연결된 채널의 개수가 2개로 설정되어 있는 경우) 오픈(open) 된 것으로 판별하여 소정의 표시 수단을 통해 사용자에게 알려준다.
반면, 상기 제어부로부터 함께 출력되는 채널 식별자가 연결된 채널들이고, 그 더불어 출력되는 채널 식별자의 개수가 설정 개수보다 많은 경우 쇼트(short) 된 것으로 판별하여 사용자에게 표시수단을 통해 알려준다(S307~S308, S310).
예를 들어, 상기 제어부로부터 채널 식별자 2번, 3번, 4번이 함께 출력되는 경우, 그 함께 출력되는 채널 식별자 2번, 3번, 4번이 연결된 채널들이고 그 개수(위의 예에서는 3개)가 설정 개수보다 많은 경우(예를 들어, 연결된 채널의 개수가 4개로 설정되어 있는 경우) 쇼트(short) 된 것으로 판별하여 소정의 표시 수단을 통해 사용자에게 알려준다.
그 결과, 프로브 카드 핀 검사 결과를 사용자에게 알려주게 된다.
이상과 같이, 본 발명은 인터페이스 장치가 프로브 카드의 각 채널의 식별자(예: 채널 번호 또는 채널 ID) 정보를 가지고 있어 입력단자로 프로브 카드의 어느 한 핀을 찍으면 그 핀의 채널 식별자 정보를 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치(예: PC)에 알려줄 수 있으며, 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치(예: PC)는 이를 가지고 어떤 핀이 접촉되었는지를 사용자에게 알려 줌과 더불어, 현재 검사할 프로브 카드 채널 맵(map) 데이터와 비교하여 오픈, 쇼트, 크로스(Open, Short, Cross) 등의 핀 검사 결과를 알려줄 수 있게 된다.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
100 : 인터페이스 장치 101 : 신호 입력부
102 : 제어부 200 : 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치

Claims (7)

  1. 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치를 구비한 프로브 카드 핀 검사 시스템에 있어서,
    프로브 카드의 채널 개수에 상응하여 그 개수가 구비된 서로 다른 위치의 다수의 포고 핀; 및
    입력 단자와 상기 서로 다른 위치 중 어느 하나의 위치의 포고 핀 접촉시, 접촉된 해당 포고 핀의 채널 식별자를 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치로 출력하는 인터페이스 장치를 포함하고,
    상기 인터페이스 장치는
    상기 다수의 포고 핀 각각에 자리가 일대일 매핑되어, 입력 단자와 상기 서로 다른 위치 중 어느 하나의 위치의 포고 핀 접촉시, 상기 접촉된 포고 핀에 매핑된 자리에서 접촉 신호를 인가하는 시프트 레지스터를 구비한 신호 입력부; 및
    상기 시프트 레지스터의 각 자리마다 서로 다른 채널 식별자를 매핑시키고, 상기 신호 입력부가 접촉 신호를 인가한 자리에 매핑된 채널 식별자를 상기 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치로 출력하는 제어부를 포함하여 이루어지고,
    상기 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치는
    프로브 카드의 각 채널별로 서로 다른 검사 순서가 설정된 프로브 카드 채널 맵 데이터를 구비하고,
    상기 제어부로부터 출력되는 채널 식별자의 출력 순서가 해당되는 채널의 설정 검사 순서와 상이한 경우 크로스(cross) 된 것으로 판별하여 사용자에게 알려주는 것을 특징으로 하는 프로브 카드 핀 검사 시스템.
  2. 삭제
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치는
    상기 프로브 카드 채널 맵 데이터에 연결된 채널 정보를 더 구비하고,
    상기 제어부로부터 다수의 채널 식별자가 더불어 출력되는 경우, 상기 더불어 출력되는 채널 식별자가 연결된 채널들이고 그 더불어 출력되는 채널 식별자의 개수가 설정 개수보다 적은 경우 오픈(open) 된 것으로 판별하여 사용자에게 알려주고,
    상기 더불어 출력되는 채널 식별자가 연결된 채널들이고, 그 더불어 출력되는 채널 식별자의 개수가 설정 개수보다 많은 경우 쇼트(short) 된 것으로 판별하여 사용자에게 알려주는 것을 특징으로 하는 프로브 카드 핀 검사 시스템.
  4. 삭제
  5. 프로브 카드의 채널 개수에 상응하여 그 개수가 구비된 서로 다른 위치의 다수의 포고 핀과, 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치 및, 상기 다수의 포고 핀과 상기 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치 사이의 인터페이스 장치를 구비한 프로브 카드 핀 검사 시스템의 프로브 카드 핀 검사 방법에 있어서,
    상기 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치가 입력 단자와 상기 서로 다른 위치 중 어느 하나의 위치의 포고 핀 접촉시, 접촉된 해당 포고 핀의 채널 식별자를 상기 인터페이스 장치로부터 입력받는 단계; 및
    상기 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치가 상기 입력받은 채널 식별자를 화면에 표시하여 사용자에게 알려주는 단계를 포함하여 이루어지고,
    상기 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치는
    프로브 카드의 각 채널별로 서로 다른 검사 순서가 설정된 프로브 카드 채널 맵 데이터를 구비하고,
    상기 인터페이스 장치로부터 입력된 채널 식별자의 출력 순서가 해당되는 채널의 설정 검사 순서와 상이한 경우 크로스(cross) 된 것으로 판별하여 사용자에게 알려주는 단계를 더 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 프로브 카드 핀 검사 방법.
  6. 삭제
  7. 제 5 항에 있어서,
    상기 프로브 카드 핀 검사 정보처리장치는
    상기 프로브 카드 채널 맵 데이터에 연결된 채널 정보를 더 구비하고,
    상기 인터페이스 장치로부터 다수의 채널 식별자가 더불어 입력되는 경우, 상기 더불어 출력되는 채널 식별자가 연결된 채널들이고 그 더불어 출력되는 채널 식별자의 개수가 설정 개수보다 적은 경우 오픈(open) 된 것으로 판별하고, 상기 더불어 출력되는 채널 식별자가 연결된 채널들이고, 그 더불어 출력되는 채널 식별자의 개수가 설정 개수보다 많은 경우 쇼트(short) 된 것으로 판별하는 단계; 및
    상기 판별 결과를 화면에 표시하여 사용자에게 알려주는 단계를 더 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 프로브 카드 핀 검사 방법.


KR1020130055329A 2013-05-15 2013-05-15 프로브 카드 핀 검사 시스템 및 그 방법 KR101465589B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130055329A KR101465589B1 (ko) 2013-05-15 2013-05-15 프로브 카드 핀 검사 시스템 및 그 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020130055329A KR101465589B1 (ko) 2013-05-15 2013-05-15 프로브 카드 핀 검사 시스템 및 그 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20140135055A KR20140135055A (ko) 2014-11-25
KR101465589B1 true KR101465589B1 (ko) 2014-11-27

Family

ID=52291899

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020130055329A KR101465589B1 (ko) 2013-05-15 2013-05-15 프로브 카드 핀 검사 시스템 및 그 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101465589B1 (ko)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101892646B1 (ko) * 2016-11-18 2018-08-28 주식회사 에스디에이 프로브 카드 저누설전류 측정장치

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100739883B1 (ko) * 2006-11-07 2007-07-16 (주)피엘텍 프로브카드 신호채널의 검사장치 및 방법
KR20080005925A (ko) * 2005-03-18 2008-01-15 이너팩 테크놀로지 인코포레이티드 집적 회로 테스트 모듈

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20080005925A (ko) * 2005-03-18 2008-01-15 이너팩 테크놀로지 인코포레이티드 집적 회로 테스트 모듈
KR100739883B1 (ko) * 2006-11-07 2007-07-16 (주)피엘텍 프로브카드 신호채널의 검사장치 및 방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR20140135055A (ko) 2014-11-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7609081B2 (en) Testing system and method for testing an electronic device
US10746761B2 (en) Dynamically configurable remote instrument interface
US9651613B2 (en) Circuit board testing system
TW201317591A (zh) 印刷電路板測試裝置
TWI435093B (zh) 顯示面板的檢測電路
CN104809946A (zh) 电气控制类实验实训智能教学及考核系统
CN106872881B (zh) 一种电路板测试装置、方法及系统
US20150168485A1 (en) Circuit board testing system
KR101465589B1 (ko) 프로브 카드 핀 검사 시스템 및 그 방법
JP2016212065A (ja) 基板検査装置、基板検査方法、及び基板検査プログラム
KR101177509B1 (ko) 터치스크린 검사장치
CN111667783B (zh) 检测设备及其检测方法
KR102101317B1 (ko) 전투차량용 케이블조립체 테스트장치 및 테스트방법
US20110215792A1 (en) Probe and testing apparatus including the same
KR100745081B1 (ko) 버너제어시스템의 제어카드 시험장치 및 방법
JP5944121B2 (ja) 回路基板検査装置および回路基板検査方法
CN105301476A (zh) 用于印刷电路板的信号测试装置
CN204759108U (zh) 一种虚实结合的迷宫实验装置
CN203773185U (zh) 阵列基板、液晶面板及显示装置
KR20150062744A (ko) 차량 및 엔진 점검 방법 및 장치
TW201426291A (zh) Pci-e切換開關測試系統及方法
TWI547700B (zh) 晶片之輸入/輸出介面識別方法
CN103680271B (zh) 一种仿真直流电阻测试仪
KR101294334B1 (ko) 디스플레이장치의 제어ｐｃｂ의 무패널 검사장치 및 그 검사방법
CN207717922U (zh) 一种电路板的测试装置

Legal Events

Date Code Title Description
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee