TW201426291A - Pci-e切換開關測試系統及方法 - Google Patents
Pci-e切換開關測試系統及方法 Download PDFInfo
- Publication number
- TW201426291A TW201426291A TW101149921A TW101149921A TW201426291A TW 201426291 A TW201426291 A TW 201426291A TW 101149921 A TW101149921 A TW 101149921A TW 101149921 A TW101149921 A TW 101149921A TW 201426291 A TW201426291 A TW 201426291A
- Authority
- TW
- Taiwan
- Prior art keywords
- data
- pci
- test
- switch
- configuration space
- Prior art date
Links
Landscapes
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
一種PCI-E切換開關測試系統，包括複數功能模組用於：選擇一條測試線路，獲取該測試線路所連接的PCI-E設備中配置空間的暫存器位址，為其中每一個暫存器位址創建一組亂數據；選擇其中一個暫存器位址，並將對應的亂數據寫入到該暫存器位址對應的配置空間，並從上述配置空間中讀取數據；判斷所述讀取的數據與寫入的數據是否相同，以判斷所選擇的測試線路是否通過測試；及輸出測試結果。
Description
本發明涉及一種切換開關測試系統及方法，特別是一種PCI-E切換開關測試系統及方法。
PCI-E（Peripheral Component Interconnect Express，高速外設元件互連介面）切換開關（switch）用於切換PCI-E通道，使數據可以於相應的通道上傳輸。對於PCI-E切換開關的測試通常使用ICT（In Circuit Tester，線上測試儀）或飛針測試，但是ICT與飛針測試均屬於開路測試，並沒有對PCI-E切換開關做數據傳輸的測試，故無法確定PCI-E切換開關是否能夠準確地傳輸數據。
鑒於以上內容，有必要提供一種PCI-E切換開關測試系統及方法，可以對PCI-E切換開關做數據傳輸的測試，以保證PCI-E切換開關的數據傳輸功能。
所述PCI-E切換開關測試系統安裝於電子設備中，用於測試由該電子設備中的中央處理器、PCI-E切換開關以及每一個PCI-E設備所組成的數據傳輸線路。該系統包括：創建模組，用於依次選擇其中一條數據傳輸線路作為測試線路，獲取該測試線路所連接的PCI-E設備中配置空間的暫存器位址，為上述每一個暫存器位址創建一組亂數據，並儲存所述暫存器位址及對應的亂數據至電子設備的儲存設備中；處理模組，用於從所述儲存設備中選擇其中一個暫存器位址，並將對應的亂數據寫入到該暫存器位址對應的配置空間，並從上述配置空間中讀取數據，並將讀取的數據儲存到所述儲存設備中；判斷模組，用於從所述儲存設備中獲取寫入到所述配置空間的數據以及從所述配置空間讀取的數據，判斷所述讀取的數據與寫入的數據是否相同，以判斷所選擇的測試線路是否通過測試；及顯示模組，用於輸出測試結果。
所述PCI-E切換開關測試方法運行於電子設備中，用於測試由該電子設備中的中央處理器、PCI-E切換開關以及每一個PCI-E設備所組成的數據傳輸線路。該方法包括：依次選擇其中一條數據傳輸線路作為測試線路，獲取該測試線路所連接的PCI-E設備中配置空間的暫存器位址，為上述每一個暫存器位址創建一組亂數據，並儲存所述暫存器位址及對應的亂數據至電子設備的儲存設備中；從所述儲存設備中選擇其中一個暫存器位址，並將對應的亂數據寫入到該暫存器位址對應的配置空間，並從上述配置空間中讀取數據，並將讀取的數據儲存到所述儲存設備中；從所述儲存設備中獲取寫入到所述配置空間的數據以及從所述配置空間讀取的數據，判斷所述讀取的數據與寫入的數據是否相同，以判斷所選擇的測試線路是否通過測試；及輸出測試結果。
相較於習知技術，本發明藉由對PCI-E切換開關做數據傳輸的測試，可以保證PCI-E切換開關的數據傳輸功能。
為了使本發明所要解決的技術問題、技術方案及有益效果更加清楚明白，以下結合附圖及實施例，對本發明進行進一步詳細說明。應該理解，此處所描述的具體實施例或者實施方式僅僅用於解釋本發明，並不用於限定本發明。
參閱圖1所示，是本發明PCI-E切換開關測試系統較佳實施例的運行環境圖。
於本實施例中，本發明所述PCI-E切換開關測試系統10運行於電子設備1中。所述電子設備1可以是包括中央處理器11及儲存設備12的電腦、伺服器等具有數據儲存及處理功能的設備。
所述電子設備1中還包括PCI-E切換開關13。該PCI-E切換開關13是連接所述中央處理器11及各個PCI-E設備14的橋樑，形成從中央處理器11到各個PCI-E設備14之間的數據傳輸線路。所述PCI-E設備14可以是顯卡、音效卡、網卡等。
此外，所述電子設備1還可以包括或者外接一個顯示設備15。
所述PCI-E切換開關測試系統10用於測試從中央處理器11到各個PCI-E設備14之間的數據傳輸線路是否能正確傳輸數據，從而驗證所述PCI-E切換開關13的數據傳輸功能是否正常，並將測試結果藉由顯示設備15輸出。
參閱圖2所示，是本發明PCI-E切換開關測試系統的功能模組圖。所述PCI-E切換開關測試系統10包括：創建模組101、處理模組102、判斷模組103及顯示模組104。所述模組101~104是由電腦程式段所組成的功能模組，儲存於電子設備1的儲存設備12中，並由電子設備1的中央處理器11所執行，以實現其功能。以下結合圖3詳細說明模組101~104的功能。
參閱圖3所示，是本發明PCI-E切換開關測試方法較佳實施例的流程圖。根據不同的需求，該些圖所示流程圖中步驟的執行順序可以改變，某些步驟可以省略。
創建模組101選擇一條測試線路（步驟S10）。如上所述，從中央處理器11到PCI-E切換開關13再到其中一個PCI-E設備14組成一條數據傳輸線路，亦即一條測試線路。所述測試線路的選擇可以是隨機的，或者按照某種預定的規則。創建模組101獲取該測試線路所連接的PCI-E設備14中配置空間的暫存器位址（步驟S11）。創建模組101為上述每一個暫存器位址創建一組亂數據（步驟S12）。創建模組101儲存所述暫存器位址及對應的亂數據至儲存設備12中（步驟S13）。處理模組102從所述儲存設備12中選擇其中一個暫存器位址，並將對應的亂數據寫入到該暫存器位址對應的配置空間（步驟S14）。處理模組102從上述配置空間中讀取數據，並將讀取的數據儲存到儲存設備12中（步驟S15）。判斷模組103從儲存設備12中獲取寫入到所述配置空間的數據以及從所述配置空間讀取的數據，判斷所述讀取的數據與寫入的數據是否相同（步驟S16）。若讀取的數據與寫入的數據相同，則判斷模組103進一步判斷所選擇的測試線路連接的PCI-E設備14中是否還有沒有選擇過的暫存器位址（步驟S17）。若還有沒有選擇過的暫存器位址，則返回上述的步驟S14。否則，若不存在沒有選擇過的暫存器位址，則判斷模組103判斷該條測試線路測試通過（步驟S18）。此外，若步驟S16的判斷結果為讀取的數據與寫入的數據不相同，則判斷模組103判斷該條測試線路測試沒有通過（步驟S19）。於步驟S18及S19之後，判斷模組103進一步判斷是否還有沒有選擇過的測試線路（步驟S20）。若有沒有選擇的測試線路，則返回上述的步驟S10。否則，若所有測試線路均已經選擇過，則顯示模組104輸出測試結果（步驟S21）。其中，若所有測試線路均能正確傳輸數據，則顯示PCI-E切換開關13測試通過，若某一條測試線路不能正確傳輸數據，則報錯並顯示錯誤代碼。
以上所述僅為本發明之較佳實施方式而已，且已達廣泛之使用功效，凡其他未脫離本發明所揭示之精神下所完成之均等變化或修飾，均應包含在下述之申請專利範圍內。
1．．．電子設備
10．．．PCI-E切換開關測試系統
11．．．中央處理器
12．．．儲存設備
13．．．PCI-E切換開關
14．．．PCI-E設備
15．．．顯示設備
101．．．創建模組
102．．．處理模組
103．．．判斷模組
104．．．顯示模組
圖1是本發明PCI-E切換開關測試系統較佳實施例的運行環境圖。
圖2是本發明PCI-E切換開關測試系統的功能模組圖。
圖3是本發明PCI-E切換開關測試方法較佳實施例的流程圖。
10．．．PCI-E切換開關測試系統
101．．．創建模組
102．．．處理模組
103．．．判斷模組
104．．．顯示模組
Claims (6)
- 一種PCI-E切換開關測試系統，安裝於電子設備中，用於測試由該電子設備中的中央處理器、PCI-E切換開關以及每一個PCI-E設備所組成的數據傳輸線路，該系統包括：
創建模組，用於依次選擇其中一條數據傳輸線路作為測試線路，獲取該測試線路所連接的PCI-E設備中配置空間的暫存器位址，為上述每一個暫存器位址創建一組數據，並儲存所述暫存器位址及對應的數據至電子設備的儲存設備中；
處理模組，用於從所述儲存設備中選擇其中一個暫存器位址，並將對應的數據寫入到該暫存器位址對應的配置空間，並從上述配置空間中讀取數據，並將讀取的數據儲存到所述儲存設備中；
判斷模組，用於從所述儲存設備中獲取寫入到所述配置空間的數據以及從所述配置空間讀取的數據，判斷所述讀取的數據與寫入的數據是否相同，以判斷所選擇的測試線路是否通過測試；及
顯示模組，用於輸出測試結果。 - 如申請專利範圍第1項所述之PCI-E切換開關測試系統，所述顯示模組於所有測試線路均能正確傳輸數據時，顯示所述PCI-E切換開關測試通過，及某一條測試線路不能正確傳輸數據，則報錯並顯示錯誤代碼。
- 如申請專利範圍第1項所述之PCI-E切換開關測試系統，所述創建的數據為亂數據。
- 一種PCI-E切換開關測試方法，運行於電子設備中，用於測試由該電子設備中的中央處理器、PCI-E切換開關以及每一個PCI-E設備所組成的數據傳輸線路，該方法包括：
創建步驟：依次選擇其中一條數據傳輸線路作為測試線路，獲取該測試線路所連接的PCI-E設備中配置空間的暫存器位址，為上述每一個暫存器位址創建一組數據，並儲存所述暫存器位址及對應的數據至電子設備的儲存設備中；
處理步驟：從所述儲存設備中選擇其中一個暫存器位址，並將對應的數據寫入到該暫存器位址對應的配置空間，並從上述配置空間中讀取數據，並將讀取的數據儲存到所述儲存設備中；
判斷步驟：從所述儲存設備中獲取寫入到所述配置空間的數據以及從所述配置空間讀取的數據，判斷所述讀取的數據與寫入的數據是否相同，以判斷所選擇的測試線路是否通過測試；及
顯示步驟：輸出測試結果。 - 如申請專利範圍第4項所述之PCI-E切換開關測試方法，於所述顯示步驟中，於所有測試線路均能正確傳輸數據時，顯示所述PCI-E切換開關測試通過，及某一條測試線路不能正確傳輸數據，則報錯並顯示錯誤代碼。
- 如申請專利範圍第4項所述之PCI-E切換開關測試方法，所述創建的數據為亂數據。
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201210562691.5A CN103885862A (zh) | 2012-12-21 | 2012-12-21 | Pci-e切换开关测试系统及方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW201426291A true TW201426291A (zh) | 2014-07-01 |
Family
ID=50954770
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW101149921A TW201426291A (zh) | 2012-12-21 | 2012-12-25 | Pci-e切換開關測試系統及方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN103885862A (zh) |
| TW (1) | TW201426291A (zh) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN105302688B (zh) * | 2015-09-18 | 2018-03-16 | 许继集团有限公司 | 一种并行总线自检方法及系统 |
| CN110515944B (zh) * | 2019-08-16 | 2022-03-29 | 出门问问(苏州)信息科技有限公司 | 基于分布式数据库的数据存储方法、存储介质和电子设备 |
-
2012
- 2012-12-21 CN CN201210562691.5A patent/CN103885862A/zh active Pending
- 2012-12-25 TW TW101149921A patent/TW201426291A/zh unknown
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN103885862A (zh) | 2014-06-25 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP2982741B2 (ja) | 集積回路の故障診断装置及びその記録媒体 | |
| JP2014529730A (ja) | 保守管理システム及び保守管理方法 | |
| US7246333B2 (en) | Apparatus and method for unified debug for simulation | |
| WO2023040976A1 (zh) | 设备测试方法、装置、可读介质及电子设备 | |
| JP6916340B2 (ja) | シミュレートされたデバイスをメモリベース通信プロトコルを使用してテストするためのシステムおよび方法 | |
| TW201216048A (en) | Test system | |
| US7532994B2 (en) | Test apparatus, test method, electronic device manufacturing method, test simulator and test simulation method | |
| US8347260B2 (en) | Method of designing an integrated circuit based on a combination of manufacturability, test coverage and, optionally, diagnostic coverage | |
| WO2019077738A1 (ja) | データ検証装置、データ検証方法及びデータ検証プログラム | |
| RU2402822C2 (ru) | Стенд для изучения микроконтроллерных систем управления | |
| TW201426291A (zh) | Pci-e切換開關測試系統及方法 | |
| US8516311B2 (en) | System and method for testing peripheral component interconnect express switch | |
| KR20210058351A (ko) | 테스트 보드 및 이를 포함하는 테스트 시스템 | |
| CN112147419B (zh) | 验证用于互连测量的解嵌器的技术 | |
| JP6765374B2 (ja) | 情報処理装置及び情報処理方法 | |
| JP6366811B2 (ja) | 検査装置、検査方法、及び、プログラム | |
| TW201439558A (zh) | 電子裝置、靜電放電測試系統和方法 | |
| US11200125B2 (en) | Feedback from higher-level verification to improve unit verification effectiveness | |
| JP2007058450A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JP5096394B2 (ja) | 測定装置及び移動体通信機器試験装置 | |
| TW201426375A (zh) | 用以隔離及／或排除積體電路設計之瑕疵之方法及裝置 | |
| TWI841518B (zh) | 記憶體測試驗證系統及記憶體測試驗證方法 | |
| US20090030624A1 (en) | Systems and methods for validating power integrity of integrated circuits | |
| CN115576765B (zh) | 一种测试方法、装置、电子设备及存储介质 | |
| TWI833574B (zh) | 記憶體測試驗證系統及記憶體測試驗證方法 |