CN112147419B - 验证用于互连测量的解嵌器的技术 - Google Patents

Abstract

用于验证解嵌器以用于互连测量的技术包括验证计算设备。验证计算设备用于测量通过单个被测设备发送的第一信号，并测量通过一组复制的被测设备发送的第二信号。一组复制的被测设备中的每个被测设备与单个被测设备实质上相同。另外，验证计算设备将解嵌器应用于测量的第一信号以消除测试固定装置对测量的第一信号的影响，将解嵌器应用于测量的第二信号以消除测试固定装置对测量的第二信号的影响，将解嵌的第一信号与其自身级联以生成级联的解嵌的第一信号，并将级联的解嵌的第一信号与解嵌的第二信号进行比较以确定级联的解嵌的第一信号是否与解嵌的第二信号匹配。

Description

验证用于互连测量的解嵌器的技术

本申请为分案申请，其原申请是于2018年8月16日(国际申请日为2017年03月16日)向中国专利局提交的专利申请，申请号为201780011755.3，发明名称为“验证用于互连测量的解嵌器的技术”。

相关美国专利申请的交叉引用

本申请要求2017年3月15日提交的题为“TECHNOLOGIES FOR VERIFYING A DE-EMBEDDER FOR INTERCONNECT MEASUREMENT”的美国临时申请专利第15/459,248号的优先权，又要求于2016年3月16日提交的题为“TECHNOLOGIES FOR VERIFYING A DE-EMBEDDERFOR INTERCONNECT MEASUREMENT”的美国临时专利申请第62/309,190号的优先权。

背景技术

随着通过与现代计算设备一起使用的互连(即，印刷电路板(PCB)迹线、电缆和其他电导体)的数据传输速度增加，互连及其组件的测量变得具有挑战性。以网络散射参数(S参数)的形式表征互连的矢量网络分析仪已成为用于衡量相对较高频率互连性能的常用工具。当被测互连是标准同轴电缆时，使用矢量网络分析仪进行高质量测量相对简单。然而，当互连是PCB或其他类型导体上的迹线时，通常需要测试固定装置将同轴电缆连接到互连，以使矢量网络分析仪能够表征互连。测试固定装置对通过互连发送的电信号有影响。如果参考互连的S参数是已知的，则可以识别由测试固定装置对通过参考互连发送的测试信号造成的影响，并且可以创建解嵌器以消除所识别的测试固定装置的影响。但是，在某些情况下，参考互连不可用。

附图说明

本文描述的概念在附图中通过示例而不是限制的方式示出。为了说明的简单和清楚，附图中示出的元件不一定按比例绘制。在认为合适的情况下，在附图中重复附图标记以指示相对应或类似的元件。

图1是使用验证计算设备和被测设备来验证解嵌器的系统的至少一个实施例的简化框图；

图2是可以由图1的验证计算设备建立的环境的至少一个实施例的简化框图；

图3-图5是可以由图1的验证计算设备执行的用于验证解嵌器的方法的至少一个实施例的简化流程图；

图6是可以与图1的验证计算设备一起使用的测试套件的至少一个实施例的简化图；

图7是可以由图1的验证计算设备执行的用于验证解嵌器的方法的至少一个实施例的简化流程图。

具体实施方式

虽然本公开的概念易于进行各种修改和替换形式，但是其具体实施例已经通过附图中的示例示出并且将在本文中详细描述。然而，应该理解的是，并不意图将本公开的概念限制于所公开的特定形式，而是相反，意图是覆盖与本公开和所附权利要求一致的所有修改、等同物和替代方案。

说明书中对“一个实施例”、“实施例”、“说明性实施例”等的引用指示所描述的实施例可包括特定特征、结构或属性，但是每个实施例可以或可以不必须包括该特定特征、结构或属性。而且，这些短语不一定指的是同一实施例。此外，当结合实施例描述特定特征、结构或属性时，认为结合其他实施例来实现这样的特征、结构或属性在本领域技术人员的知识范围内，无论是否未明确描述。另外，应当意识到，以“至少一个A、B和C”的形式包括在列表中的项目可以表示(A)；(B)；(C)；(A和B)；(A和C)；(B和C)；或(A、B和C)。类似地，以“A、B或C中的至少一个”形式列出的项目可以表示(A)；(B)；(C)；(A和B)；(A和C)；(B和C)；或(A、B和C)。

在一些情况下，所公开的实施例可以以硬件、固件、软件或其任何组合来实现。所公开的实施例还可以实现为由暂时或非暂时性机器可读(例如，计算机可读)存储介质承载或存储的指令，其可以由一个或多个处理器读取和执行。机器可读存储介质可以体现为用于以机器可读形式存储或发送信息的任何存储设备、机制或其他物理结构(例如，易失性或非易失性存储器、介质盘或其他介质设备)。

在附图中，可以以特定布置和/或顺序示出一些结构或方法特征。然而，应该意识到的是，可能不需要这样的特定布置和/或排序。而是，在一些实施例中，这些特征可以以不同于说明性附图中所示的方式和/或顺序来布置。另外，在特定图中包含结构或方法特征并不意味着暗示在所有实施例中都需要这样的特征，并且在一些实施例中，可以不包括这些特征或者可以将这些特征与其他特征组合。

现在参考图1，一种用于验证解嵌器的说明性系统100包括耦合到测试套件130的验证计算设备102。在一些实施例中，用于消除测试固定装置对信号测量的影响的一个或多个解嵌器120耦合在验证计算设备102与测试套件130之间。除此之外或者可替代地，一个或多个解嵌器120可以包括在验证计算设备102中并且被实现为一个或多个算法，所述一个或多个算法存储为验证计算设备102中的计算机可执行指令或作为包括在验证计算设备102的一个或多个组件中的专用电路(例如，现场可编程门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)等)，如本文中更详细地描述的。验证计算设备102包括处理器104、主存储器106、I/O子系统108、一个或多个信号测量设备110，并且在至少一些实施例中，包括一个或多个解嵌器120。

在使用中，如本文更详细描述的，验证计算设备102被配置为通过测试套件130发送测试信号，测量测试信号的属性，例如S参数，将解嵌器120应用于测量的信号，并确定解嵌器是否正确地从测量的信号中消除测试固定装置150的影响，使得仅被测的一个或多个设备(DUT)(即，互连)140的属性表示在解嵌信号中。如本文更详细描述的，DUT 140的性能特征(例如，S参数)尚不清楚。在说明性实施例中，验证计算设备102被配置为将解嵌器120应用于仅通过具有单个DUT 140的测试套件130发送的第一测试信号，然后将得到的解嵌信号与其自身级联。此外，说明性验证计算设备102被配置为当测试套件包130包括两个复制的DUT 140时，将解嵌器120应用于通过测试套件130发送的第二测试信号。说明性验证计算设备102还被配置为确定级联的解嵌信号是否匹配(例如，等于)与复制的DUT 140相关联的解嵌信号。如果是，则说明性验证计算设备102被配置为确定解嵌器120被验证(即，正确地从测量的信号中消除测试固定装置150的影响)。

验证计算设备102可以体现为能够执行本文描述的功能的任何类型的计算设备。例如，在一些实施例中，验证计算设备102可以体现为但不限于计算机、台式计算机、工作站、服务器计算机、膝上型计算机、笔记本计算机、平板计算机、智能电话、分布式计算系统、多处理器系统、消费者电子设备、智能设备和/或能够验证如本文所述的解嵌器的任何其他计算设备。如图1所示，说明性验证计算设备102包括处理器104、主存储器106、输入/输出子系统108和一个或多个信号测量设备110。当然，在其他实施例中，验证计算设备102可以包括其他或附加组件，例如在台式计算机中常见的那些(例如，各种输入/输出设备)。另外，在一些实施例中，说明性组件中的一个或多个可以并入另一组件中，或者以其它方式形成另一组件的一部分。例如，在一些实施例中，存储器106或其部分可以合并在处理器104中。

处理器104可以体现为能够执行本文描述的功能的任何类型的处理器。例如，处理器可以体现为具有一个或多个处理器核的单核或多核处理器、数字信号处理器、微控制器或其他处理器或处理/控制电路。类似地，主存储器106可以体现为当前已知的或将来开发的并且能够执行本文描述的功能的任何类型的易失性或非易失性存储器或数据存储装置。在操作中，主存储器106可以存储在验证计算设备102的操作期间使用的各种数据和软件，诸如信号数据、解嵌器算法、操作系统、应用、程序、库和驱动程序。主存储器106经由I/O子系统108通信地耦合到处理器104。

I/O子系统108可以体现为便于与处理器104、主存储器106和验证计算设备102的其他组件的输入/输出操作的电路和/或组件。例如，I/O子系统108可以体现为或以其他方式包括存储器控制器集线器、输入/输出控制集线器、固件设备、通信链路(即，点对点链路、总线链路、电线、电缆、光导、印刷电路板迹线等)和/或便于输入/输出操作的其他组件和子系统。在一些实施例中，I/O子系统108可以形成片上系统(SoC)的一部分，并且与处理器104、主存储器106以及验证计算设备102的其他组件一起被合并在单个集成电路芯片上。

一个或多个信号测量设备110可以体现为如下的任何类型的电路和/或组件，其能够生成和发送测试信号，测试信号当通过被测的一个或多个设备140(即，互连)发送时测量测试信号的属性，在模拟值和数字值之间转换，确定信号特征，例如信号损失和反射，和/或以一种或多种格式(例如，S参数、复数等)表示信号特征。

说明性验证计算设备102还可以包括数据存储设备112。数据存储设备112可以体现为被配置用于数据的短期或长期存储的任何类型的一个或多个设备，例如，存储器设备和电路、存储卡、硬盘驱动器、固态驱动器或其他数据存储设备。数据存储设备112可以存储信号数据、解嵌器算法、操作系统、应用、程序、库和驱动程序，如本文更详细描述的。

说明性验证计算设备102还可以包括显示器114，其可以体现为可以在其上向验证计算设备102的用户显示信息的任何类型的显示器。显示器114可以体现为或以其他方式使用任何合适的显示技术，包括例如液晶显示器(LCD)、发光二极管(LED)显示器、阴极射线管(CRT)显示器、等离子显示器和/或能用于计算设备的其他显示器。显示器114可以包括触摸屏传感器，其使用任何合适的触摸屏输入技术来检测用户对显示器114上显示的信息的触觉选择，包括但不限于电阻式触摸屏传感器、电容式触摸屏传感器、表面声波(SAW)触摸屏传感器、红外触摸屏传感器、光学成像触摸屏传感器、声学触摸屏传感器和/或其他类型的触摸屏传感器。

说明性验证计算设备102可以另外包括通信子系统116。通信子系统116可以体现为一个或多个设备和/或电路，用于实现通过网络与一个或多个远程设备的通信。通信子系统116可以被配置为使用任何合适的通信协议来与其他设备通信，所述合适的通信协议包括例如有线数据通信协议、无线数据通信协议和/或蜂窝通信协议。

验证计算设备102可以另外包括一个或多个外围设备118。这样的外围设备118可以包括通常见于计算设备中的任何类型的外围设备，诸如扬声器、鼠标、键盘和/或其他输入/输出设备、接口设备和/或其他外围设备。

一个或多个解嵌器120可以体现为能够修改输入信号(即，测量的测试信号)的属性的电路或组件。在一些实施例中，不是体现为硬件，而是将一个或多个解嵌器120体现为包括在例如验证计算设备102之类的设备中的软件或固件。如本文更详细描述的，正确操作的解嵌器120被配置为消除测试固定装置150对测量的测试信号的影响，使得在所得的解嵌信号中仅表示一个或多个DUT 140的信号传输属性。

说明性测试套件130包括一个或多个DUT 140，例如印刷电路板(PCB)上的迹线或其他类型的电导体，其两端耦合到测试固定装置150。说明性测试固定装置150包括测试固定装置152和另一测试固定装置154。测试固定装置150使得DUT 140能够耦合到验证计算设备102，以分析DUT140的信号传输属性。

现在参考图2，在说明性实施例中，验证计算设备102在操作期间建立环境200。说明性环境200包括信号测量器220、解嵌器管理器230和验证管理器240。环境200的每个组件可以体现为硬件、固件、软件或其组合。这样，在一些实施例中，环境200的组件中的一个或多个可以体现为电子设备的电路或集合(例如，信号测量电路220、解嵌器管理器电路230、验证管理器电路240等)。应当意识到，在这样的实施例中，信号测量电路220、解嵌器电路230和验证管理器电路240中的一个或多个可以形成处理器104、信号测量设备110、解嵌器120和/或验证计算设备102的其它组件中的一个或多个的一部分。在说明性的环境200中，验证计算设备102包括测量的信号数据202，其可以体现为指示通过一个或多个DUT 140发送的信号的属性的任何数据。例如，测量的信号数据202可以体现为在信号通过一个或多个DUT 140发送之前对信号的初始强度的测量，信号损失的测量和/或各种频率下信号反射的测量。说明性环境200另外包括解嵌器算法204，其可以体现为指示要由一个或多个设备(例如，一个或多个解嵌器120)执行以从测量的信号(例如，测量的信号数据202)中消除一个或多个固定装置(例如，测试固定装置152、154)的影响的操作的任何数据。另外，说明性环境200包括解嵌信号数据206，其可以体现为指示在解嵌器120已经将解嵌器算法204应用于测量的信号以消除测试固定装置152、154对测量的信号的影响之后的测量的信号的属性的任何数据。测量的信号数据202、解嵌器算法204和解嵌信号数据206中的每一个可以由验证计算设备102的各种组件和/或子组件访问。应当意识到，验证计算设备102可以包括通常见于计算设备中的其他组件、子组件和/或设备，为清楚起见其在图2中未示出。

如上所述，可以体现为硬件、固件、软件、虚拟化硬件、仿真架构和/或其组合的信号测量器220，被配置为生成测试电信号，使用测试固定装置150通过测试套件130的DUT140发送电信号，并测量信号的属性。在说明性实施例中，信号测量器220被配置为当电信号通过一个或多个DUT 140发送时测量信号损失量和信号反射量。此外，在说明性实施例中，信号测量器220是被配置为将对信号的测量(例如，信号损失和信号反射)格式化为具有实部和虚部的复数，例如S参数。信号测量器220可以被配置为针对多个频率(诸如，直流(DC)信号(即，零频率)、10GHz、20GHz等)中的每一个生成单独的测量(即，信号损失和信号反射)。

如上所述，可以被实现为硬件、固件、软件、虚拟化硬件、仿真架构和/或其组合的解嵌器管理器230，被配置为将解嵌器120应用于测量的信号(即，在测量的信号数据202中表示)以修改信号的属性，从而创建在解嵌信号数据206中表示的解嵌信号。此外，解嵌器管理器230可以被配置为从多个解嵌器120中选择并应用它们直到下面讨论的验证管理器240确定解嵌器120中的一个被验证(即，正确地从测量的信号中消除测试固定装置150的影响)或者没有解嵌器120被验证。在至少一些实施例中，解嵌器管理器230选择并执行解嵌器算法204以将解嵌器120应用于测量的信号。在其他实施例中，解嵌器120是由解嵌器管理器230选择以接收和修改测量的信号的硬件组件。

可以体现为如上所述的硬件、固件、软件、虚拟化硬件、仿真架构和/或其组合的验证管理器240被配置为验证所选择的解嵌器120是否正确地从测量的测试信号消除了测试固定装置150的影响。为此，说明性验证管理器240包括级联器242和比较器244。说明性级联器242被配置为将解嵌信号数据206与其自身级联，以创建级联的解嵌信号数据206。为此，说明性级联器242可以应用称为梅森规则的数学规则。说明性比较器244被配置为将与单个DUT 140相关联的级联的解嵌信号数据206与关联于串联连接的两个DUT 140的解嵌信号数据206进行比较。如果级联的解嵌信号数据206与关联于两个DUT 140的解嵌信号数据206匹配(例如，等于或在预定范围内)，则比较器244被配置为确定用于产生解嵌信号的解嵌器120正确地消除了测试固定装置150的影响(即，验证了解嵌器120)。应当意识到，验证管理器240的级联器242和比较器244中的每个可以分别实现为硬件、固件、软件、虚拟化硬件、仿真架构和/或其组合。例如，级联器242可以体现为硬件组件，而比较器244体现为虚拟化硬件组件或硬件、固件、软件、虚拟化硬件、仿真架构和/或其组合的一些其他组合。

现在参考图3，在使用中，验证计算设备102可以执行用于验证解嵌器120的方法300。方法300开始于框302，其中验证计算设备102确定是否已经接收到用于验证解嵌器的请求。例如，说明性验证计算设备102可以通过在显示器114上呈现的图形用户界面(未示出)来接收请求。在其他实施例中，信号测量设备110可以在检测到信号测量设备110已经耦合到测试固定装置150时生成请求。在其他实施例中，验证计算设备102可以从不同的源接收请求。无论如何，如果验证计算设备102确定已经接收到请求，则方法300前进到框304。在框304中，验证计算设备102测量来自与测试套件130中包括的单个DUT 140相关联的测试固定装置150的信号。在说明性实施例中，验证计算设备102生成信号并将信号发送到测试固定装置150中的一个(例如，测试固定装置152)并且在另一个测试固定装置(例如，测试固定装置154)处接收信号。信号的一部分可以被反射回测试固定装置152。因此，验证计算设备102也可以测量该信号的该反射部分。如上所述，测试固定装置150影响信号，使得DUT 140自身的传输属性变得模糊。如框306所示，在测量信号时，验证计算设备102可以测量不同频率处的信号，例如通过在一定频率范围(例如，0到20千兆赫)上顺序地生成信号，将信号发送到测试固定装置152，并且在测试固定装置152、154处接收和测量信号。如框308所示，验证计算设备102可以存储指示测量的信号数据202中的测量的信号的属性(例如信号损失和信号反射)的S参数(例如，具有实部和虚部的复数)。

在框310中，说明性验证计算设备102选择解嵌器120。在说明性实施例中，可以存在多个解嵌器120以从中进行选择，诸如各种硬件设备、软件算法(例如，解嵌器算法204)、固件或其组合。在其他实施例中，只有一个解嵌器120可供选择。在框312中，验证计算设备102将所选择的解嵌器120应用于测量的信号(即，在信号已经通过DUT 140之后在测试固定装置154处接收的信号，以及在测试固定装置152处接收的反射信号)。解嵌器120修改测量的信号以消除测试固定装置150的影响，使得在得到的解嵌信号中(例如，在解嵌信号数据206中)仅表示DUT 140的传输属性。在框314中，验证计算设备102存储解嵌信号数据206。在说明性实施例中，验证计算设备102将与单个DUT 140相关联的解嵌信号数据206存储在主存储器106或数据存储设备112中的一个或多个中。如框316所示，在存储解嵌信号数据206时，说明性验证计算设备102可以存储具有表示幅度的实部和表示角度的虚部的复数，例如一个或多个S参数。如框318所示，验证计算设备102可以存储信号反射数据，其表示被反射回测试固定装置152的测试信号的一部分。另外或可选地，如框320所示，验证计算设备102可以存储信号损失数据，表示损失的测试信号的一部分(即，当信号进入测试固定装置152时信号的幅度与信号离开测试固定装置154时信号的幅度之间的差值)。在框322中，验证计算设备102将解嵌信号数据206与其自身级联以生成级联的解嵌信号数据206。在这样做时，验证计算设备102可以使用梅森规则将解嵌信号数据206与自身级联。框304到322的性能表示用于验证解嵌器120的方法300的第一阶段。随后，方法300前进到图4的框324。如图4所示，验证计算设备102开始方法300的第二阶段。

现在参考图4，在框324中，验证计算设备102测量与方法300的第二阶段相关联的信号，其中测试套件包130包括彼此实质上相同(即，复制的)并且与在方法300的第一阶段中使用的DUT 140相同的两个DUT 140。在方法300的第二阶段中使用的DUT 140串联连接。在框324中，验证计算设备102将先前选择的解嵌器120应用于用于复制的DUT 140的测量信号，以生成解嵌信号数据206。如框326所示，验证计算设备102可以使用类似于结合图3的框306描述的过程的过程测量不同的频率处的信号。另外或替代地，验证计算设备102可以存储指示所测量的信号的属性(例如，信号损失和信号反射)的S参数，如框328所示。在框330中，验证计算设备102应用从图3的框310中选择的解嵌器120用于来自框324的测量信号，以从测量的信号中消除测试固定装置150的影响。

在框332中，验证计算设备102存储与复制的DUT 140相关联(即，与方法300的第二阶段相关联)的解嵌信号数据206。如上所述，验证计算设备102可以将解嵌信号206数据存储在主存储器106和/或数据存储设备112中。在存储解嵌信号数据206时，验证计算设备102可以如框334所示，存储复数，例如S参数。此外，如框336所示，验证计算设备102可以存储信号反射数据，所述信号反射数据表示反射回测试固定装置152的信号的一部分。另外地或可替代地，如框338所示，验证计算设备102可以存储信号损失数据，所述信号损失数据表示当信号通过复制的DUT 140时信号幅度的减小。框324到338的执行表示方法300的第二阶段。

在框340中，验证计算设备102比较来自图3的框314的级联的解嵌信号数据206与关联于复制的DUT 140的解嵌信号数据206(即，来自框332)。如框342所示，在执行比较时，验证计算设备102可以比较表示两组解嵌信号数据的各种特性的S参数(即，级联的解嵌信号数据和与复制的DUT 140相关联的解嵌信号数据)。此外，如框344所示，验证计算设备102可以比较与两组解嵌信号数据206相关联的信号反射数据。如上所述，信号反射数据表示反射回测试固定装置152的每个测试信号的一部分。另外或可替代地，如框346所示，验证计算设备102可以比较与两组解嵌信号数据206相关联的信号损失数据。如上所述，信号损失数据表示当测试信号通过一个或多个DUT 140时，测试信号的幅度变化。如框348所示，在比较一组解嵌信号数据206时，验证计算设备102可以确定数据组的相对应组件是否满足阈值差。在这样做时，验证计算设备102可以确定数据组是否在彼此的预定义阈值内(例如，诸如2％之类的预定义百分比)内，而不是简单地确定数据组是否包含相等的值。随后，方法300前进到图5的框350，其中验证计算设备102确定比较的数据组是否匹配(例如，数据组是否包含相等的值，数据组是否在彼此的预定义阈值内，等等)。

现在参考图5，如果比较的数据组匹配，则方法300前进到框352。在框352中，验证计算设备102确定所选择的解嵌器120被验证(即，解嵌器120正确地从测量的信号消除了所述测试固定装置的影响，以便仅表示DUT 140的传输属性)。方法300随后可以循环回到框302以等待另一个用于验证解嵌器120的请求。然而，返回参考框350，如果验证计算设备102改为确定比较的数据组不匹配，则方法300前进到图5的框354。在框354中，验证计算设备102确定所选择的解嵌器120未被验证。随后，方法300前进到框356，其中验证计算设备102确定是否测试另一个解嵌器120。在一些实施例中，验证计算设备102可以通过显示器114显示提示，通知用户所选择的解嵌器120未经验证，并且另一个解嵌器可供进行测试。在其他实施例中，验证计算设备102可以确定另一个解嵌器120是否可用于验证计算设备102以被测试，并且如果是，则继续测试另一个解嵌器120。如果验证计算设备102确定了测试另一个解嵌器120，则方法300循环回到图3的框310，以选择另一个解嵌器120。否则，验证计算设备102可以确定所有可用的解嵌器120已经被测试或者用户已经指示不测试另一个解嵌器，在这种情况下该方法300可以循环回到框302以等待用于测试解嵌器120的请求。框340到356表示方法300的第三阶段。

现在参考图6，说明性测试套件130可以包括分别用于方法300的第一阶段和第二阶段的两个部分602、604。部分602包括耦合到DUT 140的相对应端的测试固定装置152、154。如上所述，DUT 140体现为互连，例如PCB上的迹线或能够发送数据信号的其他类型的电导体。部分604包括耦合到复制的一组DUT 140的相对应端的测试固定装置152、154。DUT140串联连接，并且如上所述，实质上与第一部分602的DUT 140相同。同样，第二部分604的测试固定装置152、154实质上与第一部分602的测试固定装置152、154相同。

现在参考图7，简化流程图700示出了图3-图5的方法300的各个阶段。第一阶段702对应于方法300的框304到322。第二阶段704对应于方法300的框324到338。如流程图700中所示，第一阶段702不需要在第二阶段704之前发生。而是，阶段702、704可以以任何顺序发生或同时发生，只要它们出现在第三阶段706之前。在第三阶段706中，如上参考方法300的框340到356所述，验证计算设备102比较与阶段702、704相关联的解嵌信号数据组206。验证计算设备102执行比较以确定所选择的解嵌器120是否已正确地消除测试固定装置150的影响，使得解嵌信号数据206仅表示DUT 140的传输特性(例如，S参数)。

示例

以下提供本文公开的设备、系统和方法的说明性示例。设备、系统和方法的实施例可以包括下面描述的示例中的任何一个或多个，以及任何组合。

示例1包括一种用于验证解嵌器的验证计算设备，所述验证计算设备包括：一个或多个处理器；一个或多个存储器设备，其中存储有多个指令，所述多个指令当被执行时使得所述验证计算设备用于：测量通过单个被测设备发送的第一信号；测量通过一组复制的被测设备发送的第二信号，其中该一组复制的中的每个被测设备与所述单个被测设备实质上相同；将解嵌器应用于测量的第一信号，以消除测试固定装置对测量的第一信号的影响；将所述解嵌器应用于测量的第二信号，以消除所述测试固定装置对测量的第二信号的影响；将解嵌的第一信号与其自身级联以生成级联的解嵌的第一信号；以及将级联的解嵌的第一信号与解嵌的第二信号进行比较，以确定所述级联的解嵌的第一信号是否与所述解嵌的第二信号匹配。

示例2包括示例1的主题，并且其中，所述多个指令当被执行时还使得所述验证计算设备响应于确定所述级联的解嵌的第一信号与所述解嵌的第二信号匹配而确定所述解嵌器被验证。

示例3包括示例1和2中任一项的主题，并且其中，所述多个指令当被执行时还使得所述验证计算设备响应于确定所述级联的解嵌的第一信号与所述解嵌的第二信号不匹配来确定所述解嵌器未被验证。

示例4包括示例1-3中任一示例的主题，并且其中所述解嵌器是第一解嵌器，并且所述多个指令当被执行时还使所述验证计算设备选择第二解嵌器以应用于所述测量的第一信号和测量的第二信号以从第一和第二测量的信号中消除固定装置的影响。

示例5包括示例1-4中任一示例的主题，并且其中，测量所述第一信号包括：测量信号反射或信号损失中的至少一个。

示例6包括示例1-5中任一项的主题，并且其中，将所述级联的解嵌的第一信号与所述解嵌的第二信号进行比较包括：确定所述解嵌的第一信号和所述解嵌的第二信号之间的差是否满足阈值差；响应于确定所述差满足所述阈值差，确定所述级联的解嵌的第一信号与所述解嵌的第二信号匹配；以及响应于确定所述差不满足所述阈值差，确定所述级联的解嵌的第一信号与所述解嵌的第二信号不匹配。

示例7包括示例1-6中任一示例的主题，并且其中，测量所述第一信号包括：测量不同频率处通过所述单个被测设备发送的信号。

示例8包括示例1-7中任一项的主题，并且其中，测量所述第二信号包括：测量不同频率处通过所述一组复制的被测设备发送的信号。

示例9包括示例1-8中任一项的主题，并且其中，测量所述第一信号包括：将第一信号发送到第一测试固定装置，所述第一测试固定装置耦合到单个被测设备的一端；以及测量第二测试固定装置处第一信号的幅度变化，所述第二测试固定装置耦合到所述单个被测设备的相对端。

示例10包括示例1-9中任一项的主题，并且其中，测量所述第一信号还包括测量所述第一测试固定装置处的第一信号的反射。

示例11包括示例1-10中任一示例的主题，并且其中，测量所述第二信号包括：将所述第二信号发送到第一测试固定装置，该第一测试固定装置耦合到所述一组复制的被测设备的一端；以及测量第二测试固定装置处第二信号的幅度变化，所述第二测试固定装置耦合到所述一组复制的被测设备的相对端。

示例12包括示例1-11中任一示例的主题，并且其中，测量第二信号还包括测量第一测试固定装置处的第二信号的反射。

示例13包括示例1-12中任一项的主题，并且其中多个指令当被执行时还使得验证计算设备存储指示与通过单个被测设备发送的第一信号相关联的信号损失和信号反射的第一组S参数；并存储指示与通过一组复制的被测设备发送的第二信号相关联的信号损失和信号反射的第二组S参数。

示例14包括示例1-13中任一示例的主题，并且其中将解嵌器应用于所测量的第一信号包括将解嵌器算法应用于第一组S参数以产生解嵌的第一组S参数；并且其中将解嵌器应用于测量的第二信号包括将解嵌器算法应用于第二组S参数以产生解嵌的第二组S参数。

示例15包括示例1-14中任一示例的主题，并且其中将级联的解嵌的第一信号与解嵌的第二信号进行比较包括将指示级联的解嵌的第一信号的属性的第一组S参数与指示解嵌的第二信号的属性的第二组S参数进行比较。

示例16包括一种用于验证解嵌器的方法，该方法包括：通过验证计算设备测量通过单个被测设备发送的第一信号；通过所述验证计算设备测量通过一组复制的被测设备发送的第二信号，其中一组复制的设备中的每个被测设备与所述单个被测设备实质上相同；通过所述验证计算设备将解嵌器应用于测量的第一信号，以消除测试固定装置对测量的第一信号的影响；通过所述验证计算设备将所述解嵌器应用于测量的第二信号，以消除所述测试固定装置对测量的第二信号的影响；通过所述验证计算设备将解嵌的第一信号与自身级联，以生成级联的解嵌的第一信号；以及通过所述验证计算设备比较所述级联的解嵌的第一信号和所述解嵌的第二信号，以确定所述级联的解嵌的第一信号是否与所述解嵌的第二信号匹配。

示例17包括示例16的主题，并且还包括：通过所述验证计算设备并且响应于确定所述级联的解嵌的第一信号与所述解嵌的第二信号匹配，来确定所述解嵌器被验证。

示例18包括示例16和17中任一项的主题，并且还包括：通过所述验证计算设备并且响应于确定所述级联的解嵌的第一信号与所述解嵌的第二信号不匹配，来确定所述解嵌器未被验证。

示例19包括示例16-18中任一示例的主题，并且其中所述解嵌器是第一解嵌器，所述方法还包括由所述验证计算设备选择第二解嵌器以应用于所测量的第一信号和所测量的第二信号来从第一和第二测量的信号中消除固定装置的影响。

示例20包括示例16-19中任一示例的主题，并且其中测量所述第一信号包括测量信号反射或信号损失中的至少一个。

示例21包括示例16-20中任一示例的主题，并且其中，将所述级联的解嵌的第一信号与所述解嵌的第二信号进行比较包括：确定所述解嵌的第一信号和所述解嵌的第二信号之间的差是否满足阈值差；响应于确定所述差满足所述阈值差，确定所述级联的解嵌的第一信号与所述解嵌的第二信号匹配；以及响应于确定所述差不满足所述阈值差，确定所述级联的解嵌的第一信号与所述解嵌的第二信号不匹配。

示例22包括示例16-21中任一示例的主题，并且其中测量所述第一信号包括测量不同频率处通过所述单个被测设备发送的信号。

示例23包括示例16-22中任一示例的主题，并且其中测量所述第二信号包括测量不同频率处通过所述一组复制的被测设备发送的信号。

示例24包括示例16-23中任一示例的主题，并且其中测量所述第一信号包括：将第一信号发送到第一测试固定装置，所述第一测试固定装置耦合到所述单个被测设备的一端；以及测量第二测试固定装置处第一信号的幅度变化，所述第二测试固定装置耦合到所述单个被测设备的相对端。

示例25包括示例16-24中任一示例的主题，并且其中测量所述第一信号还包括测量所述第一测试固定装置处的所述第一信号的反射。

示例26包括示例16-25中任一示例的主题，并且其中测量所述第二信号包括：将所述第二信号发送到第一测试固定装置，所述第一测试固定装置耦合到所述一组复制的被测设备的一端；以及测量第二测试固定装置处第二信号的幅度变化，所述第二测试固定装置耦合到所述一组复制的被测设备的相对端。

示例27包括示例16-26中任一示例的主题，并且其中测量第二信号还包括测量第一测试固定装置处的第二信号的反射。

示例28包括示例16-27中任一示例的主题，并且还包括：由验证计算设备存储指示与通过单个被测设备发送的第一信号相关联的信号损失和信号反射的第一组S参数；以及由所述验证计算设备存储指示与通过所述一组复制的被测设备发送的第二信号相关联的信号损失和信号反射的第二组S参数。

示例29包括示例16-28中任一示例的主题，并且其中将解嵌器应用于所测量的第一信号包括将解嵌器算法应用于第一组S参数以产生解嵌的第一组S参数；并且其中将解嵌器应用于测量的第二信号包括将解嵌器算法应用于第二组S参数以产生解嵌的第二组S参数。

示例30包括示例16-29中任一示例的主题，并且其中将级联的解嵌的第一信号与解嵌的第二信号进行比较包括将指示级联的解嵌的第一信号的属性的第一组S参数与指示解嵌的第二信号的属性的第二组S参数进行比较。

示例31包括一个或多个计算机可读存储介质，其包括多个指令，所述多个指令响应于被执行而使得验证计算设备执行示例16-30中任一个的方法。

示例32包括一种用于验证解嵌器的验证计算设备，该验证计算设备包括：一个或多个处理器；一个或多个存储器设备，其中存储有多个指令，多个指令当被执行时，使得验证计算设备执行示例16-30中任一个的方法。

示例33包括一种用于验证解嵌器的验证计算设备，该验证计算设备包括用于执行示例16-30中任一示例的方法的单元。

示例34包括一种用于验证解嵌器的验证计算设备，该验证计算设备包括信号测量器电路，其用于测量通过单个被测设备发送的第一信号，以及测量通过一组复制的被测设备发送的第二信号，其中，一组复制的被测设备中的每个被测设备与单个被测设备实质上相同；解嵌器管理器电路，其用于将解嵌器应用于测量的第一信号，以消除测试固定装置对测量的第一信号的影响，并将解嵌器应用于测量的第二信号，以消除测试固定装置对测量的第二信号的影响；以及验证管理器电路，其用于将解嵌的第一信号与其自身级联，以生成级联的解嵌的第一信号，并将级联的解嵌的第一信号与解嵌的第二信号进行比较，以确定级联的解嵌的第一信号是否与解嵌的第二信号匹配。

示例35包括示例34的主题，并且其中，验证管理器电路还响应于确定所述级联的解嵌的第一信号与所述解嵌的第二信号匹配，来确定所述解嵌器被验证。

示例36包括示例34和35中任一项的主题，并且其中验证管理器电路还响应于确定所述级联的解嵌的第一信号与所述解嵌的第二信号不匹配来确定解嵌器未被验证。

示例37包括示例34-36中任一示例的主题，并且其中解嵌器是第一解嵌器，并且解嵌器管理器电路进一步选择第二解嵌器以应用于测量的第一信号和测量的第二信号，以从第一和第二测量的信号中消除固定装置的影响。

示例38包括示例34-37中任一示例的主题，并且其中，测量第一信号包括测量信号反射或信号损失中的至少一个。

示例39包括示例34-38中任一示例的主题，并且其中，将级联的解嵌的第一信号与解嵌的第二信号进行比较包括：确定解嵌的第一信号与解嵌的第二信号之间的差是否满足阈值差；响应于确定差满足阈值差而确定级联的解嵌的第一信号与解嵌的第二信号匹配；并且，响应于确定差不满足阈值差而确定级联的解嵌的第一信号与解嵌的第二信号不匹配。

示例40包括示例34-39中任一示例的主题，并且其中测量第一信号包括测量不同频率处通过单个被测设备发送的信号。

示例41包括示例34-40中任一示例的主题，并且其中，测量第二信号包括：测量不同频率处通过一组复制的被测的设备发送的信号。

示例42包括示例34-41中任一示例的主题，并且其中，测量第一信号包括将第一信号发送到第一测试固定装置，所述第一测试固定装置耦合到单个被测设备的一端；并且测量第二测试固定装置处第一信号的幅度变化，所述第二测试固定装置耦合到单个被测设备的相对端。

示例43包括示例34-42中任一示例的主题，并且其中，测量第一信号还包括：测量第一测试固定装置处的第一信号的反射。

示例44包括示例34-43中任一示例的主题，并且其中，测量第二信号包括将第二信号发送到第一测试固定装置，所述第一测试固定装置耦合到一组复制的被测设备的一端；并且测量第二测试固定装置处第二信号的幅度变化，所述第二测试固定装置耦合到所述一组复制的被测设备的相对端。

示例45包括示例34-44中任一示例的主题，并且其中，测量第二信号还包括测量第一测试固定装置处的第二信号的反射。

示例46包括示例34-45中任一示例的主题，并且其中信号测量器电路还存储指示与通过单个被测设备发送的第一信号相关联的信号损失和信号反射的第一组S参数；并存储指示与通过一组复制的被测设备发送的第二信号相关联的信号损失和信号反射的第二组S参数。

示例47包括示例34-46中任一示例的主题，并且其中将解嵌器应用于所测量的第一信号包括将解嵌器算法应用于第一组S参数以产生解嵌的第一组S参数；并且其中将解嵌器应用于测量的第二信号包括将解嵌器算法应用于第二组S参数以产生解嵌的第二组S参数。

示例48包括示例34-47中任一示例的主题，并且其中将级联的解嵌的第一信号与解嵌的第二信号进行比较包括将指示级联的解嵌的第一信号的属性的第一组S参数与指示解嵌的第二信号的属性的第二组S参数进行比较。

示例49包括一种用于验证解嵌器的验证计算设备，该验证计算设备包括：用于测量通过单个被测设备发送的第一信号的电路；用于测量通过一组复制的被测设备发送的第二信号的电路，其中一组复制的被测设备中的每个被测设备与单个被测设备实质上相同；用于由验证计算设备将解嵌器应用于所测量的第一信号以消除测试固定装置对所测量的第一信号的影响的电路；用于由验证计算设备将解嵌器应用于测量的第二信号以消除测试固定装置对测量的第二信号的影响的电路；用于由验证计算设备将解嵌的第一信号与其自身级联以生成级联的解嵌的第一信号的单元；以及用于将级联的解嵌的第一信号和解嵌的第二信号进行比较以确定级联的解嵌的第一信号是否与解嵌的第二信号匹配的单元。

示例50包括示例49的主题，并且还包括用于响应于确定级联的解嵌的第一信号与解嵌的第二信号匹配而确定解嵌器被验证的电路。

示例51包括示例49和50中任一项的主题，并且还包括用于响应于确定所述级联的解嵌的第一信号与所述解嵌的第二信号不匹配而确定所述解嵌器电路未被验证的电路。

示例52包括示例49-51中任一示例的主题，并且其中解嵌器是第一解嵌器，验证计算设备还包括用于选择第二解嵌器以应用于测量的第一信号和测量的第二信号以从第一和第二测量的信号中消除固定装置的影响的电路。

示例53包括示例49-52中任一示例的主题，并且其中用于测量第一信号的电路包括用于测量信号反射或信号损失中的至少一个的电路。

示例54包括示例49-53中任一示例的主题，并且其中用于将级联的解嵌的第一信号与解嵌的第二信号进行比较的单元包括用于确定解嵌的第一信号和解嵌的第二信号之间的差是否满足阈值差的电路；用于响应于确定差满足阈值差而确定级联的解嵌的第一信号与解嵌的第二信号匹配的电路；以及用于响应于确定差不满足阈值差而确定级联的解嵌的第一信号与解嵌的第二信号不匹配的电路。

示例55包括示例49-54中任一示例的主题，并且其中用于测量第一信号的电路包括用于测量不同频率处通过单个被测设备发送的信号的电路。

示例56包括示例49-55中任一示例的主题，并且其中用于测量第二信号的电路包括用于测量不同频率处通过一组复制的被测设备发送的信号的电路。

示例57包括示例49-56中任一示例的主题，并且其中用于测量第一信号的电路包括用于将第一信号发送到第一测试固定装置的电路，所述第一测试固定装置耦合到单个被测设备的一端；用于测量第二测试固定装置处第一信号的幅度变化的电路，所述第二测试固定装置耦合到单个被测设备的相对端。

示例58包括示例49-57中任一示例的主题，并且其中用于测量第一信号的电路还包括用于测量第一测试固定装置处的第一信号的反射的电路。

示例59包括示例49-58中任一示例的主题，并且其中用于测量第二信号的电路包括用于将第二信号发送到第一测试固定装置的电路，该第一测试固定装置耦合到一组复制的被测设备的一端；以及用于测量第二测试固定装置处第二信号的幅度变化的电路，所述第二测试固定装置耦合到一组复制的被测设备的相对端。

示例60包括示例49-59中任一示例的主题，并且其中用于测量第二信号的电路还包括用于测量第一测试固定装置处的第二信号的反射的电路。

示例61包括示例49-60中任一项的主题，并且还包括用于存储指示与通过单个被测设备发送的第一信号相关联的信号损失和信号反射的第一组S参数的电路；以及用于存储指示与通过一组复制的被测设备发送的第二信号相关联的信号损失和信号反射的第二组S参数的电路。

示例62包括示例49-61中任一示例的主题，并且其中用于将解嵌器应用于测量的第一信号的电路包括用于将解嵌器算法应用于第一组S参数以产生解嵌的第一组S参数的电路；并且其中用于将解嵌器应用于测量的第二信号的电路包括用于将解嵌器算法应用于第二组S参数以产生解嵌的第二组S参数的电路。

示例63包括示例49-62中任一示例的主题，并且其中用于将级联的解嵌的第一信号与解嵌的第二信号进行比较的单元包括用于将指示级联的解嵌的第一信号的属性的第一组S参数与指示解嵌的第二信号的属性的第二组S参数进行比较的单元。

Claims (22)

1.一种用于验证解嵌器的方法，所述方法包括：

在第一测试套件上执行第一组测量，所述第一测试套件包括第一固定装置、第二固定装置以及连接至所述第一固定装置和所述第二固定装置的被测第一设备；

在第二测试套件上执行第二组测量，所述第二测试套件包括第三固定装置、第四固定装置和连接到所述第三固定装置和所述第四固定装置的被测第二设备，其中，所述被测第二设备是串行的所述被测第一设备的两个副本；

由解嵌器并且基于所述第一组测量来确定第一组参数，所述第一组参数表示通过所述被测第一设备对信号的影响；

由所述解嵌器并且基于所述第二组测量来确定第二组参数，所述第二组参数表示通过所述被测第二设备对信号的影响；

基于所述第一组参数来确定第三组参数，所述第三组参数表示通过级联在一起的两个所述被测第一设备对信号的影响；

对所述第三组参数和所述第二组参数进行比较；以及

基于对所述第三组参数和所述第二组参数的比较来确定所述解嵌器的误差参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，对所述第三组参数和所述第二组参数进行比较包括确定所述第一组参数和所述第二组参数之间的差，并且其中，确定所述解嵌器的所述误差参数包括将所述差与阈值进行比较。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，在所述第一测试套件上执行所述第一组测量包括在多个频率中的每个频率处，在所述第一测试套件上执行一个或多个测量，

其中，在所述第二测试套件上执行所述第二组测量包括在所述多个频率中的每个频率处，在所述第二测试套件上执行一个或多个测量。

4.根据权利要求3所述的方法，其中，确定所述第一组参数包括基于在所述多个频率中的每个频率处在所述第一测试套件上的一个或多个测量来确定所述第一组参数，

其中，确定所述第二组参数包括基于在所述多个频率中的每个频率处在所述第二测试套件上的一个或多个测量来确定所述第二组参数，

其中，确定所述解嵌器的误差参数包括确定在所述多个频率中的每个频率处所述解嵌器的一个或多个误差参数。

5.根据权利要求1所述的方法，其中，在所述第一测试套件上执行所述第一组测量包括在所述第一测试套件上执行信号损失测量和信号反射测量，

其中，在所述第二测试套件上执行所述第二组测量包括在所述第二测试套件上执行信号损失测量和信号反射测量。

6.一种用于验证解嵌器的验证计算设备，所述验证计算设备包括：

一个或多个处理器；

一个或多个存储设备，其中存储有多个指令，所述多个指令当由所述一个或多个处理器执行时，使所述验证计算设备用于：

应用解嵌器以基于第一测试套件的第一组测量，来确定第一组参数，所述第一测试套件包括(i)第一固定装置，(ii)第二固定装置和(iii)被测第一设备，所述第一组参数表示通过所述被测第一设备对信号的影响；

应用所述解嵌器以基于第二测试套件的第二组测量，来确定第二组参数，所述第二测试套件包括(i)第三固定装置，(ii)第四固定装置和(iii)被测第二设备，所述第二组参数表示通过所述被测第二设备对信号的影响；以及

基于所述第一组参数，来确定第三组参数，所述第三组参数表示通过级联在一起的两个所述被测第一设备对信号的影响。

7.根据权利要求6所述的验证计算设备，其中，所述多个指令还使所述一个或多个处理器用于：

对所述第三组参数与所述第二组参数进行比较；以及

基于对所述第三组参数和所述第二组参数的比较，来确定解嵌器的误差参数。

8.根据权利要求7所述的验证计算设备，其中，对所述第三组参数与所述第二组参数进行比较包括确定所述第一组参数与所述第二组参数之间的差，并且其中，确定所述解嵌器的误差参数包括对所述差与阈值进行比较。

9.根据权利要求6所述的验证计算设备，其中，在所述第一测试套件上执行所述第一组测量包括在多个频率中的每个频率处在所述第一测试套件上执行一个或多个测量，

其中，在所述第二测试套件上执行所述第二组测量包括在所述多个频率中的每个频率处在所述第二测试套件上执行一个或多个测量。

10.根据权利要求9所述的验证计算设备，其中，确定所述第一组参数包括基于在所述多个频率中的每个频率处在所述第一测试套件上的一个或多个测量，来确定所述第一组参数；

其中，确定所述第二组参数包括基于在所述多个频率中的每个频率处在所述第二测试套件上的一个或多个测量来确定所述第二组参数，

其中，确定所述解嵌器的误差参数包括确定在所述多个频率中的每个频率处所述解嵌器的一个或多个误差参数。

11.根据权利要求6所述的验证计算设备，其中，在所述第一测试套件上执行所述第一组测量包括在所述第一测试套件上执行信号损失测量和信号反射测量，

其中，在所述第二测试套件上执行所述第二组测量包括在所述第二测试套件上执行信号损失测量和信号反射测量。

12.一种用于验证解嵌器的系统，所述系统包括：

第一测试套件，其包括第一固定装置、第二固定装置以及连接至所述第一固定装置和所述第二固定装置的被测第一设备；

第二测试套件，其包括第三固定装置、第四固定装置以及连接至所述第三固定装置和所述第四固定装置的被测第二设备，其中，所述被测第二设备是串行的所述被测第一设备的两个副本；

解嵌器，其被配置为：

基于所述第一测试套件的第一组测量，来确定第一组参数，所述第一组参数表示通过所述被测第一设备对信号的影响；以及

基于所述第二测试套件上的第二组测量，来确定第二组参数，所述第二组参数表示通过所述被测第二设备对信号的影响；以及

验证计算设备，其用于基于所述第一组参数来确定第三组参数，所述第三组参数表示通过被级联在一起的两个所述被测第一设备对信号的影响。

13.根据权利要求12所述的系统，其中，对所述第三组参数和所述第二组参数进行比较包括确定所述第一组参数与所述第二组参数之间的差，并且其中，确定所述解嵌器的误差参数包括对所述差与阈值进行比较。

14.根据权利要求12所述的系统，其中，在所述第一测试套件上执行所述第一组测量包括在多个频率中的每个频率处在所述第一测试套件上执行一个或多个测量，

其中，在所述第二测试套件上执行所述第二组测量包括在所述多个频率中的每个频率处在所述第二测试套件上执行一个或多个测量。

15.根据权利要求14所述的系统，其中，确定所述第一组参数包括基于在所述多个频率中的每个频率处在所述第一测试套件上的一个或多个测量来确定所述第一组参数，

其中，确定所述第二组参数包括基于在所述多个频率中的每个频率处在所述第二测试套件上的一个或多个测量来确定所述第二组参数，

其中，确定所述解嵌器的误差参数包括确定在所述多个频率中的每个频率处所述解嵌器的一个或多个误差参数。

16.如权利要求12所述的系统，其中，在所述第一测试套件上执行所述第一组测量包括在所述第一测试套件上执行信号损耗测量和信号反射测量，

其中，在所述第二测试套件上执行所述第二组测量包括在所述第二测试套件上执行信号损失测量和信号反射测量。

17.一个或多个存储设备，其中存储有多个指令，所述多个指令当由验证计算设备执行时，使所述验证计算设备用于：

应用解嵌器以基于第一测试套件的第一组测量，来确定第一组参数，所述第一测试套件包括(i)第一固定装置、(ii)第二固定装置和(iii)被测第一设备，所述第一组参数表示通过所述被测第一设备对信号的影响；

应用所述解嵌器以基于第二测试套件的第二组测量，来确定第二组参数，所述第二测试套件包括(i)第三固定装置、(ii)第四固定装置和(iii)被测第二设备，所述第二组参数表示通过所述被测第二设备对信号的影响；以及

基于所述第一组参数，来确定第三组参数，所述第三组参数表示通过级联在一起的两个所述被测第一设备对信号的影响。

18.根据权利要求17所述的一个或多个存储设备，其中，所述多个指令还使所述验证计算设备用于：

对所述第三组参数和所述第二组参数进行比较；以及

基于对所述第三组参数和所述第二组参数的比较，来确定解嵌器的误差参数。

19.根据权利要求18所述的一个或多个存储设备，其中，对所述第三组参数和所述第二组参数进行比较包括确定所述第一组参数和所述第二组参数之间的差，并且其中，确定所述解嵌器的误差参数包括对所述差与阈值进行比较。

20.根据权利要求17所述的一个或多个存储设备，其中，在所述第一测试套件上执行所述第一组测量包括在多个频率中的每个频率处在所述第一测试套件上执行一个或多个测量，

其中，在所述第二测试套件上执行所述第二组测量包括在所述多个频率中的每个频率处在所述第二测试套件上执行一个或多个测量。

21.根据权利要求20所述的一个或多个存储设备，其中，确定所述第一组参数包括基于在所述多个频率中的每个频率处在所述第一测试套件上的一个或多个测量来确定所述第一组参数，

其中，确定所述第二组参数包括基于在所述多个频率中的每个频率处在所述第二测试套件上的一个或多个测量来确定所述第二组参数，

其中，确定所述解嵌器的误差参数包括确定在所述多个频率中的每个频率处所述解嵌器的一个或多个误差参数。

22.根据权利要求17所述的一个或多个存储设备，其中，在所述第一测试套件上执行所述第一组测量包括在所述第一测试套件上执行信号损失测量和信号反射测量，

其中，在所述第二测试套件上执行所述第二组测量包括在所述第二测试套件上执行信号损失测量和信号反射测量。