KR101594439B1 - 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치 및 그 방법 - Google Patents

원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치 및 그 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR101594439B1
KR101594439B1 KR1020140138506A KR20140138506A KR101594439B1 KR 101594439 B1 KR101594439 B1 KR 101594439B1 KR 1020140138506 A KR1020140138506 A KR 1020140138506A KR 20140138506 A KR20140138506 A KR 20140138506A KR 101594439 B1 KR101594439 B1 KR 101594439B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
defect
control system
result
stored
specific
Prior art date
Application number
KR1020140138506A
Other languages
English (en)
Inventor
이승준
정원대
Original Assignee
한국원자력연구원
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 한국원자력연구원 filed Critical 한국원자력연구원
Priority to KR1020140138506A priority Critical patent/KR101594439B1/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101594439B1 publication Critical patent/KR101594439B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317—Testing of digital circuits
    • G01R31/3181—Functional testing
    • G01R31/3183—Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences
    • G—PHYSICS
    • G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21C—NUCLEAR REACTORS
    • G21C17/00—Monitoring; Testing ; Maintaining
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
    • Y02E30/30—Nuclear fission reactors

Abstract

본 명세서는, 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템의 신뢰도를 평가하기 위해, 디지털 계측제어시스템에 결함을 인가하고 그 결함의 영향을 분석하는 과정을 자동으로 수행하는 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치 및 그 방법에 관한 것으로서, 본 발명의 실시예에 따른 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치는, 디지털 계측제어시스템의 메모리에 결함을 인가하고, 그 결함이 반영된 데이터를 분석함으로써 디지털 계측제어시스템의 신뢰도를 평가할 수 있다.

Description

원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치 및 그 방법{APPARATUS FOR TESTING DIGITAL INSTRUMENTATION AND CONTROL SYSTEM IN NUCLEAR POWER PLANT AND METHOD THEREOF}
본 발명은 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치 및 그 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 전자제품의 경우 그 하드웨어 불량 여부를 진단하는 방법에는 여러 가지가 있는데, 일례로서, 전자제품에 별도의 테스트 장비를 연결한 후에 기술자가 직접 테스트 장비를 통해 전자제품의 신호를 점검하여 하드웨어 불량을 진단하는 방법이 있다.
그리고, 최근의 내장형 시스템(Embedded System)에서는 전력을 조금만 소모한다는 특징으로 인해 ARM(Advanced RISC Machines) 코어를 주로 탑재하고 있으며, 또한 디버깅(Debugging)을 위해 JTAG 포트(Joint Test Action Group Port)를 내장하고 있는데, 이러한 내장형 시스템은 제품 불량시 마스터 프로세서에 존재하는 JTAG 포트 또는 마스터 프로세서의 외부에 별도로 구성된 JTAG 모듈의 JTAG 포트에 그 JTAG 포트를 제어하는 주체가 되는 외부 PC를 연결하는 인터페이스를 구성하고, 주변 장치에 테스트 장비를 연결하며, 이러한 상태에서 외부 PC에서 전송하는 테스트 신호를 JTAG 포트를 통해 프로세서와 주변 장치(Peripherals)로 전달되도록 한 후, 테스트 장비를 이용하여 주변 장치에 전달된 신호를 파악하여 최초에 PC에서 전송한 테스트 신호와 동일한지를 직접 점검함으로써 제품 불량 여부를 판단하는 방법을 사용한다.
한국특허 출원 번호 제제10-2007-0015984호
본 명세서는, 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템의 신뢰도를 평가하기 위해, 디지털 계측제어시스템에 결함을 인가하고 그 결함의 영향을 분석하는 과정을 자동으로 수행하는 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치 및 그 방법을 제공하는 데 그 목적이 있다.
본 발명의 실시예에 따른 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치는, 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 제어하기 위한 소스 코드를 컴파일하여 어셈블러로 변환하는 컴파일러 모듈과; 상기 디지털 계측제어시스템의 다수의 하드웨어 각각에 대응하는 미리결정된 결함코드와 상기 결함 코드가 저장될 저장 위치에 대응하는 정보를 미리 저장하는 데이터베이스와; 상기 다수의 하드웨어 중에서 사용자에 의해 선택된 특정 하드웨어에 대응하는 미리저장된 특정 결함과 상기 미리저장된 특정 결함이 저장될 특정 위치를 상기 데이터베이스로부터 검출하는 결함 인가 모듈과; 상기 검출한 특정 결함과 특정 위치를 수신하고, 상기 디지털 계측제어시스템의 메모리의 다수의 메모리 영역 중에서 상기 특정 위치에 대응하는 메모리 영역에 저장된 데이터에 상기 특정 결함을 반영함으로써, 상기 특정 결함을 갖는 상기 데이터를 출력하는 메모리 처리 모듈과; 상기 변환된 어셈블러에 상기 특정 결함을 갖는 데이터를 반영하고, 상기 미리저장된 특정 결함을 갖는 데이터가 반영된 어셈블러를 출력하는 어셈블러 처리 모듈과; 상기 미리저장된 특정 결함을 갖는 데이터가 반영된 어셈블러를 실행하고, 상기 어셈블러의 실행 결과를 출력하는 실행 모듈과; 상기 실행 결과를 분석하고, 상기 분석된 결과를 표시부에 출력하는 결과 분석 모듈을 포함할 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 방법은, 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 제어하기 위한 소스 코드를 컴파일하여 어셈블러로 변환하는 단계와; 상기 디지털 계측제어시스템의 다수의 하드웨어 각각에 대응하는 미리결정된 결함코드와 상기 결함 코드가 저장될 저장 위치에 대응하는 정보를 데이터베이스에 미리 저장하는 단계와; 상기 다수의 하드웨어 중에서 사용자에 의해 선택된 특정 하드웨어에 대응하는 미리저장된 특정 결함과 상기 미리저장된 특정 결함이 저장될 특정 위치를 상기 데이터베이스로부터 검출하는 단계와; 상기 검출한 특정 결함과 특정 위치를 수신하고, 상기 디지털 계측제어시스템의 메모리의 다수의 메모리 영역 중에서 상기 특정 위치에 대응하는 메모리 영역에 저장된 데이터에 상기 특정 결함을 반영함으로써, 상기 특정 결함을 갖는 상기 데이터를 출력하는 단계와; 상기 변환된 어셈블러에 상기 특정 결함을 갖는 데이터를 반영하고, 상기 미리저장된 특정 결함을 갖는 데이터가 반영된 어셈블러를 출력하는 단계와; 상기 미리저장된 특정 결함을 갖는 데이터가 반영된 어셈블러를 실행하고, 상기 어셈블러의 실행 결과를 출력하는 단계와; 상기 실행 결과를 분석하고, 상기 분석된 결과를 표시부에 출력하는 단계를 포함할 수 있다.
본 명세서의 실시예에 따른 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치 및 그 방법은, 디지털 계측제어시스템에 결함을 인가하고 그 결함의 영향을 분석하는 과정을 자동으로 수행함으로써 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템의 신뢰도를 평가할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 디지털 계측제어시스템의 구성을 나타낸 예시도 이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치의 구성을 나타낸 도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 방법을 나타낸 흐름도 이다.
본 명세서에서 사용되는 기술적 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아님을 유의해야 한다. 또한, 본 명세서에서 사용되는 기술적 용어는 본 명세서에서 특별히 다른 의미로 정의되지 않는 한, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 의미로 해석되어야 하며, 과도하게 포괄적인 의미로 해석되거나, 과도하게 축소된 의미로 해석되지 않아야 한다. 또한, 본 명세서에서 사용되는 기술적인 용어가 본 발명의 사상을 정확하게 표현하지 못하는 잘못된 기술적 용어일 때에는, 당업자가 올바르게 이해할 수 있는 기술적 용어로 대체되어 이해되어야 할 것이다. 또한, 본 발명에서 사용되는 일반적인 용어는 사전에 정의되어 있는 바에 따라, 또는 전후 문맥상에 따라 해석되어야 하며, 과도하게 축소된 의미로 해석되지 않아야 한다.
또한, 본 명세서에서 사용되는 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "구성된다" 또는 "포함한다" 등의 용어는 명세서 상에 기재된 여러 구성 요소들, 또는 여러 단계들을 반드시 모두 포함하는 것으로 해석되지 않아야 하며, 그 중 일부 구성 요소들 또는 일부 단계들은 포함되지 않을 수도 있고, 또는 추가적인 구성 요소 또는 단계들을 더 포함할 수 있는 것으로 해석되어야 한다.
또한, 본 명세서에서 사용되는 제1, 제2 등과 같이 서수를 포함하는 용어는 다양한 구성 요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성 요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성 요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성 요소도 제1 구성 요소로 명명될 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시 예를 상세히 설명하되, 도면 부호에 관계없이 동일하거나 유사한 구성 요소는 동일한 참조 번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
또한, 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다. 또한, 첨부된 도면은 본 발명의 사상을 쉽게 이해할 수 있도록 하기 위한 것일 뿐, 첨부된 도면에 의해 본 발명의 사상이 제한되는 것으로 해석되어서는 아니 됨을 유의해야 한다.
원자력 발전소 내의 디지털 계측제어시스템은 기존 아날로그 계측제어시스템과는 다르게 컴퓨터 기반의 시스템으로 설계가 되어 기존에는 없던 소프트웨어와 소프트웨어를 기반으로 구현된 자가 진단 기능 등을 포함할 수 있다.
디지털 계측제어시스템의 신뢰도를 평가하기 위해서는 디지털 계측제어시스템의 고유한 특성들이 고려되어야 한다. 특히 자가 진단 기능의 고장 검출률이 신뢰도에 미치는 영향은 매우 크다. 예를 들면, 디지털 계측제어시스템의 고장률이 P(D)이고, 고장 검출률이 P(C)라고 한다면, 자가 진단 기능이 고려되지 않을 경우 디지털 계측제어시스템의 신뢰도는 1-P(D)이지만, 자가 진단 기능의 고장 검출률이 고려될 경우 디지털 계측제어시스템의 신뢰도는 1-P(D)*P(C)이다. 매우 높은 수준의 고장 검출률이 고려될 경우 디지털 계측제어 시스템의 신뢰도가 상당히 향상될 것을 기대할 수 있다.
디지털 계측제어시스템의 결함을 분석하기 위해 결함 인가(주입) 방법이 사용될 수 있다. 상기 결함 인가 방법은 디지털 계측제어시스템 내부에 특정 결함을 인가하고, 그 인가된 결함의 영향을 분석하는 방법이다. 상기 결함 인가 방법은 크게 하드웨어기반, 소프트웨어기반, 시뮬레이터기반 결함 인가 방법으로 구분될 수 있다.
하드웨어기반 결함 인가 방법은 하드웨어에 직접적으로 결함을 인가하는 방법으로 어떠한 칩의 특정 핀을 고장내는 등의 물리적인 결함 인가 방법이다. 이 하드웨어기반 결함 인가 방법은 실제적인 상황을 잘 모사할 수 있지만 하드웨어기반 결함 인가에 필요한 비용과 시간이 매우 크다는 단점이 있다.
소프트웨어기반 결함 인가 방법은 소프트웨어 코드에 결함을 모사하는 코드를 인가하는 방식으로 소요되는 비용은 적지만 실제 상황을 모사하는 것과 다소 차이가 있을 수 있다는 단점이 있다. 시뮬레이터기반 결함 인가 방법은 결함 인가를 위한 시뮬레이터를 이용한 방법으로 시뮬레이터가 디지털 계측제어시스템의 하드웨어에 가상적으로 결함을 인가하고 그 인가된 결함에 따라 상기 하드웨어가 동작할 수 있도록 해준다. 본 발명은 상기 시뮬레이터기반 결함 인가 방법을 이용한다.
디지털 계측제어시스템에 인가되는 결함의 종류는 매우 다양하다. 본 발명에서는 메모리 영역에 인가되는 결함만을 대상으로 한다. 디지털 계측제어시스템은 메모리를 기반으로 작동된다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 디지털 계측제어시스템의 구성을 나타낸 예시도 이다.
도 1에 도시한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 디지털 계측제어시스템은 입력모듈(100), 프로세서 모듈(200), 출력모듈(300), 메모리(400) 등을 포함할 수 있다. 본 발명의 실시예에 따른 디지털 계측제어시스템은 자기진단 기능을 포함하며, 자가진단 기능 자체는 이미 공지된 기술이므로, 이에 대한 상세한 설명은 생략한다.
상기 입력모듈(100)은 원자력 발전소의 변수(또는 소스 코드)를 수신 또는 읽고, 그 수신 또는 읽은 변수를 메모리(400)에 저장한다. 상기 원자력 발전소의 변수는 사용자(또는 설계자)에 의해 입력될 수 있다.
상기 프로세서 모듈(200)은 연산을 하기 위한 것으로서, 메모리(400)에서 상기 원자력 발전소의 변수를 읽고, 그 읽은 변수를 계산한 후 그 계산 결과를 메모리(400)에 저장한다.
상기 출력모듈(300)은 상기 계산 결과를 메모리(400)에서 읽고, 그 읽은 계산 결과를 원자력 발전소에 전달(출력)한다. 상기 출력모듈(300)은 통신 모듈일 수도 있다. 상기 메모리(400)는 플래시 메모리 타입(flash memory type), 하드디스크 타입(hard disk type), SSD 타입(Solid State Disk type), SDD 타입(Silicon Disk Drive type), 멀티미디어 카드 마이크로 타입(multimedia card micro type), 카드 타입의 메모리(예를 들어 SD 또는 XD 메모리 등), 램(random access memory; RAM), SRAM(static random access memory), 롬(read-only memory; ROM), EEPROM(electrically erasable programmable read-only memory), PROM(programmable read-only memory), 자기 메모리, 자기 디스크 및 광 디스크 중 적어도 하나의 타입의 저장매체를 포함할 수 있다.
예를 들면, 상기 입력모듈(100)에 결함이 있다면 상기 원자력 발전소의 변수(또는 소스 코드)를 저장하는 메모리(400)의 제1 영역에 잘못된 값이 저장될 것이며, 상기 프로세서 모듈(200)에 결함이 있다면 상기 계산 결과를 저장하는 메모리(400)의 제2 영역에 잘못된 값이 저장될 것이다. 원자력발전소 소프트웨어와 같은 safety-critical 소프트웨어는 랜덤으로 메모리 영역을 할당하지 않고 사용되는 모든 메모리 영역을 미리 지정한다. 따라서, 입력모듈(100)의 데이터를 저장하는 메모리 영역(제1 영역), 프로세서 모듈(200)의 데이터를 저장하는 메모리 영역(제2 영역), 출력모듈(300)의 데이터를 저장하는 메모리 영역(제3 영역)을 미리 지정할 수 있다. 따라서, 사용자가 원하는 대상 메모리 영역을 찾을 수 있으며, 그 대상 메모리 영역에 원하는 결함을 인가(저장)하는 것이 가능하다.
본 발명에서는 모든 하드웨어 결함은 메모리 영역의 결함으로 대변될 수 있다는 가정하에 진행된다.
기존 메모리를 대상으로 실제 디지털 계측제어시스템 장비를 이용한 결함 인가 방법은 많은 시간이 소요된다. 메모리(400)를 대상으로 한 결함 인가 방법은 0고착결함과 1고착결함을 이용한다. 모든 메모리의 bit는 0과 1의 값을 갖는 이진수이다. 결함이 존재할 경우 메모리 bit의 값이 입력에 따라 변하지 않고 0이나 1에 고착되어 잘못된 결과를 출력할 수 있다. 실제 사용되는 메모리의 크기를 고려하면 요구되는 실험의 수가 매우 방대하다. 예를 들면, 4MB의 메모리에 실험을 수행하려고 하면, 4MB=4,194,304byte=33,554,432bit이며, 각 bit에 대해 0고착결함과 1고착결함을 실험해야 하므로 총 실험의 수는 67,108,864번이 된다. 이와 같은 실험의 수를 고려할 때, 일정 실험부분이 자동화된다고 하여도, 디지털 계측제어시스템이 작동하는 중 인터럽트(interrupt)를 걸고 결함을 인가하고 다시 디지털 계측제어시스템을 수행시켜 결과를 관찰하는 과정에서 많은 시간이 소요된다.
본 발명에서는 실제 장비를 이용하지 않고 디지털 계측제어시스템을 제어하기 위한 소스코드(또는 변수)를 이용하여 상기 디지털 계측제어시스템을 검사할 수 있는 장치를 설명한다. 상기 소스 코드는 다양한 언어로 작성될 수 있다.
본 발명의 실시예에 따른 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치는 대상 시스템(디지털 계측제어시스템)에서 발생가능한 모든 하드웨어 결함을 시뮬레이션 한다. 상기 모든 하드웨어의 결함은 메모리의 결함으로 대체되어 결함이 해당 메모리 영역에 인가되며, 시뮬레이션을 통해서 해당 메모리 영역에 인가된 결함(결함 코드)이 디지털 계측제어시스템의 출력에 미치는 영향과 자가 진단 기능에 의해서 검출되는 여부를 분석한다.
본 발명의 실시예에 따른 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치 및 그 방법을 도 2를 참조하여 설명한다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치의 구성을 나타낸 도이다.
도 2에 도시한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치(500)는, 컴파일러 모듈(510), 어셈블러 처리 모듈(520), 데이터베이스(DB)(530), 결함 인가 모듈(540), 메모리 처리 모듈(550), 실행 모듈(560), 결과분석 모듈(570)을 포함할 수 있다. 본 발명의 실시예에 따른 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치(500)는, 결과분석 모듈(570)로부터 출력되는 결과를 표시하는 표시부(도시되지 않음)를 더 포함할 수도 있다. 상기 표시부는 액정 디스플레이(liquid crystal display, LCD), 박막 트랜지스터 액정 디스플레이(thin film transistor-liquid crystal display, TFT LCD), 유기 발광 다이오드(organic light-emitting diode, OLED), 플렉서블 디스플레이(flexible display), 3차원 디스플레이(3D display), 전자잉크 디스플레이(e-ink display) 중에서 적어도 하나를 포함할 수 있다.
이하에서는, 본 발명의 실시예에 따른 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치의 동작을 도 3을 참조하여 설명한다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 방법을 나타낸 흐름도 이다.
먼저, 상기 컴파일러 모듈(510)은 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 제어하기 위한 소스 코드를 컴파일하여 어셈블러로 변환하고, 상기 어셈블러로 변환된 소스 코드를 어셈블러 처리 모듈(520)에 출력한다(S10).
상기 결함 인가 모듈(540)은 하드웨어(HW) 결함과 메모리 결함을 맵핑(mapping)한 데이터베이스(DB)(530)를 기반으로 인가될 결함의 종류(0고착결함, 1고착결함)와 결함이 인가(저장)될 위치(예를 들면, 입력모듈 관련 메모리 영역)를 메모리 처리 모듈(550)에 전달한다.
상기 데이터베이스(DB)(530)는 디지털 계측제어시스템에서 발생 가능한 하드웨어(HW) 결함이 메모리(400)에 미치는 영향에 대한 매핑 테이블(mapping table)을 갖는다. 상기 데이터베이스(DB)(530)는 다수의 하드웨어를 실험하기 위해, 다수의 하드웨어 각각에 대응하는 미리결정된 결함(결함 코드)과 그 결함(결함 코드)이 저장될 저장 위치(메모리 영역)에 대응하는 정보를 미리 저장한다. 예를 들면, 상기 결함 인가 모듈(540)은 사용자에 의해 특정 하드웨어(예를 들면, 입력모듈)가 선택되면, 그 선택된 특정 하드웨어에 대응하는 미리저장된 특정 결함과 상기 미리저장된 특정 결함이 저장될 위치(예를 들면, 입력모듈의 데이터를 저장하는 메모리 영역)를 상기 데이터베이스(DB)(530)로부터 검출하고, 그 검출한 미리저장된 특정 결함과 위치를 메모리 처리 모듈(550)에 전달한다.
상기 메모리 처리 모듈(550)은 상기 결함 인가 모듈(540)로부터 상기 미리저장된 특정 결함과 상기 미리저장된 특정 결함이 저장될 위치를 수신하고(S20), 상기 메모리(400)의 다수의 메모리 영역 중에서 상기 미리저장된 특정 결함이 저장될 위치에 대응하는 메모리 영역(예를 들면, 입력모듈의 데이터를 저장하는 메모리 영역)에 상기 미리저장된 특정 결함을 반영(저장)한다(S30). 예를 들면, 상기 메모리 처리 모듈(550)은 입력모듈의 데이터를 저장하는 메모리 영역에 상기 미리저장된 특정 결함을 저장함으로써, 상기 미리저장된 특정 결함을 갖는 데이터를 상기 어셈블러 처리 모듈(520)에 전달한다.
상기 메모리 처리 모듈(550)은 상기 미리저장된 특정 결함이 반영(저장)된 원자력 발전소의 변수를 실행 모듈(560)에 인가할 수도 있다.
상기 어셈블러 처리 모듈(520)은 컴파일러 모듈(510)에서 생성된 어셈블러에 상기 미리저장된 특정 결함을 갖는 데이터를 반영하고, 상기 미리저장된 특정 결함을 갖는 데이터가 반영된 어셈블러를 상기 실행 모듈(560)에 출력한다(S40).
상기 실행 모듈(560)은 상기 미리저장된 특정 결함에 의한 영향을 보기 위해서 상기 어셈블러 처리 모듈(520)로부터 출력된 상기 어셈블러를 실행하고(S50), 그 어셈블러의 실행 결과를 생성하고, 그 생성한 실행 결과를 상기 결과 분석 모듈(570)에 출력한다.
상기 결과 분석 모듈(570)은 상기 실행 모듈(560)로부터 출력된 실행 결과를 분석하고, 그 분석된 결과를 표시부에 출력한다(S60). 예를 들면, 상기 결과 분석 모듈(570)은 상기 실행 모듈(560)로부터 출력된 실행 결과가 미리설정된 기준 결과와 동일하면 상기 검사 장치(500)가 정상인 것으로 결정하고, 상기 검사 장치가 정상임을 나타내는 정보를 표시부에 표시한다. 상기 결과 분석 모듈(570)은 상기 실행 모듈(560)로부터 출력된 실행 결과가 미리설정된 기준 결과와 동일하지 않으면 상기 검사 장치(500)가 비정상인 것으로 결정하고, 상기 검사 장치 가 비정상임을 나타내는 정보를 표시부에 표시한다.
상기 결과 분석 모듈(570)은 자가 진단 기능에 의해 상기 미리저장된 특정 결함이 검출되었는지 여부를 결정할 수도 있다. 예를 들면, 상기 결과 분석 모듈(570)은 상기 실행 모듈(560)로부터 출력된 실행 결과가 미리설정된 기준 결과와 동일하고, 상기 자가 진단 기능에 의해 상기 미리저장된 특정 결함이 검출되면 상기 검사 장치가 정상인 것으로 결정한다.
상기 결과 분석 모듈(570)은 상기 실행 모듈(560)로부터 출력된 실행 결과가 미리설정된 기준 결과와 동일하고, 상기 자가 진단 기능에 의해 상기 미리저장된 특정 결함이 검출되지 않으면 상기 검사 장치가 비정상인 것으로 결정한다.
상기 결과 분석 모듈(570)은 상기 실행 모듈(560)로부터 출력된 실행 결과가 미리설정된 기준 결과와 동일하지 않고, 상기 자가 진단 기능에 의해 상기 미리저장된 특정 결함이 검출되면 상기 검사 장치가 비정상인 것으로 결정할 수도 있다.
상기 결과 분석 모듈(570)은 상기 실행 모듈(560)로부터 출력된 실행 결과가 미리설정된 기준 결과와 동일하지 않고, 상기 자가 진단 기능에 의해 상기 미리저장된 특정 결함이 검출되지 않으면 상기 검사 장치가 비정상인 것으로 결정할 수도 있다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 명세서의 실시예에 따른 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치 및 그 방법은, 디지털 계측제어시스템에 결함을 인가하고 그 결함의 영향을 분석하는 과정을 자동으로 수행함으로써 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템의 신뢰도를 평가할 수 있다.
본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
510: 컴파일러 모듈 520: 어셈블러 처리 모듈
530: 데이터베이스 540: 결함 인가 모듈
550: 메모리 처리 모듈 560: 실행 모듈
570: 결과분석 모듈

Claims (19)

  1. 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템의 다수의 하드웨어 중에서 사용자에 의해 선택된 특정 하드웨어에 대응하는 미리저장된 특정 결함과 상기 미리저장된 특정 결함이 저장될 특정 위치를 데이터베이스로부터 검출하는 결함 인가 모듈과;
    상기 디지털 계측제어시스템의 메모리의 다수의 메모리 영역 중에서 상기 특정 위치에 대응하는 메모리 영역에 저장된 데이터에 상기 특정 결함을 반영함으로써, 상기 특정 결함을 갖는 상기 데이터를 출력하는 메모리 처리 모듈과;
    상기 특정 결함을 갖는 데이터를 어셈블러에 반영하고, 상기 미리저장된 특정 결함을 갖는 데이터가 반영된 어셈블러를 출력하는 어셈블러 처리 모듈과;
    상기 미리저장된 특정 결함을 갖는 데이터가 반영된 어셈블러를 실행하고, 상기 어셈블러의 실행 결과를 출력하는 실행 모듈과;
    상기 실행 결과를 분석하고, 상기 분석된 결과를 표시부에 출력하는 결과 분석 모듈을 포함하며,
    상기 결과 분석 모듈은 자가 진단 기능에 의해 상기 미리저장된 특정 결함이 검출되었는지 여부를 결정하는 것을 특징으로 하는 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 데이터베이스는,
    상기 다수의 하드웨어 각각에 대응하는 미리결정된 결함코드와 상기 결함 코드가 저장될 저장 위치에 대응하는 정보를 미리 저장하는 것을 특징으로 하는 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 계측제어시스템을 제어하기 위한 소스 코드를 컴파일하여 상기 어셈블러로 변환하는 컴파일러 모듈을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치.
  4. 제3항에 있어서, 상기 어셈블러 처리 모듈은,
    상기 변환된 어셈블러에 상기 특정 결함을 갖는 데이터를 반영하는 것을 특징으로 하는 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치.
  5. 제1항에 있어서, 상기 결과 분석 모듈은,
    상기 실행 결과가 미리설정된 기준 결과와 동일하면 상기 검사 장치가 정상인 것으로 결정하고, 상기 검사 장치가 정상임을 나타내는 정보를 상기 표시부에 표시하는 것을 특징으로 하는 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 결과 분석 모듈은,
    상기 실행 결과가 상기 미리설정된 기준 결과와 동일하지 않으면 상기 검사 장치가 비정상인 것으로 결정하고, 상기 검사 장치가 비정상임을 나타내는 정보를 상기 표시부에 표시하는 것을 특징으로 하는 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치.
  7. 삭제
  8. 삭제
  9. 제1항에 있어서, 상기 결과 분석 모듈은,
    상기 실행 결과가 상기 미리설정된 기준 결과와 동일하고, 상기 자가 진단 기능에 의해 상기 미리저장된 특정 결함이 검출되지 않으면 상기 검사 장치가 비정상인 것으로 결정하는 것을 특징으로 하는 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치.
  10. 제1항에 있어서, 상기 결과 분석 모듈은,
    상기 실행 결과가 상기 미리설정된 기준 결과와 동일하지 않고, 상기 자가 진단 기능에 의해 상기 미리저장된 특정 결함이 검출되면 상기 검사 장치가 비정상인 것으로 결정하는 것을 특징으로 하는 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치.
  11. 제1항에 있어서, 상기 결과 분석 모듈은,
    상기 실행 결과가 상기 미리설정된 기준 결과와 동일하지 않고, 상기 자가 진단 기능에 의해 상기 미리저장된 특정 결함이 검출되지 않으면 상기 검사 장치가 비정상인 것으로 결정하는 것을 특징으로 하는 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치.
  12. 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 제어하기 위한 소스 코드를 컴파일하여 어셈블러로 변환하는 단계와;
    상기 디지털 계측제어시스템의 다수의 하드웨어 각각에 대응하는 미리결정된 결함코드와 상기 결함 코드가 저장될 저장 위치에 대응하는 정보를 데이터베이스에 미리 저장하는 단계와;
    상기 다수의 하드웨어 중에서 사용자에 의해 선택된 특정 하드웨어에 대응하는 미리저장된 특정 결함과 상기 미리저장된 특정 결함이 저장될 특정 위치를 상기 데이터베이스로부터 검출하는 단계와;
    상기 검출한 특정 결함과 특정 위치를 수신하고, 상기 디지털 계측제어시스템의 메모리의 다수의 메모리 영역 중에서 상기 특정 위치에 대응하는 메모리 영역에 저장된 데이터에 상기 특정 결함을 반영함으로써, 상기 특정 결함을 갖는 상기 데이터를 출력하는 단계와;
    상기 변환된 어셈블러에 상기 특정 결함을 갖는 데이터를 반영하고, 상기 미리저장된 특정 결함을 갖는 데이터가 반영된 어셈블러를 출력하는 단계와;
    상기 미리저장된 특정 결함을 갖는 데이터가 반영된 어셈블러를 실행하고, 상기 어셈블러의 실행 결과를 출력하는 단계와;
    상기 실행 결과를 분석하고, 상기 분석된 결과를 표시부에 출력하는 단계를 포함하며,
    상기 실행 결과를 분석하는 단계는 자가 진단 기능에 의해 상기 미리저장된 특정 결함이 검출되었는지 여부를 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 방법.
  13. 제12항에 있어서, 상기 실행 결과를 분석하는 단계는,
    상기 실행 결과가 미리설정된 기준 결과와 동일하면 상기 검사 장치가 정상인 것으로 결정하고, 상기 검사 장치가 정상임을 나타내는 정보를 상기 표시부에 표시하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 방법.
  14. 제13항에 있어서, 상기 실행 결과를 분석하는 단계는,
    상기 실행 결과가 상기 미리설정된 기준 결과와 동일하지 않으면 상기 검사 장치가 비정상인 것으로 결정하고, 상기 검사 장치가 비정상임을 나타내는 정보를 상기 표시부에 표시하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 방법.
  15. 삭제
  16. 제14항에 있어서, 상기 실행 결과를 분석하는 단계는,
    상기 실행 결과가 상기 미리설정된 기준 결과와 동일하고, 상기 자가 진단 기능에 의해 상기 미리저장된 특정 결함이 검출되면 상기 검사 장치가 정상인 것으로 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 방법.
  17. 제14항에 있어서, 상기 실행 결과를 분석하는 단계는,
    상기 실행 결과가 상기 미리설정된 기준 결과와 동일하고, 상기 자가 진단 기능에 의해 상기 미리저장된 특정 결함이 검출되지 않으면 상기 검사 장치가 비정상인 것으로 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 방법.
  18. 제14항에 있어서, 상기 실행 결과를 분석하는 단계는,
    상기 실행 결과가 상기 미리설정된 기준 결과와 동일하지 않고, 상기 자가 진단 기능에 의해 상기 미리저장된 특정 결함이 검출되면 상기 검사 장치가 비정상인 것으로 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 방법.
  19. 제14항에 있어서, 상기 실행 결과를 분석하는 단계는,
    상기 실행 결과가 상기 미리설정된 기준 결과와 동일하지 않고, 상기 자가 진단 기능에 의해 상기 미리저장된 특정 결함이 검출되지 않으면 상기 검사 장치가 비정상인 것으로 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 원자력발전소의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 방법.
KR1020140138506A 2014-10-14 2014-10-14 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치 및 그 방법 KR101594439B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020140138506A KR101594439B1 (ko) 2014-10-14 2014-10-14 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치 및 그 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020140138506A KR101594439B1 (ko) 2014-10-14 2014-10-14 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치 및 그 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101594439B1 true KR101594439B1 (ko) 2016-02-17

Family

ID=55457710

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020140138506A KR101594439B1 (ko) 2014-10-14 2014-10-14 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치 및 그 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101594439B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102233035B1 (ko) * 2021-02-18 2021-03-26 한전케이피에스 주식회사 Pcs 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100531033B1 (ko) * 2003-11-12 2005-11-28 한국원자력연구소 비정상 상태 진단 장치 및 그 방법
KR20070015984A (ko) 2005-08-02 2007-02-07 주식회사 팬택 하드웨어 자가 진단이 가능한 내장형 시스템 및 그시스템에서의 자가 진단 방법
KR20120013504A (ko) * 2010-08-05 2012-02-15 한국원자력연구원 원자력 발전소 디지털 안전계통의 실시간 진단기능을 갖춘 제어장치
JP2012079184A (ja) * 2010-10-04 2012-04-19 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 制御装置および原子力発電プラント制御システム
KR20120086500A (ko) * 2011-01-26 2012-08-03 한국원자력연구원 소프트웨어를 이용한 고장 모사 장치 및 방법

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100531033B1 (ko) * 2003-11-12 2005-11-28 한국원자력연구소 비정상 상태 진단 장치 및 그 방법
KR20070015984A (ko) 2005-08-02 2007-02-07 주식회사 팬택 하드웨어 자가 진단이 가능한 내장형 시스템 및 그시스템에서의 자가 진단 방법
KR20120013504A (ko) * 2010-08-05 2012-02-15 한국원자력연구원 원자력 발전소 디지털 안전계통의 실시간 진단기능을 갖춘 제어장치
JP2012079184A (ja) * 2010-10-04 2012-04-19 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 制御装置および原子力発電プラント制御システム
KR20120086500A (ko) * 2011-01-26 2012-08-03 한국원자력연구원 소프트웨어를 이용한 고장 모사 장치 및 방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102233035B1 (ko) * 2021-02-18 2021-03-26 한전케이피에스 주식회사 Pcs 전자카드 자동진단 및 기능시험 장치

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101019210B1 (ko) 이뮬레이트를 활용한 임베디드 소프트웨어 테스트 장치 및그 방법
US8386851B2 (en) Functional coverage using combinatorial test design
US9747192B2 (en) Automated operating system installation on multiple drives
KR101019209B1 (ko) 임베디드 소프트웨어의 인터페이스 자동 추출 장치 및 그방법
US20080244536A1 (en) Evaluating static analysis results using code instrumentation
US9367427B2 (en) Embedding and executing trace functions in code to gather trace data
US9542304B1 (en) Automated operating system installation
JP6916340B2 (ja) シミュレートされたデバイスをメモリベース通信プロトコルを使用してテストするためのシステムおよび方法
CN104156311B (zh) 一种基于cpu模拟器的嵌入式c语言目标码级单元测试方法
CN110082666B (zh) 芯片测试分析方法、装置、设备及存储介质
US8745600B2 (en) Inserting test scripts
CN112925524A (zh) 一种检测驱动程序中不安全直接存储器访问的方法及装置
CN107272441B (zh) 用于监控错误的方法和用于监控错误的数据处理装置
CN103365772B (zh) 软件测试自动评价装置以及方法
CN102681928B (zh) 计算机系统的异常信息输出系统
CN110907882A (zh) 一种面向电能表的虚拟化的测试方法及系统
Kim et al. Evaluation of effectiveness of fault-tolerant techniques in a digital instrumentation and control system with a fault injection experiment
KR101594439B1 (ko) 원자력발전소 내의 디지털 계측제어시스템을 위한 검사 장치 및 그 방법
CN103218277A (zh) 服务器环境的自动检测方法与装置
CN110991124A (zh) 集成电路修补方法及装置、存储介质、电子设备
US10372849B2 (en) Performing and communicating sheet metal simulations employing a combination of factors
CN109902001B (zh) 对未初始化变量的检测方法及终端设备
CN111522725A (zh) Ssd性能自动评估方法、装置、设备及介质
EP3651022A1 (en) Tool verification system and method of verifying an unqualified component
CN106203091A (zh) 一种虚拟机逃逸检测方法及装置

Legal Events

Date Code Title Description
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20200102

Year of fee payment: 5