CN110082666B - 芯片测试分析方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

芯片测试分析方法、装置、设备及存储介质 Download PDF

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Abstract

本申请公开了一种芯片测试分析方法、装置、设备及存储介质，从目标芯片的记忆模块中获取所述目标芯片的测试信息，根据所述测试信息对所述目标芯片的测试过程进行分析。本方案中，由于该测试信息是永久保存于芯片内部，不易失效，方便了对芯片测试过程的追溯，从而节省了巨大的人力成本和时间成本，满足了客户要求。

Description

芯片测试分析方法、装置、设备及存储介质
技术领域
本申请涉及集成电路领域，特别涉及一种芯片测试分析方法、装置、设备及存储介质。
背景技术
当前，每种类型的每颗芯片在出货前都会经过几道严格的量产测试，包括中测/晶圆测试和终测/成测，而且每道测试不一定只测试一次，如果第一次测试有不良品，那道测试还会针对不良品进行复测。每道测试都会产生相应的测试结果数据，同道测试的初测和复测也会产生测试结果数据，这些测试结果数据一般是按照芯片批次和测试时间来归档。测试结果数据中一般会记录产生该数据的测试程序名称，不同阶段的测试程序包含不同的测试项目。只有良品芯片(即通过了所有测试项目的芯片)才会被出售给客户。如果客户在使用一段时间后，该芯片出现失效，除了追溯其生产过程，更重要的是要精确追溯其测试过程找到其失效的原因。
生产过程容易追溯，只需知道该芯片的唯一识别码，通过唯一识别码就可以追溯到该芯片生产厂家和生产日期、生产批次等生产信息，结合生产信息分析不良品可以分析到是否是生产工艺的缺陷导致的使用过程中失效。
对于测试过程的追溯，现行较通用做法是先获取芯片的唯一识别码，再调用测试工厂的测试记录，找到该唯一识别码所在的测试批次，调出该测试批次的测试文件，包括每次测试的测试程序和每次测试产生的测试结果数据，再检索测试结果数据来进行失效分析。面对海量的测试结果数据，追溯每道测试的测试项目和测试结果就会耗费巨大的人力成本和时间成本，而且如果测试工厂的测试记录保存不完善或者芯片量产测试的时间已经过去比较久，都可能追溯不到该芯片的测试过程。
发明内容
本申请的目的在于提供一种芯片测试分析方法、装置、设备及存储介质，以克服现有技术中追溯芯片测试过程存在的问题，以满足客户要求，降低成本。
第一方面，本申请实施例提供了一种芯片测试分析方法，包括：
从目标芯片的记忆模块中获取所述目标芯片的测试信息；
根据所述测试信息对所述目标芯片的测试过程进行分析。
在一种可能的实现方式中，在本申请实施例提供的上述方法中，所述从目标芯片的记忆模块中获取所述目标芯片的测试信息之前，还包括：
对所述目标芯片的每次测试前，当测试机加载测试程序时，抓取相关测试数据生成所述目标芯片的测试信息；
将所述测试信息转换为烧写的向量文件，并将所述向量文件加载到所述测试机，以使所述测试机运行测试程序时，将所述向量文件烧入所述目标芯片的记忆模块中。
在一种可能的实现方式中，在本申请实施例提供的上述方法中，所述根据所述测试信息对所述目标芯片的测试过程进行分析，包括：
根据所述测试信息获取预先存储的与所述测试信息对应的测试结果数据；
根据所述测试结果数据对所述目标芯片的测试过程进行分析。
在一种可能的实现方式中，在本申请实施例提供的上述方法中，所述测试信息包括：测试时间和测试程序名称。
第二方面，本申请实施例提供了一种芯片测试分析装置，包括：
获取模块，用于从目标芯片的记忆模块中获取所述目标芯片的测试信息；
分析模块，用于根据所述测试信息对所述目标芯片的测试过程进行分析。
在一种可能的实现方式中，在本申请实施例提供的上述装置中，还包括：
生成模块，用于所述获取模块从目标芯片的记忆模块中获取所述目标芯片的测试信息之前，对所述目标芯片的每次测试前，当测试机加载测试程序时，抓取相关测试数据生成所述目标芯片的测试信息；将所述测试信息转换为烧写的向量文件，并将所述向量文件加载到所述测试机，以使所述测试机运行测试程序时，将所述向量文件烧入所述目标芯片的记忆模块中。
在一种可能的实现方式中，在本申请实施例提供的上述装置中，所述分析模块，包括：
获取单元，用于根据所述测试信息获取预先存储的与所述测试信息对应的测试结果数据；
分析单元，用于根据所述测试结果数据对所述目标芯片的测试过程进行分析。
在一种可能的实现方式中，在本申请实施例提供的上述装置中，所述测试信息包括：测试时间和测试程序名称。
第三方面，本申请实施例提供了一种电子设备，包括：存储器和处理器；
所述存储器，用于存储计算机程序；
其中，所述处理器执行所述存储器中的计算机程序，以实现上述第一方面以及第一方面的各个实施方式中所述的方法。
第四方面，本申请实施例提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时用于实现上述第一方面以及第一方面的各个实施方式中所述的方法。
本申请提供的芯片测试分析方法、装置、设备及存储介质，从目标芯片的记忆模块中获取所述目标芯片的测试信息，根据所述测试信息对所述目标芯片的测试过程进行分析。本方案中，由于该测试信息是永久保存于芯片内部，不易失效，方便了对芯片测试过程的追溯，从而节省了巨大的人力成本和时间成本，满足了客户要求。
附图说明
图1为本申请实施例一提供的芯片测试分析方法的流程示意图一；
图2为本申请实施例一提供的芯片测试分析方法的流程示意图二；
图3为本申请实施例二提供的芯片测试分析装置的结构示意图一；
图4为本申请实施例二提供的芯片测试分析装置的结构示意图二
图5为本申请实施例三提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
下面结合附图，对本申请的具体实施方式进行详细描述，但应当理解本申请的保护范围并不受具体实施方式的限制。
除非另有其它明确表示，否则在整个说明书和权利要求书中，术语“包括”或其变换如“包含”或“包括有”等等将被理解为包括所陈述的元件或组成部分，而并未排除其它元件或其它组成部分。
图1为本申请实施例一提供的芯片测试分析方法的流程示意图，实际应用中，本实施例的执行主体可以为芯片测试分析装置，该芯片测试分析装置可以通过虚拟装置实现，例如软件代码，也可以通过写入有相关执行代码的实体装置实现，例如U盘，再或者，也可以通过集成有相关执行代码的实体装置实现，例如，各式电脑、分析装置等。
如图1所示，该方法包括以下步骤S101～S102：
S101、从目标芯片的记忆模块中获取所述目标芯片的测试信息。
目前，在芯片的量产测试阶段也会做量产测试分析，一般是在同一批次的晶圆或者成品芯片量产测试后进行，这种分析比较简单，而且一般的测试机会进行简单的统计分析工作，只需调取整个批次的测试数据对整体良率或者各个测试项的pass(通过测试)/fail(未通过测试)情况进行提取分析，如果单独对某几颗芯片进行测试分析，这些芯片也应该是不良品，量产测试基本不会对某片晶圆上或某个批次封装内的某几颗良品芯片做测试分析，因此，在芯片没有出现失效的情况下，则无法有针对性地对该芯片的测试数据进行抽取分析。
本实施例中，针对自身含有记忆模块的芯片，例如MCU类芯片，可以将其测试信息存放于芯片本身的记忆模块内，不会丢失。存放的方式可以是在芯片每次测试之前，测试机加载需要测试的测试程序时，烧入到特定的不易丢失的记忆模块内。具体的，如图2所示，在上述步骤S101从目标芯片的记忆模块中获取所述目标芯片的测试信息之前，还可以包括以下步骤：
S201、对所述目标芯片的每次测试前，当测试机加载测试程序时，抓取相关测试数据生成所述目标芯片的测试信息。
其中，所述测试信息包括但不限于：测试时间和测试程序名称。
本实施例中，可以利用预先设计的脚本文件，在对目标芯片的每次测试前，当测试机加载测试程序时，来抓取相关的测试时间和测试程序名称来生成目标芯片的测试信息。可以理解，最终生成的测试信息为按时间顺序排列的测试程序名称序列。
S202、将所述测试信息转换为烧写的向量文件，并将所述向量文件加载到所述测试机，以使所述测试机运行测试程序时，将所述向量文件烧入所述目标芯片的记忆模块中。
本实施例中，写入记忆模块的烧写过程与记忆模块的其它测试烧写过程一致，不会占用过多的测试时间和测试成本。
可以理解，目标芯片的测试信息在每次测试前都得到更新，其中包括目标芯片每次测试的测试时间和测试程序名称。因此，可以通过读取测试信息中包含的测试过程来分析测试过程是否有缺陷、漏测、错测等。
S102、根据所述测试信息对所述目标芯片的测试过程进行分析。
上述步骤S102，可以具体包括：根据所述测试信息获取预先存储的与所述测试信息对应的测试结果数据，根据所述测试结果数据对所述目标芯片的测试过程进行分析。
本实施例中，目标芯片的测试信息与其测试结果数据一一对应，如果芯片在使用中失效或者根据其它的测试需要追溯其测试过程时，可以读取该芯片记忆模块内特定区域的测试信息来找到预先存储的测试结果数据，根据该测试结果数据来分析该芯片的测试过程。可以理解，实际应用中，只需要读出目标芯片测试信息中包含的测试过程，就可以对应找到相应备份的测试程序及测试结果数据，因此，也可以复刻相同的测试过程来对目标芯片进行分析。
本实施例提供的芯片测试分析方法，从目标芯片的记忆模块中获取所述目标芯片的测试信息，根据所述测试信息对所述目标芯片的测试过程进行分析。本方案中，由于该测试信息是永久保存于芯片内部，不易失效，方便了对芯片测试过程的追溯，从而节省了巨大的人力成本和时间成本，满足了客户要求。
下述为本申请装置实施例，可以用于执行本申请方法实施例。对于本申请装置实施例中未披露的细节，请参照本申请方法实施例。
图3为本申请实施例二提供的芯片测试分析装置的结构示意图，如图3所示，该装置可以包括：
获取模块310，用于从目标芯片的记忆模块中获取所述目标芯片的测试信息；
分析模块320，用于根据所述测试信息对所述目标芯片的测试过程进行分析。
本实施例提供的芯片测试分析装置，从目标芯片的记忆模块中获取所述目标芯片的测试信息，根据所述测试信息对所述目标芯片的测试过程进行分析。本方案中，由于该测试信息是永久保存于芯片内部，不易失效，方便了对芯片测试过程的追溯，从而节省了巨大的人力成本和时间成本，满足了客户要求。
优选的，如图4所示，上述装置，还可以包括：
生成模块330，用于所述获取模块从目标芯片的记忆模块中获取所述目标芯片的测试信息之前，对所述目标芯片的每次测试前，当测试机加载测试程序时，抓取相关测试数据生成所述目标芯片的测试信息；将所述测试信息转换为烧写的向量文件，并将所述向量文件加载到所述测试机，以使所述测试机运行测试程序时，将所述向量文件烧入所述目标芯片的记忆模块中。
一种优选的实施方式中，所述分析模块320，可以包括：
获取单元321，用于根据所述测试信息获取预先存储的与所述测试信息对应的测试结果数据；
分析单元322，用于根据所述测试结果数据对所述目标芯片的测试过程进行分析。
一种优选的实施方式中，所述测试信息包括：测试时间和测试程序名称。
图5为本申请实施例三提供的电子设备的结构示意图，如图5所示，该设备包括：存储器501和处理器502；
存储器501，用于存储计算机程序；
其中，处理器502执行存储器501中的计算机程序，以实现如上所述各方法实施例所提供的方法。
在实施例中，以一电子设备对本申请提供的芯片测试分析装置进行示例。处理器可以是中央处理单元(CPU)或者具有数据处理能力和/或指令执行能力的其他形式的处理单元，并且可以控制电子设备中的其他组件以执行期望的功能。
存储器可以包括一个或多个计算机程序产品，计算机程序产品可以包括各种形式的计算机可读存储介质，例如易失性存储器和/或非易失性存储器。易失性存储器例如可以包括随机存取存储器(RAM)和/或高速缓冲存储器(cache)等。非易失性存储器例如可以包括只读存储器(ROM)、硬盘、闪存等。在计算机可读存储介质上可以存储一个或多个计算机程序指令，处理器可以运行程序指令，以实现上文的本申请的各个实施例中的方法以及/或者其他期望的功能。在计算机可读存储介质中还可以存储诸如输入信号、信号分量、噪声分量等各种内容。
本申请实施例四提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质中存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时用于实现如上所述各方法实施例所提供的方法。
实际应用中，本实施例中的计算机程序可以以一种或多种程序设计语言的任意组合来编写用于执行本申请实施例操作的程序代码，程序设计语言包括面向对象的程序设计语言，诸如Java、C++等，还包括常规的过程式程序设计语言，诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算设备上执行、部分地在用户设备上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算设备上部分在远程计算设备上执行、或者完全在远程计算设备或服务器上执行。
实际应用中，计算机可读存储介质可以采用一个或多个可读介质的任意组合。可读介质可以是可读信号介质或者可读存储介质。可读存储介质例如可以包括但不限于电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。
前述对本申请的具体示例性实施方案的描述是为了说明和例证的目的。这些描述并非想将本申请限定为所公开的精确形式，并且很显然，根据上述教导，可以进行很多改变和变化。对示例性实施例进行选择和描述的目的在于解释本申请的特定原理及其实际应用，从而使得本领域的技术人员能够实现并利用本申请的各种不同的示例性实施方案以及各种不同的选择和改变。本申请的范围意在由权利要求书及其等同形式所限定。

Claims (4)

1.一种芯片测试分析方法，其特征在于，包括：
从目标芯片的记忆模块中获取所述目标芯片的测试信息；所述测试信息为按时间顺序排列的测试程序名称序列；
根据所述测试信息获取预先存储的与所述测试信息对应的测试结果数据；
根据所述测试结果数据对所述目标芯片的测试过程进行分析；
所述从目标芯片的记忆模块中获取所述目标芯片的测试信息之前，还包括：
利用预先设计的脚本文件，对所述目标芯片的每次测试前，当测试机加载测试程序时，抓取相关测试数据生成所述目标芯片的测试信息；
将所述测试信息转换为烧写的向量文件，并将所述向量文件加载到所述测试机，以使所述测试机运行测试程序时，将所述向量文件烧入所述目标芯片的记忆模块中。
2.一种芯片测试分析装置，其特征在于，包括：
获取模块，用于从目标芯片的记忆模块中获取所述目标芯片的测试信息；所述测试信息为按时间顺序排列的测试程序名称序列；
分析模块，包括获取单元和分析单元；
所述获取单元，用于根据所述测试信息获取预先存储的与所述测试信息对应的测试结果数据；
所述分析单元，用于根据所述测试结果数据对所述目标芯片的测试过程进行分析；
生成模块，用于所述获取模块从目标芯片的记忆模块中获取所述目标芯片的测试信息之前，利用预先设计的脚本文件，对所述目标芯片的每次测试前，当测试机加载测试程序时，抓取相关测试数据生成所述目标芯片的测试信息；将所述测试信息转换为烧写的向量文件，并将所述向量文件加载到所述测试机，以使所述测试机运行测试程序时，将所述向量文件烧入所述目标芯片的记忆模块中。
3.一种电子设备，包括：存储器和处理器；
所述存储器，用于存储计算机程序；
其中，所述处理器执行所述存储器中的计算机程序，以实现如权利要求1所述的方法。
4.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时用于实现如权利要求1所述的方法。
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Applicant before: Institute of Information Technology, Zhejiang Peking University

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Effective date of registration: 20210714

Address after: Room 2104, 21st floor, Hangzhou Bay wisdom Valley Building, 233 Yonghui Road, ningwei street, Xiaoshan District, Hangzhou City, Zhejiang Province

Applicant after: Hangzhou micro nano Core Electronic Technology Co.,Ltd.

Address before: Room 101, building 1, block C, Qianjiang Century Park, ningwei street, Xiaoshan District, Hangzhou City, Zhejiang Province

Applicant before: Hangzhou Weiming Information Technology Co.,Ltd.

Applicant before: Institute of Information Technology, Zhejiang Peking University

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