CN106249133A - 接线装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种接线装置,包括辅助接线件、测试装置、设置于所述测试装置上的定位机构和压柄、及设置于所述定位机构上的被测件,所述压柄与所述被测件可配合压接,所述定位机构上设有第一通孔,所述测试装置设有与所述第一通孔位置相对应的第二通孔,所述测试装置包括至少一个测试点,所述被测件包括至少一个触点,当所述压柄下压所述被测件时,所述辅助接线件的一端穿过所述第一通孔并与所述测试点电性连接,所述辅助接线件的另一端穿过所述第二通孔并与所述触点电性连接。由此可以大大提高接线效率,减小接线工人的工作量,同时还可以消除错接线的隐患,提高PCB板的测试可靠性和有效性。
Description
技术领域
本发明涉及PCB测试装置技术领域,尤其是涉及一种接线装置。
背景技术
目前,应用于工业生产的各种电器设备或控制系统中通常都要应用印刷线路板,且作为核心部件扮演着重要的角色。因而为了确保线路板工作正常而不发生短路或断路等质量问题,印刷线路板在出厂前均需要进行相关的质量检测。例如,PCB生产工装制作时,在工装内部需要将所有测试点与工装的板卡连接在一起,目前常用的接线方式是通过接线工人手工接连导线,从而使测试点与工装的板卡连接在一起。而此种接线方式的问题在于:当PCB板上的测试点较多时,测试线路通过手焊连接,导致焊点过多,工作量大;此外,工装内部线路多,使得接线线路复杂,存在接错线的隐患,导致测试工作的可靠性降低。
发明内容
基于此,本发明提供一种接线装置,在于克服现有技术的缺陷,减小接线工作量,提高接线效率,同时消除错接线的隐患,提高PCB板的测试可靠性。
本发明的目的是这样实现的:
一种接线装置,包括:
测试装置,所述测试装置包括第二通孔、及至少一个测试点;
定位机构,所述定位机构设置于所述测试装置上,且所述定位机构设有与所述第二通孔位置相对应的第一通孔;
压柄,所述压柄设置于所述测试装置上;
被测件,所述被测件与所述压柄可配合压接,所述被测件包括至少一个触点;及
辅助接线件,当所述压柄下压所述被测件时,所述辅助接线件的一端穿过所述第一通孔并与所述测试点电性连接,所述辅助接线件的另一端穿过所述第 二通孔并与所述触点电性连接。
下面对技术方案作进一步的说明:
进一步地,所述辅助接线件包括设有安装腔室的筒体、设置于所述安装腔室内的弹性抵压件、及分别套装于所述筒体两端的第一接触件和第二接触件,所述第一接触件和所述第二接触件均与所述弹性抵压件抵接。
进一步地,所述定位机构包括承载件,所述承载件上设有至少一个插针,所述被测件上设有至少一个与所述插针位置相对应的插孔,所述插针与所述插孔配合插接。
进一步地,所述承载件设有定位槽,所述被测件嵌装于所述定位槽。
进一步地,所述定位机构还包括弹性支撑组件,所述弹性支撑组件抵压设置于所述测试装置上。
进一步地,所述测试装置包括底座、及设置于所述底座上的升降支架,所述压柄设置于所述升降支架上。
进一步地,所述压柄包括把手、及与所述把手连接的压板,所述压板与所述被测件相对设置。
进一步地,所述压柄还包括设置于所述压板上的至少一个压板柱,所述压板柱可与所述被测件压接。
进一步地,所述压板柱的数量为多个,多个所述压板柱均匀设置于所述压板上。
进一步地,所述压板柱的端部设有防护件。
本发明的有益效果在于:
上述接线装置通过在所述测试装置上设置所述定位机构和所述压柄,之后将所述被测件设置于所述定位机构上,并同时将所述辅助接线件设置于所述定位机构与所述测试装置间,当所述压柄下压所述被测件时,能够实现所述辅助接线件同时与所述测试装置的所述测试点、以及所述被测件的所述触点同时电性连接,由此可以大大提高接线效率,减小接线工人的工作量,同时还可以消除错接线的隐患,提高PCB板的测试可靠性和有效性。
附图说明
图1为本发明实施例所述的接线装置的结构示意图。
附图标记说明:
100、辅助接线件,200、测试装置,220、底座,240、升降支架,300、定位机构,320、承载件,340、弹性支撑组件,400、压柄,420、把手,440、压板,460、压板柱,500、被测件。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及具体实施方式,对本发明进行进一步的详细说明。应当理解的是,此处所描述的具体实施方式仅用以解释本发明,并不限定本发明的保护范围。
如图1所示,一种接线装置,包括辅助接线件100、测试装置200、设置于所述测试装置200上的定位机构300和压柄400、及设置于所述定位机构300上的被测件500,所述压柄400与所述被测件500可配合压接,所述定位机构300上设有第一通孔,所述测试装置200设有与所述第一通孔位置相对应的第二通孔,所述测试装置200包括至少一个测试点,所述被测件500包括至少一个触点,当所述压柄400下压所述被测件500时,所述辅助接线件100的一端穿过所述第一通孔并与所述测试点电性连接,所述辅助接线件100的另一端穿过所述第二通孔并与所述触点电性连接。
上述接线装置通过在所述测试装置200上设置所述定位机构300和所述压柄400,之后将所述被测件500设置于所述定位机构300上,并同时将所述辅助接线件100设置于所述定位机构300与所述测试装置200间,当所述压柄400下压所述被测件500时,能够实现所述辅助接线件100同时与所述测试装置200的所述测试点、以及所述被测件500的触点同时电性连接,由此可以大大提高接线效率,减小接线工人的工作量,同时还可以消除错接线的隐患,提高PCB板的测试可靠性和有效性。
在本实施例中,所述辅助接线件100为双向弹针,所述被测件500为PCB板,所述测试装置200内部设有用于进行测试的板卡,通过在PCB板上预设测 试触点,通过接线方式将测试触点与板卡上的测试点电性接通,从而对PCB板的各项性能进行全面、综合的评定。相较于传统的手工接线方式,通过在所述定位机构300上预设至少一个所述第一通孔,在所述测试装置200的上表面上预设至少一个所述第二通孔,并保证所述第一通孔与所述第二通孔相对,同时保证所述触点与所述第一通孔相对,所述测试点与所述第二通孔相对,之后将所述双向弹针通过锁紧件安装于所述定位机构300与所述测试装置200间。
此外,所述测试装置200包括底座220、及设置于所述底座220上的升降支架240,所述压柄400设置于所述升降支架240上。所述升降支架240可以用于实现所述压柄400在纵向方向上的提拉或下压操作,其可以是相互套装的两根杆件,或者采用气压或液压驱动的升降组件等;当人们手持所述压柄400向下用力按压时,所述压柄400下压所述PCB板和所述定位机构300,此时,所述定位机构300逐渐下压双向弹针并使得双向弹针的两端部分别于所述测试点和所述触点接触而实现电性导通,因而无需接线人员一根一根的手动操作,不仅大大提升工作效率,降低工作强度,同时还可以降低错接线的概率,提高PCB板的测试可靠性。此外,所述升降支架240内部还安装有复位机构,当接线测试工作完成时,所述压柄400可以自动回复原位,使双向弹针与所述触点及测试点分离,如此便于工作人员将PCB板取出,免去压柄400手动回位的步骤,提高工作效率的同时提高了接线装置的操作便利性。
进一步优选的,所述PCB板上设有多个所述触点,所述定位机构300上设有多个与所述触点一一对应的第一通孔,相应地,所述测试装置200的内部板卡上同样设有多个所述测试点,所述测试装置200的底座220上设有多个与所述测试点一一对应的第二通孔,且所述第一通孔与所述第二通孔分别一一对应。相应的,每组相对的第一通孔与第二通孔之间均设置一个双向弹针,当接线人员下压所述压柄400时,可以同时实现PCB板上多个触点同时导通,进而对PCB板的不同性能进行检测,由此可以进一步提高测试效率,降低接线人员的工作强度。
所述压柄400包括把手420、及与所述把手420连接的压板440,所述压板440与所述被测件500相对设置。优选的,所述压板440与所述PCB板水平布置, 且沿所述压板440的周向靠近边缘处设置一圈压接凸台,当压板440下压PCB板时,实际上是由压接凸台与PCB板环形接触,这样设置不仅可以提高PCB受压力的均衡性,确保PCB下降的稳定性,使双向弹针能够与触点可靠接触。
进一步的实施例中,所述压柄400还包括设置于所述压板440上的至少一个压板柱460,所述压板柱460可与所述被测件500压接。所述压板柱460垂直设置于所述压板440底面并与所述PCB板相对设置,压板柱460可以是与压板440一体成型的,也可以是装配的,由此可以提高压柄400的整体结构强度或者操作便利性。在本实施例中,所述压板柱460的数量为多个,多个所述压板柱460均匀设置于所述压板440上,且多个所述压板柱460的设置位置应当与PCB板上的空白区域相对,这样设置可以保证当压板440下压时,压板柱460直接PCB板的本体接触而避免与板本体上的图形、插件压接压坏,而影响PCB板的质量。优选的,多个所述压板柱460以均布方式设置于所述压板440上,由此来确保PCB板受压的均衡性。此外,另一实施例中,所述压板柱460的端部设有防护件。所述防护件可是具有一定柔软及弹性的材料制作的块体,例如泡棉、橡胶等,当压板柱460与PCB板压接时,可以避免两者之间硬对硬的直接接触,造成PCB板受到紧压损伤。
此外,所述辅助接线件100包括设有安装腔室的筒体、设置于所述安装腔室内的弹性抵压件、及分别套装于所述筒体两端的第一接触件和第二接触件,所述第一接触件和所述第二接触件均与所述弹性抵压件抵接。在本实施例中,所述弹性抵压件为弹簧,所述第一接触件和所述第二接触件优选采用导电性能良好的金属材料制作,例如铜等,且所述第一接触件和所述第二接触件设置为类似蘑菇的弧面结构,且其两者可以滑动套装于所述筒体上。当双向弹针手PCB的下压作用时,所述第一接触件和所述第二接触件均向所述筒体方向滑动而使弹簧压缩,此时所述第一接触件与PCB板上的触点电性接触,所述第二触点与板卡上的测试点电性接触。这样设置不仅可以对双向弹针起到保护作用,避免对其造成压迫性结构损坏,同时采用弧面结构也可以避免对触点及测试点造成划伤,导致接触不良的问题发生,从而提高测试的可靠性。
所述定位机构300包括承载件320,所述承载件320上设有至少一个插针, 所述被测件500上设有至少一个与所述插针位置相对应的插孔,所述插针与所述插孔配合插接。在本实施例中,所述承载件320为木板,为了便于对PCB板进行装夹固定,优选在所述PCB的空白区域设置多个插孔,相应地在木板上设置多个与多数插孔位置相对应的插针,通过插针与插孔的装配配合,从而可以快速、方便的实现PCB板的安装定位,同时还便于装拆,不会对PCB板造成结构损伤。在另一个实施例中,所述承载件320设有定位槽,所述被测件500嵌装于所述定位槽。所述定位槽的尺寸与PCB板的尺寸相匹配,由此使PCB板可以稳固嵌装于定位槽内,安装稳固性高。此外,在PCB板的边缘设置至少一个缺口,由此可以便于将PCB板从定位槽内取出,提高操作的便利性。
所述定位机构300还包括弹性支撑组件340,所述弹性支撑组件340抵压设置于所述测试装置200上,具体的,所述弹性支撑组件340抵压设置于所述承载件320与所述测试装置200之间。所述弹性支撑组件340包括多个用于支撑所述承载件320的支撑柱,支撑柱本身采用弹性材料制作或设计成纵向伸缩结构,由此便于实现PCB的下压操作实现接线,同时通过弹性实现自动回位,提高接线装置的使用便利性和可靠性。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保护范围。因此,本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (10)
1.一种接线装置,其特征在于,包括:
测试装置,所述测试装置包括第二通孔、及至少一个测试点;
定位机构,所述定位机构设置于所述测试装置上,且所述定位机构设有与所述第二通孔位置相对应的第一通孔;
压柄,所述压柄设置于所述测试装置上;
被测件,所述被测件与所述压柄可配合压接,所述被测件包括至少一个触点;及
辅助接线件,当所述压柄下压所述被测件时,所述辅助接线件的一端穿过所述第一通孔并与所述测试点电性连接,所述辅助接线件的另一端穿过所述第二通孔并与所述触点电性连接。
2.根据权利要求1所述的接线装置,其特征在于,所述辅助接线件包括设有安装腔室的筒体、设置于所述安装腔室内的弹性抵压件、及分别套装于所述筒体两端的第一接触件和第二接触件,所述第一接触件和所述第二接触件均与所述弹性抵压件抵接。
3.根据权利要求1所述的接线装置,其特征在于,所述定位机构包括承载件,所述承载件上设有至少一个插针,所述被测件上设有至少一个与所述插针位置相对应的插孔,所述插针与所述插孔配合插接。
4.根据权利要求3所述的接线装置,其特征在于,所述承载件设有定位槽,所述被测件嵌装于所述定位槽。
5.根据权利要求1所述的接线装置,其特征在于,所述定位机构还包括弹性支撑组件,所述弹性支撑组件抵压设置于所述测试装置上。
6.根据权利要求1所述的接线装置,其特征在于,所述测试装置包括底座、及设置于所述底座上的升降支架,所述压柄设置于所述升降支架上。
7.根据权利要求1至6任一项所述的接线装置,其特征在于,所述压柄包括把手、及与所述把手连接的压板,所述压板与所述被测件相对设置。
8.根据权利要求7所述的接线装置,其特征在于,所述压柄还包括设置于所述压板上的至少一个压板柱,所述压板柱可与所述被测件压接。
9.根据权利要求8所述的接线装置,其特征在于,所述压板柱的数量为多个,多个所述压板柱均匀设置于所述压板上。
10.根据权利要求8或9所述的接线装置,其特征在于,所述压板柱的端部设有防护件。
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20161221 |