CN205720551U - 一种避免错位的复合测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及测试治具技术领域，尤其涉及一种避免错位的复合测试治具，包括第一治具和第二治具，第二治具包括探针和针盘，针盘包括测试面板和至少两个间隔设置的导针板，测试面板设置于导针板的上方，探针滑动穿设于测试面板和导针板，还包括多个伸缩式定位针，伸缩式定位针包括针杆、弹簧和套管，针杆滑动设置于套管内，针杆的一端通过弹簧与套管连接；所述伸缩式定位针布置于探针的一侧，套管设置于针盘，针杆的顶端滑动贯穿于测试面板且尖端锥面在竖直方向高于探针；所述第一治具设置有与针杆配合的定位孔，避免第一治具下压时错位，提高了测试效率和准确率；针杆与第一治具保持柔性连接，避免针杆损伤第一治具。

Description

一种避免错位的复合测试治具

技术领域

本实用新型涉及测试治具技术领域，尤其涉及一种避免错位的复合测试治具。

背景技术

PCB板（线路板）测试治具的主要功能为检测并筛选出在生产过程中造成的开路、短路或漏电等电性能上有瑕疵的PCB板，PCB板测试治具定位针用于将被测PCB板定位于测试治具的机台上。PCB板测试治具包括底座、针板、底板、若干探针组件及导线，针板由多层板组合而成，在板之间设有间隔，底板由多层板叠置而成，在针盘和底板上均设有若干穿孔，探针组件置于针板和底板的穿孔内，其探针的头部露出于针板的表面，针板和底板固定成为整体的针盘。PCB板（线路板）测试治具在测试时需要将PCB板压于探针，使实现探针与待测点更好的接触，现有的测试治具，一般包括第一治具和第二治具，第一治具将PCB板压向第二治具，由于现有治具设计的不合理，在下压时，第一治具与第二治具易发生错位，影响了测试效率和准确率。

实用新型内容

本实用新型的目的在于针对现有技术的不足提供一种避免错位的复合测试治具，避免第一治具和第二治具配合时发生错位，提高了测试效率和准确率。

为实现上述目的，本实用新型的一种避免错位的复合测试治具，包括第一治具和第二治具，第二治具包括探针和针盘，针盘包括测试面板和至少两个间隔设置的导针板，测试面板设置于导针板的上方，探针滑动穿设于测试面板和导针板，还包括多个伸缩式定位针，伸缩式定位针包括针杆、弹簧和套管，针杆滑动设置于套管内，针杆的一端通过弹簧与套管连接；所述伸缩式定位针布置于探针的一侧，套管设置于针盘，针杆的顶端滑动贯穿于测试面板且尖端锥面在竖直方向高于探针；所述第一治具设置有与针杆配合的定位孔。

优选的，所述伸缩式定位针包括第一定位针和第二定位针，第一定位针和第二定位针分别布置在针盘的两端，第一定位针设置有两个，第二定位针设置有两个，两个第一定位针之间的距离大于两个第二定位针之间的距离。

优选的，所述伸缩式定位针还包括卡环，针杆包括针头和杆身，尖端锥面设置于针头的顶端，杆身的末端设置有环形槽，杆身的直径小于针头的直径，套管包括第一端孔和第二端孔，第一端孔的孔径大于针头的直径，第二端孔的孔径大于杆身的直径，第二端孔的孔径小于第一端孔的孔径，第二端孔的内侧设置有止位台阶，弹簧套设于针杆的杆身，杆身依序穿过套管的第一端孔、第二端孔，弹簧的第一端与针头抵接，弹簧的第二端与止位台阶抵接，卡环与杆身的环形槽卡接。

优选的，所述环形槽有三个，三个环形槽均布于杆身的末端。

优选的，所述套管的第一端孔的外侧设置有环形针托，环形针托抵接于测试面板的一侧。

优选的，所述探针包括导电针体和绝缘粒体，绝缘粒体固定于导电针体的中段且布置于导针板的一侧，导电针体的一端沿导电针体的轴线方向依次设置有绝缘段和针尖段，绝缘段设置于绝缘粒体的一侧，绝缘段的表面设置有绝缘层，导电针体的直径为0.08~0.21mm。

优选的，所述绝缘层为绝缘漆层。

优选的，所述绝缘粒体呈圆柱状。

本实用新型的有益效果：本实用新型的一种避免错位的复合测试治具，测试时，第一治具将PCB板压于测试面板时，针杆对准第一治具的定位孔，避免第一治具下压时错位，提高了测试效率和准确率；针杆可相对于套管在竖直方向往复滑动，弹簧起到复位针杆作用，使针杆与第一治具保持柔性连接，使得针杆在一定范围内能适应第一治具的位置，降低了第一治具位移精度的要求，降低了生产成本，避免针杆损伤第一治具。

附图说明

图1为本实用新型的第一治具和第二治具处于分开状态时结构示意图。

图2为本实用新型的第二治具的俯视结构示意图。

图3为本实用新型的第二治具的前视结构示意图。

图4为本实用新型的伸缩式定位针的结构示意图。

图5为本实用新型的套管的结构示意图。

图6为本实用新型的针杆的结构示意图。

图7为本实用新型的探针的结构示意图。

图8为图7中A-A方向的剖视结构示意图。

附图标记包括：

4—第一治具 41—定位孔 5—第二治具

1—探针 11—导电针体 12—绝缘粒体

13—绝缘层 14—针尖段

2—针盘 21—测试面板 22—导针板

3—伸缩式定位针

301—第一定位针 302—第二定位针

31—针杆 311—顶端锥面

312—针头 313—杆身 314—环形槽

32—弹簧

33—套管 331—第一端孔 332—第二端孔

333—止位台阶

334—环形托

34—卡环。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型进行详细的描述。

如图1~8所示，本实用新型的一种避免错位的复合测试治具，包括第一治具4和第二治具5，第二治具5包括探针1和针盘2，针盘2包括测试面板21和至少两个间隔设置的导针板22，测试面板21设置于导针板22的上方，探针1滑动穿设于测试面板21和导针板22，还包括多个伸缩式定位针3，伸缩式定位针3包括针杆31、弹簧32和套管33，针杆31滑动设置于套管33内，针杆31的一端通过弹簧32与套管33连接；所述伸缩式定位针3布置于探针1的一侧，套管33设置于针盘2，针杆31的顶端滑动贯穿于测试面板21且尖端锥面在竖直方向高于探针1；所述第一治具4设置有与针杆31配合的定位孔41。测试时，PCB板放置于第一治具4和第二治具5之间，第一治具4将PCB板压于测试面板21时，针杆31对准第一治具4的定位孔41，避免第一治具4下压时错位，提高了测试效率和准确率；针杆31可相对于套管33在竖直方向往复滑动，弹簧32起到复位针杆31作用，使针杆31与第一治具4保持柔性连接，使得针杆31在一定范围内能适应第一治具4的位置，降低了第一治具4位移精度的要求，降低了生产成本，避免针杆31损伤第一治具4。具体的，伸缩式定位针3可设置在针盘2的四个角。

优选的，所述伸缩式定位针3包括第一定位针301和第二定位针302，第一定位针301和第二定位针302分别布置在针盘2的两端，第一定位针301设置有两个，第二定位针302设置有两个，两个第一定位针301之间的距离大于两个第二定位针302之间的距离。第一定位针301和第二定位针302非对称布置，避免放置第一治具4时放错位置。

优选的，所述伸缩式定位针3还包括卡环34，针杆31包括针头312和杆身313，尖端锥面设置于针头312的顶端，杆身313的末端设置有环形槽314，杆身313的直径小于针头312的直径，套管33包括第一端孔331和第二端孔332，第一端孔331的孔径大于针头312的直径，第二端孔332的孔径大于杆身313的直径，第二端孔332的孔径小于第一端孔331的孔径，第二端孔332的内侧设置有止位台阶333，弹簧32套设于针杆31的杆身313，杆身313依序穿过套管33的第一端孔331、第二端孔332，弹簧32的第一端与针头312抵接，弹簧32的第二端与止位台阶333抵接，卡环34与杆身313的环形槽314卡接。

本实用新型的测试治具工作时，第一治具4与针杆31的针头312接触，当因意外施加于PCB板或者定位针的压力过大时，第一治具4挤压针杆31的针头312，针杆31的针头312挤压套设于杆身313的弹簧32朝向第二端孔332的内侧设置的止位台阶333方向压缩，定位针与第一治具4实现柔性连接；其中，当定位针闲置时，由于卡环34与杆身313末端开设的环形槽314卡接，即确保套管33的第二端孔332被卡环34顶住防止套管33往下脱落；而套管33的第二端孔332的孔径小于针头312的直径，即确保套管33的第二端孔332被针头312顶住防止套管33往上脱落，从而避免了套管33脱出与针杆31的套接。进一步优选的，所述环形槽314有三个，三个环形槽314均布于杆身313的末端。

优选的，所述套管33的第一端孔331的外侧设置有环形针托，环形针托抵接于测试面板21的一侧。具体的，针头312被完全挤压进而套管33内时，套管33的环形针托则支撑住第一治具4，避免第一治具4进一步下压造成损伤PCB板，保证PCB板测试的安全。

优选的，所述探针1包括导电针体11和绝缘粒体12，绝缘粒体12固定于导电针体11的中段且布置于导针板22的一侧，导电针体11的一端沿导电针体11的轴线方向依次设置有绝缘段和针尖段14，绝缘段设置于绝缘粒体12的一侧，绝缘段的表面设置有绝缘层13，导电针体11的直径为0.08~0.21mm。具体的，所述绝缘粒体12呈圆柱状。工作时，本实用新型的探针1的一端与弹簧32连线的弹簧32体连接，绝缘段和针尖段14穿过测试面板21后与PCB待测点电连接，绝缘粒体12无法穿过测试面板21，避免该探针1被拉动，避免将探针1从PCB测试治具的模板拔出造成该探针1与弹簧32连线的弹簧32脱离，提高了该测试治具的可靠性；导电针体11的直径为0.08~0.21mm，可用于检测排列较密的PCB待测点，可以用于测试体积较小的、高精度的PCB；绝缘层13避免相邻的探针1发生短路，提高了PCB测试治具的可靠性。

所述绝缘层13为绝缘漆层，绝缘漆层易于加工，可通过传统的漆包线工艺形成，本实用新型的探针1，加工成本低。

综上所述可知本实用新型乃具有以上所述的优良特性，得以令其在使用上，增进以往技术中所未有的效能而具有实用性，成为一极具实用价值的产品。

以上内容仅为本实用新型的较佳实施例，对于本领域的普通技术人员，依据本实用新型的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，本说明书内容不应理解为对本实用新型的限制。

Claims (8)

1.一种避免错位的复合测试治具，包括第一治具（4）和第二治具（5），第二治具（5）包括探针（1）和针盘（2），针盘（2）包括测试面板（21）和至少两个间隔设置的导针板（22），测试面板（21）设置于导针板（22）的上方，探针（1）滑动穿设于测试面板（21）和导针板（22），其特征在于：还包括多个伸缩式定位针（3），伸缩式定位针（3）包括针杆（31）、弹簧（32）和套管（33），针杆（31）滑动设置于套管（33）内，针杆（31）的一端通过弹簧（32）与套管（33）连接；

所述伸缩式定位针（3）布置于探针（1）的一侧，套管（33）设置于针盘（2），针杆（31）的顶端滑动贯穿于测试面板（21）且尖端锥面在竖直方向高于探针（1）；

所述第一治具（4）设置有与针杆（31）配合的定位孔（41）。

2.根据权利要求1所述的一种避免错位的复合测试治具，其特征在于：所述伸缩式定位针（3）包括第一定位针（301）和第二定位针（302），第一定位针（301）和第二定位针（302）分别布置在针盘（2）的两端，第一定位针（301）设置有两个，第二定位针（302）设置有两个，两个第一定位针（301）之间的距离大于两个第二定位针（302）之间的距离。

3.根据权利要求1所述的一种避免错位的复合测试治具，其特征在于：所述伸缩式定位针（3）还包括卡环（34），针杆（31）包括针头（312）和杆身（313），尖端锥面设置于针头（312）的顶端，杆身（313）的末端设置有环形槽（314），杆身（313）的直径小于针头（312）的直径，套管（33）包括第一端孔（331）和第二端孔（332），第一端孔（331）的孔径大于针头（312）的直径，第二端孔（332）的孔径大于杆身（313）的直径，第二端孔（332）的孔径小于第一端孔（331）的孔径，第二端孔（332）的内侧设置有止位台阶（333），弹簧（32）套设于针杆（31）的杆身（313），杆身（313）依序穿过套管（33）的第一端孔（331）、第二端孔（332），弹簧（32）的第一端与针头（312）抵接，弹簧（32）的第二端与止位台阶（333）抵接，卡环（34）与杆身（313）的环形槽（314）卡接。

4.根据权利要求3所述的一种避免错位的复合测试治具，其特征在于：所述环形槽（314）有三个，三个环形槽（314）均布于杆身（313）的末端。

5.根据权利要求3所述的一种避免错位的复合测试治具，其特征在于：所述套管（33）的第一端孔（331）的外侧设置有环形针托，环形针托抵接于测试面板（21）的一侧。

6.根据权利要求1所述的一种避免错位的复合测试治具，其特征在于：所述探针（1）包括导电针体（11）和绝缘粒体（12），绝缘粒体（12）固定于导电针体（11）的中段且布置于导针板（22）的一侧，导电针体（11）的一端沿导电针体（11）的轴线方向依次设置有绝缘段和针尖段（14），绝缘段设置于绝缘粒体（12）的一侧，绝缘段的表面设置有绝缘层（13），导电针体（11）的直径为0.08~0.21mm。

7.根据权利要求6所述的一种避免错位的复合测试治具，其特征在于：所述绝缘层（13）为绝缘漆层。

8.根据权利要求6所述的一种避免错位的复合测试治具，其特征在于：所述绝缘粒体（12）呈圆柱状。