CN207396672U - 测试治具 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种测试治具，包括有针盘、线盘、测试连接口；所述针盘的上表面穿插有间隔设置且可上下活动的多根测试探针，所述线盘上穿设间隔设置的多条导电线，所述多条导电线的一端成对地与针盘上受压下移的一根测试探针对应导通连接，另一端连接在测试连接口内的测试连接针一一连接；测试时，受压下移的两根测试探针分别经两根导电线与对应的两个测试连接针之间形成两个测试点的回路。这样，本测试治具即可代替现有四线测试治具进行电路板阻值测试，且结构简单，制作难度低、周期短、成本低。

Description

测试治具

【技术领域】

本实用新型涉及一种电路板测试治具。

【背景技术】

目前，市面上现有的四线测试治具都是采用一端测试点上设有两根针，另一端每个测试点上也设有两根针，两个探针和两个漆包线或弹簧套管一一对应，漆包线或弹簧套管和测试接口的触针一一对应，测试接口和测试机连接；测试的时候探针一端的两探针同时和一个测试点接触形成回路，线路板测试点的另一端两个探针也同时和测试点接触也形成回路；四个探针同时测试一条线路，学习出线路的阻值，这个时候探针、套管、连接线的阻值0，测试精度最高；但现有这种四线测试治具的缺点是成本比较高，制作难度比较大、周期长、成本高(一套治具的制作时间7-10天，成本 5-20万)。

【实用新型内容】

为了解决现有技术中存在的上述技术问题，本实用新型提供了一根测试探针对应测试连接口的两个测试连接针，并产生两个测试点和形成回路，可代替现有两针两线四线测试治具进行电路板阻值测试，且结构简单，制作难度低、周期短、成本低的测试治具。

本实用新型解决现有技术问题所采用的技术方案为：

一种测试治具，包括有针盘、线盘、测试连接口；所述针盘的上表面穿插有间隔设置且可上下活动的多根测试探针，所述线盘上穿设间隔设置的多条导电线，所述多条导电线的一端成对地与针盘上受压下移的一根测试探针对应导通连接，另一端连接在测试连接口内的测试连接针一一连接；测试时，受压下移的两根测试探针分别经两根导电线与对应的两个测试连接针之间形成两个测试点的回路。

进一步地，每条导电线穿设在线盘的一端设有连接触点，所述连接触点是复位弹簧或漆包线，且相邻两条导电线的连接触点相互短路连接。

一种测试治具，包括有针盘、线盘、测试连接口；所述针盘的上表面穿插有间隔设置且可上下活动的多根测试探针，所述线盘上穿设间隔设置的多条导电线，所述多条导电线的一端与针盘上受压下移的一根测试探针一一对应导通连接，另一端连接在测试连接口内对应两根相邻测试连接针导通连接；测试时，受压下移的两根测试探针分别经一根导电线与对应的两个测试连接针之间形成两个测试点的回路。

进一步地，所述测试连接口内与同一条导电线导通连接的两根相邻测试连接针相互短路连接。

进一步地，每条导电线穿设在线盘的一端设有连接触点，所述连接触点是复位弹簧或漆包线。

进一步地，所述复位弹簧的上端绕制有连接一体连接插入部，所述测试探针的下端设有防卡端头，所述防卡端头的横向宽度与连接插入部的插入孔孔径相适配、并大于复位弹簧的孔径；受压下移的测试探针的下端以可分离的方式一对一地插入连接插入部内，且防卡端头压在复位弹簧的孔口外侧，以实现与导电线导通连接。

进一步地，所述防卡端头是扁平端头或球体或半球体，与测试探针连接一体。

进一步地，所述测试探针是金属针，所述导电线为漆包线或OK线。

本实用新型的有益效果如下：

本实用新型通过上述技术方案，即可在每根受压下移的测试探针与对应的两根测试连接针之间形成两个测试点的回路，可代替现有四线测试治具进行电路板阻值测试，且该测试治具结构十分简单，制作难度低、周期短、成本低。

【附图说明】

图1是本实用新型所述测试治具实施例一的结构示意图；

图2是本实用新型所述测试治具实施例一中测试探针与复位弹簧的连接结构示意图；

图3是本实用新型所述测试治具实施例二的结构示意图。

【具体实施方式】

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

实施例一：

如图1和图2中所示，本实用新型实施例一提供了一种测试治具，包括有针盘1、线盘2、测试连接口3；所述针盘1的上表面穿插有间隔设置且可上下活动的多根测试探针4，所述线盘2上穿设间隔设置的多条导电线5，所述多条导电线5的一端成对地与针盘1上受压下移的一根测试探针4对应导通连接，另一端连接在测试连接口3内的测试连接针31一一连接。其中，所述测试探针4可以是金属针，所述导电线5为漆包线或 OK线。每条导电线5穿设在线盘2的一端设有连接触点6，所述连接触点6可以是复位弹簧(当然也可以是漆包线)，且相邻两条导电线5的连接触点6相互短路连接；所述复位弹簧的上端绕制有连接一体连接插入部 61，所述测试探针4的下端设有防卡端头41，所述防卡端头41可以是扁平端头，该扁平端头是采用工具在测试探针4的下端打扁形成的扁平外凸端头，其与测试探针4连接一体(当然防卡端头41也可以是球体或半球体，与测试探针4连接一体，例如所述球体或半球体与测试探针4通过数控车床加工一体成型。)；所述防卡端头41的横向宽度与连接插入部61的插入孔孔径相适配、并大于复位弹簧的孔径；受压下移的测试探针4的下端以可分离的方式一对一地插入连接插入部61内，且防卡端头41压在复位弹簧的孔口外侧，以实现与导电线5导通连接。

在测试时，受压下移的两根测试探针4分别经两根导电线5与对应的两个测试连接针31之间形成两个测试点的回路，即可代替现有四线测试治具进行电路板阻值测试，且该测试治具结构十分简单，制作难度低、周期短、成本低(制作周期缩短50％、成本降低60％)。

实施例二：

如图3中所示，本实用新型实施例二提供了一种测试治具，其结构与实施例一基本相同，包括有针盘1、线盘2、测试连接口3，所述针盘1 的上表面穿插有间隔设置且可上下活动的多根测试探针4，所述线盘2上穿设间隔设置的多条导电线5。其区别仅在于：所述多条导电线5的一端与针盘1上受压下移的一根测试探针4一一对应导通连接，另一端连接在测试连接口3内对应两根相邻测试连接针31导通连接，具体结构可以为：所述测试连接口3内与同一条导电线5导通连接的两根相邻测试连接针31 相互短路连接；每条导电线5穿设在线盘2的一端设有连接触点6，所述连接触点6可以是复位弹簧或者漆包线。

在测试时，受压下移的两根测试探针4分别经一根导电线5与对应的两个测试连接针31之间形成两个测试点的回路。这样，同样可以代替现有四线测试治具进行电路板阻值测试，且该测试治具结构也十分简单，制作难度低、周期短、成本低。

以上内容是结合具体的优选技术方案对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本实用新型所属技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干简单推演或替换，都应当视为属于本实用新型的保护范围。

Claims (8)

1.一种测试治具，其特征在于：包括有针盘(1)、线盘(2)、测试连接口(3)；所述针盘(1)的上表面穿插有间隔设置且可上下活动的多根测试探针(4)，所述线盘(2)上穿设间隔设置的多条导电线(5)，所述多条导电线(5)的一端成对地与针盘(1)上受压下移的一根测试探针(4)对应导通连接，另一端连接在测试连接口(3)内的测试连接针(31)一一连接；测试时，受压下移的两根测试探针(4)分别经两根导电线(5)与对应的两个测试连接针(31)之间形成两个测试点的回路。

2.根据权利要求1所述的测试治具，其特征在于：每条导电线(5)穿设在线盘(2)的一端设有连接触点(6)，所述连接触点(6)是复位弹簧或漆包线，且相邻两条导电线(5)的连接触点(6)相互短路连接。

3.一种测试治具，其特征在于：包括有针盘(1)、线盘(2)、测试连接口(3)；所述针盘(1)的上表面穿插有间隔设置且可上下活动的多根测试探针(4)，所述线盘(2)上穿设间隔设置的多条导电线(5)，所述多条导电线(5)的一端与针盘(1)上受压下移的一根测试探针(4)一一对应导通连接，另一端连接在测试连接口(3)内对应两根相邻测试连接针(31)导通连接；测试时，受压下移的两根测试探针(4)分别经一根导电线(5)与对应的两个测试连接针(31)之间形成两个测试点的回路。

4.根据权利要求3所述的测试治具，其特征在于：所述测试连接口(3)内与同一条导电线(5)导通连接的两根相邻测试连接针(31)相互短路连接。

5.根据权利要求4所述的测试治具，其特征在于：每条导电线(5)穿设在线盘(2)的一端设有连接触点(6)，所述连接触点(6)是复位弹簧或漆包线。

6.根据权利要求2或5所述的测试治具，其特征在于：所述复位弹簧的上端绕制有连接一体连接插入部(61)，所述测试探针(4)的下端设有防卡端头(41)，所述防卡端头(41)的横向宽度与连接插入部(61)的插入孔孔径相适配、并大于复位弹簧的孔径；受压下移的测试探针(4)的下端以可分离的方式一对一地插入连接插入部(61)内，且防卡端头(41)压在复位弹簧的孔口外侧，以实现与导电线(5)导通连接。

7.根据权利要求6所述的测试治具，其特征在于：所述防卡端头(41)是扁平端头或球体或半球体，与测试探针(4)连接一体。

8.根据权利要求1至5中任一或7所述的测试治具，其特征在于：所述测试探针(4)是金属针，所述导电线(5)为漆包线或OK线。