CN208984045U - 一种pcb板的双针式种针四线测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种PCB板的双针式种针四线测试系统。在过孔孔环和四线测试治具间设置四个探针，每两个探针作为一组在四线测试治具中连接同一条绕线，再进而连接到四线测试治具的输入测试端中。同一绕线对应的两个探针设置于过孔孔环同一直径的直线上，且四个探针等距离分布，确保了发生滑动时至少有一组探针能保持在过孔孔环中，减少滑动对测试效果产生的不良影响。

Description

一种PCB板的双针式种针四线测试系统

技术领域

本实用新型涉及PCB四线测试领域，特别是一种PCB板的双针式种针四线测试系统。

背景技术

目前，在PCB板生产过程中，过孔(又称VIA孔)电镀铜的情况好坏直接影响整块电路板的质量有重要影响，因此需要在电镀完成后对电镀铜孔的孔铜厚薄进行检测，如何设置测试探针对测试的准确性有很大的影响。现有技术中通常采用在过孔孔环上的设置两支探针的进行测试，但是由于探针只是与孔铜表面接触，容易在测试过程中滑动，使针头与过孔孔环接触不充分，导致测试效果不准。

实用新型内容

为解决上述问题，本实用新型的目的在于提供一种在过孔孔环中等距离设置四个探针，每两个探针作为一组在四线测试治具中连接同一条绕线，每组探针单独检测孔铜厚，减少一组探针滑动时对测试造成的影响。

本实用新型解决其问题所采用的技术方案是：一种PCB板的双针式种针四线测试系统，包括：过孔孔环和用于测试所述过孔孔环孔铜厚的四线测试治具；

还包括两端分别连接于过孔孔环和四线测试治具中的第一探针、第二探针、第三探针和第四探针；所述第一探针和第三探针与过孔孔环的连接处位于同一直径所在的直线上；所述第二探针和第四探针与过孔孔环的连接处位于同一直径所在的直线上；

所述第一探针、第二探针、第三探针和第四探针等距离连接于过孔孔环上。

进一步，所述过孔孔环的环宽大于或等于0.15mm。

进一步，所述过孔为开窗孔环。

进一步，所述第一探针、第二探针、第三探针和第四探针的直径为0.15-0.4mm。

进一步，所述四线测试治具中包括第一绕线和第二绕线。

进一步，所述第一绕线与第一探针和第三探针相连接，所述第二绕线与第二探针和第四探针相连接。

进一步，所述第一绕线连接于四线测试治具的电压测试输入端；所述第二绕针连接于四线测试治具的电流测试输入端。

进一步，所述四线测试治具中还包括治具线盘，所述治具线盘的厚度为15mm。

进一步，所述治具线盘中设置有与探针直径匹配的弹性套件。

进一步，所述第一探针、第二探针、第三探针和第四探针插于弹性套件内。

本实用新型的有益效果是：本实用新型采用一种PCB板的双针式种针四线测试系统。在过孔孔环处等距离设置四个探针，处于同一直径直线的探针连接四线测试治具的一端通过绕线相连接。相比起现有技术只设置两个探针的做法，本实用新型的探针等距离设置呈十字形分布，在探针朝一个方向发生滑动时，垂直方向的探针还保持在孔环中，有效减少了探针滑动对测试带来的影响。

附图说明

下面结合附图和实例对本实用新型作进一步说明。

图1是本实用新型一种PCB板的双针式种针四线测试系统的探针连接示意图；

图2是本实用新型一种PCB板的双针式种针四线测试系统的PCB板与治具连接示意图。

附图标号说明：

1.第一探针；2.第二探针；3.第三探针；4.第四探针；5.过孔孔环；6.治具线盘；7.第一绕线；8.第二绕线；9.弹性套件；10.四线测试治具。

具体实施方式

参照图1和图2，本实用新型本实用新型解决其问题所采用的技术方案是：一种PCB板的双针式种针四线测试系统，包括：过孔孔环5和用于测试所述过孔孔环5孔铜厚的四线测试治具10；

还包括两端分别连接于过孔孔环5和四线测试治具10中的第一探针1、第二探针2、第三探针3和第四探针4；所述第一探针1和第三探针3与过孔孔环5的连接处位于同一直径所在的直线上；所述第二探针2和第四探针4与过孔孔环5的连接处位于同一直径所在的直线上；

所述第一探针1、第二探针2、第三探针3和第四探针4等距离连接于过孔孔环5上。

其中，所述四个探针在过孔孔环上呈十字形分布，即第一探针1和第三探针3的连线与第二探针2和第四探针4的连线垂直。采用这种连接方式能在探针滑动时减少不良影响，例如当如图1所示布置好探针后，检测过程中发生横向移动，第二探针2和第四探针4移出了过孔孔环范围，但此时第一探针1和第三探针3还能保持在过孔孔环中。

优选地，第一探针1和第三探针3在四线测试治具中连接第一绕线7，第二探针2和第四探针4在四线测试治具中连接第二绕线8，每条绕线所连接的探针能独立完成一次测试，因此在发生滑动其中一条绕线所连接的探针滑出过孔孔环时，另一条绕线所连接的探针仍然在过孔孔环中，因此可以正常完成对孔环铜厚的测试。

其中，本实施例公开的测试治具10为测试治具上模，用于与PCB板的上表面进行连接测试，若PCB板还包括下表面，则在测试治具下模中采用相同连接方式与PCB板下表面的过孔孔环进行连接。

进一步，所述过孔孔环5的环宽大于或等于0.15mm。

其中，若过孔孔环5的环宽小于0.15mm，则由于探针针头直径过大而无法完成种针，因此过孔孔环5的环宽应大于或等于0.15mm。

进一步，所述过孔孔环5为开窗孔环。

进一步，所述第一探针1、第二探针2、第三探针3和第四探针4的直径为0.15-0.4mm。

其中，由于过孔孔环的尺寸要求最小为0.15mm，因此上述探针对应的尺寸也为最小0.15mm，所采用的探针直径小于或等于过孔孔环5的直径，以确保能顺利种针。

进一步，所述四线测试治具10中包括第一绕线7和第二绕线8。

进一步，所述第一绕线7与第一探针1和第三探针3相连接，所述第二绕线8与第二探针2和第四探针4相连接。

进一步，所述第一绕线7连接于四线测试治具的电压测试输入端；所述第二绕针8连接于四线测试治具的电流测试输入端。

其中，四线测试治具接通检测时，四线测试治具检测第一绕线7所对应的第一探针1和第三探针3对应的线路的电压值，并将所述电压值发送至四线测试治具的电压测试输入端；同理，四线测试治具检测第二绕线8所对应的第二探针2和第四探针4对应的线路的电流值，并将所述电流值发送至四线测试治具的电压测试输入端。

进一步，所述四线测试治具中还包括治具线盘6，所述治具线盘6的厚度为15mm。

其中，所述治具线盘6为5层线盘，每层厚度为5mm。

进一步，所述线盘6中设置有与探针直径匹配的弹性套件9。

进一步，所述第一探针1、第二探针2、第三探针3和第四探针4插于弹性套件9内。

其中，所述探针与四线测试治具连接一端插入至线盘6中的弹性套件9中，四线测试治具夹紧PCB板时，弹性套件9处于压缩状态，测试完毕四线测试治具打开后，弹性套件9松开，确保了探针的连接性良好。

以上所述，只是本实用新型的较佳实施例而已，本实用新型并不局限于上述实施方式，只要其以相同的手段达到本实用新型的技术效果，都应属于本实用新型的保护范围。

Claims (10)

1.一种PCB板的双针式种针四线测试系统，其特征在于，包括：过孔孔环(5)和用于测试所述过孔孔环(5)孔铜厚的四线测试治具(10)；

还包括两端分别连接于过孔孔环(5)和四线测试治具(10)中的第一探针(1)、第二探针(2)、第三探针(3)和第四探针(4)；所述第一探针(1)和第三探针(3)与过孔孔环(5)的连接处位于同一直径所在的直线上；所述第二探针(2)和第四探针(4)与过孔孔环(5)的连接处位于同一直径所在的直线上；

所述第一探针(1)、第二探针(2)、第三探针(3)和第四探针(4)等距离连接于过孔孔环(5)上。

2.根据权利要求1所述的一种PCB板的双针式种针四线测试系统，其特征在于：所述过孔孔环(5)的环宽大于或等于0.15mm。

3.根据权利要求2所述的一种PCB板的双针式种针四线测试系统，其特征在于：所述过孔孔环(5)为开窗孔环。

4.根据权利要求1所述的一种PCB板的双针式种针四线测试系统，其特征在于：所述第一探针(1)、第二探针(2)、第三探针(3)和第四探针(4)的直径为0.15-0.4mm。

5.根据权利要求1所述的一种PCB板的双针式种针四线测试系统，其特征在于：所述四线测试治具(10)中包括第一绕线(7)和第二绕线(8)。

6.根据权利要求5所述的一种PCB板的双针式种针四线测试系统，其特征在于：所述第一绕线(7)与第一探针(1)和第三探针(3)相连接，所述第二绕线(8)与第二探针(2)和第四探针(4)相连接。

7.根据权利要求6所述的一种PCB板的双针式种针四线测试系统，其特征在于：所述第一绕线(7)连接于四线测试治具的电压测试输入端；所述第二绕线(8)连接于四线测试治具的电流测试输入端。

8.根据权利要求1所述的一种PCB板的双针式种针四线测试系统，其特征在于：所述四线测试治具中还包括治具线盘(6)，所述治具线盘(6)的厚度为15mm。

9.根据权利要求8所述的一种PCB板的双针式种针四线测试系统，其特征在于：所述治具线盘(6)中设置有与探针直径匹配的弹性套件(9)。

10.根据权利要求9所述的一种PCB板的双针式种针四线测试系统，其特征在于：所述第一探针(1)、第二探针(2)、第三探针(3)和第四探针(4)插于弹性套件(9)内。