CN104375077A - 功能测试fct测试工装和测试系统、方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种功能测试FCT测试工装和测试系统、方法，该FCT测试工装包括：探针工装，探针工装包括：针板和多个探针；多个探针分别通过多个信号线与外部的控制设备连接；探针工装能够相对于待测电路板上下运动，探针工装向下运动时，多个探针能够与待测电路板上的测试点一一对应接触进行功能测试。该测试工装使用探针工装来进行FCT测试，避免了频繁接插件，从而提高了测试的效率，并且具有很好的稳定性。
Description
技术领域
本发明涉及功能测试FCT领域，具体涉及功能测试FCT测试工装和测试系统、方法。
背景技术
功能测试FCT(Functional Circuit Test)指的是对测试目标板(UUT：UnitUnder Test)提供模拟的运行环境，使其工作于各种设计状态，从而获取到各个状态的参数来验证UUT的功能好坏的测试方法。简单地说，就是对UUT加载合适的激励，测量输出端响应是否合乎要求。一般专指对实装电路板PCBA(Printed Circuit Board Assembly)的功能测试。图5是现有FCT测试方式示意图，在图5中，51为引线、52为表笔、53为接插件、54为待测电路板，现有技术的测试系统使用手动接线测试的方式，将接插头和焊点连接到测试仪器上测试，这种测试方式测量功能偏弱，通用性较差、测试效率低下。
发明内容
本发明提供了一种功能测试FCT测试工装和测试系统、方法，以解决现有技术中的测试方式需要频繁接插件，测试效率低的问题。
为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：
根据本发明的一个方面，提供了一种功能测试FCT测试工装，用于对待测电路板进行功能测试，该测试工装包括：探针工装；
探针工装包括：针板和多个探针；
多个探针分别通过多个信号线与外部的控制设备连接；
探针工装能够相对于待测电路板上下运动，探针工装向下运动时，多个探针能够与待测电路板上的测试点一一对应接触进行功能测试。
可选地，测试工装还包括：用于放置待测电路板的载板；
载板上设置有定位销，用于对待测电路板进行定位固定。
可选地，测试工装还包括：屏蔽罩；
屏蔽罩包括上下两部分，上屏蔽罩与下屏蔽罩对接压合共同形成屏蔽空间。
可选地，探针工装的针板安装在上屏蔽罩上，上屏蔽罩上设置有供探针工装的探针穿过的通孔；
载板安装在下屏蔽罩上；
上屏蔽罩在探针工装相对于载板上的待测电路板向下运动时也同步向下运动，并能够下降到与下屏蔽罩对接压合的位置，使得载板包含在上屏蔽罩和下屏蔽罩对接压合形成的屏蔽空间内。
可选地，下屏蔽罩上还安装有电磁密封衬垫；电池密封衬垫设置在上屏蔽罩与下屏蔽罩对接压合的位置。
可选地，下屏蔽罩上与上屏蔽罩对接压合的位置设有安装槽；
安装槽用于安装电磁密封衬垫。
可选地，针板的材料为有机玻璃纤维。
根据本发明的另一个方面，提供了一种功能测试FCT测试系统，测试系统包括本发明一个方面的测试工装。
根据本发明的再一个方面，提供了一种功能测试FCT测试方法，该测试方法包括：利用探针工装对待测电路板进行功能测试。
可选地，探针工装包括：针板和多个探针；
将多个探针分别通过多个信号线与外部的控制设备连接；
控制探针工装相对于待测电路板上下运动，探针工装向下运动时，多个探针能够与待测电路板上的测试点一一对应接触进行功能测试。
本发明的这种FCT测试工装，通过使用探针工装进行功能测试，提高测试效率并且操作简单、省力、成本低，稳定性好，解决了现有技术中频繁接插件的测试方式导致的效率低、通用性差的技术问题。
附图说明
图1是本发明一个实施例的使用该功能测试FCT测试工装进行测试示意图；
图2是本发明一个实施例的一种功能测试FCT测试工装的结构示意图图；
图3是本发明一个实施例的一种功能测试FCT测试工装的结构示意图；
图4是本发明一个实施例的一种功能测试FCT测试系统工作的示意图；
图5是现有FCT测试方式示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
本发明的核心思想是：将现有技术中FCT测试中采用手动频繁接插件与待测电路板接触进行测试的方式改为使用探针工装来进行测试从而提高测试效率，并且采用探针工装进行测试时稳定性好、操作方便。另外，本发明还可以对测试工装进行改进，在探针工装上加装屏蔽罩，将探针工装屏蔽罩做成一个整体，解决现有技术的FCT测试过程中产生干扰影响测试结果的问题。
图1是本发明一个实施例的使用该功能测试FCT测试工装进行测试示意图，参见图1，本发明的这种功能测试FCT测试工装包括：探针工装11；
探针工装11包括：针板和多个探针；多个探针分别通过多个信号线与外部的控制设备连接，以输入测试信号到待测电路板或者输出电测电路板对所述测试信号的反馈信号大炮外部的控制设备；探针工装11能够相对于待测电路板12上下运动，探针工装向下运动时，多个探针能够与待测电路板12上的测试点一一对应接触进行功能测试。参见图1，该测试工装还包括用于放置待测电路板的载板13；载板13上设置有定位销，用于对待测电路板进行定位固定。在实际测试时，可以先将载板放置在测试台面板上再进行测试。
通过采用探针工装进行FCT测试，具有操作简单方便、成本低廉并且可以克服使用接插件进行FCT测试导致的效率低下的问题，另外，使用探针工装进行FCT测试时，保证了各探针的接触缓冲力相同，因而具有更好的稳定性。
图2是本发明一个实施例提供一种功能测试FCT的测试工装的结构示意图，参见图2，在本实施例中，该测试工装还包括：屏蔽罩；
屏蔽罩包括上下两部分，上屏蔽罩201与下屏蔽罩202对接压合共同形成屏蔽空间。探针工装的针板1101安装在上屏蔽罩201上，上屏蔽罩201上设置有供探针工装的探针穿过的通孔；通孔以及探针工装与上屏蔽上接触的部分均采用屏蔽滤波技术处理。
载板13安装在下屏蔽罩202上；上屏蔽罩201在探针工装相对于载板13上的待测电路板12向下运动时也同步向下运动，并能够下降到与下屏蔽罩202对接压合的位置，使得载板13包含在上屏蔽罩201和下屏蔽罩202对接压合形成的屏蔽空间内。
下屏蔽罩202上还安装有电磁密封衬垫22；电池密封衬垫22设置在上屏蔽罩201与下屏蔽罩202对接压合的位置。下屏蔽罩202上与上屏蔽罩201对接压合的位置设有安装槽；安装槽用于安装电磁密封衬垫并可以固定衬垫、限制上屏蔽罩对下屏蔽罩过量压缩。
图3是本发明一个实施例提供一种功能测试FCT的测试工装的结构示意图，参见图3，测试时，控制探针工装向下运动，上屏蔽罩201和下屏蔽罩202通过精确的对接压合，形成一个封闭的屏蔽空间，该屏蔽罩内的空间要确保避让待测电路板上的元器件以免对元器件造成损伤。载板13包含在该屏蔽空间内，载板13上放置有待测电路板12，并通过定位销精确定位，探针工装上的探针1102与待测电路板12上的测试点一一对应接触，通过与探针连接的信号线接收外部输入的测试信号并输出待测电路板的反馈信号，完成FCT功能测试的激励、数据采集等过程。
在本实施例中，探针工装的针板1101由有机玻璃纤维制成。载板13的材料为电木。在上屏蔽罩和下屏蔽罩结合的位置设置电磁密封衬垫能够降低上、下屏蔽罩对机械加工的要求，允许两者的接触面有较低的平整度；并减少了结合处的紧固螺钉，增加设备美观性和可维护性；同时又避免了在两者结合的缝隙处产生高频泄漏。
本发明还提供了一种FCT测试系统，利用本发明的这种测试工装进行FCT测试。图4是本发明一个实施例的一种功能测试FCT测试系统工作的示意图，参见图4，利用本发明的这种测试系统进行FCT测试的具体工作过程是：放置待测电路板到载板上→落下针板，探针与待测电路板上的测试点稳定接触→进行测试或数据采集→测试数据的处理和判定→抬起针板→取出已测的电路板并分类放置。
通过使用探针工装来代替现有技术的接插接插件和焊接焊点的测试方式，本发明的这种测试系统具有能够用于大批量产品检测，提高测试效率并且成本低。
本发明还提供了一种FCT测试方法，该方法包括：利用本发明的这种测试工装对待测电路板进行功能测试。在本实施例中，探针工装包括：针板和多个探针；将多个探针分别通过多个信号线与外部的控制设备连接；控制探针工装相对于待测电路板上下运动，探针工装向下运动时，多个探针能够与待测电路板上的测试点一一对应接触进行功能测试。
需要说明的是，本发明的这种FCT测试方法是和前面的功能测试FCT测试工装对应的，该测试方法的实现步骤可以参见前述测试工装的工作过程，在此不再赘述。
综上所述，本发明的这种FCT测试工装，通过采用探针工装进行FCT测试，提高了测试效率，并具有成本低、稳定性好等优点。同时在探针工装的基础上增设上下对接压合的屏蔽罩，消除了测试过程中的电磁干扰，提高了测试结果的准确性。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围内。
Claims (10)
1.一种功能测试FCT测试工装，用于对待测电路板进行功能测试，其特征在于，该测试工装包括：探针工装；
所述探针工装包括：针板和多个探针；
所述多个探针分别通过多个信号线与外部的控制设备连接；
所述探针工装能够相对于所述待测电路板上下运动，所述探针工装向下运动时，所述多个探针能够与待测电路板上的测试点一一对应接触进行功能测试。
2.如权利要求1所述的功能测试FCT测试工装，其特征在于，所述测试工装还包括：用于放置待测电路板的载板；
所述载板上设置有定位销，用于对所述待测电路板进行定位固定。
3.如权利要求2所述的功能测试FCT测试工装，其特征在于，所述测试工装还包括：屏蔽罩；
所述屏蔽罩包括上下两部分，上屏蔽罩与下屏蔽罩对接压合共同形成屏蔽空间。
4.如权利要求3所述的功能测试FCT测试工装，其特征在于，所述探针工装的针板安装在所述上屏蔽罩上，所述上屏蔽罩上设置有供所述探针工装的探针穿过的通孔；
所述载板安装在所述下屏蔽罩上；
所述上屏蔽罩在探针工装相对于所述载板上的待测电路板向下运动时也同步向下运动，并能够下降到与所述下屏蔽罩对接压合的位置，使得所述载板包含在所述上屏蔽罩和下屏蔽罩对接压合形成的屏蔽空间内。
5.如权利要求3所述的功能测试FCT测试工装，其特征在于，所述下屏蔽罩上还安装有电磁密封衬垫；所述电池密封衬垫设置在所述上屏蔽罩与下屏蔽罩对接压合的位置。
6.如权利要求5所述的功能测试FCT测试工装，其特征在于，所述下屏蔽罩上与所述上屏蔽罩对接压合的位置设有安装槽；
所述安装槽用于安装所述电磁密封衬垫。
7.如权利要求1所述的功能测试FCT测试工装，其特征在于，所述针板的材料为有机玻璃纤维。
8.一种功能测试FCT测试系统，其特征在于，所述测试系统包括权利要求1-7中任一项所述的测试工装。
9.一种功能测试FCT测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：利用探针工装对待测电路板进行功能测试。
10.如权利要求9所述的FCT测试方法，其特征在于，所述探针工装包括：针板和多个探针；
将所述多个探针分别通过多个信号线与外部的控制设备连接；
控制所述探针工装相对于所述待测电路板上下运动，所述探针工装向下运动时，所述多个探针能够与待测电路板上的测试点一一对应接触进行功能测试。
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