CN101893664A

CN101893664A - 可提升测试质量的自动化测试系统

Info

Publication number: CN101893664A
Application number: CN2009101432868A
Authority: CN
Inventors: 张聪耀; 徐耀德; 姚健忠; 张智杰; 黄成璋; 孙仁合
Original assignee: Wistron Corp
Current assignee: Wistron Corp
Priority date: 2009-05-22
Filing date: 2009-05-22
Publication date: 2010-11-24

Abstract

本发明涉及可提升测试质量的自动化测试系统。具体地，本发明提供一种可提升测试质量的自动化测试系统，用来测试包含多个探针的一待测组件，该自动化测试系统包含有：一自动化测试设备；多个转接针，耦接于该自动化测试设备；一针盘，包含多个针槽，用来嵌合该待测组件的该多个探针；一接地板，用来提供接地；以及多个同轴电缆，每一同轴电缆耦接于该多个针槽的一针槽、该多个转接针的一转接针及该接地板，用来在该针槽与该转接针间传递信号。针对自动化测试系统，本发明可避免测试信号受到外在干扰，进而提升测试的稳定性与准确度。

Description

可提升测试质量的自动化测试系统

技术领域

本发明涉及一种可提升测试质量的自动化测试系统，尤其涉及一种可避免测试信号受到外在干扰，进而提升测试的稳定性与准确度的自动化测试系统。

背景技术

自动化测试设备(Automatic Test Equipment，ATE)是一种通过计算机控制进行器件、电路板和子系统等测试的设备，其可通过计算机编程取代人工劳动，自动化地完成测试序列。然而，随着单封装系统(System-in-packet，SIP)及单芯片系统(System-on-chip)的不断发展，自动化测试流程变得更加复杂，也衍生许多测试上的不确定因素。

请参考图1，图1为公知的一自动化测试系统10的示意图。在图1中，自动化测试系统10通过一自动化测试设备100测试一待测组件102。当待测组件102固定于托盘后，待测组件102的探针PR1、PR2会嵌合于一针盘104的针槽PST1、PST2，使得待测组件102与自动化测试设备100通过探针PR1、PR2、针槽PST1、PST2、单心线WR1、WR2及转接针TR1、TR2进行信号交换，以进行相关测试。其中，由于探针PR1、PR2的位置不一定符合转接针TR1、TR2的位置，因此，用来嵌合探针PR1、PR2的针槽PST1、PST2与转接针TR1、TR2间需通过单心线WR1、WR2连结。单心线WR1、WR2为由单一金属线所形成的传输线，其外围一般会涂布一层绝缘及保护涂料。单心线WR1、WR2在短距离传输上的应用非常广泛，但其抗噪声能力及抗电磁干扰能力却非常低，使得高频测试信号易受电磁干扰，而低频测试信号容易失真，造成测试不稳定。

举例来说，请参考图2，图2为图1的自动化测试设备100以方波信号测试待测组件102的示意图。如图2所示，由于单心线WR1、WR2对外部的干扰信号无任何屏蔽作用，使得单心线WR1、WR2在信号传输时容易受到外界的干扰，造成传输的信号不稳定，影响测试结果。

发明内容

因此，本发明的主要目的即在于提供一种可提升测试质量的自动化测试系统。

本发明公开一种可提升测试质量的自动化测试系统，用来测试包含多个探针的一待测组件，该自动化测试系统包含有一自动化测试设备；多个转接针，耦接于该自动化测试设备；一针盘，包含多个针槽，用来嵌合该待测组件的该多个探针；一接地板，用来提供接地；以及多个同轴电缆，每一同轴电缆耦接于该多个针槽的一针槽、该多个转接针的一转接针及该接地板，用来在该针槽与该转接针间传递信号。

针对自动化测试系统，本发明可避免测试信号受到外在干扰，进而提升测试的稳定性与准确度。

附图说明

图1为公知的一自动化测试系统的示意图。

图2为图1的一自动化测试设备以方波信号测试一待测组件的示意图。

图3A为本发明实施例的一自动化测试系统的示意图。

图3B图3A中一同轴电缆与其他组件的连接方式的示意图。

图4为公知的一同轴电缆的剖面示意图。

图5为图3A的一自动化测试设备以方波信号测试一待测组件的示意图。

主要组件符号说明：

10、30 自动化测试系统

100、300 自动化测试设备

102、302 待测组件

104、304 针盘

PR1、PR2、PRa、PRb 探针

PST1、PST2、PSTa、PSTb针槽

WR1、WR2 单心线

TR1、TR2、TRa、TRb 转接针

306 接地板

CRa、CRb 同轴电缆

具体实施方式

请参考图3A，图3A为本发明实施例的一自动化测试系统30的示意图。自动化测试系统30用来测试一待测组件302，该自动化测试系统30包含有一自动化测试设备300、转接针TRa、TRb、一针盘304、一接地板306及同轴电缆CRa、CRb。比较图3A及图1可知，自动化测试系统30与自动化测试系统10的架构相同，运作方式亦相同，不同之处在于自动化测试系统30以同轴电缆CRa、CRb取代了单心线WR1、WR2，并增加了接地板306。因此，当待测组件302固定于托盘后，待测组件302的探针PRa、PRb会嵌合于针盘304的针槽PSTa、PSTb，使得待测组件302与自动化测试设备300通过探针PRa、PRb、针槽PSTa、PSTb、同轴电缆CRa、CRb及转接针TRa、TRb进行信号交换，以进行相关测试。其中，同轴电缆CRa、CRb除了金属导线外，另包含有一金属屏蔽层，连接于接地板306，用来提供隔绝外界干扰信号，避免干扰到其内金属导线所传输的信号，进而达到测试稳定的目的。请继续参考图3B，图3B为同轴电缆CRa与其他组件的连接方式的示意图。如图3B所示，同轴电缆CRa的导线用来于转接针TRa与探针PRa间交换信号，同时，同轴电缆CRa外围的屏蔽层连接于接地板306，用来避免外部干扰。另外，同轴电缆CRb的连接方式亦类似于同轴电缆CRa，故不赘述。

简言之，自动化测试系统30是利用同轴电缆CRa、CRb优异的抗干扰能力，避免探针PRa、PRb与转接针TRa、TRb的测试信号受到外在噪声的干扰，进而提升测试的稳定性与准确度。需注意的是，本发明所使用的同轴电缆CRa、CRb其不限于特定种类、材质、尺寸等。例如，图4为公知一同轴电缆40的剖面示意图。同轴电缆40用来实现同轴电缆CRa或CRb，其包含有一导线400、一绝缘层402、一屏蔽层404及一保护层406。导线400用来传递信号。绝缘层402用来隔绝导线400与屏蔽层404。屏蔽层404则接地，用来屏蔽外界干扰信号。保护层406包覆屏蔽层404，用来保护同轴电缆40。

通过同轴电缆CRa、CRb，自动化测试系统30可避免高频测试信号受电磁干扰，并避免低频测试信号失真，以提升测试稳定度。举例来说，请参考图5，图5为图3A的自动化测试设备300以方波信号测试待测组件302的示意图。如图5所示，由于同轴电缆CRa、CRb具有优异的抗干扰能力，可避免外界的干扰，提升传输信号的稳定度，确保测试结果的准确性。

在图1中，由于单心线WR1、WR2对外部的干扰信号无任何屏蔽作用，使得单心线WR1、WR2在信号传输时容易受到外界的干扰，造成传输的信号不稳定，影响测试结果。相比较之下，本发明是以同轴电缆CRa、CRb取代单心线WR1、WR2，并增加了接地板306，利用同轴电缆CRa、CRb优异的抗干扰能力，避免测试信号受到外在干扰，进而提升测试的稳定性与准确度。

综上所述，针对自动化测试系统，本发明可避免测试信号受到外在干扰，进而提升测试的稳定性与准确度。

以上所述仅为本发明的较佳实施例，凡是依本发明权利要求书范围所作的等同变化与修饰，皆应属本发明的涵盖范围。

Claims

1.一种可提升测试质量的自动化测试系统，用来测试包含多个探针的一待测组件，所述自动化测试系统包括：

一自动化测试设备；

多个转接针，耦接于所述自动化测试设备；

一针盘，包括多个针槽，用来嵌合所述待测组件的所述多个探针；

一接地板，用来提供接地；以及

多个同轴电缆，每一同轴电缆耦接于所述多个针槽的一针槽、所述多个转接针的一转接针及所述接地板，用来在所述针槽与所述转接针间传递信号。

2.如权利要求1所述的自动化测试系统，其中所述多个同轴电缆的每一同轴电缆包括：

一导线，耦接于所述多个针槽的一针槽与所述多个转接针的一转接针；

一绝缘层，包覆于所述导线；

一屏蔽层，包覆于所述绝缘层，并耦接于所述接地板；以及

一保护层，包覆于所述屏蔽层。