TW201421927A

TW201421927A - 一種網通產品之測試電路架構及測試方法

Info

Publication number: TW201421927A
Application number: TW101143279A
Authority: TW
Inventors: Wen-Jiunn Tsay; Jen-Chieh Fan; Su-Yao Hsiao; Yu-Ning Wang
Original assignee: Arcadyan Technology Corp
Priority date: 2012-11-20
Filing date: 2012-11-20
Publication date: 2014-06-01
Also published as: CN103841580A

Abstract

本發明係一種網通產品之測試電路架構及測試方法，提供一種非信令(Non Signaling)測試方法與結構，與習知之信令測試方法相較，非信令測試方法少了協議棧(Protocol Stack)，不用再經過射頻頻道，直接通過電腦介面或網路介面與控制端連結，而可有效地掌握測試錯誤，享有更高速的裝置控制，並能快速地配置裝置與測試，降低變更裝置組態所需的時間，此時測量方式亦可在裝置配置前準備妥當，不需再等待連線訊號，以達到測試時間短與測試儀器的成本低之多重優點。

Description

一種網通產品之測試電路架構及測試方法

本發明係有關一種網通產品之測試電路架構及測試方法，尤指提供一種非信令(Non Signaling)測試方法與結構。

於科技發展日新月異的現今時代中，網通產品是最新堀起的新寵兒，舉凡有線與無線的網通產品已充斥於生活當中，與現代科技有密不可分的關係，所有的網通產品為確保出貨時皆為良品，必須於產品製造完成後，經過嚴密及繁瑣的測試，要確保產品能確實正常動作，方能包裝出貨。

LTE無線通訊技術，是長期演進(Long Term Evolution)技術的簡稱，是目前在無線數據通信市場備受注目的新一代行動無線寬頻技術。LTE可讓電信服務供應商在現有取得頻段下，透過更經濟、更有效率的方式提供無線寬頻接取應用服務，而LTE技術的特色即超越現存3G無線網路的傳輸效能，達到接近實線連接的網路傳輸效能，LTE已正式由第3代行動通訊組織(Third Generation Partnership Project；3GPP)列為無線標準技術。

目前全球很多的國家已提供LTE網路提供營運或是進行建置與測試中，相關的基礎建設、裝置設計都面臨大量的測試需求，尤其是針對LTE與先進長程演進計畫(LTE-Advanced)在因應實體層-的應用方面，在選擇測試設備時經常有相對困難的抉擇，因為LTE最大的特色就是大幅提升無線數據通信的整體傳輸效能，而付出的代價是使LTE的傳輸技術更趨複雜。尤其是在產品驗證方面，考驗目前的測試設備檢測極限，加上為提升傳輸效能所採行的MIMO(multiple-input and multiple-output)射頻多天線應用技術，此種多天線方案雖有助於提升整體傳輸頻寬，然而其設計形式也會讓測試程序變得極為複雜。

請參閱圖1所示，係為習知網通產品之測試電路架構的功能方塊示意圖，習知的無線網通產品於測試時，必須經過信令測試(Signaling Test)，其中測試的一端為一第一電腦11透過一第一區域網路12連接一信令測試儀(Signaling Tester)13，該信令測試儀13連接有一第一天線131；測試的另一端為一第二電腦17透過一第二區域網路16連接一網通產品15，該網通產品15內設置有一通信模組151，且該網通產品15連接至一第二天線152，該第一天線131、第二天線152及網通產品皆以一屏蔽盒14做一信號屏蔽，不讓外界信號影響了測試結果，該第一天線131與該第二天線152透過射頻頻道(RF Channel)方式來進行測試，以量測該第一、二天線(131、152)之間的傳輸吞吐量(Throughput)，此種方式變更裝置組態所需的時間長，且需要等待測試儀器與待測產品之連線訊號連通後方能進行測試，所需花費的測試時間較長及測試儀器的成本高，因此仍有極大的改善空間。

基於解決以上所述習知技藝的缺失，本發明為一種網通產品之測試電路架構及測試方法，特別是用於無線網通產品的測試，主要目的為提供一種非信令(Non Signaling)測試方法與結構，與習知之信令測試方法相較，非信令測試方法少了協議棧(Protocol Stack)，不用再經過射頻頻道(RF Channel)，直接通過電腦介面或網路介面與控制端連結，而可有效地掌握測試錯誤，享有更高速的裝置控制，並能快速地配置裝置與測試，降低變更裝置組態所需的時間，此時測量方式亦可在裝置配置前準備妥當，不需再等待連線訊號，以達到測試時間短與測試儀器的成本低之多重優點。

為達上述目的，本發明為一種網通產品之測試電路架構，係包括有：至少一待測網通產品，其內部設置有一通信模組，該通信模組至少連接有二根之產品天線；一非信令測試儀，係設置有至少二根的測試儀天線，並對應該待測網通產品之該些天線進行信號發送及接收的測試；一屏蔽盒，對該待測網通產品整體與該非信令測試儀之該些天線進行屏蔽，使該非信令測試儀的測試結果不受外界信號所干擾；以及一控制及判斷裝置，與該待測網通產品和該非信令測試儀連接，以接收該待測網通產品與該非信令測試儀之信號，並進行信號分析，以判斷該待測網通產品的該些產品天線發送及接收是否為良好。

本發明之測試電路架構更包括有：一集線器，用以連接該至少一待測網通產品與該非信令測試儀，以傳遞該二者之信號；其中控制及判斷裝置與該集線器連接，並透過該集線器以接收該至少一待測網通產品與該非信令測試儀之信號，並進行信號分析，以判斷該至少一待測網通產品的該些產品天線發送及接收是否為良好。

為達上述目的，本發明為一種網通產品之測試方法，係包括有下列步驟：(A)一非信令測試儀是否能接收到二根產品天線之其中之一的發射及接收信號，若為是則執行步驟(C)；若為否則執行步驟(B)；(B)一控制及判斷裝置判斷該二根產品天線皆為故障；(C)該非信令測試儀是否能同時接收到該二根產品天線的發射及接收信號，若為是則執行步驟(E)；若為否則執行步驟(D)；(D)該控制及判斷裝置判斷該二根產品天線之其中一根皆為故障；以及(E)該控制及判斷裝置判斷該二根產品天線皆為良品。

為進一步對本發明有更深入的說明，乃藉由以下圖示、圖號說明及發明詳細說明，冀能對貴審查委員於審查工作有所助益。

茲配合下列之圖式說明本發明之詳細結構，及其連結關係，以利於貴審委做一瞭解。

請同時參閱圖2所示，係為係為本發明網通產品之測試電路架構的功能方塊示意圖，係包括有：一待測網通產品23，待測網通產品23係由一網通電路模組(圖中未示)連接於一電腦界面埠或一網路介面埠(圖中未示)所構成，該電腦界面埠例如為PCI-E或USB界面，該網路介面埠例如為RJ45或Homeplug界面，於該網通電路模組內部設置有一通信模組231，該通信模組231至少連接有二根以上之天線，本實施例以一產品天線232做為實施例，而該二根天線結構請參閱圖3所示；一非信令測試儀21，係設置有至少二根以上的天線，本實施例以一測試儀天線211做為實施例，而該二根天線結構請參閱圖3所示，對應該待測網通產品23之產品天線232進行信號發送及接收的測試；一屏蔽盒22，對該待測網通產品23整體與該非信令測試儀21之該些天線(211、232)進行屏蔽，使該非信令測試儀21的測試結果不受外界信號所干擾；一集線器24，用以連接該待測網通產品23與該非信令測試儀21，以傳遞該二者之信號，該集線器24連接該待測網通產品23與該非信令測試儀21係為藉由一第一區域網路(LAN)241及一第二區域網路242來實施；一控制及判斷裝置25，與該集線器24連接，並透過該集線器24以接收該待測網通產品23與該非信令測試儀21之信號，並進行信號分析，以判斷該待測網通產品23的該些天線發送及接收是否為良好，該控制及判斷裝置25例如為一個人電腦(PC)、一筆記型電腦(NB)或一平板電腦(Table PC)。

上述該測試儀天線211與該產品天線232透過射頻頻道(RF Channel)方式來進行測試，以量測該測試儀天線、該產品天線(211、232)之間的傳輸位元錯誤率(Bit Error Rate，BET)。

請參閱圖3所示，係為圖2之較詳細的功能方塊示意圖，其係包括有：一非信令測試儀31、一屏蔽盒32、一待測網通產品33(該待測網通產品33包括一通模組331)、一集線器34、一第一區域網路341、一第二區域網路342及一控制及判斷裝置35。其網通產品之測試電路架構與圖2為相似，而差異點在於該非信令測試儀31為設置一第三天線311及一第四天線312；該待測網通產品33為設置第一天線332及第二天線333，而該待測網通產品33設置雙天線是為了符合長期演進技術(Long Term Evolution，LTE)的標準規格，而利用該非信令測試儀31之該第三、四天線(311、312)來同時對該待測網通產品33之該第一、二天線(332、333)來做輻射測試，而該測試關係表即如圖4所示。

請參閱圖5係為本發明網通產品之測試方法流程圖，亦請同時參考圖4的測試關係表，該網通產品之測試方法係為採用一非信令測試方法，該非信令測試方法係為偵測該非信令測試儀與該二根天線的傳輸位元錯誤率為量測參數，而由一控制及判斷裝置藉由一第一區域網路及一第二區域網路分別與一待測網通產品及一非信令測試儀連接，該待測網通產品其內部設置有一無線通信模組並連接二根的產品天線，該非信令測試儀設置有至少二根的測試儀天線，該控制及判斷裝置接收該待測網通產品與該非信令測試儀之信號，並進行信號分析，以判斷該待測網通產品的該些天線發送及接收是否為良好的方法；該方法係包括有下列步驟：(41)一非信令測試儀是否能接收到二根產品天線之其中之一的發射及接收信號，若為是則執行步驟(43)；若為否則執行步驟(42)；(42)一控制及判斷裝置判斷該二根產品天線皆為故障；(43)該非信令測試儀是否能同時接收到該二根產品天線的發射及接收信號，若為是則執行步驟(45)；若為否則執行步驟(44)；(44)該控制及判斷裝置判斷該二根產品天線之其中一根皆為故障，該步驟(44)判別該二根產品天線其中之一第一天線或一第二天線何者為故障時，係為針對該第一天線的發射信號及接收信號來判斷，若該第一天線的發射信號及接收信號皆為良好，即判斷該第二天線為故障；若該第一天線的發射信號及接收信號皆為失敗，即判斷該第二天線為良好；以及(45)該控制及判斷裝置判斷該二根產品天線皆為良品。

請參閱圖6所示，係為本發明多組網通產品之測試電路架構示意圖，圖3所揭露僅為單一待測網通產品的測試電路架構，當然在網通產品製造業並非以單一產品做一逐一測試，而本實施例則為揭露複數組網通產品同時做測試的架構，包括有一非信令測試儀51(該非信令測試儀51連接有複數根第三天線511及複數根第四天線512)、複數個屏蔽盒52、複數個待測網通產品53(該待測網通產品53各包括有一第一天線531及一第四天線532)、一集線器54、一第一區域網路541、一第二區域網路542及複數個控制及判斷裝置55。

藉由上述圖2至圖6的揭露，即可瞭解本發明為一種網通產品之測試電路架構及測試方法，提供一種非信令(Non Signaling)測試方法與結構，與習知之信令測試方法相較，非信令測試方法少了協議棧(Protocol Stack)，不用再經過射頻頻道(RF Channel)，直接通過電腦介面或網路介面與控制端連結，而可有效地掌握測試錯誤，享有更高速的裝置控制，並能快速地配置裝置與測試，降低變更裝置組態所需的時間，此時測量方式亦可在裝置配置前準備妥當，不需再等待連線訊號，以達到測試時間短與測試儀器的成本低之多重優點。於網通產品的製造過程中具有省時及省錢的優勢，故提出專利申請以尋求專利權之保護。

綜上所述，本發明之結構特徵及各實施例皆已詳細揭示，而可充分顯示出本發明案在目的及功效上均深賦實施之進步性，極具產業之利用價值，且為目前市面上前所未見之運用，依專利法之精神所述，本發明案完全符合發明專利之要件。

唯以上所述者，僅為本發明之較佳實施例而已，當不能以之限定本發明所實施之範圍，即大凡依本發明申請專利範圍所作之均等變化與修飾，皆應仍屬於本發明專利涵蓋之範圍內，謹請貴審查委員明鑑，並祈惠准，是所至禱。

11‧‧‧第一電腦

12‧‧‧第一區域網路

13‧‧‧信令測試儀

131‧‧‧第一天線

14‧‧‧屏蔽盒

15‧‧‧網通產品

151‧‧‧通信模組

16‧‧‧第二區域網路

17‧‧‧第二電腦

21、31、51‧‧‧非信令測試儀

211‧‧‧測試儀天線

22、32、52‧‧‧屏蔽盒

23、33、53‧‧‧待測網通產品

231、331‧‧‧通信模組

232‧‧‧第二天線

24、34、54‧‧‧集線器

241、341、541‧‧‧第一區域網路

242、342、542‧‧‧第二區域網路

25、35、55‧‧‧控制及判斷裝置

332、531‧‧‧第一天線

333、532‧‧‧第二天線

311、511‧‧‧第三天線

312、512‧‧‧第四天線

41‧‧‧一非信令測試儀是否能接收到二根產品天線之其中之一的發射及接收信號

42‧‧‧一控制及判斷裝置判斷該二根產品天線皆為故障

43‧‧‧該非信令測試儀是否能同時接收到該二根產品天線的發射及接收信號

44‧‧‧該控制及判斷裝置判斷該二根產品天線之其中一根皆為故障

45‧‧‧該控制及判斷裝置判斷該二根產品天線皆為良品

圖1 係為習知網通產品之測試電路架構的功能方塊示意圖；圖2 係為本發明網通產品之測試電路架構的功能方塊示意圖；圖3 係為圖2之較詳細的功能方塊示意圖；圖4 係為第一天線、第二天線與輻射測試之間的測試關係表；圖5 係為本發明網通產品之測試方法流程圖；圖6 係為本發明多組網通產品之測試電路架構示意圖。

31‧‧‧非信令測試儀

32‧‧‧屏蔽盒

33‧‧‧待測網通產品

331‧‧‧通信模組

34‧‧‧集線器

341‧‧‧第一區域網路

342‧‧‧第二區域網路

35‧‧‧控制及判斷裝置

332‧‧‧第一天線

333‧‧‧第二天線

311‧‧‧第三天線

312‧‧‧第四天線

Claims

一種網通產品之測試電路架構，係包括有：至少一待測網通產品，其內部設置有一無線通信模組，該通信模組連接有至少二根產品天線；一非信令測試儀，係設置有至少二根測試儀天線，並對應該待測網通產品之該些產品天線進行無線信號發送及接收的測試；一屏蔽盒，對該待測網通產品整體與該非信令測試儀之該些產品天線及測試儀天線進行屏蔽，使該非信令測試儀的測試結果不受外界信號所干擾；以及一控制及判斷裝置，與該至少一待測網通產品和該非信令測試儀連接，以接收該至少一待測網通產品與該非信令測試儀之信號，並進行信號分析，以判斷該至少一待測網通產品的該些產品天線發送及接收是否為良好。
如申請專利範圍第1項所述之網通產品之測試電路架構，更包括有：一集線器，用以連接該至少一待測網通產品與該非信令測試儀，以傳遞該二者之信號；以及其中該控制及判斷裝置與該集線器連接，並透過該集線器以接收該至少一待測網通產品與該非信令測試儀之信號，並進行信號分析，以判斷該至少一待測網通產品的該些產品天線發送及接收是否為良好。
如申請專利範圍第1項所述之網通產品之測試電路架構，其中該待測網通產品係由一網通電路模組插置於一電腦界面埠或一網路界面所構成。
如申請專利範圍第3項所述之網通產品之測試電路架構，其中該電腦界面埠係指PCI-E或USB界面。
如申請專利範圍第3項所述之網通產品之測試電路架構，其中該網路界面埠係指RJ45或Homeplug界面。
如申請專利範圍第1項所述之網通產品之測試電路架構，其中該控制及判斷裝置係指一個人電腦、一筆記型電腦或一平板電腦。
如申請專利範圍第1項所述之網通產品之測試電路架構，其中該集線器連接該待測網通產品與該非信令測試儀係為藉由一第一區域網路及一第二區域網路來實施。
一種網通產品之測試方法，由一控制及判斷裝置藉由一第一區域網路及一第二區域網路分別與一待測網通產品及一非信令測試儀連接，該待測網通產品其內部設置有一無線通信模組並連接二根的產品天線，該非信令測試儀設置有至少二根的測試儀天線，該控制及判斷裝置接收該待測網通產品與該非信令測試儀之信號，並進行信號分析，以判斷該待測網通產品的該些天線發送及接收是否為良好的方法；該方法係包括有下列步驟：(A)該非信令測試儀是否能接收到該二根產品天線之其中之一的發射及接收信號，若為是則執行步驟(C)；若為否則執行步驟(B)；(B)該控制及判斷裝置判斷該二根產品天線皆為故障；(C)該非信令測試儀是否能同時接收到該二根產品天線的發射及接收信號，若為是則執行步驟(E)；若為否則執行步驟(D)；(D)該控制及判斷裝置判斷該二根產品天線之其中之一為故障；以及(E)該控制及判斷裝置判斷該二根產品天線皆為良品。
如申請專利範圍第8項所述之網通產品之測試方法，其中該步驟(D)判別該二根產品天線其中之一第一天線或一第二天線何者為故障時，係為針對該第一天線的發射信號及接收信號來判斷，若該第一天線的發射信號及接收信號皆為良好，即判斷該第二天線為故障；若該第一天線的發射信號及接收信號皆為失敗，即判斷該第二天線為良好。
如申請專利範圍第8項所述之網通產品之測試方法，其中該網通產品之測試方法係為採用一非信令測試方法。
如申請專利範圍第10項所述之網通產品之測試方法，其中該非信令測試方法係為偵測該非信令測試儀與該二根產品天線的傳輸位元錯誤率為量測參數。