CN110488176A - 一种集成电路测试板及其使用方法 - Google Patents
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 148
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 13
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims abstract description 27
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 claims description 6
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 4
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 3
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 3
- 235000013399 edible fruits Nutrition 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 2
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 1
- 238000013461 design Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
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Abstract
本发明涉及一种集成电路测试板及其使用方法,属于集成电路测试技术领域。一种集成电路测试板,包括测试控制模块、电源模块、芯片接口模块、通信模块、按键模块、指示模块、主电路板和副电路板;其中电源模块、通信模块、指示模块和按键模块均安装在主电路板上,芯片接口模块安装在副电路板上,主电路板和副电路板通过耐热导线连接,使其他模块均与测试控制模块连接;电源模块将输入电压根据测试要求转换成输出电压,再通过测试控制模块为各模块提供工作电压;待测的集成电路经过芯片接口模块与测试控制模块相连;测试控制模块接受按键模块或通信模块发送的指令对待测集成电路进行测试,并将测试结果输出。本发明结构简单、能降低测试成本。
Description
技术领域
本发明涉及一种集成电路测试板及其使用方法,属于集成电路测试技术领域。
背景技术
集成电路设计完成后要对其进行功能和电气特性测试,测试内容包括对整个集成电路芯片的Functional Test(功能测试,简称FT)测试和Circuit Probing(电气特性测试,简称CP),以及集成电路芯片在高温环境下电流、电压、频率是否稳定的可靠性测试。目前集成电路行业往往针对不同的测试采用不同的测试板,期间需要对集成电路芯片进行多次焊接、插拔,完成整套测试流程非常复杂,并且集成电路芯片在高温箱中进行可靠性测试时难以随时调整设置。
发明内容
本发明的目的是提供一种集成电路测试板及其使用方法,能利用一套测试版完成。
技术方案如下:
一种集成电路测试板,包括测试控制模块、电源模块、芯片接口模块、通信模块、按键模块、指示模块、主电路板和副电路板;其中电源模块、通信模块、指示模块和按键模块均安装在主电路板上,芯片接口模块安装在副电路板上,主电路板和副电路板通过耐热导线连接,使其他模块均与测试控制模块连接;电源模块将输入电压根据测试要求转换成输出电压,再通过测试控制模块为各模块提供工作电压;待测的集成电路经过芯片接口模块与测试控制模块相连;测试控制模块接受按键模块或通信模块发送的指令对待测集成电路进行测试,并将测试结果通过通信模块输出。
进一步地,通信模块包括与PC连接的USB接口及与集成电路专用测试设备连接的专用通信接口,其中USB接口传输测试结果,以对数据进行处理分析和总结;专用通信接口传输控制信号,以实现自动或半自动测试。
进一步地,测试控制模块为单片机,单片机内包括主控单元、主控芯片编程单元、被测片编程单元、电流/电压测试单元、时钟测试单元、PWM测试单元、运放测试单元和I/O口测试单元,主控单元内设置检测程序,通信模块或按键模块通过主控芯片编程单元对主控单元进行修改、调整,以调用被测片编程单元、电流/电压测试单元、时钟测试单元、PWM测试单元、运放测试单元和I/O口测试单元对集成电路进行功能测试和电气特性测试。
进一步地,指示模块包括发光二极管、蜂鸣器、LCD显示屏和数码管,通过数字显示、声音、光直观地表示测试情况。
进一步地,芯片接口模块包括至少一个插座,具有多个插座时每个插座的插针数量不同,范围为8PIN~20PIN。
一种集成电路测试板使用方法,包括如下步骤:
步骤S1:将待测的集成电路根据插针数量选择插入副电路板上的相应的芯片接口模块;
步骤S2:将副电路板放置在高温箱内,主电路板放置在高温箱外,并用耐热电缆连接副电路板和主电路板,用USB线连接主电路板和PC,用数据线连接主电路和集成电路专用测试设备,设置测试内容;
步骤S3:在常温下由主电路板上的测试控制模块对副电路板上的集成电路进行功能及电气特性测试,并通过指示模块直观查看测试情况或通过PC查看详细测试记录;
步骤S4:将高温箱的温度设置到需要的数值,由主电路板上的测试控制模块对副电路板上的集成电路的运行稳定性进行测试,并通过指示模块直观查看测试情况或通过PC查看详细测试记录。
有益效果:
1)本发明能够通过一套测试板对同时满足对一个集成电路进行全套的功能测试、电气特性测试和可靠性测试,结构简单、使用方便、测试成本低。
2)既能通过PC设置后进行测试,也能通过按键模块设置后进行设置。
3)能兼顾现有的硬件设置和测试程序,通过集成电路专用测试设备可以对集成电路芯片进行自动或半自动测试。
附图说明
图1为本发明的整体结构图;
图2为待测集成电路示意图;
图3为测试控制模块结构示意图;
图4本发明使用方法流程图。
其中:1为测试控制模块、2为芯片接口模块、3为电源模块、4为通信模块、5为按键模块、6为指示模块。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明进行详细说明:
如图1和图2所示一种集成电路测试板,包括测试控制模块1、电源模块3、芯片接口模块2、通信模块4、按键模块5、指示模块6、主电路板和副电路板;其中电源模块3、通信模块4、指示模块6和按键模块5均安装在主电路板上,芯片接口模块2安装在副电路板上,主电路板和副电路板通过耐热导线连接,使其他模块均与测试控制模块1连接;电源模块3将输入电压根据测试要求转换成输出电压,再通过测试控制模块1为各模块提供工作电压;待测的集成电路经过芯片接口模块2与测试控制模块1相连;测试控制模块1接受按键模块5或通信模块4发送的指令对待测集成电路进行测试,并将测试结果通过通信模块4输出。
通信模块4包括与PC连接的USB接口及与集成电路专用测试设备连接的专用通信接口,其中USB接口传输测试结果,以对数据进行处理分析和总结;专用通信接口传输控制信号,以实现自动或半自动测试。
如图3所示,测试控制模块1为单片机,单片机内包括主控单元、主控芯片编程单元、被测片编程单元、电流/电压测试单元、时钟测试单元、PWM测试单元、运放测试单元和I/O口测试单元,主控单元内设置检测程序,通信模块4或按键模块5通过主控芯片编程单元对主控单元进行修改、调整,以调用被测片编程单元、电流/电压测试单元、时钟测试单元、PWM测试单元、运放测试单元和I/O口测试单元对集成电路进行功能测试和电气特性测试。
指示模块6包括发光二极管、蜂鸣器、LCD显示屏和数码管,通过数字显示、声音、光直观地表示测试情况。
芯片接口模块2包括至少一个插座,具有多个插座时每个插座的插针数量不同,范围为8PIN~20PIN。
如图4所示,一种集成电路测试板使用方法,包括如下步骤:
步骤S1:将待测的集成电路根据插针数量选择插入副电路板上的相应的芯片接口模块;
步骤S2:将副电路板放置在高温箱内,主电路板放置在高温箱外,并用耐热电缆连接副电路板和主电路板,用USB线连接主电路板和PC,用数据线连接主电路和集成电路专用测试设备,设置测试内容;
步骤S3:在常温下由主电路板上的测试控制模块对副电路板上的集成电路进行功能及电气特性测试,并通过指示模块直观查看测试情况或通过PC查看详细测试记录;
步骤S4:将高温箱的温度设置到需要的数值,由主电路板上的测试控制模块对副电路板上的集成电路的运行稳定性进行测试,并通过指示模块直观查看测试情况或通过PC查看详细测试记录。
实施例:将集成电路插入副电路板上与其插针数量对应的芯片接口模块,也可同时插入几个集成电路,再将副电路板放置在高温箱内,主电路板放置在高温箱外,并用耐热电缆连接副电路板和主电路板,用USB线连接主电路板和PC,用数据线连接主电路和集成电路专用测试设备,根据测试要求设置测试内容,在常温下由主电路板上的测试控制模块对副电路板上的集成电路进行功能及电气特性测试,将高温箱的温度设置到需要的数值,由主电路板上的测试控制模块对副电路板上的集成电路的运行稳定性进行测试,此时可以通过PC或按键模块调整测试内容,并通过指示模块直观查看测试情况或通过PC查看详细测试记录。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用于限制本发明,凡在本发明的原则和精神之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (6)
1.一种集成电路测试板,其特征在于:包括测试控制模块(1)、电源模块(3)、芯片接口模块(2)、通信模块(4)、按键模块(5)、指示模块(6)、主电路板和副电路板;其中电源模块(3)、通信模块(4)、指示模块(6)和按键模块(5)均安装在主电路板上,芯片接口模块(2)安装在副电路板上,主电路板和副电路板通过耐热导线连接,使其他模块均与测试控制模块(1)连接;电源模块(3)将输入电压根据测试要求转换成输出电压,再通过测试控制模块(1)为各模块提供工作电压;待测的集成电路经过芯片接口模块(2)与测试控制模块(1)相连;测试控制模块(1)接受按键模块(5)或通信模块(4)发送的指令对待测集成电路进行测试,并将测试结果通过通信模块(4)输出。
2.如权利要求1所述的集成电路测试板,其特征在于:所述的通信模块(4)包括与PC连接的USB接口及与集成电路专用测试设备连接的专用通信接口,其中USB接口传输测试结果,以对数据进行处理分析和总结;专用通信接口传输控制信号,以实现自动或半自动测试。
3.如权利要求1所述的集成电路测试板,其特征在于:所述的测试控制模块(1)为单片机,单片机内包括主控单元、主控芯片编程单元、被测片编程单元、电流/电压测试单元、时钟测试单元、PWM测试单元、运放测试单元和I/O口测试单元,主控单元内设置检测程序,通信模块(4)或按键模块(5)通过主控芯片编程单元对主控单元进行修改、调整,以调用被测片编程单元、电流/电压测试单元、时钟测试单元、PWM测试单元、运放测试单元和I/O口测试单元对集成电路进行功能测试和电气特性测试。
4.如权利要求1所述的集成电路测试板,其特征在于:所述的指示模块(6)包括发光二极管、蜂鸣器、LCD显示屏和数码管,通过数字显示、声音、光直观地表示测试情况。
5.如权利要求1所述的集成电路测试板,其特征在于:所述的芯片接口模块(2)包括至少一个插座,具有多个插座时每个插座的插针数量不同,范围为8PIN~20PIN。
6.一种集成电路测试板使用方法,包括如下步骤:
步骤S1:将待测的集成电路根据插针数量选择插入副电路板上的相应的芯片接口模块;
步骤S2:将副电路板放置在高温箱内,主电路板放置在高温箱外,并用耐热电缆连接副电路板和主电路板,用USB线连接主电路板和PC,用数据线连接主电路和集成电路专用测试设备,设置测试内容;
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Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN201910713484.7A CN110488176A (zh) | 2019-08-02 | 2019-08-02 | 一种集成电路测试板及其使用方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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CN201910713484.7A CN110488176A (zh) | 2019-08-02 | 2019-08-02 | 一种集成电路测试板及其使用方法 |
Publications (1)
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---|---|
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Family
ID=68549224
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN201910713484.7A Pending CN110488176A (zh) | 2019-08-02 | 2019-08-02 | 一种集成电路测试板及其使用方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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PB01 | Publication | ||
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SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
CB02 | Change of applicant information | ||
CB02 | Change of applicant information |
Address after: Room 906b, area B, 9 / F, building 1, Zhangjiang jidiangang, 3000 Longdong Avenue, Pudong New Area, Shanghai, 200120 Applicant after: Shanghai Xinwang Microelectronics Technology Co.,Ltd. Address before: Room 906b, area B, 9 / F, building 1, Zhangjiang jidiangang, 3000 Longdong Avenue, Pudong New Area, Shanghai, 200120 Applicant before: SHANGHAI CHIPON MICRO ELECTRONIC TECHNOLOGY CO.,LTD. |
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RJ01 | Rejection of invention patent application after publication | ||
RJ01 | Rejection of invention patent application after publication |
Application publication date: 20191122 |