CN208654638U - 单片机功能测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型一种单片机功能测试装置，包括直流稳压电源、测试主板、测试转接板、用于安装待测单片机的芯片测试座和控制计算机，芯片测试座安装在测试转接板上，测试转接板经转接接插件连接到测试主板上，待测单片机与控制计算机连接，测试主板上有DC‑DC数字电源、矩阵键盘、控制开关、发光二极管阵列、IIC总线存储器、显示屏和数码管，DC‑DC数字电源、矩阵键盘、控制开关、发光二极管阵列、IIC总线存储器、显示屏和数码管与待测单片机连接，直流稳压电源与DC‑DC数字电源连接。为确保产品的质量，对准备进入生产线的单片机芯片进行抽样测试，确保芯片合格率，实现芯片焊装前的无损检测，且该测试装置具有通用性。
Description
技术领域
本实用新型涉及单片机功能测试技术领域，特别是涉及一种单片机C8051F020/21功能测试装置。
背景技术
目前多数产品使用的单片机为C8051F020/ C8051F021，这两种芯片功能多，管脚多且间距小，测试困难，在生产阶段都是采取试用的办法，一旦芯片存在质量问题，取芯片的过程往往会损坏电路板。
实用新型内容
本实用新型针对现有技术存在的问题和不足，提供一种新型的单片机功能测试装置。
本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题的：
本实用新型提供一种单片机功能测试装置，其特点在于，其包括直流稳压电源、测试主板、测试转接板、用于安装待测单片机的芯片测试座和控制计算机，所述芯片测试座安装在测试转接板上，所述测试转接板经转接接插件连接到测试主板上，所述待测单片机与控制计算机通讯连接，所述测试主板上设有DC-DC数字电源、矩阵键盘、控制开关、发光二极管阵列、IIC总线存储器、显示屏和数码管，所述DC-DC数字电源、矩阵键盘、控制开关、发光二极管阵列、IIC总线存储器、显示屏和数码管均与待测单片机电连接，所述直流稳压电源与DC-DC数字电源电连接。
较佳地，所述单片机功能测试装置还包括壳体，所述测试主板、DC-DC数字电源和IIC总线存储器封装在壳体内，所述测试转接板、芯片测试座、矩阵键盘、控制开关、发光二极管阵列、显示屏和数码管嵌设于壳体上。
较佳地，所述显示屏为LCD。
较佳地，所述芯片测试座可拆卸地安装在测试转接板上。
较佳地，所述测试主板上还设有串口通讯模块，所述待测单片机通过串口通讯模块与控制计算机通讯连接。
在符合本领域常识的基础上，上述各优选条件，可任意组合，即得本实用新型各较佳实例。
本实用新型的积极进步效果在于：
本实用新型为了确保生产产品的质量，对准备进入生产线的单片机芯片进行抽样测试，确保芯片的合格率，实现芯片焊装前的无损检测，且本实用新型的测试装置具有通用性。
附图说明
图1为本实用新型较佳实施例的单片机功能测试装置的结构原理图。
图2为本实用新型较佳实施例的单片机功能测试装置的结构示意图。
具体实施方式
下面详细描述本实用新型的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本实用新型，而不能理解为对本实用新型的限制。相反，本实用新型的实施例包括落入所附加权利要求书的精神和内涵范围内的所有变化、修改和等同物。
如图1和图2所示，本实施例提供了一种单片机功能测试装置，其包括直流稳压电源1、测试主板2、测试转接板3、用于安装待测单片机4的芯片测试座5和控制计算机6，所述芯片测试座5安装在测试转接板3上，所述测试转接板3经转接接插件连接到测试主板2上，所述测试主板2上设有DC-DC数字电源7、矩阵键盘8、控制开关9、发光二极管阵列10、IIC总线存储器11、显示屏12、数码管13和串口通讯模块14，所述DC-DC数字电源7、矩阵键盘8、控制开关9、发光二极管阵列10、IIC总线存储器11、显示屏12和数码管13均与待测单片机4电连接，所述直流稳压电源1与DC-DC数字电源7电连接，所述待测单片机4通过串口通讯模块14与控制计算机6通讯连接。
而且，所述单片机功能测试装置还包括壳体15，所述测试主板2、DC-DC数字电源7和IIC总线存储器11封装在壳体15内，所述测试转接板3、芯片测试座5、矩阵键盘8、控制开关9、发光二极管阵列10、显示屏12和数码管13嵌设于壳体15上。
其中，所述显示屏12为LCD，所述芯片测试座5可拆卸地安装在测试转接板3上。
将待测单片机4（C8051F020）安装到芯片测试座5上，控制计算机6将编写的程序通过程序烧写器16烧录至C8051F020单片机中。在C8051F020单片机功能测试装置上，控制开关9由3个自锁按键组成。在测试时，使用控制开关9输入操作指令实现测试功能切换，根据C8051F020单片机的真值表，设计向量，对C8051F020单片机的逻辑功能进行测试，测试后在显示屏12和/或数码管13上显示功能测试结果。
本方案针对热像仪用主系列单片机C8051F020/21的主要功能测试开展工作，通过本方案实施，实现单片机C8051F020/21以下功能验证： I/O功能、双串口功能、A/D功能、MEMORY功能。
I/O功能的测试包括两种模式：上拉电阻模式下输入输出和推挽输出。上拉电阻模式可以通过矩阵键盘8进行测试，推挽输出则通过发光二极管阵列10进行测试。双串口功能通过调用待测单片机内部的两个串口与控制计算机6通信进行测试，AD模数转换通过模拟电压输入17并调用待测单片机内部的12位AD进行测试，MEMORY功能通过调用待测单片机内部IIC总线单元与外部IIC总线存储器11通信进行测试，测试结果通过显示屏12和数码管13进行显示。
单片机型号的更换通过不同的测试转接板实现。为了实现平台的通用性，测试主板与测试转接板相连的地方采用两个64芯接插件，共128个管脚，可以兼容大多数单片机。
为了实现芯片的无损测试，C8051F020单片机对应的芯片测试座采用100pin，C8051F021单片机对应的芯片测试座采用64pin，为了适应不同的芯片测试座，设计了不同的测试转接板。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同限定。
Claims (5)
1.一种单片机功能测试装置，其特征在于，其包括直流稳压电源、测试主板、测试转接板、用于安装待测单片机的芯片测试座和控制计算机，所述芯片测试座安装在测试转接板上，所述测试转接板经转接接插件连接到测试主板上，所述待测单片机与控制计算机通讯连接，所述测试主板上设有DC-DC数字电源、矩阵键盘、控制开关、发光二极管阵列、IIC总线存储器、显示屏和数码管，所述DC-DC数字电源、矩阵键盘、控制开关、发光二极管阵列、IIC总线存储器、显示屏和数码管均与待测单片机电连接，所述直流稳压电源与DC-DC数字电源电连接。
2.根据权利要求1所述的单片机功能测试装置，其特征在于，所述单片机功能测试装置还包括壳体，所述测试主板、DC-DC数字电源和IIC总线存储器封装在壳体内，所述测试转接板、芯片测试座、矩阵键盘、控制开关、发光二极管阵列、显示屏和数码管嵌设于壳体上。
3.根据权利要求1所述的单片机功能测试装置，其特征在于，所述显示屏为LCD。
4.根据权利要求1所述的单片机功能测试装置，其特征在于，所述芯片测试座可拆卸地安装在测试转接板上。
5.根据权利要求1所述的单片机功能测试装置，其特征在于，所述测试主板上还设有串口通讯模块，所述待测单片机通过串口通讯模块与控制计算机通讯连接。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201821674803.5U CN208654638U (zh) | 2018-10-16 | 2018-10-16 | 单片机功能测试装置 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
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| CN208654638U true CN208654638U (zh) | 2019-03-26 |
Family
ID=65774760
Family Applications (1)
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Country Status (1)
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| CN (1) | CN208654638U (zh) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110488176A (zh) * | 2019-08-02 | 2019-11-22 | 上海芯旺微电子技术有限公司 | 一种集成电路测试板及其使用方法 |
| CN116991640A (zh) * | 2023-06-21 | 2023-11-03 | 深圳市晶存科技有限公司 | 脱机测试方法及其装置、电子设备、存储介质 |
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2018
- 2018-10-16 CN CN201821674803.5U patent/CN208654638U/zh active Active
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