TWI397689B - 電連接器測試系統 - Google Patents

Description

電連接器測試系統

本發明涉及一種測試系統，尤其涉一種電連接器測試系統。

電連接器廣泛地應用於電腦、個人數位助理、筆記型電腦、行動電話等電子產品中，用於提供電子裝置之間的電性連接及信號傳輸。為了確保產品性能及品質，在電子產品開發階段需反復測試電連接器的連接性能。

通常地，用於測試電連接器的測試系統包括電路板和測試儀器，待測電連接器固定於該電路板上。待測電連接器通常包括絕緣殼體及複數導電端子，絕緣殼體具有一空腔，導電端子被收容於空腔。其中，導電端子的一端與電路板電性連接，另一端裸露於空腔中。測試儀器具有夾式和探針式兩種測試頭。測試時，將夾式測試頭或探針式測試頭插入電連接器的空腔中，並分別夾住或接觸導電端子裸露於空腔中的一端，使導電端子和測試頭電性連接，從而建立待測電連接器的導電端子與測試儀器之間的電連接關係；接著在電路板上加電平信號，即可以在待測電連接器的導電端子上輸出相應的信號；然後執行測試。

採用上述測試系統，當使用夾式測試頭時，由於待測電連接器的導電端子排列比較緊湊，導電端子間距較小，不容易準確地夾住。而當使用上述探針式測試頭時，一方面探針式測試頭往往會在導電端子上打滑，從而會造成不同程度的干擾信號。另外，使用上述兩種測試方式稍有不慎還會使導電端子短接，從而對待測電連接器產生誤測。

有鑒於此，有必要提供一種準確地測試電連接器的電連接器測試系統。

一種電連接器測試系統，包括用於測試待測電連接器的測試儀器，待測電連接器具有複數導電端子，測試儀器具有測試頭，測試頭用於與該導電端子電性連通。電連接器測試系統還包括一連接裝置，連接裝置包括第一連接元件及與至少一第二連接元件。該第一連接元件包括絕緣殼體及容置於絕緣殼體中的至少一導電體。每一導電體用於與該待測電連接器的一導電端子對應電性連接。每一第二連接元件用於電性連接該測試頭和對應的導電體。

上述電連接器測試系統由於使用了連接裝置，而不需要將測試頭與待測試電連接器的導電端子直接接觸，避免了導電端子短接而產生誤測。

100‧‧‧電連接器測試系統

20‧‧‧測試儀器

22‧‧‧測試頭

10‧‧‧待測電連接器

12‧‧‧導電端子

30‧‧‧連接裝置

32‧‧‧第一連接元件

34‧‧‧第二連接元件

50‧‧‧電路板

36‧‧‧導電體

38‧‧‧絕緣殼體

40‧‧‧收容孔

42‧‧‧對接部

44‧‧‧轉接部

340‧‧‧導線

342‧‧‧插接部

344‧‧‧導體件

346‧‧‧插孔

380‧‧‧頸部

382‧‧‧第一端部

384‧‧‧第二端部

386‧‧‧間隙

420‧‧‧底板

422、424‧‧‧側面

426‧‧‧狹縫

428a、428b‧‧‧接觸臂

440‧‧‧圓週壁

442‧‧‧收容腔

444‧‧‧缺口

圖1為一較佳實施方式的電連接器測試系統的總體結構圖。

圖2為圖1所示連接裝置立體分解圖。

圖3為圖2所示第一連接元件的立體分解圖。

請參看圖1，一較佳實施方式的電連接器測試系統100，包括電路板50、測試儀器20及連接裝置30。其中，待測電連接器10固定於電路板50上。待測電連接器10具有複數導電端子12，其一端與電路板50電性連通。測試儀器20具有探針式測試頭22。

連接裝置30包括第一連接元件32和兩個第二連接元件34。第一連接元件32電性連接導電端子12，每一第二連接元件34都分別電性連接至第一連接元件32以及測試頭22。即導電端子12和測試頭22籍由連接裝置30的第一連接 元件32及第二連接元件34建立電性連通。

請結合參看圖2及圖3，第一連接元件32包括兩個導電體36和絕緣殼體38。絕緣殼體38並排設有兩個收容孔40。導電體36則與收容孔40對應排配，並容置於對應的收容孔40中。

每一導電體36包括一體形成的對接部42和轉接部44。對接部42用於與導電端子12對接，其包括一連接轉接部44的底板420。自底板420的兩側向上延伸出兩側板422和424，且側板422和424靠近轉接部44的一端與底板420之間設置有狹縫426，從而形成懸空的接觸臂428a和428b。接觸臂428a和428b相對折彎設置而呈燕尾狀。當導電端子12與對接部32對接而插入接觸臂428a和428b相對折彎處時，接觸臂428a和428b相背移動而彈性張開一定角度，從而使接觸臂428a和428b的折彎處彈性夾住導電端子12，利於對接部42與待測電連接器10的導電端子12穩定接觸。

轉接部44呈圓筒狀，其包括圓周壁440及形成於圓周壁440內圓周面的收容腔442。圓周壁440沿著中心軸線開設與收容腔442相通的缺口444，使圓周壁440可以隨著缺口444的向外擴張而產生彈性形變。

絕緣殼體38基本呈長方體，其設有一凹陷頸部380從而把絕緣殼體38分割成長短不相同的第一端部382及第二端部384。兩個收容孔40分別貫穿於整個絕緣殼體38，具體地，每一收容孔40由貫穿於第一端部382及頸部380的方形孔及第二端部384的圓形孔組成。每一收容孔40容置一個導電體36，並且收容孔40的方形孔和圓形孔分別與每個導電體36的對接部42和轉接部44的對應，也就是說收容孔40的內部形狀與導電體36的形狀相匹配，從而減小第一元件32的體積並更好地固定導電體36。另外，各個收容孔40之間留有間隙386，使各收容孔40之間互不連通，從而分隔導電體36，進而使各導電體36之間不連通。

每一第二連接元件34分別與一對應的導電體36電性連接。第二連接元件34包括導線340，以及設於導線340兩端的插接部342及導體件344。插接部342為圓柱體，並插入收容腔442中，且其直徑比收容腔442的內徑稍大。當插接部342插入收容腔442時，因為插接部342的直徑比收容腔442的內徑大，所以缺口444被迫向外擴張而使圓周壁440發生彈性形變，從而使插接部342的外表面與圓周壁440的內圓周面緊密配合，利於第二連接元件34與導電體36可靠地電性連接。導體件344設有插孔346，在本實施例中，因為測試頭22為探針式，所以將測試頭22插入插孔346中，即可以使測試頭22與導體件344電性連通，並防止測試頭22在導體件344上發生滑動。

應用電連接器測試系統100測試待測電連接器10時，首先將第一連接元件32與待測電連接器10的導電端子12對接，也就是使導電端子12插入導電體36的對接部42中，並籍由接觸臂428a和428b的燕尾狀結構固定住導電端子12；接著將第二連接元件34連接至第一連接元件32，也就是使第二連接元件34的插接部342插入對應的導電體36的轉接部44，並與收容腔442接合；最後將第二連接元件34連接至測試頭22，也就是使測試頭22插入導體件344的插孔346中，從而使得導電端子12籍由連接裝置30的第一連接元件32及第二連接元件34與測試頭22建立電性連通，即可以對待測電連接器10進行測試。

可以理解，在其他實施例中，插接部342可以為方柱體或其他形狀，而收容腔442設置成相應的方柱狀或其他形狀，即使得收容腔442的形狀與插接部342的外表形狀相匹配，從而可以確保第一連接元件32和第二連接元件可靠地電性連接。可以另外，在其他實施例中，測試頭22可能為夾式測試頭，應將測試頭22夾住導體件344，即可以使測試頭22與導體件344電性連通。

在本實施例中，因為第一連接元件32設置了兩個導電體36和相同數目的第 二連接元件34，所以一次可測試待測電連接器10的兩個導電端子12。在其他實施例中，也可以根據待測電連接器10的導電端子12數目，設置相同數目的導電體36，並依據待測電連接器10的類型，可以有相同數目或少於該數目的第二連接元件34。由此，對於每個導電端子12都有一個對應的導電體36，但對於每個導電體36並不是都有一個對應的第二連接元件34，即由於每個導電端子32不總是需要測試，因此第二連接元件34僅選擇與需要測試的導電端子12所對應的導電體36電性相連，從而一次可以測試全部的或部分的導電端子12。

綜上所述，電連接器測試系統100中應用了連接裝置30，由於第一連接元件32具有絕緣外殼38以及絕緣外殼38的收容孔40互不連通，確保了測試時待測電連接器10的導電端子12不會產生短接；此外，第二連接器34的導體件344上設有插孔346，可以將探針式測試頭22插入插孔346中，避免在測試過程中用手捏拿探針式測試頭22探測信號的現象。因此，使用上述連接裝置30可以準確而方便地對待測電連接器10進行測試，提高了測試效率。

綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之較佳實施例，舉凡熟悉本案技藝之人士，在援依本案創作精神所作之等效修飾或變化，皆應包含於以下之申請專利範圍內。

100‧‧‧電連接器測試系統

10‧‧‧待測電連接器

12‧‧‧導電端子

20‧‧‧測試儀器

22‧‧‧測試頭

30‧‧‧連接裝置

32‧‧‧第一連接元件

34‧‧‧第二連接元件

50‧‧‧電路板

340‧‧‧導線

342‧‧‧插接部

344‧‧‧導體件

346‧‧‧插孔

Claims (11)

1. 一種電連接器測試系統，包括用於測試待測電連接器的測試儀器，該待測電連接器具有複數導電端子，該測試儀器具有測試頭，該測試頭用於與該導電端子電性連通，其改良在於：該電連接器測試系統還包括一連接裝置，該連接裝置包括第一連接元件及與至少一第二連接元件，該第一連接元件包括絕緣殼體及容置於該絕緣殼體中的至少一導電體，每一導電體用於與該待測電連接器的一導電端子對應電性連接，每一第二連接元件用於電性連接該測試頭和對應的導電體。
2. 如申請專利範圍第1項所述之電連接器測試系統，其中所述絕緣殼體並排設有複數貫穿於所述絕緣殼體之收容孔，每一收容孔容置一所述導電體。
3. 如申請專利範圍第2項所述之電連接器測試系統，其中所述收容孔之間具有間隙。
4. 如申請專利範圍第2項所述之電連接器測試系統，其中所述導電體包括一體形成的對接部及轉接部，所述對接部具有相對折彎設置的兩接觸臂用於彈性夾住所述待測電連接器的導電端子，所述轉接部用於與所述第二連接元件電性連接。
5. 如申請專利範圍第4項所述之電連接器測試系統，其中該第二連接元件包括導線以及設於該導線兩端的插接部和導體件，該插接部與該轉接部插接，該導體件用於與該測試頭電性連接。
6. 如申請專利範圍第5項所述之電連接器測試系統，其中該轉接部包括插槽，該插接部包括與該插槽配合的插頭。
7. 如申請專利範圍第5項所述之電連接器測試系統，其中該轉接部包括插頭 ，該插接部包括與該插頭配合的插槽。
8. 如申請專利範圍第5項所述之電連接器測試系統，其中該轉接部為一圓筒，該插接部為一圓柱。
9. 如申請專利範圍第8項所述之電連接器測試系統，其中該圓筒沿著其圓周壁的軸線開設一缺口。
10. 如申請專利範圍第9項所述之電連接器測試系統，其中該圓柱的直徑大於該圓筒的內徑。
11. 如申請專利範圍第5項所述之電連接器測試系統，其中該導體件上設有一插孔，該插孔用於供該測試頭插入。