CN215180311U - 一种测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型揭示了一种测试装置，用于对被测件进行测试，测试装置包括基座、至少一个弹性接触件和至少一个连接器，基座设有至少一个装配孔，每个装配孔内装配弹性接触件，每个弹性接触件的一端与连接器电性连接，每个弹性接触件的另一端与被测件电性连接。本实用新型采用弹性接触件与被测件进行电性连接，避免测试装置与被测件硬接触，提高了测试装置的使用寿命。

Description

一种测试装置

技术领域

本实用新型涉及测试技术领域，尤其是涉及一种用于对环形器或隔离器进行测试的测试装置。

背景技术

在移动通信中，环形器与隔离器被广泛使用，其中，环形器是一种多端口器件，用于将进入其任意一个端口的入射波，按照由静偏磁场确定的方向顺序传入下一个端口，而隔离器通常用于信号的隔离。

环形器、隔离器在使用时需要对其指标进行测试，如测试其插入损耗、驻波比等等。随着对环形器、隔离器测试要求的不断提升，对测试其指标的测试工装或装置的要求也不断提升。传统的测试工装或装置中，没有采用弹性探针，探针与被测件属于硬接触，如中国实用新型专利CN203929905U公开的一种环形器及隔离器测试装置，包括底座及连接器，底座上设有用于安装PC板的第一定位孔和第二定位孔，其中，第一定位孔连接第二PC板、第二定位孔连接第一PC板，第一PC板和第二PC主要用于压紧环形器或者隔离器的引脚，也即在对环形器或者隔离器进行测试时采用硬接触的方式实现电连接。由于采用硬接触的方式进行电连接，在多次测试过后容易导致探针损坏，降低了测试工装或装置的使用寿命，影响测试结果。

另外，在一些测试工装或者装置中，利用微带线进行测试，如中国实用新型专利CN207636708U公开的一种环形器/隔离器测试工装，包括接地板、PCB板、可调电容和高频连接器，PCB板上设有微带电路，微带电路的一端与高频连接器插芯电连接，微带电路的另一端设有焊盘，可调电容的一端与微带电路电连接，可调电容的另一端与PCB板上的接地线。由于微带线的带宽有限，对于不同的客户可能使用的频带不同，因而需要使用不同的测试工装或者装置，使得采用微带线的测试工装或装置的通用性差。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种使用寿命长的测试装置，并进一步提供一种带宽大、通用性高的测试装置。

为实现上述目的，本实用新型提出如下技术方案：一种测试装置，其用于对被测件进行测试，所述测试装置包括基座、至少一个弹性接触件和至少一个连接器，所述基座设有至少一个装配孔，每个所述装配孔内装配所述弹性接触件，每个所述弹性接触件的一端与所述连接器电性连接，每个所述弹性接触件的另一端与所述被测件电性连接。

优选地，所述测试装置还包括至少一个电连接件，每个所述弹性接触件通过所述电连接件与对应的所述连接器电性连接。

优选地，所述连接器为同轴连接器，所述电连接件为同轴电缆。

优选地，所述弹性接触件包括导电件、接触件和弹性件，所述导电件设有沿轴向延伸的一端开口的收容槽，所述弹性件收容于所述收容槽内，所述接触件的一端穿过所述开口伸入所述收容槽中并与所述弹性件相抵接，所述接触件的另一端位于所述收容槽外且伸出所述装配孔。

优选地，所述导电件的外侧壁设有第一限位台阶结构，所述导电件通过所述第一限位台阶结构限位于所述装配孔内。

优选地，所述导电件还包括自所述收容槽的开口端沿轴向延伸形成的多个弹性接触部，多个所述弹性接触部向中心聚拢形成供所述接触件进入所述收容槽内的通孔，所述通孔的内径尺寸小于所述接触件的外径尺寸。

优选地，所述接触件包括头部、尾部及连接所述头部与所述尾部的中间部，所述中间部的外壁面呈内凹的弧状，所述中间部包括靠近所述头部的第一端部、靠近所述尾部的第二端部及连接所述第一端部与所述第二端部的连接部，所述连接部的外径小于所述第一端部、所述第二端部的外径，初始状态下，所述弹性接触部与所述连接部配合。

优选地，所述接触件的外侧壁于所述尾部与所述中间部连接交汇处形成有第二限位台阶结构，所述第二限位台阶结构用于与所述弹性接触部的端部配合。

优选地，所述弹性接触件与所述装配孔同轴设置。

优选地，所述基座包括相连的基体部和定位部，所述基体部设置所述装配孔，所述定位部设有定位孔，所述弹性接触件安装于所述装配孔内，所述被测件定位于所述定位孔中。

本实用新型的有益效果是：

(1)通过采用弹性接触件与被测件进行电性连接，避免测试装置与被测件硬接触，提高了测试装置的使用寿命，同时，弹性接触件具有很好的电性能，提高测试的稳定性。

(2)通过采用同轴结构与弹性接触件电性连接，也即采用同轴连接器和同轴电缆与弹性接触件电性连接，使用频段为同轴类产品的全频段范围，具有带宽大、通用性高的优点，可满足不同的客户使用需求。

附图说明

图1是基座为圆形时测试装置的立体示意图；

图2是图1中测试装置的爆炸示意图；

图3是测试装置的部分剖视示意图；

图4是弹性接触件各部件分离后的剖视示意图；

图5是被测件的立体示意图；

图6是基座为方形时测试装置的立体示意图；

图7是图6中测试装置的爆炸示意图。

附图标记：10、基座，10a、基体部，10b、定位部，11、装配孔，12、定位孔，20、弹性接触件，21、导电件，21a、第一本体部，21b、第二本体部，21c、第一限位台阶结构，21d、端部，211、收容槽，212、弹性接触部，213、开槽，214、通孔，22、接触件，221、头部，222、尾部，223、中间部，223a、第一端部，223b、第二端部，223c、连接部，224、第二限位台阶结构，23、弹性件，30、连接器，40、电连接件，a、被测件，b、金属接触部。

具体实施方式

下面将结合本实用新型的附图，对本实用新型实施例的技术方案进行清楚、完整的描述。

结合图1～图7所示，本实用新型所揭示的一种测试装置，用于对被测件a进行测试，被测件a包括但不限于环形器、隔离器。测试装置包括基座10、至少一个弹性接触件20、至少一个连接器30及电连接件40，其中，基座10上设有至少一个用于安装弹性接触件20的装配孔11，当设置多个装配孔11时，多个装配孔11沿基座10的周向间隔分布，每个装配孔11内装配弹性接触件20，每个弹性接触件20的一端与连接器30电性连接，每个弹性接触件20的另一端与所述被测件a电性连接。基座10的形状可根据实际需求进行设置，如设置为规则或者不规则形状，如图1与图2所示，基座10的形状呈圆形，如图6与图7所示，基座10的形状呈矩形。本实施例中，多个装配孔11沿基座10的周向均匀分布，当然，在其他实施例中，可根据实际需求进行合理设置。

结合图2、图5和图7所示，基座10包括相连的基体部10a与定位部10b，基体部10a设置所述装配孔11，定位部10b设有用于装配被测件a并对其进行定位的定位孔12，弹性接触件20安装于装配孔11中。实施时，被测件a装配于定位孔12中，装配到位后，被测件a的金属接触部b与对应的弹性接触件20实现电性连接。定位孔12的形状由被测件a确定，本实施例中，由于被测件a呈矩形，因而定位孔12呈矩形。

本实施例中，基体部10a与定位部10b采用分体式设计，定位部10b可通过多种方式与基体部10a可拆卸地连接，如通过螺栓进行可拆卸地连接，也可通过其他方式，如卡扣结构进行可拆卸地连接等，根据实际需求进行选择。在将定位部10b与基体部10a进行连接时，还可通过定位柱(图未示)对定位部10b进行导向、定位处理。当然，在其他实施例中，基体部10a与定位部10b也可一体成型。

结合图2、图5和图7所示，每个装配孔11内安装一弹性接触件20，弹性接触件20与装配孔11同轴设置，每个弹性接触件20通过电连接件40与一连接器30电性连接。实施时，被测件a装配至定位部10b的定位孔12中，弹性接触件20与被测件a上的金属接触部b相接触，金属接触部b如金属触点或金属柱等，实现与被测件a的电性连接，进而可对被测件a进行相应的测试。通过采用弹性接触件20与被测件a接触，避免了测试装置与被测件a硬接触，提高了测试装置的使用寿命。本实施例中，连接器30和电连接件40的数量可依据被测件的金属接触部b进行确定，在确定连接器30和电连接件40的数量后，弹性接触件20的数量也可确定。由于被测件a多为三端口器件，因此，连接器30和电连接件40的数量优选为3个。

结合图1～图2、图6～图7所示，弹性接触件20通过电连接件40与对应的连接器30电性连接，连接器30优选采用同轴连接器，电连接件40优选采用同轴电缆。具体地，同轴连接器包括外导体(图未示)、内导体(图未示)和绝缘体(图未示)，内导体设于外导体内，并与外导体同轴设置，绝缘体位于内导体和外导体之间。同轴电缆包括由内向外设置的内导体层(图未示)、绝缘介质层(图未示)、屏蔽层(图未示)和保护层(图未示)，内导体层与绝缘介质层之间、绝缘介质层与屏蔽层之间及屏蔽层与保护层之间同轴设置。本实施例中，弹性接触件20通过电连接件40与对应的连接器30电性连接，也即弹性接触件20与连接器30间接连接，实施时，当弹性接触件20通过同轴电缆与同轴连接器电性连接时，弹性接触件20与同轴电缆的内导体电性连接，同轴电缆的内导体进一步与同轴连接器的内导体电性连接。通过采用同轴电缆及同轴连接器，可使其适用不同的频段，满足不同的客户使用需求，提高测试装置的通用性。在其他实施例中，弹性接触件20与连接器30可直接连接，如连接器30可直接安装固定于基座10，如每个装配孔11处通过螺栓固定等方式安装一连接器30，装配孔11内的弹性接触件20进一步与连接器30直接电性连接，当弹性接触件20与同轴连接器直接连接时，弹性接触件20与同轴连接器的内导体电性连接。

结合图3、图4和图5所示，弹性接触件20包括导电件21、接触件22和弹性件23，其中，导电件21包括相连的第一本体部21a和第二本体部21b，第一本体部21a设有一端开口的收容槽211，弹性件23安装于收容槽211内，第一本体部21a的外径尺寸大于第二本体部21b的外径尺寸，导电件21的外侧壁于第一本体部21a与第二本体部21b连接交汇处形成有第一限位台阶结构21c，该第一限位台阶结构21c用于在导电件21装配至装配孔11中后将导电件21限位于装配孔11中，防止导电件21移动。当然，在其他实施例中，也可以设置成第二本体部21b的外径尺寸大于第一本体部21a的外径尺寸，第一本体部21a与第二本体部21b连接交汇处形成该第一限位台阶结构21c。

接触件22为柱状结构，其一端伸入收容槽211内并与弹性件23相抵接。实施时，当被测件a装配至定位部10b的定位孔12后，接触件22与被测件a上的金属接触部b接触后，接触件22受到相应的作用力，接触件22向收容槽211内移动并抵压弹性件23，使弹性件23产生相应的形变，进而避免了接触件22与被测件a的硬接触，提高测试装置的使用寿命。在完成测试后，接触件22在弹性件23的作用下复位。

本实施例中，弹性件23优选弹簧，弹性接触件20的使用寿命主要依赖于弹簧的压缩寿命。由于弹簧的压缩寿命较长且容易更换，因而测试装置的使用寿命也较长。当然，在其他实施例中，弹性件23也可以采用弹片，可根据实际需求进行选择。

结合图4和图5所示，为了提高弹性接触件20的电性能，导电件21还包括自收容槽221的开口端沿轴向延伸形成的多个弹性接触部212，相邻两个弹性接触部212之间形成有开槽213，多个弹性接触部212向中心聚拢形成有通孔214，通孔214的内径尺寸小于接触件22的外径尺寸，接触件22的一端可穿过通孔214伸入收容槽211内。实施时，当通孔214的内径尺寸小于接触件22的外径尺寸时，在接触件22的一端通过通孔214伸入收容槽211的过程中，多个弹性接触部212发生弹性形变，其向外扩张，多个弹性接触部212在形变力的作用下与接触件22紧密接触，获得良好的电性能。

进一步地，接触件22包括头部221、尾部222及连接头部221与尾部222的中间部223，中间部223的外壁面呈内凹的弧状，中间部223包括靠近头部221的第一端部223a、靠近尾部222的第二端部223b及连接第一端部223a与第二端部223b的连接部223c，连接部223c的外径小于第一端部223a、第二端部223b的外径。初始状态时，接触件22的头部221位于收容槽211内，导电件21的弹性接触部212与弧状中间部223的连接部223c配合，接触件22的尾部222露出基体部10a的装配孔11。实施时，被测件a的金属接触部b与接触件22的尾部222抵接后，接触件22在被测件a的抵压下向收容槽211内部方向移动，在此过程中，接触件22的中间部223的弧形壁面具有引导作用，以引导导电件21的弹性接触部212慢慢向外扩张到合适的外径，当被测件a将接触件22完全顶入装配孔11后，导电件21的弹性接触部212与弧状中间部223的第二端部223b紧密接触，从而得到良好的电性能。接触件22的外侧壁于第二端部223b与尾部222连接交汇处形成有第二限位台阶结构224，在被测件a将接触件22完全顶入装配孔11后，该第二限位台阶结构224与导电件21的弹性接触部212的端部21d配合。

本实用新型所述的测试装置，通过采用弹性接触件20与被测件a进行电性连接，避免测试装置与被测件a硬接触，提高了测试装置的使用寿命，同时，弹性接触件20具有很好的电性能，提高测试的稳定性。

另外，本实用新型所述的测试装置，通过采用同轴结构，也即采用同轴连接器和同轴电缆，使用频段为同轴类产品的全频段范围，可满足不同的客户使用需求，提高通用性。

本实用新型的技术内容及技术特征已揭示如上，然而熟悉本领域的技术人员仍可能基于本实用新型的教示及揭示而作种种不背离本实用新型精神的替换及修饰，因此，本实用新型保护范围应不限于实施例所揭示的内容，而应包括各种不背离本实用新型的替换及修饰，并为本专利申请权利要求所涵盖。

Claims (10)

1.一种测试装置，其用于对被测件进行测试，其特征在于：所述测试装置包括基座、至少一个弹性接触件和至少一个连接器，所述基座设有至少一个装配孔，每个所述装配孔内装配所述弹性接触件，每个所述弹性接触件的一端与所述连接器电性连接，每个所述弹性接触件的另一端与所述被测件电性连接。

2.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述测试装置还包括至少一个电连接件，每个所述弹性接触件通过所述电连接件与对应的所述连接器电性连接。

3.根据权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述连接器为同轴连接器，所述电连接件为同轴电缆。

4.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述弹性接触件包括导电件、接触件和弹性件，所述导电件设有沿轴向延伸的一端开口的收容槽，所述弹性件收容于所述收容槽内，所述接触件的一端穿过所述开口伸入所述收容槽中并与所述弹性件相抵接，所述接触件的另一端位于所述收容槽外且伸出所述装配孔。

5.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述导电件的外侧壁设有第一限位台阶结构，所述导电件通过所述第一限位台阶结构限位于所述装配孔内。

6.根据权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述导电件还包括自所述收容槽的开口端沿轴向延伸形成的多个弹性接触部，多个所述弹性接触部向中心聚拢形成供所述接触件进入所述收容槽内的通孔，所述通孔的内径尺寸小于所述接触件的外径尺寸。

7.根据权利要求6所述的测试装置，其特征在于，所述接触件包括头部、尾部及连接所述头部与所述尾部的中间部，所述中间部的外壁面呈内凹的弧状，所述中间部包括靠近所述头部的第一端部、靠近所述尾部的第二端部及连接所述第一端部与所述第二端部的连接部，所述连接部的外径小于所述第一端部、所述第二端部的外径，初始状态下，所述弹性接触部与所述连接部配合。

8.根据权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述接触件的外侧壁于所述尾部与所述中间部连接交汇处形成有第二限位台阶结构，所述第二限位台阶结构用于与所述弹性接触部的端部配合。

9.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述弹性接触件与所述装配孔同轴设置。

10.根据权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述基座包括相连的基体部和定位部，所述基体部设置所述装配孔，所述定位部设有定位孔，所述弹性接触件安装于所述装配孔内，所述被测件定位于所述定位孔中。

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