CN211206703U - 测试针组件及测试装置 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供一种测试针组件及测试装置。测试针组件包括针床以及连接在针床上的第一定位部和第二定位部。针床上设置有用于与板对板连接器的引脚接触的多个测试针。第一定位部设置在多个测试针的外围，且第一定位部上具有容许板对板连接器与测试针组件沿纵向发生相对移动的开口。第二定位部用于限制板对板连接器与测试针组件沿纵向的相对运动，以使第一定位部抵接在板对板连接器的边缘。开口可以允许各种尺寸的BTB连接器穿过，第一定位部和第二定位部可以共同作用以限制测试针组件和BTB连接器之间的相对运动，使得测试针可以对准各引脚，则该测试针组件可以适用多种不同尺寸的BTB连接器，通用性好且成本低。

Description

测试针组件及测试装置

技术领域

本申请涉及电路板测试技术领域，尤其涉及一种测试针组件及测试装置。

背景技术

随着电子设备技术的发展，板对板(board to board，BTB)连接器在移动终端(如智能手机、平板电脑等)中的应用也越来越广泛。BTB连接器可以设置在印制电路板(Printed Circuit Board，PCB)中，通过BTB连接器之间的配合可以实现多个PCB之间的连接。为了保证PCB与PCB之间的连接有效性，需要对PCB中的BTB连接器的部分引脚进行测试，以保证其可以有效地传递电信号。

目前，BTB连接器的测试通常使用测试针装置，测试针装置包括针板，针板上设置有多个能够与BTB连接器的电源引脚、USB引脚和加载引脚等多个引脚接触的测试针。另外，为了保证测试针可以与各引脚对中，针板的外边缘围设有环状的定位凸起，定位凸起凸出于针板底面的尺寸可以大于测试针凸出于针板底面的尺寸，且定位凸起的尺寸可以与BTB连接器的外形尺寸相一致，使得当测试针装置在向下移动与BTB连接器连接的过程中，定位凸起的内表面可以先与BTB连接器的边缘连接，起到导向对中作用，继续移动测试针组件，可以使得测试针和 BTB连接器的引脚连接，避免测试针弯折或断裂。

但是，为了保证定位凸起的导向作用，其尺寸必须与BTB连接器的外形尺寸相一致，而针对不同引脚数的BTB连接器，其纵向尺寸各不相同，因此，在测试不同尺寸的BTB连接器时需要使用多个不同的测试针装置，通用性差且成本高。

发明内容

本申请实施例提供一种测试针组件及测试装置，以解决现有技术中测试针装置通用性差且成本高的问题。

本申请实施例提供一种测试针组件，包括：针床以及连接在所述针床上的第一定位部和第二定位部。

所述针床上设置有用于与板对板连接器的引脚接触的多个测试针。

所述第一定位部设置在多个所述测试针的外围，且所述第一定位部上具有容许所述板对板连接器与所述测试针组件沿纵向发生相对移动的开口。

所述第二定位部用于限制所述板对板连接器与所述测试针组件沿所述纵向的相对运动，以使所述第一定位部抵接在所述板对板连接器的边缘。

其中，所述纵向垂直于所述测试针延伸方向。

如上所述的测试针组件，其中，所述第一定位部包括沿横向相对设置的第一段与第二段。

所述第一段与所述第二段分别用于限制所述板对板连接器与所述测试针组件沿所述横向两端的相对运动；其中，所述横向分别与所述纵向和所述测试针延伸方向相垂直。

如上所述的测试针组件，其中，所述第一段朝向所述第二段的内表面包括垂直于所述横向的第一平面以及连接在所述第一平面背离所述针床一端的第一倾斜面，所述第一平面用于与所述板对板连接器的侧面接触；所述第一倾斜面与所述第二段之间的距离从靠近所述针床的一端向远离所述针床的一端逐渐增大。

如上所述的测试针组件，其中，所述第二段朝向所述第一段的内表面包括垂直于所述横向的第二平面以及连接在所述第二平面背离所述针床一端的第二倾斜面；

所述第二平面用于与所述板对板连接器的侧面接触；所述第二倾斜面与所述第一平面之间的垂直距离从靠近所述针床的一端向远离所述针床的一端逐渐增大。

如上所述的测试针组件，其中，所述第一定位部还包括与所述开口相对的第三段，所述第三段用于限制所述板对板连接器与所述测试针组件沿所述纵向一端的相对运动。

如上所述的测试针组件，其中，所述第三段朝向所述开口的内表面包括垂直于所述纵向的第三平面以及连接在所述第三平面背离所述针床一端的第三倾斜面，所述第三平面用于与所述板对板连接器的侧面接触；所述第三倾斜面与所述开口所在平面的垂直距离从靠近所述针床的一端向远离所述针床的一端逐渐增大。

如上所述的测试针组件，其中，所述第三段连接在所述第一段与所述第二段之间。

如上所述的测试针组件，其中，所述第二定位部包括用于插入所述板对板连接器的安装槽中的定位凸起；所述定位凸起用于限制所述板对板连接器与所述测试针组件沿所述纵向另一端的相对运动。

如上所述的测试针组件，其中，所述定位凸起背离所述针床的一端具有导向部，以垂直于所述测试针延伸方向的平面为横截面，所述导向部的横截面面积从靠近所述针床的一端向远离所述针床的一端逐渐减小。

如上所述的测试针组件，其中，所述定位凸起沿所述纵向的两侧分别用于与所述安装槽的两个相对的侧壁接触。

如上所述的测试针组件，其中，所述测试针凸出于所述针床的第一尺寸小于所述第二定位部凸出于所述针床的第二尺寸，且所述第二尺寸小于所述第一定位部凸出于所述针床的第三尺寸。

如上所述的测试针组件，其中，所述针床外固定有支架，所述支架沿所述测试针的延伸方向凸出于所述针床的部分构成所述第一定位部。

所述第二定位部设置在所述针床或所述支架上。

本申请实施例提供一种测试装置，包括测试仪表以及如上所述的测试针组件，所述测试针组件的所述测试针与所述测试仪表连接。

本申请实施例提供的测试针组件及测试装置，通过设置针床以及连接在针床上的第一定位部和第二定位部。针床上设置有用于与板对板连接器的引脚接触的多个测试针。第一定位部设置在多个测试针的外围，且第一定位部上具有容许板对板连接器与测试针组件沿纵向发生相对移动的开口。第二定位部用于限制板对板连接器与测试针组件沿纵向的相对运动，以使第一定位部抵接在板对板连接器的边缘。其中，纵向垂直于测试针延伸方向。由于第一定位部上设置有开口，各种尺寸的BTB连接器都能穿过开口，使得至少部分BTB连接器位于第一定位部内，并使其边缘抵靠在第一定位部的内表面，使得BTB连接器在垂直于测试针延伸方向的平面内，只能相对第一定位部沿着纵向运动，而第二定位部则可以限制BTB连接器沿纵向的运动，即第一定位部和第二定位部可以共同作用以限制测试针组件和BTB连接器之间的相对运动，使得测试针可以对准各引脚，且该测试针组件可以适用多种不同尺寸的BTB连接器，通用性好且成本低。

附图说明

以下结合附图对本申请的具体实施方式进行详细说明，应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本申请，本申请不局限于下述的具体实施方式。

图1为本申请实施例中测试针组件的安装示意图一；

图2为本申请实施例中测试针组件的安装示意图二；

图3为图1中测试针组件的左视图；

图4为图1中测试针组件的顶视图；

图5为图4中A-A位置的剖视图；

图6为BTB母端器件的结构示意图。

附图标记说明：

100：针床；

200：第一定位部；

210：第一段；

211：第一平面；

212：第一倾斜面；

220：第二段；

221：第二平面；

222：第二倾斜面；

230：第三段；

231：第三平面；

232：第三倾斜面；

300：第二定位部；

310：定位凸起；

320：导向部；

400：开口；

500：测试针；

600：支架；

700：BTB连接器；

710：BTB母端器件；

711：安装槽；

712：侧壁；

800：引脚；

Z：纵向；

H：横向。

具体实施方式

以下结合附图对本申请的具体实施方式进行详细说明，应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本申请，本申请不局限于下述的具体实施方式。

图1为本申请实施例中测试针组件的安装示意图一；图2为本申请实施例中测试针组件的安装示意图二；图3为图1中测试针组件的左视图；图4为图1中测试针组件的顶视图；图5为图 1中A-A位置的剖视图；图中箭头Z所指为纵向，箭头H所指为横向。

请参考图1至图5，本实施例一种测试针组件，包括：针床100以及连接在针床100上的第一定位部200和第二定位部300；针床100上设置有用于与板对板连接器的引脚800接触的多个测试针500；第一定位部200设置在多个测试针500的外围，且第一定位部200上具有容许板对板连接器与测试针组件沿纵向Z发生相对移动的开口400；第二定位部300用于限制板对板连接器与测试针组件沿纵向Z的相对运动，以使第一定位部200抵接在板对板连接器的边缘；其中，纵向Z垂直于测试针延伸方向。

具体地，测试针组件可以用于多引脚器件的信号测试，尤其可以用于板对板(board to board，BTB)的信号测试。对于手机等移动终端，为了实现其功能，通常设置有多个印制电路板(Printed Circuit Board，PCB)，BTB连接器700主要用于各个PCB之间的连接。

图6为BTB母端器件的结构示意图。参考图6，BTB连接器700包括BTB母端器件710和BTB公端器件。BTB母端器件710上设置环形的安装槽711，安装槽711上下两段内分别设置有多个由金属片制成的引脚800，每个引脚围成“U”字形的引脚凹槽。

相应地，BTB公端器件上设置有能够插入安装槽711的环形凸起，环形凸起上设置有分别与多个引脚凹槽相接触的多个引脚。当BTB公端器件与BTB母端器件710相配合时，环形凸起插入安装槽中，实现BTB公端器件的引脚与BTB母端器件710的引脚800相接触，以传递电信号。

可以理解，测试针组件可以用于BTB公端器件和BTB母端器件710的测试。以下实施例以BTB 母端器件710为例进行说明。

请参考图1至图6，测试针组件可以包括针床100，针床100可以用于安装测试针500，针床100由不导电的材质，例如塑料等构成。针床100上可以设置有多个阵列排布的第一容纳孔。第一容纳孔的形状可以有多种，例如，其横截面可以为方形、圆形等多种结构，在此不做具体限定。

测试针组件的测试针500可以与测试仪表连接，从而测试BTB连接器的引脚800是否有电信号。测试仪表可以为现有技术中常用的测试设备，例如电流表、万用表或示波器等能够检测电信号的多种结构。

测试针500的轴线可以与第一容纳孔的轴线重合，测试针500可以固定在第一容纳孔中，两者的固定方式可以有多种，例如，测试针500可以通过粘接剂粘接在第一容纳孔中，又或者测试针500可以通过过盈配合固定在第一容纳孔中，具体可以根据实际情况进行设置。

参考图3和图5，测试针500的下端可以凸出于针床100的底面，从而方便测试针500的下端可以与BTB连接器700的引脚800连接。可以理解，对于BTB母端器件710，测试时，测试针500的下端可以深入BTB母端器件710的引脚凹槽中，也可以抵靠在该引脚凹槽上表面的金属片处。对于BTB公端器件，测试针500的下端可以抵靠在引脚的上表面。

第一容纳孔的排列可以根据待测BTB连接器700的引脚800的排列进行设置，例如，图 6中，BTB母端器件710具有20个引脚，这些引脚排列成两行十列，针床100上的第一容纳孔也可以排列成两行，每行中相邻两个第一容纳孔的距离可以与每行中相邻两个引脚800之间的距离相等，使得针床100上多个测试针500都可以与BTB母端器件的引脚800连接。

针床100的底面边缘可以设置有第一定位部200，第一定位部200可以围设在多个测试针500外，且第一定位部200上可以设置有开口400，开口400可以位于第一定位部200沿纵向Z的一端。

可以理解，本实施中纵向Z和横向H可以为带双向箭头的矢量。开口400可以设置在定位部200沿纵向Z的一端，例如，图1中，开口400可以设置在沿纵向Z的左端。

第一定位部500的形状可以有多种，例如，以垂直于测试针500延伸方向的截面为横截面，如图4所示，第一定位部200可以由横截面为长方形的筒状结构去掉一个侧面而形成。又例如，第一定位部200可以是横截面为弧形的筒状结构，该筒状结构侧面的豁口可以形成开口400。

第一定位部500的具体地形状可以根据待测器件进行设置，使得BTB连接器的部分可以通过开口400伸入第一定位部200内，且该部分的外表面可以抵靠在第一定位部200的内表面，从而进行限制测试针组件相对BTB连接器沿纵向Z一端，以及沿横向H两端的运动。例如图1中，在BTB连接器700固定在夹具上的情况下，第一定位部200可以限制测试针组件沿纵向Z向左的运动，以及测试针组件沿横向H向上和向下的运动，使得测试针组件在垂直于测试针500延伸方向的平面内只能向右移动。

第二定位部300也可以设置在针床100上，第二定位部300可以限制测试针组件与BTB 连接器700在纵向Z中的移动，参考图1，在BTB连接器700固定时，第二定位部300可以限制BTB连接器700沿纵向Z向右的移动。

第二定位部300的结构可以有多种，例如，第二定位部300可以是设置在针床100底面上的挡板，参考图6，挡板可以抵靠在安装槽711最右侧的侧壁712上。

第一定位部200和第二定位部300可以共同限制测试针组件和BTB连接器在垂直于测试针延伸方向平面内的相对运动，使得测试针500可以对准引脚800。

进行测试之前，可以将安装有BTB母端器件710的PCB固定在夹具上，然后移动针床，使得BTB母端器件710的边缘可以和第一定位部200相接触，然后可以沿测试针500的延伸方向向下移动针床100，此时第二定位部300可以与安装槽711的侧壁712相互抵靠，表明测试针500已经与引脚800对准，继续向下移动，使得测试针500可以插入引脚凹槽中，实现测试针500与引脚800的电连接。

另外，由于BTB连接器700通常用于PCB与PCB之间连接，其引脚通常设置有电源信号、USB 信号和加载信号，在测试过程中通常需要测试的也是包含上述几种信号的有限数量的引脚，无需测试所有引脚。因此，可以通过编码将需要测试的信号集中于BTB连接器的一端，并在测试时将测试针组件安装于该端部，即可通过一个测试针组件测试多种不同引脚数的BTB连接器 700，通用性好，降低成本。

参考图1和图2，针对不同引脚数目的BTB连接器700，其引脚均为两行，列数不同，即BTB连接器700沿纵向Z的长度不同，但其沿横向H的宽度一致，由于测试针组件具有开口400，对于不同引脚数目的BTB连接器700，均可以保证其右侧的部分引脚可以与测试针连接。而BTB连接器700的左端可以根据引脚数目的不同，位于测试针组件内或伸出测试针组件外。

可以理解，对于BTB公端器件，其引脚是设置于环形凸起上的，而环形凸起围成的中部空间凹陷形成安装槽，第二定位部300可以抵靠在该安装槽的侧壁上，限制BTB公端器件与测试针组件沿纵向Z的相对运动。

本实施例提供的测试针组件，通过设置针床以及连接在针床上的第一定位部和第二定位部。针床上设置有用于与板对板连接器的引脚接触的多个测试针。第一定位部设置在多个测试针的外围，且第一定位部上具有容许板对板连接器与测试针组件沿纵向发生相对移动的开口。第二定位部用于限制板对板连接器与测试针组件沿纵向的相对运动，以使第一定位部抵接在板对板连接器的边缘。其中，纵向垂直于测试针延伸方向。由于第一定位部上设置有开口，各种尺寸的BTB连接器都能穿过开口，使得至少部分BTB连接器位于第一定位部内，并使其边缘抵靠在第一定位部的内表面，使得BTB连接器在垂直于测试针延伸方向的平面内，只能相对第一定位部沿着纵向运动，而第二定位部则可以限制BTB连接器相对第一定位部沿纵向的运动，即第一定位部和第二定位部可以共同作用以限制测试针组件和BTB连接器之间的相对运动，使得测试针可以对准各引脚，且该测试针组件可以适用多种不同尺寸的BTB连接器，通用性好且成本低。

在另一个实施例中，第一定位部200包括沿横向相对设置的第一段210与第二段220；第一段210与第二段220分别用于限制板对板连接器与测试针组件沿横向H两端的相对运动；其中，横向H分别与纵向Z和测试针延伸方向相垂直。

具体地，第一段210和第二段220可以平行且相对设置，两者之间可以具有开口400，第一段210和第二段220可以分别阻挡在BTB连接器700沿横向H的两侧面，从而分别用于限制BTB连接器700与测试针组件沿横向H两端的相对运动。

可以理解，在本实施例中，第一段210和第二段220沿纵向Z的一端围成开口400，另一端也可以形成有第二开口，即第一定位部200仅用于限制测试针组件与BTB连接器700 沿横向H的相对运动。此时第二定位部300可以包括用于插入板对板连接器的安装槽711 中的定位凸起310；定位凸起310的沿横向H的两侧可以分别抵靠在两个侧壁712上，从而使得定位凸起310可以限制测试针组件与BTB连接器700沿纵向Z的相对运动，该方式结构简单，容易实现。

进一步地，参考图3和图5，第一段210朝向第二段220的内表面包括垂直于横向H的第一平面211以及连接在第一平面211背离针床100一端的第一倾斜面212，第一平面211用于与板对板连接器的侧面接触；第一倾斜面212与第二段220之间的距离从靠近针床100的一端向远离针床100的一端逐渐增大。

其中，当测试针组件与BTB连接器700安装时，测试针组件可以先向下移动，使得第一倾斜面212与BTB连接器700顶面的边缘接触，然后可以沿着第一倾斜面212继续移动测试针组件，使得第一平面211抵靠在BTB连接器700的侧面，实现沿横向H一端的限位。由于第一倾斜面212向外倾斜设置，其可以起到导向作用，方便第一平面211与BTB连接器700 的一个侧面连接。

更进一步，第二段220朝向第一段210的内表面包括垂直于横向H的第二平面221以及连接在第二平面221背离针床100一端的第二倾斜面222，第二倾斜面222与第一平面221之间的垂直距离从靠近针床100的一端向远离针床100的一端逐渐增大。

其中，当测试针组件与BTB连接器700安装时，测试针组件可以先向下移动，使得第二倾斜面222与BTB连接器700顶面的边缘接触，然后可以沿着第二倾斜面222继续移动测试针组件，使得第二平面221抵靠在BTB连接器700的侧面，实现沿横向H另一端的限位。由于第二倾斜面222向外倾斜设置，其可以起到导向作用，方便第二平面221与BTB连接器 700的另一个侧面连接。

参考图5，在另一个优选实施例中，第一定位部200除了包括第一段210和第二段220，还包括与开口400相对的第三段230，第三段230用于限制板对板连接器与测试针组件沿纵向Z一端的相对运动。

具体地，在BTB连接器700固定在夹具上的情况下，第三段230可以用于限制测试针组件相对BTB连接器700沿纵向Z向左的移动；第一段210和第二段220可以限制测试针组件以及BTB连接器700沿横向H两端的相对运动。使得测试针组件在垂直于测试针500延伸方向的平面内只能向右移动，更容易快速实现BTB连接器700的引脚800与测试针组件中的测试针500的对齐。

在本实施例中，第二定位部300可以是设置在针床100底面上的挡板，也可以是包括用于插入板对板连接器的安装槽711中的定位凸起310；定位凸起310的沿横向H的一侧可以抵靠在图6中右边的侧壁712上，定位凸起310用于限制板对板连接器与测试针组件沿纵向Z向右的相对运动。

当然，定位凸起310沿纵向Z的两侧可以分别用于与安装槽711的两个相对的侧壁712 接触。参考图6，定位凸起310是两侧分别抵靠在两个侧壁712上的形式，从而限制BTB连接器700与测试针组件沿纵向Z两端的运动。

进一步地，第三段230朝向开口400的内表面包括垂直于纵向Z的第三平面231以及连接在第三平面231背离针床100一端的第三倾斜面232，第三倾斜面232与开口400所在平面的垂直距离从靠近针床100的一端向远离针床100的一端逐渐增大。

其中，当测试针组件与BTB连接器700安装时，测试针组件可以先向下移动，使得第三倾斜面232与BTB连接器700顶面的边缘接触，然后可以沿着第三倾斜面232继续移动测试针组件，使得第三平面231抵靠在BTB连接器700的侧面，实现沿纵向Z向右端的限位。由于第二倾斜面222向外倾斜设置，其可以起到导向作用，方便第三平面231与BTB连接器 700的一个侧面连接。

可以理解，对于方形的BTB连接器700，HZ800设置在BTB连接器700的顶面，第一段210、第二段220和第三段230可以分别抵靠在BTB连接器的三个侧面上。另外，第一段210、第二段220和第三段230可以为互相不连接的三段结构，也可以是第三段230连接在第一段210与第二段220之间所形成的一体结构，以方便加工。

在上述实施例的基础上，定位凸起310背离针床100的一端具有导向部320，以垂直于测试针500延伸方向的平面为横截面，导向部320的横截面面积从靠近针床100的一端向远离针床100的一端逐渐减小。导向部320可以使得定位凸起310更容易伸入安装槽711中，实现限位。

参考图5，作为第一定位部200、第二定位部300和测试针500之间的位置关系，测试针500凸出于针床100的第一尺寸小于第二定位部300凸出于针床100的第二尺寸，且第二尺寸小于第一定位部200凸出于针床100的第三尺寸。即测试针500的底端、第二定位部300 以及第一定位部200的底端到针床100的底面的距离依次增大。

因此，在测试针组件与BTB连接器700连接时，可以先向下移动测试针组件，使得第一定位部200与BTB连接器700的边缘接触，使得第一段210、第二段220和第三段230分别抵靠在BTB连接器700的三个侧面，接着继续向下移动，使得第二定位部300伸入凹槽700 中实现限位，实现测试针组件与BTB连接器在垂直于测试针延伸方向平面内的限位，测试针500与引脚800对齐，接着继续向下移动测试针组件，使得测试针500与引脚800接触。该结构可以保证测试针500与引脚800对齐后，再实现两者的接触，避免了测试针500在移动过程中断裂或弯折。

在上述实施例的基础上，作为第一定位部200及第二定位部300的安装方式，两者可以都一体成型或安装在针床100上。

又或者，针床100外固定有支架600，支架600沿测试针500的延伸方向凸出于针床100 的部分构成第一定位部200；第二定位部300设置在针床100或支架600上。即第一定位部200可以通过支架600固定在针床100上，而第二定位部300可以直接设置在针床100上，也可以通过设置在支架600上，并通过支架600间接连接在针床100，具体可以根据实际情况进行设置，以简化加工过程且降低成本。

本实施例还提供一种测试装置，包括测试仪表以及测试针组件，其中，测试针组件包括：针床100以及连接在针床100上的第一定位部200和第二定位部300；针床100上设置有用于与板对板连接器的引脚800接触的多个测试针500；第一定位部200设置在多个测试针500的外围，且第一定位部200上具有容许板对板连接器与测试针组件沿纵向Z发生相对移动的开口400；第二定位部300用于限制板对板连接器与测试针组件沿纵向Z的相对运动，以使第一定位部200抵接在板对板连接器的边缘；其中，纵向Z垂直于测试针延伸方向。测试针组件的测试针与测试仪表连接。

具体地，测试装置可以用于PCB信号测试，尤其是PCB上设置的多引脚器件的信号测试，例如BTB连接器等。

测试仪表可以为现有技术中常用的测试设备，例如电流表、万用表或示波器等能够检测电信号的多种结构。测试针组件的结构和功能与上述实施例相同，可以参考上述实施例，在此不再赘述。测试针组件的测试针500可以与测试仪表连接，从而测试BTB连接器的引脚是否有电信号。

参考图6，BTB连接器700包括BTB母端器件710和BTB公端器件。BTB母端器件710上设置环形的安装槽711，安装槽711上下两段内分别设置有多个由金属片制成的引脚800，每个引脚围成“U”字形的引脚凹槽。

相应地，BTB公端器件上设置有能够插入安装槽711的环形凸起，环形凸起上设置有分别与多个引脚凹槽相接触的多个引脚。当BTB公端器件与BTB母端器件710相配合时，环形凸起插入安装槽中，实现BTB公端器件的引脚与BTB母端器件710的引脚800相接触，以传递电信号。

进行测试之前，可以将安装有BTB母端器件710的PCB固定在夹具上，然后移动针床，使得BTB母端器件710的边缘可以和第一定位部200相接触，然后可以沿测试针500的延伸方向向下移动针床100，此时第二定位部300可以与安装槽711的侧壁712相互抵靠，表明测试针500已经与引脚800对准，继续向下移动，使得测试针500可以插入引脚凹槽中，实现测试针500与引脚800的电连接。

另外，由于BTB连接器700通常用于PCB与PCB之间连接，其引脚通常设置有电源信号、USB 信号和加载信号，在测试过程中通常需要测试的也是包含上述几种信号的有限数量的引脚，无需测试所有引脚。因此，可以通过编码将需要测试的信号集中于BTB连接器的一端，并在测试时将测试针组件安装于该端部，即可通过一个测试针组件测试多种不同引脚数的BTB连接器 700，通用性好，降低成本。

参考图1和图2，针对不同引脚数目的BTB连接器700，其引脚均为两行，列数不同，即BTB连接器700沿纵向Z的长度不同，但其沿横向H的宽度一致，由于测试针组件具有开口400，对于不同引脚数目的BTB连接器700，均可以保证其右侧的部分引脚可以与测试针连接。而BTB连接器700的左端可以根据引脚数目的不同，位于测试针组件内或伸出测试针组件外。

可以理解，对于BTB公端器件，其引脚是设置于环形凸起上的，而环形凸起围成的中部空间凹陷形成安装槽，第二定位部可以抵靠在该安装槽的侧壁上，限制BTB公端器件与测试针组件沿纵向Z的相对运动。

本实施例提供的测试装置，通过设置针床以及连接在针床上的第一定位部和第二定位部。针床上设置有用于与板对板连接器的引脚接触的多个测试针。第一定位部设置在多个测试针的外围，且第一定位部上具有容许板对板连接器与测试针组件沿纵向发生相对移动的开口。第二定位部用于限制板对板连接器与测试针组件沿纵向的相对运动，以使第一定位部抵接在板对板连接器的边缘。其中，纵向垂直于测试针延伸方向。由于第一定位部上设置有开口，各种尺寸的BTB连接器都能穿过开口，使得至少部分BTB连接器位于第一定位部内，并使其边缘抵靠在第一定位部的内表面，使得BTB连接器在垂直于测试针延伸方向的平面内，只能相对第一定位部沿着纵向运动，而第二定位部则可以限制BTB连接器相对第一定位部沿纵向的运动，即第一定位部和第二定位部可以共同作用以限制测试针组件和BTB连接器之间的相对运动，使得测试针可以对准各引脚，且该测试针组件可以适用多种不同尺寸的BTB连接器，通用性好且成本低。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连"、“连接"、“固定"等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接或彼此可通讯；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在以上描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

最后应说明的是：以上各实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述各实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分或者全部技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的范围。

Claims (13)

1.一种测试针组件，其特征在于，包括：针床以及连接在所述针床上的第一定位部和第二定位部；

所述针床上设置有用于与板对板连接器的引脚接触的多个测试针；

所述第一定位部设置在多个所述测试针的外围，且所述第一定位部上具有容许所述板对板连接器与所述测试针组件沿纵向发生相对移动的开口；

所述第二定位部用于限制所述板对板连接器与所述测试针组件沿所述纵向的相对运动，以使所述第一定位部抵接在所述板对板连接器的边缘；

其中，所述纵向垂直于所述测试针延伸方向。

2.根据权利要求1所述的测试针组件，其特征在于，所述第一定位部包括沿横向相对设置的第一段与第二段；

所述第一段与所述第二段分别用于限制所述板对板连接器与所述测试针组件沿所述横向两端的相对运动；其中，所述横向分别与所述纵向和所述测试针延伸方向相垂直。

3.根据权利要求2所述的测试针组件，其特征在于，

所述第一段朝向所述第二段的内表面包括垂直于所述横向的第一平面以及连接在所述第一平面背离所述针床一端的第一倾斜面，所述第一平面用于与所述板对板连接器的侧面接触；所述第一倾斜面与所述第二段之间的距离从靠近所述针床的一端向远离所述针床的一端逐渐增大。

4.根据权利要求3所述的测试针组件，其特征在于，所述第二段朝向所述第一段的内表面包括垂直于所述横向的第二平面以及连接在所述第二平面背离所述针床一端的第二倾斜面，所述第二平面用于与所述板对板连接器的侧面接触；所述第二倾斜面与所述第一平面之间的垂直距离从靠近所述针床的一端向远离所述针床的一端逐渐增大。

5.根据权利要求2所述的测试针组件，其特征在于，所述第一定位部还包括与所述开口相对的第三段，所述第三段用于限制所述板对板连接器与所述测试针组件沿所述纵向一端的相对运动。

6.根据权利要求5所述的测试针组件，其特征在于，所述第三段朝向所述开口的内表面包括垂直于所述纵向的第三平面以及连接在所述第三平面背离所述针床一端的第三倾斜面，所述第三平面用于与所述板对板连接器的侧面接触；所述第三倾斜面与所述开口所在平面的垂直距离从靠近所述针床的一端向远离所述针床的一端逐渐增大。

7.根据权利要求5所述的测试针组件，其特征在于，所述第三段连接在所述第一段与所述第二段之间。

8.根据权利要求2-7任一项所述的测试针组件，其特征在于，所述第二定位部包括用于插入所述板对板连接器的安装槽中的定位凸起；所述定位凸起用于限制所述板对板连接器与所述测试针组件沿所述纵向另一端的相对运动。

9.根据权利要求8所述的测试针组件，其特征在于，所述定位凸起背离所述针床的一端具有导向部，以垂直于所述测试针延伸方向的平面为横截面，所述导向部的横截面面积从靠近所述针床的一端向远离所述针床的一端逐渐减小。

10.根据权利要求8所述的测试针组件，其特征在于，所述定位凸起沿所述纵向的两侧分别用于与所述安装槽的两个相对的侧壁接触。

11.根据权利要求1-7任一项所述的测试针组件，其特征在于，所述测试针凸出于所述针床的第一尺寸小于所述第二定位部凸出于所述针床的第二尺寸，且所述第二尺寸小于所述第一定位部凸出于所述针床的第三尺寸。

12.根据权利要求1-7任一项所述的测试针组件，其特征在于，所述针床外固定有支架，所述支架沿所述测试针的延伸方向凸出于所述针床的部分构成所述第一定位部；

所述第二定位部设置在所述针床或所述支架上。

13.一种测试装置，其特征在于，包括测试仪表以及权利要求1-12任一项所述的测试针组件，所述测试针组件的所述测试针与所述测试仪表连接。

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