TWM500250U - 電極模組 - Google Patents
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Description
本創作係有關一種電極模組,旨在提供電路測試系統一種結構相對較為簡單、製作成本相對較低,且訊號傳遞效果相對較為可靠的電極模組。
按,一般晶圓、半導體元件、印刷電路板等元件(以下統稱受測元件),為確保其品質上的製造良率,均會透過電路檢測方式對其內部電路是否異常進行檢測,其主要透過電路測試治具的複數量測點接觸到受測元件,使量測點接觸受測元件內部電路之相對應的輸入點與輸出點(以下統稱電極接點),然後透過電路測試治具所連接之訊號檢知系統傳送相關測試信號,以精確測試出量測點失效位置,藉以測試受測元件之電路是否異常。
習用電路測試治具之結構基本上如第1圖所示,係於一治具頭21上設有複數個別與受測元件之電極接點對應的針腳22,另於各針腳22處焊接有連接至訊號檢知系統30的導線23,透過導線23構成受測元件10與訊號檢知系統30之間的訊號傳遞。
然而,類似電路測試治具之結構組成相對較為複雜,不但加工成本及材料成本相對較高,且導線23與針腳22之焊接品質更會直接影響訊號傳遞品質;因此,如何提供一種結構相對較為簡單、成本較低,且可獲製較佳訊號傳遞效果的電路測
試治具,長久以來一直是業界所亟欲解決之課題。
有鑑於此,本創作即在提供電路測試系統一種結構相對較為簡單、製作成本相對較低,且訊號傳遞效果相對較為可靠的電極模組,為其主要目的者。
為了達到上述目的,本創作之電極模組,基本上包括有:一絕緣基板,以及複數導線;其中:該絕緣基板係在其中一板面上凸設有複數成矩陣方式排列配置的凸部,且於各凸部設有貫穿兩側板面的導孔;各導線係分別穿置於預先設定的導孔中,各導線穿入導孔之一端係略伸出其所設置之凸部而成為偵測端,各導線之另端則相對伸出該絕緣基板相對於凸部另側板面預先設定長度而成為訊號耦接端。
利用上述結構特徵,本創作之電極模組不但結構相對較為簡單,且製作成本相對較低;尤其,各導線之偵測端與訊號耦接端之間,無任何的機械連接構造,可有效減少訊號無法傳遞之因素,使獲致相對較為可靠的訊號傳遞效果。
依據上述結構特徵,本創作之電極模組係進一步包括一彈性連接件;該彈性連接件係具有一相對覆蓋於該絕緣基板設有凸部之一側板面上的彈性絕緣材,且於該彈性絕緣材上佈滿導電絲,各導電絲係外露於該彈性絕緣材之兩側板面。
所述各凸部係呈方錐狀。
所述各凸部係呈方錐狀,且各凸部之頂部外沿係恰貼合於於其所設置之導線外圍。
所述各凸部係呈方錐狀,且各凸部之頂部外沿係與其所設置之導線外圍保持預定的距離。
所述各凸部係呈方柱狀。
具體而言,本創作所揭露之電極模組,不但結構相對較為簡單,且製作成本相對較低;尤其,偵測端與訊號耦接端之間,無任何的機械連接構造,可有效減少訊號無法傳遞之因素,使獲致相對較為可靠的訊號傳遞效果;以及,尚可在彈性連接件之作用下,增加各導線與受測元件之電極接觸效果,以及增加受測元件於進行電路測試時之定位效果。
10‧‧‧受測元件
21‧‧‧治具頭
22‧‧‧針腳
23‧‧‧導線
30‧‧‧訊號檢知系統
40‧‧‧絕緣基板
41‧‧‧凸部
42‧‧‧導孔
50‧‧‧導線
60‧‧‧彈性連接件
61‧‧‧彈性絕緣材
62‧‧‧導電絲
第1圖係為一習用電路測試治具之結構示意圖。
第2圖係為本創作第一實施例之電極模組使用配置參考圖。
第3圖係為本創作第一實施例之電極模組局部放大剖視圖。
第4圖係為本創作第二實施例之電極模組局部放大剖視圖。
第5圖係為本創作第三實施例之電極模組局部放大剖視圖。
第6圖係為本創作第三實施例之電極模組局部放大剖視圖。
本創作主要提供電路測試系統一種結構相對較為簡單、製作成本相對較低,且訊號傳遞效果相對較為可靠的電極模組,如第2圖及第3圖所示,本創作之電極模組,基本上包括有:一絕緣基板40,以及複數導線50;其中:該絕緣基板40係在其中一板面上凸設有複數成矩陣方式排列配置的凸部41,且於各凸部41設有貫穿兩側板面的導孔42;於實施時,所述絕緣基板40係由相對較具剛性之絕緣材料加
工製成為佳。
各導線50係分別穿置於預先設定的導孔42中,各導線50穿入導孔42之一端係略伸出其所設置之凸部41而成為偵測端,各導線50之另端則相對伸出該絕緣基板40相對於凸部41另側板面預先設定長度而成為訊號耦接端,主要由絕緣基板40之凸部41對導線50形成應有的包覆、固定效果,避免所設置的導線50彎曲或折損。
原則上,本創作之電極模組,於使用時,係可透過絕緣基板40固定在一電路測試作業區域之平台或支架上,且透過導線50伸出絕緣基板40之訊號耦接端與至少一訊號檢知系統30電氣連接。
於運作時,係將受測元件10以其電極接點朝向電極模組的方式放置於絕緣基板40上方,且由受測元件10之電極接點確實與相對應之凸部41所設置之導線50偵測端接觸後,即可由導線50所連接之訊號檢知系統30傳送相關測試信號,藉以測試受測元件10之電路是否異常。
值得一提的是,本創作之電極模組不但結構相對較為簡單,且製作成本相對較低;尤其,各導線50之偵測端與訊號耦接端之間,無任何的機械連接構造,可有效減少訊號無法傳遞之因素,使獲致相對較為可靠的訊號傳遞效果。
再者,如第4圖所示,本創作之電極模組於實施時,係可進一步包括一彈性連接件60;該彈性連接件60係具有一相對覆蓋於該絕緣基板40設有凸部41之一側板面上的彈性絕緣材61,且於該彈性絕緣材61上佈滿導電絲62,各導電絲62係外露於該彈性絕緣材61之兩側板面。
當受測元件10壓放於彈性連接件60上時,除可由
彈性絕緣材61與受測元件10接觸,以增加受測元件10於進行電路測試時之定位效果外,更可利用彈性絕緣材61之彈性變形作用,增加各導線50與受測元件10之電氣連接效果。
在上揭第2圖至第3圖所示之實施例中,所述各凸部41係呈方錐狀,且在所述各凸部41係呈方錐狀之結構型態下,各凸部41之頂部外沿係可以恰貼合於於其所設置之導線50外圍;在所述各凸部41係呈方錐狀之結構型態下,各凸部41之頂部外沿亦可如第5圖所示,與其所設置之導線50外圍保持預定的距離(A);當然,所述各凸部41可以如第6圖所示呈方柱狀。
與傳統習用結構相較,本創作所揭露之電極模組,不但結構相對較為簡單,且製作成本相對較低;尤其,偵測端與訊號耦接端之間,無任何的機械連接構造,可有效減少訊號無法傳遞之因素,使獲致相對較為可靠的訊號傳遞效果;以及,尚可在彈性連接件之作用下,增加各導線與受測元件之電氣連接效果,以及增加受測元件於進行電路測試時之定位效果。
綜上所述,本創作提供電路測試系統一較佳可行之電極模組,爰依法提呈新型專利之申請;本創作之技術內容及技術特點已揭示如上,然而熟悉本項技術之人士仍可能基於本創作之揭示而作各種不背離本案創作精神之替換及修飾。因此,本創作之保護範圍應不限於實施例所揭示者,而應包括各種不背離本創作之替換及修飾,並為以下之申請專利範圍所涵蓋。
10‧‧‧受測元件
30‧‧‧訊號檢知系統
40‧‧‧絕緣基板
41‧‧‧凸部
42‧‧‧導孔
50‧‧‧導線
Claims (7)
- 一種電極模組,包括有:一絕緣基板,以及複數導線;其中:該絕緣基板係在其中一板面上凸設有複數成矩陣方式排列配置的凸部,且於各凸部設有貫穿兩側板面的導孔;各導線係分別穿置於預先設定的導孔中,各導線穿入導孔之一端係略伸出其所設置之凸部而成為偵測端,各導線之另端則相對伸出該絕緣基板相對於凸部另側板面預先設定長度而成為訊號耦接端。
- 如請求項1所述之電極模組,其中,該電極模組係進一步包括一彈性連接件;該彈性連接件係具有一相對覆蓋於該絕緣基板設有凸部之一側板面上的彈性絕緣材,且於該彈性絕緣材上佈滿導電絲,各導電絲係外露於該彈性絕緣材之兩側板面。
- 如請求項1或2所述之電極模組,其中,各凸部係呈方錐狀。
- 如請求項1或2所述之電極模組,其中,各凸部係呈方錐狀,且各凸部之頂部外沿係恰貼合於於其所設置之導線外圍。
- 如請求項1或2所述之電極模組,其中,各凸部係呈方錐狀,且各凸部之頂部外沿係與其所設置之導線外圍保持預定的距離。
- 如請求項1或2所述之電極模組,其中,各凸部係呈方柱狀。
- 一種電極模組,包括有:一絕緣基板,以及複數導線;其中:該絕緣基板係在其中一板面上凸設有複數成矩陣方式排列配置的凸部,且於各凸部設有貫穿兩側板面的導孔;各導線係分別穿置於預先設定的導孔中,各導線穿入導孔之一端係略伸出其所設置之凸部而成為偵測端,各導線之另端則相對伸出該絕緣基板相對於凸部另側板面預先設定長度而成為訊號耦接端; 一彈性連接件;該彈性連接件係具有一相對覆蓋於該絕緣基板設有凸部之一側板面上的彈性絕緣材,且於該彈性絕緣材上佈滿導電絲,各導電絲係外露於該彈性絕緣材之兩側板面。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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TW104201400U TWM500250U (zh) | 2015-01-29 | 2015-01-29 | 電極模組 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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TW104201400U TWM500250U (zh) | 2015-01-29 | 2015-01-29 | 電極模組 |
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TWM500250U true TWM500250U (zh) | 2015-05-01 |
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ID=53722059
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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TW104201400U TWM500250U (zh) | 2015-01-29 | 2015-01-29 | 電極模組 |
Country Status (1)
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2015
- 2015-01-29 TW TW104201400U patent/TWM500250U/zh not_active IP Right Cessation
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