TWM545907U - 探針座之結構改良 - Google Patents

Description

探針座之結構改良

本創作係提供一種探針座之結構改良，尤指探針座之下基板與上基板間定位有具複數孔隙之絕緣材料，當複數探針穿設於下基板、絕緣材料及上基板中時，可透過絕緣材料來達到便於穿設之效用，且亦可避免相鄰探針間產生相互接觸，而發生短路之情況。

按，目前電路板上係由複數配線來構成之配線圖案(pattern)，其必須向電路板所搭載之IC、半導體或電阻器等電子部件傳遞正確的電子信號，以往，針對未安裝半導體或電子部件等印刷電路板、柔性(flexible)基板、多層配線基板、液晶屏(LCD panel)或等離子顯示屏(plasma display panel)等所使用之形成配線圖案的電路配線基板，或半導體晶片等基板上所形成之配線圖案來作為檢測對象，以檢測配線圖案上所設置之複數檢測點間的電阻值，用以判斷出其電氣特性之良否。

再者，現今為了檢測電路板上之配線圖案是否按設計完成，便提出了實際應用於各種電路板之檢測治具，其一般檢測治具大都具有用於處理電氣訊號的導通狀態之檢測裝置，且檢測裝置為透過複數導線來電性連接於一檢測平台，而該檢測平台上方可供放置有測試針座，其測試 針座為具有利用複數支撐桿來呈上、下間隔設置之複數板材，並於複數板材間為穿設有金屬材質之複數測試用探針，且複數測試用探針一端為向下穿出板材，以電性連接於複數導線，而複數測試用探針另端則向上穿出板材，當電路板置放於測試針座上，以進行檢測作業時，其複數測試用探針另端即會電性接觸於電路板上配線圖案的複數檢測點，便可藉由檢測裝置來檢測電路板之配線圖案上的複數檢測點之間是否電路斷開或電路導通。

然而，其因複數測試用探針為由金屬材質所製成，所以具有金屬本身之彈性，當進行檢測作業時，複數測試用探針二端便會受到抵壓，而使複數測試用探針中間部位產生變形，以致於複數測試用探針在變形的同時，容易與相鄰測試用探針形成電性接觸，進而發生短路之情形，所以為了避免此種情形發生，通常會在複數測試用探針中間部位塗佈有絕緣層，以防止相鄰測試用探針形成電性接觸，但是，因複數測試用探針需各別於外表面上塗佈有絕緣層，以致於使加工作業複雜，進而提高整體加工上的成本，且若絕緣層塗佈不確實、均勻，將會產生探針未電性導通於檢測點或複數導線的情形，導致降低使用上的可靠度。

是以，要如何設法解決上述習用之缺失與不便，即為相關業者所亟欲研究改善之方向所在。

故，創作人有鑑於上述缺失，乃搜集相關資料，經由多方評估及考量，並以從事於此行業累積之多年經驗，經由不斷試作及修改，始設計出此種探針座之結構改良的新型專利者。

本創作之主要目的乃在於該下基板表面上為穿設有複數下 通孔，並於下基板上方處設有上基板，且上基板表面上穿設有複數上通孔，而下基板與上基板之間定位有具複數孔隙之絕緣材料，當複數下通孔及複數上通孔形成對正狀態時，便可將複數探針依序穿設於上基板、絕緣材料及下基板中，且待穿設完成後，再將下基板及上基板朝相對內側推移，使複數下通孔及複數上通孔形成錯位狀態，同時，複數探針二端間即會形成出限位於孔隙內之傾斜部，由於下基板與上基板間設有絕緣材料，所以可使複數探針順暢地插設於絕緣材料之複數孔隙中，且各孔隙僅能供一根探針穿入，即可避免相鄰探針間產生相互接觸，以防止發生電性導通而形成短路之情況，藉此加快組裝、加工作業的速度之目的。

本創作之次要目的乃在於該下基板之複數下通孔與上基板之複數上通孔間為插設有複數探針，當下基板與上基板形成錯位狀態時，其複數探針便會受到推擠而形成出傾斜部，各探針即可透過傾斜部來形成有彈性壓縮空間，以使複數探針與外部電路板上的配線圖形之複數測定點可準確地形成電性接觸狀態，進而提升檢測時的準確度及穩定性，且藉由傾斜部亦可達到增加複數探針使用壽命之目的。

本創作之再一目的乃在於該探針座之下基板與上基板間欲裝設複數探針時，其上基板之複數上通孔為與下基板之複數下通孔呈對正狀態，所以複數探針便可透過自動化的機械設備來執行插設作業，其不僅可減少人力成本，亦可使插設作業更加地快速、精確，進而達到加快製造效率的同時，亦具有更良好的產品良率之目的。

本創作之另一目的乃在於該探針座之絕緣材料中為穿設有具複數孔洞之玻纖布，當複數探針穿設於絕緣材料內時，其複數探針之傾 斜部即會各別位於複數孔洞中，使傾斜部受到孔洞內壁面的磨擦而產生干涉之現象，以穩固限位於探針座之下基板與上基板間，藉此達到避免複數探針脫離出下基板或上基板外部之目的。

1‧‧‧探針座

11‧‧‧下基板

111‧‧‧下通孔

112‧‧‧下容置槽

113‧‧‧下定位孔

114‧‧‧下鎖孔

12‧‧‧上基板

121‧‧‧上通孔

122‧‧‧上容置槽

123‧‧‧上定位孔

124‧‧‧上鎖孔

13‧‧‧絕緣材料

131‧‧‧孔隙

14‧‧‧探針

141‧‧‧第一端部

142‧‧‧第二端部

143‧‧‧傾斜部

15‧‧‧固定元件

151‧‧‧插梢

152‧‧‧螺絲

16‧‧‧玻纖布

161‧‧‧孔洞

2‧‧‧檢測儀器

21‧‧‧測試平台

22‧‧‧纜線部

221‧‧‧導線

23‧‧‧檢測裝置

第一圖 係為本創作之立體外觀圖。

第二圖 係為本創作之立體分解圖。

第三圖 係為本創作另一視角之立體分解圖。

第四圖 係為本創作組裝時之側視剖面圖(一)。

第五圖 係為本創作組裝時之側視剖面圖(二)。

第六圖 係為本創作組裝時之側視剖面圖(三)。

第七圖 係為本創作探針座裝設於檢測儀器的測試平台前之側視圖。

第八圖 係為本創作探針座裝設於檢測儀器的測試平台後之側視圖。

第九圖 係為本創作另一實施例探針插設前之側視剖面圖。

第十圖 係為本創作另一實施例探針插設後之側視剖面圖。

為達成上述目的及功效，本創作所採用之技術手段及其構造，茲繪圖就本創作之較佳實施例詳加說明其特徵與功能如下，俾利完全瞭解。

請參閱第一、二、三圖所示，係分別為本創作之立體外觀圖、立體分解圖及另一視角之立體分解圖，由圖中可清楚看出，本創作之探針座1係包括下基板11、上基板12、絕緣材料13及複數探針14 ，其中：

該下基板11表面上為穿設有複數下通孔111，並於下通孔111周圍處凹設有下容置槽112，且下容置槽112周圍處穿設有至少一個下定位孔113及至少一個下鎖孔114。

該上基板12表面上為穿設有與複數下通孔111形成錯位狀態之複數上通孔121，並於複數上通孔121周圍處凹設有上容置槽122，且上容置槽122周圍處穿設有對正於至少一個下定位孔113及下鎖孔114處之至少一個上定位孔123及上鎖孔124。

該絕緣材料13為由軟性材質所製成，並於絕緣材料13內部形成有複數孔隙131。

該探針14為導電材質所製成，並於探針14二側分別設有第一端部141及第二端部142。

上述探針座1之下基板11與上基板12於較佳實施例中為各由一片板材所組成，但於實際應用時，亦可分別由二片、三片或三片以上的複數板材所重疊組成，故舉凡可達成前述效果之結構皆應受本創作所涵蓋，此種簡易修飾及等效結構變化，均應同理包括於本創作之專利範圍內，合予陳明。

再者，上述探針座1之下基板11與上基板12較佳實施為呈矩形，但於實際應用時，亦可為三角形、圓形或各種型式之多邊形板材，惟此部份有關下基板11與上基板12的形狀很多，並可依實際的應用或需求來變更其外觀，且該形狀之構成並非本案之創作要點，在此僅作一簡單敘述，以供瞭解。

然而，上述探針座1之絕緣材料13較佳可為利用化學反應方式成形之發泡材(如泡棉)，但於實際應用時，亦可為透過交叉編織方式所製成之編織布，或者具絕緣特性及內部具複數孔隙131之絕緣材料13，惟，有關絕緣材料13的種類很多，故舉凡可達成前述效果之結構皆應受本創作所涵蓋，此種簡易修飾及等效結構變化，均應同理包括於本創作之專利範圍內，合予陳明。

請參閱第四、五、六圖所示，係分別為本創作組裝時之側視剖面圖(一)、(二)及(三)，由圖中可清楚看出，本創作於組裝時，係先將絕緣材料13放置於下基板11之下容置槽112內，並於下基板11上方放置有上基板12，使上基板12之上容置槽122中收納有絕緣材料13，同時，該上基板12之複數上通孔121與下基板11之複數下通孔111為形成對正狀態，且該下基板11之至少一個下定位孔113、至少一個下鎖孔114與上基板12之至少一個上定位孔123、至少一個上鎖孔124為形成錯位狀態，再將複數探針14從上基板12上方處向下插設，以使複數探針14之第一端部141插入於上基板12之複數上通孔121中，並持續向下穿設，使複數第一端部141穿過絕緣材料13之複數孔隙131，再從下基板11之複數下通孔111處穿出，此時，該複數探針14之第一端部141及第二端部142即分別限位於呈對正狀態之複數下通孔111與複數上通孔121中。

之後再將下基板11與上基板12分別往相對內側推移，以使複數下通孔111與複數上通孔121之間產生錯位移動，而複數探針14便會受到複數下通孔111及複數上通孔121內壁面推擠，使第 一端部141及第二端部142之間產生彎曲變形，以形成出傾斜部143，然而，該絕緣材料13在複數下通孔111與複數上通孔121錯位移動的過程中，亦會受到下基板11之下容置槽112及上基板12之上容置槽122內壁面擠壓而呈一變形，進而使傾斜部143持續限位於絕緣材料13之複數孔隙131內，且待下基板11與上基板12相對向內推移完成後，該至少一個下定位孔113、至少一個下鎖孔114即會與上基板12之至少一個上定位孔123、至少一個上鎖孔124形成對正狀態，便可將複數固定元件15穿設於呈對正狀態之下定位孔113、下鎖孔114與上定位孔123、上鎖孔124中，以使下基板11與上基板12呈一穩固結合狀態，即可完成本創作之組裝。

上述下基板11之至少一個下定位孔113與上基板12之至少一個上定位孔123為可供至少一個固定元件15插入，其固定元件15可為插梢151型式，而該下基板11之至少一個下鎖孔114與上基板12之至少一個上鎖孔124為可供至少一個固定元件15插入鎖固，其固定元件15可為螺絲152型式，即可透過至少一個固定元件15之插梢151或螺絲152來將下基板11與上基板12組裝、結合為一體，惟此部份有關下基板11與上基板12的組裝、結合方式很多，並可依實際的應用或需求來變更實施，且該細部之構成並非本案之創作要點，在此僅作一簡單敘述，以供瞭解。

再者，上述複數探針14插入於絕緣材料13之複數孔隙131中時，其絕緣材料13之各個孔隙131僅可供一根探針14插入，藉此避免相鄰探針14間產生電性接觸之情形。

再請參閱第七、八圖，係分別為本創作探針座裝設於檢測儀器的測試平台前之側視圖及探針座裝設於檢測儀器的測試平台後之側視圖，由圖中可清楚看出，本創作探針座1於實際使用時，係可裝設於檢測儀器2之測試平台21上，其測試平台21內穿設有纜線部22之複數導線221一端，而纜線部22之複數導線221另端則電性連接有可用以處理電氣訊號的導通狀態之檢測裝置23，當探針座1定位於檢測儀器2之測試平台21上時，其複數探針14之第一端部141便會各別電性接觸於纜線部22之複數導線221上，即可再於上基板12表面上方放置待檢測之外部電路板，以使複數探針14之第二端部142電性接觸於外部電路板上的配線圖形之複數測定點，當進行檢測作業時，其檢測儀器2之檢測裝置23即會將檢測用之訊號傳輸至纜線部22之複數導線221，再藉由複數探針14發送至外部電路板上之複數測定點，並從複數測定點處接收檢測用信號，便可依據接收之訊號，來計算出複數測定點間的電阻值，藉此用來判斷複數測定點間是否呈現導通狀態。

上述檢測儀器2之檢測裝置23可用於處理外部電路板上之複數測定點間的電氣訊號的導通狀態，惟此部份有關檢測裝置23如何處理電氣訊號的導通狀態係為現有技術之範疇，且該檢測裝置23細部之構成並非本案之創設重點，故不再作一贅述，以供瞭解。

本創作探針座1之下基板11與上基板12間為設有絕緣材料13，當複數探針14插設於絕緣材料13之複數孔隙131中時，即可透過絕緣材料13本身所具之複數孔隙131來使複數探針14順暢地插設，且各孔隙131僅能供一根探針14穿入，便可避免相鄰探針1 4間產生相互接觸，以防止發生電性導通而形成短路之情況，且相較於習知技術，透過使用絕緣材料13可避免各探針14需事先於第一端部141與第二端部142之間進行成型有絕緣層之作業，藉此加快組裝、加工作業的速度，進而達到降低製造、材料成本之效果。

再者，本創作探針座1之下基板11上方為疊放有上基板12，並於下基板11之複數下通孔111與上基板12之複數上通孔121間插設有複數探針14，當下基板11與上基板12形成錯位狀態後，其複數探針14便會形成出傾斜部143，而當複數探針14進行檢測作業時，各探針14即可透過傾斜部143來形成有彈性壓縮空間，以使複數探針14之第二端部142可準確地電性接觸於外部電路板上的配線圖形之複數測定點，進而提升檢測時的準確度及穩定性，且藉由傾斜部143所形成之彈性壓縮空間亦可達到增加複數探針14的使用壽命之效用。

然而，本創作探針座1之下基板11與上基板12間欲裝設複數探針14時，係先將上基板12之複數上通孔121分別對正於下基板11之複數下通孔111，再將複數探針14插入，由於複數探針14插入時，其複數下通孔111為與複數上通孔121呈對正狀態，所以於實際應用時，便可藉由自動化的機械設備來執行插入複數探針14的作業，即可減少人力上的成本，且利用自動化的機械設備亦可使插設作業更加地快速、精確，進而達到加快製造效率的同時，亦具有更良好的產品良率之目的。

再請參閱第九、十圖，係為本創作另一實施例探針插設前 之側視剖面圖及另一實施例探針插設後之側視剖面圖，由圖中可清楚看出，本創作另一實施例探針座1之絕緣材料13中為可進一步穿設有利用複數玻璃纖維以編織方式製成之玻纖布16，該玻纖布16內部具有複數孔洞161，當絕緣材料13內穿設有複數探針14時，其複數探針14之傾斜部143即會各別位於玻纖布16之複數孔洞161中，以使傾斜部143受到孔洞161內壁面的磨擦而產生干涉之現象，進而使複數探針14穩固限位於探針座1之下基板11與上基板12間，藉此更進一步避免複數探針14發生脫離出下基板11或上基板12外部之情況。

上述詳細說明為針對本創作一種較佳之可行實施例說明而已，惟該實施例並非用以限定本創作之申請專利範圍，凡其它未脫離本創作所揭示之技藝精神下所完成之均等變化與修飾變更，均應包含於本創作所涵蓋之專利範圍中。

綜上所述，本創作上述探針座之結構改良於使用時，為確實能達到其功效及目的，故本創作誠為一實用性優異之創作，為符合新型專利之申請要件，爰依法提出申請，盼審委早日賜准本案，以保障創作人之辛苦創作，倘若鈞局審委有任何稽疑，請不吝來函指示，創作人定當竭力配合，實感德便。

1‧‧‧探針座

11‧‧‧下基板

111‧‧‧下通孔

112‧‧‧下容置槽

113‧‧‧下定位孔

114‧‧‧下鎖孔

12‧‧‧上基板

121‧‧‧上通孔

123‧‧‧上定位孔

124‧‧‧上鎖孔

13‧‧‧絕緣材料

131‧‧‧孔隙

14‧‧‧探針

141‧‧‧第一端部

142‧‧‧第二端部

15‧‧‧固定元件

151‧‧‧插梢

152‧‧‧螺絲

Claims (10)

1. 一種探針座之結構改良，該探針座係包括下基板、上基板、絕緣材料及複數探針，其中：該下基板表面上為穿設有複數下通孔；該上基板為位於下基板上方處，並於上基板表面上穿設有組裝後會與複數下通孔形成錯位狀態之複數上通孔；該絕緣材料為定位於下基板及上基板之間，並於絕緣材料內部形成有複數孔隙；該複數探針為導電材質所製成，並於各探針一側設有插入至下基板的下通孔內之第一端部，而另側則設有插入至上基板的上通孔內之第二端部，再於第一端部與第二端部之間形成有限位於絕緣材料的孔隙中之傾斜部。
2. 如申請專利範圍第1項所述探針座之結構改良，其中該下基板之下通孔周圍處為凹設有下容置槽，並於上基板之複數上通孔周圍處凹設有上容置槽，而絕緣材料為軟性材質製成且收容於下容置槽及上容置槽內。
3. 如申請專利範圍第2項所述探針座之結構改良，其中該下基板之下容置槽周圍處為穿設有至少一個下定位孔及至少一個下鎖孔，而該上基板之上容置槽周圍處穿設有對正於至少一個下定位孔及下鎖孔處且供預設固定元件穿過以使下基板與上基板固定之至少一個上定位孔及上鎖孔。
4. 如申請專利範圍第1項所述探針座之結構改良，其中該絕緣材料為發 泡材或編織布，且絕緣材料之各孔隙為供插入一根探針。
5. 如申請專利範圍第1項所述之探針座之結構改良，其中該絕緣材料中為穿設有利用複數玻璃纖維以編織方式製成之玻纖布，其玻纖布內部具有供限位複數探針的傾斜部之複數孔洞。
6. 一種探針座之結構改良，係包括檢測儀器及探針座，其中：該檢測儀器為具有測試平台，並於測試平台內穿設有纜線部之複數導線一端，而纜線部之複數導線另端則電性連接有用以處理預設電路板的複數測試點間電氣訊號的導通狀態之檢測裝置；該探針座為包括下基板、上基板、絕緣材料及複數探針，其中該下基板為定位於測試平台上方，並於下基板表面上為穿設有複數下通孔，且下基板上方放置有上基板，再於上基板表面上穿設有組裝後會與複數下通孔形成錯位狀態且供對應於預設電路板的複數測試點位置處之複數上通孔，而下基板及上基板之間定位有絕緣材料，且絕緣材料內部形成有複數孔隙，再於下基板及上基板之間設置有導電材質所製成之複數探針，其探針一側設有插入至下通孔內且與纜線部之複數導線形成電性接觸之第一端部，而另側則設有插入至上通孔內並與預設電路板之測試點形成電性接觸之第二端部，再於第一端部與第二端部之間形成有限位於絕緣材料的孔隙中之傾斜部。
7. 如申請專利範圍第6項所述之探針座之結構改良，其中該下基板之下通孔周圍處為凹設有下容置槽，並於上基板之複數上通孔周圍處凹設有上容置槽，而絕緣材料為軟性材質製成且收容於下容置槽及上容置槽內。
8. 如申請專利範圍第7項所述之探針座之結構改良，其中該下基板之下容置槽周圍處為穿設有至少一個下定位孔及至少一個下鎖孔，而該上基板之上容置槽周圍處穿設有對正於至少一個下定位孔及下鎖孔處且供預設固定元件穿過以使下基板與上基板固定之至少一個上定位孔及上鎖孔。
9. 如申請專利範圍第6項所述之探針座之結構改良，其中該絕緣材料為發泡材或編織布，且絕緣材料之各孔隙為供插入一根探針。
10. 如申請專利範圍第6項所述之探針座之結構改良，其中該絕緣材料中為穿設有利用複數玻璃纖維以編織方式製成之玻纖布，其玻纖布內部具有供限位複數探針的傾斜部之複數孔洞。