JPH022901A

JPH022901A - 配線基板端子ピンの長さ検査機構

Info

Publication number: JPH022901A
Application number: JP14634988A
Authority: JP
Inventors: Tsuneo Yamaha; 山羽　常雄
Original assignee: Jeol Engineering Co Ltd; Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
Current assignee: Jeol Engineering Co Ltd; Hitachi High Tech Corp
Priority date: 1988-06-14
Filing date: 1988-06-14
Publication date: 1990-01-08

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野］この発明はピングリッドアレイ基板の検査装置における
、端子ピンの長さの検査機構に関するものである。

［従来の技術］ＩＣチップを搭載するパッケージには各種の形式がある
が、基板材料としてセラミックスを用いてこれに端ｒピ
ンを格子状に直立したピングリッドアレイと称するもの
がある。第３図（ａ）、（ｂ）にその１例をノ１（す。

セラミック基板ｌの表面の中央部に搭載されるＩＣチッ
プｌｃに対してプリント配線１ｂが形成され、裏面には
図（ｂ）に示す端ｒピン１ａが格子状（グリッドアレイ
）に植設されて、表面のプリント配線に接続されている
。ノ＾板の大きさは一辺が数十ｍｍ程度の方形で、端子
ピンの数は数トないし数百本のものである。プリント配
線と端子ピン間の導通または絶縁が重要であり、また端
子ピンには規定長に対して長短のもの、あるいは形状が
湾曲したものがあるので、これらについて基板検査装置
により検査される。このような基板検査装置に対して、
この発明の発明者により「特許出顯第８２−２４０４０
８号、配線基板検査方式」が出願されている。

第４図（ａ）、（ｂ）、（ｃ）および（ｄ）は、上記の
特許出願にかかる配線基板検査方式におけるプローバ抑
圧機構を示すもので、図（ａ）においてベース盤２に下
側プローバ３を固定する。載置板４をスプリング４ａに
よりベース盤に弾性支持し、これに端ｒピン１ａを上向
きとして被検査基板ｌを載置する。またベース盤に支柱
２ａを立てて固定板２ｂにより固定し、支柱に上下移動
する移動板５を設け、これに上側プローバ６を固定する
。上側プローバには、基板１の端子ピン１ａに対応して
プローブピン６ａが植設され、さらに−Ｌ側プローバの
一下側に、各端子ピンが貫通する孔７ａを有する孔板７
を１−ド移動自由として支柱に取り付け、移動板５との
間をスプリング５ａにより弾性結合したものである。

１−３記装置による基板の検査においては、固定板２ｂ
に取り付けられた駆動機構８により移動板５が押下され
てプローバ６と孔板７がともに下降し、孔７ａに端子ピ
ン１ａが貫通して孔板の底面が基板の表面に接触し、孔
板は停止上する。さらにプローバ６が下降すると、第４
図（ｂ）に示すようにスプリング６ｂにより付勢された
プローブピン６ａの先端が端子ピン１ａのｌ一部に弾性
接触する。これと前後して、下側のプローバ３のプロー
ブピン３ａが基板のド面のプリント配線１ｂに弾性接触
する。各プローブピンは検査回路に接続されて導通また
は絶縁検査が行われる。

ここで前記した端ｒピンの長短または湾曲に対する検査
方法を説明すると、長さが規定に満たない過小ピンは、
第４図（Ｃ）のように孔板７の」−に１一端が出ないの
でプローブピン６ａと接触せず、これは導通検査により
検出される。また、端ｒピンが湾曲しているときは、図
（ｄ）のように端子ピン１ａは孔７ａに貫通しないので
、孔板７が所定の位置まで降ドせず、これを検出器（図
示省略）により検出するものである。

［解決しようとする課題］次に、端子ピンの長さが規定値より長い場合であるが、
」−記の特許出願による検査方式においては、第４図（
ａ）における載置板４に適当な厚さのスペーサを載置し
、これに接触した孔板の表面の見掛けの高さを適当に高
くして、表面より突出した適長ピンのみをプローブピン
に接触させ、これを導通検査により検出するものとされ
ている。しかしながら、この方法においては手作業によ
りスペーサを載置するために載置に手数を必要とするの
で多数の基板の連続検査に対して効率的でない。

この発明は以１；に鑑みてなされたもので、端ｒピンの
長さを効率的に計測して検査できる簡易な機構を提供す
ることを目的とするものである。

［課題を解決するためのｆ段］この発明は載置板に被検査のピングリッドアレイ基板を
載置し、基板の下面に設けられたプリント配線と、基板
の上向に格子状に植設されプリント配線に接続された端
子ピンのそれぞれに対して、プローバのプローブピンを
押接して導通／絶縁検査を行う配線基板検査装置におけ
る端子ピンの長さ検査機構であって、その構成は１−側
プローバの上側に、これとスプリングによりｌｉｔ性結
合し、基板の端子ピンに対応した貫通孔を打し、かつ端
子ピンに対する規定長の許容範囲のＦ限と等しい厚さの
孔板を設ける。また、」二側のプローバのプローブピン
の押接に際して、基板に対して所定の間隔で孔板を停止
させる停止位置ｒ＋Ｊ変のストッパを設けたものである
。

以１・、におけるストッパは、ピンシリンダなどの駆動
機構により微小移動して［−記の停止上位置を可変とす
るもので、これを載置板の４隅に設ける。

［作川コ」上記の構成においては、上側プローバがド降するとこ
れに弾性結合した孔板が基板に接近し、基板の端子ピン
が孔板の１°１通孔を１“工通し、さらに接近すると孔
板の底面が載置板に設けられたストッパに接触して停止
する。この場合、ストッパの高さが高いほど、長い端子
ピンが孔板の貫通孔を突出してプローブピンと接触して
、導通検査により検出される。しかし、短いものは孔板
の上に出ないので接触しない。ここで、孔板の厚さは端
子ピンの許容長のド限と等しいので、この下限より長い
端子ピンについては、ストッパを高い位置から低い位置
まで適当な刻みで逐次変えて、その都度導通検査を杼う
ことにより、植設位置に対する端子ピンの長さが検査さ
れる。ただし、許容長の下限に達しない端ｒピンは、ド
限以りのものがすべて導通するに対して、これが導通し
ないことによりその存在が検出される。なお、載置板の
４隅にストッパを設けることにより、孔板は基板の表面
に対して平行に停止して、端子ピンの位置による誤差が
除去される。ストッパの駆動機構にはピンシリンダなど
の微小移動機構を用いる。

［実施例コ第１図（ａ）および（ｂ）は、この発明による配線基板
端ｒ−ピンの長さ検査機構を、従来の配線基板検査装置
のプローブピン抑圧機構に適用した実施例における構成
を示すもので、図（ａ）においては第４図（ａ）に示し
たプローバ抑圧機構とほぼ同様に、ベース盤２に下側プ
ローバ３を固定し、載置板４をスプリング４ａにより弾
性支持する。載置板には端子ピンｌａを１−向きとして
被検査基板ｌを載置する。支柱２ａに上Ｆ移動する移動
板５を設け、これに上側プローバ６を固定し、その下側
に端子ピンｌａが１１通する孔７ａを有する孔板７を設
け、スプリング５ａにより移動板に弾性結合したもので
ある。ここで、孔板７は端子ピンｌａに対する規定長の
許容範囲の下限と等しい厚さとし、６曲に対して十分な
強度を自するものとする。

次に、載置板４にストッパ９を設ける。ピンシリンダな
どの微小移動できる駆動機構９３を載置板の下°側に設
け、その軸を載置板を貫通させ、その頭部にストッパ９
を取り付は別途制御器により高さが任意に変化できるも
のとする。また、ストッパ９は図（ｂ）のように載置板
４の４隅に設けて、孔板７が基板ｌの表面に対して１／
９行に停止てきるようにする。なお、孔板がプローブピ
ンに押圧されて湾曲すると検出が不１Ｆ確となるので、
ストッパの位置はｉｉｌ能なかぎり孔板の中央に接近し
た位置に設けることが望ましい。

第２図は、第１図（ａ）に対する部分図で、この図によ
り端子ピンの長さの検査方法を説明する。

図において、ストッパ９は載置板４の表面に対して高さ
βの位置にあり、これに対して」−側プローバ６と孔板
７とがある程度基板１に接近した状態を示す。なお、下
側プローバ３のプローブピン３ａは基板のプリント配線
ｉｂに弾性接触している。

この状態では、各端ｒピン１ａのうちの１ａ−ｌは、長
さが他のものより長くて孔板の表面よりδだけ突出して
いるので、まずこれがプローブピン６ａに接触して導通
検査により検出される。この段階では、他の短い端子ピ
ンＩａ−２，１ａ−：ｌは孔板の表面よりｌ〕に出すプ
ローブピンに接触していないが、つぎの段階でストッパ
の高さを低くして、さらにプローバ６を接近させると、
長さの順序に従って端ｒピンは逐次検出され、最終的に
は許容範囲のド限まで、植設位置に対して端ｒ・ピンの
長さが検査される。ただし、ド限以ドの長さの端子ピン
については、長さは不明であるが最終段階でなお導通が
ないことにより、やはり検出される。以上においてスト
ッパの高さは駆動機構９ａの動作により任意の微小間隔
で調整される。駆動機構９３は、プローバ６に対する駆
動機構８とともに別途マ、イク口プロセッサのプログラ
ムのシーケンスに従って自動的に制御されるものである
。

［発明の効果コ以−１−の説明により明らかなように、この発明による
配線基板端子ピンの長さ検査機構においては、従来の配
線基板検査装置のブローバ抑圧機構における基板の載置
板に、駆動機構により任意の微小間隔で高さが変化でき
るストッパを設けてこれに接触する孔板の停止位置を逐
次変え、孔板を突出した端子ピンを導通検査により検出
してその長さを検査するもので、従来の装置におけるス
ペーサを手作業により装着する方法に比較して乙かに効
率的で正確に長さが検査でき、多ｌｅｔのピングリッド
アレイ基板に対して連続的に行う導通、絶縁検査装置に
寄与する効果には大きいものがある。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）および（ｂ）は、この発明による配線基板
端子ピンの長さ検査機構を従来のピングリッドアレイ基
板検査装ｊ６に適用した実施例における構成図、第２図
は第１図（ａ）に対する動作を説明する構造図、第３図
（ａ）および（ｂ）はピングリッドアレイ基板の外観斜
視図、第４図（ａＬ（ｂ）、（ｃ）および（ｄ）は従来
のピングリッドアレイ基板検査装置のプローバ押圧機構
と過小ピンおよび湾曲ピンの検出原理の説明図である。１・・・ピングリッドアレイ基板、１ａ・・・端子ピン、　　　　１ｂ・・・プリント配線
、ｌｃ・・・ＩＣチ・ツブ、　　２・・・ベース盤、２
ａ・・・支柱、　　　　　２ｂ・・・固定板、３・・・
ト側フローバ、　　３ａ・・・プローブピン、４・・・
載置板、４　ａ　＋　５　ａ　＋　６　ｂ・・・スプリ
ング、５・・・移動板、　　　　　６・・・１−側プロ
ーバ、６ａ・・・プローブピン、　７・・・孔板、７ａ
・・・ｉＩｊ通孔、　　　　８・・・駆動機構、９・・
・ストッパ、　　　　９ａ・・・駆動機構。

Claims

【特許請求の範囲】

（１）、ベース盤に固定された下側プローバと、該ベー
ス盤の上部に上下移動自由に設けられた上側プローバと
を具備し、該各プローバの中間に設けられた載置板に被
検査のピングリッドアレイ基板を載置し、該基板の下面
に設けられたプリント配線と、該基板の上面に格子状に
植設され、該プリント配線に接続された端子ピンのそれ
ぞれに対して、該各プローバに植設されたプローブピン
を押接して導通／絶縁検査を行う配線基板検査装置にお
いて、上記上側プローバの下側に、該プローバとスプリ
ングにより弾性結合し、上記基板の端子ピンに対応した
貫通孔を有し、かつ該端子ピンに対する規定長の許容範
囲の下限と等しい厚さの孔板を設け、上記上側プローバ
のプローブピンの押接に際して、上記基板に対して所定
の間隔で上記孔板を停止させる停止位置可変のストッパ
を上記載置板に設けたことを特徴とする、配線基板端子
ピンの長さ検査機構。
（２）ピンシリンダなどの駆動機構により微小移動して
上記停止位置可変とするストッパを上記載置板に設けた
、請求項１記載の配線基板端子ピンの長さ検査機構。