JPH01143977A - 印刷回路基板の電子検査装置用アダプタ - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は印刷回路基板を電子的に検査するための装置の
均等に配置された接触ラスタアレイ（ｃｏｎｔａｃｔ　
ｒａｓｔｅｒ　ａｒｒａｙ）を、試験すべき印刷回路基
板上に多くの場合不均等に配置されている接続点のパタ
ーンにマツチングさせるためのアダプタに関する。

［従来の技術及びその課題］ ＥＰ−Ｂｌ−２ｆｉｌ１２４に開示されている如く、い
わゆるユニバーサル・アダプタは１つのプラテンを含み
、これが試験装置のベーシックなラスタアレイの上に置
かれ、又上述した均等に配置された接触ラスタアレイに
基づき配置された貫通通路、又は貫通孔を持っている。

離れて対面するプラテン側のベーシック・ラスタアレイ
の上にある距離離れた所に、２つのアダプタ板の集合体
が設けられ、これが固定スペーサー部品によりある間隔
を持った関係に於いて保持されている。これらのアダプ
タ板は試験すべき回路基板の接続点に基づき対応して配
置された孔を備えている。アダプタ板の孔が針状で細長
い弾性検査ピンを受け、このピンの下の部分がその長手
方向に対して直角方向に弾性的に偏向可能で、上述した
アダプタ板の孔とプラテンの通路との間の配列上の誤差
を補償する如くになっている。又このアダプタは、試験
すべき回路基板をアダプタに配置する手段を含み、これ
により、適切に配列されたピンが試験中の回路基板に対
応して配列された孔と結合する如くになっている。２つ
（内及び外）のアダプタ板が、試験すべき回路基板の接
続点に基づき、これと同じパターンの貫通孔を持ち、又
この板がある間隔を持って保持され、そのことにより印
刷回路基板に隣接する検査ピンの部分が正確に垂直に、
且つ、回路基板に対して直角になり、又、その接続点と
正確に接触する如くにする。但し、検査ピンの下の更に
離れた部分が垂線から外れても差支え無い。

複雑な回路基板の場合、その上には多数の接続点があり
、その１つ１つに対して別々の弾性検査ピンが必要であ
る。その結果、長手方向に弾性を持つ検査ピンの製造自
体に可なりの努力が必要で、この種のアダプタは接続点
の数量上に割高なものとなる。更に、この種の弾性検査
ピンの径は既に実際的にこれ以上細く出来ない所まで細
くされているので、現在製造されているこの種の検査ピ
ンの検査ピン密度には自ずと限界がある。

製造が容易で且つ更に細くすることの出来る長手方向に
堅い検査ピンの使用を可能とするために、いわゆる“ア
クティブ・ベーシック接触アレイ”が考案された。この
場合は、回路基板検査装置のベーシック・ラスタ・アレ
イの接触エレメントが、実質的に、検査ピンの長手軸方
向に弾性的動作をするように装着されている。このアク
ティブ・ベーシック・ラスタ・アレイが印刷回路検査装
置の堅いハードワイヤード・ベーシック接触アレイの上
に置かれ、確実に、堅い検査ピンが可能な限り又十分な
強さの接触圧力を接触する全ての接続点に掛ける働きを
する。

ＥＰ−ＡＩ−０２１５１４８がこの種のアダプタ（ａａ
ａｐｔｏｒ　８５”）を開示しており、これが検査され
るべき回路基板に対応したパターンの貫通孔を持つ１つ
の上板を持ち、これが検査中の回路基板と結合し、この
場合、堅い高さの異なった検査ピンがエラストマーの材
料で作られた別の板を介して延び、このアダプタが検査
装置本体の外で操作されている間、ピンが抜は出すのを
防ぐ。このことにより、しばしば検査されるものと同じ
回路基板を検査するとき、アダプタに検査ピンを補足す
るために必要とする基本的作業が節約される。

これはこのアダプタが再使用のための一時保管が可能だ
からである。上述のアダプタの利点は、全体的に高さの
異なる堅い検査ピンを使用することが出来ることである
。しかし、この検査ピンをこれに簡単に“ドロップψイ
ン”させることか出来ないので、検査ピンの補充は困難
である。即ちピンをエラストマー板に強制的に通すため
には若干の力を掛けねばならないからである。

上述したアダプタは印刷回路基板の１面検査用のものと
考えられる。しかし、現在用途が広まっている型の回路
基板は、その２つの主面に接続点を持っており、その両
面を同じように検査しなければならない。勿論、この両
面を別々に検査することは可能である。しかし、この方
法では、回路基板の両面の間の導電性接続に発生する導
電体の不連続性を検出することは出来ない。この接続は
特に開放され易いのである。このような理由から、両面
印刷回路の両面を同時に検査することの出来る回路基板
検査装置が発達して来ている。これに関連して、この種
の検査装置用のアダプタが必要になって来た。不幸にし
て、従来作られたこの種のアダプタは例外的場合を除い
て両面同時検査用に使うことが出来ない、即ち回路基板
の２つの面の接続点の不均等な分布により多数の検査ピ
ンが検査中の基板を実質的に曲げそして変形させるから
である。これにより別の又は新しい欠陥が導体に発生し
、又は回路基板の破壊を招き、後者は特にセラミック基
板の場合に多く発生する。回路基板が片面のみで検査さ
れる場合は、検査ピンの不均等な分布即ち局部密集はそ
れほど有害ではない。

これは試験中の回路基板の対向面と結合する支持部品が
検査装置の中の１つの堅い板であり、これがこれに掛か
る全ての力を受け、曲がることが無く、従って、検査中
の回路基板が実質的に変形を起さない状態で支持される
からである。回路基板が両面を同時に検査される場合は
、これと同じように支持することは出来ない。即ち、検
査中の回路基板の反対側の、検査ピンが反対圧力を掛け
ないような局部に、背後を支える部品が何も無いがらで
ある。有ったとしても、せいぜい、このような背後支持
部品は他のアダプタの孔の開いたアダプタ板を使用する
程度で、特に、検査ピンを手で装着することが出来るよ
うにする為に、これはしばしばアクリル等の材料で作ら
れているので、これをしっかりと取付けることが出来な
い。従って、従来は、２面回路基板検査機械の両面に用
いられるアダプタは１面用とは別のもので、その結果可
なりの追加費用を必要としていた。

［課題を解決するための手段及びその作用］本発明の目
的は、従来の片側検査用アダプタと同様に迅速且つ安価
に装着することの出来る回路基板検査装置用アダプタで
、しかも１面用にも２面用にも用いられるものを提供す
ることで、っまリ、いずれの面にも基本的に同一の構造
のものが用いられ、又これらが従来のアダプタの持つ利
点をそのまま備えたものである。

この目的が本発明により下記のアダプタを設けることに
より達成される、即ち、このアダプタは、検査装置の接
触エレメントのパターンにより配列された貫通した通路
を持ち、検査装置の中の接触エレメントと平面的平行関
係に於いて結合即ちオーバーレイ（ｏｖｅｒｌａｙ　）
する如くにしたベースプラテンと； 検査すべく取付けられる回路基板上の接続点の対向する
パターンにより配列された貫通孔を持ち、これにより結
合される少なくとも１つのアダプター板と； 上記接続点の区域の外側に、上記ベースプラテンと上記
少なくとも１つのアダプター板とに対し垂直に配置され
るスペーサー部品手段で、検査装置の接触エレメントア
レーに面していない側の上記ベースプラテンの面の上に
、上記少なくとも１つのアダプター板を、上記ベースプ
ラテンに対して平行に且つ間隔を持って対面させる如く
に、位置付けるものと； 縦方向に延びる堅い針状の検査ピンで、その各々が、検
査装置の接触エレメントアレイの中の各１個の接触エレ
メントと結合する第１の端部と、検査される回路基板上
の各１個の接続点と接触するための第２の端部とを持ち
、上記検査ピンが、上記ベースプラテンの各上記貫通通
路を通り、又、上記アダプタ板の各上記貫通孔を通り伸
びている、ものと；を含み、 上記スペーサー部品手段が上記アダプター板と上記ベー
スプラテンとの間の上記の間隔を決定する方向に弾性的
であり、従ってこのアダプターを回路基板の１面又は２
面を同時に検査するのに適したものとする。このアダプ
タの単一構造により（片面又は両面検査を問わず）、検
査ピン取付は装置の如き、アダプタを組立てるのに必要
とする付帯設備に同じものを使用することが可能となる
。

上記の弾性スペーサーは実質的にリング状のばね部品の
形で非常に安価に設けることが出来、特にこれをプラス
チック材料から作られる大量生産型の射出成型品とすれ
ばなお安価となる。

印刷回路基板の両面を同時に検査するために本発明のア
ダプタを使用する為には、単に、少なくとも１つのアダ
プタ板、即ち検査中の回路基板と接続するアダプタ板に
、検査中の回路基板の一方の側の検査ピン密度に比し検
査ピン密度の低い区域に、補助の適当な支持手段を設け
るだけで良く、このことにより回路基板の検査ピンの無
い部分の為の背後支持部品としての働きをする外アダプ
タ板のたわみ又は曲りを防ぐ如くにする。但しこれは回
路基板の片面と接続する接触ピンが無いか又は少ない場
合である。このようにして、大多数の接触ピンによって
印刷回路基板の１方の面に掛けられる接触圧がバランス
される。少なくとも１つのアダプタ板の為のこの追加的
支持手段には色々な形態が考えられ、例えば外アダプタ
板の下に延び、又それ自身接触ピン・アレーの外側に支
持されたビーム又は横棒である。本発明による実施例は
、その底部で外アダプタ板を支持する分離された弾性支
持柱を含み、これが内アダプタ板（有るとして）に開け
られた追加孔を経て、検査装置そのものの上に置かれた
ベースプラテンに向かい実質的に垂直に伸びている。こ
の外アダプタ板により受けられる全ての加重がこの分離
された弾性支持柱に伝えられる。つまり、印刷回路基板
の片側のある区域の接続点の数が少なく、基板の反対側
の接触ピンの数に比し少数の接触ピンで済む所で、外ア
ダプタ板とアダプタ・ベースプラテンとの間に数本の支
持柱が加えられると言うことである。

いずれにしても、これは接触ピンの数の少ない所にのみ
必要とされるので、このような追加支持柱を置く場所は
十分にある。

この支持柱は縦方向に弾性的なものである。従って、こ
れにより形成される反対圧力は、少なくとも１つの（外
）アダプタ板とベースプラテンとの間の距離の変化によ
って変わる荷重に比例する。

最も有利な形としては、少なくとも１つ（外）アダプタ
板とベースプラテンとの間に、追加の（内）アダプタ板
を設け、この内及び外アダプタ板の間の区域にあるピン
の断面を、これらのアダプタ板にあけられた孔の径より
幅を大きくすることである。これらの孔は試験すべき回
路基板の接続点のパターンに従って設けられたものであ
る。

このようにすれば、この組み合わされたアダプタが検査
装置の外で扱われるとき、この検査ピンがこのアダプタ
から脱落することが無い。

［実施例］ 本発明によるアダプタは少なくとも２つの、好ましくは
３つの板を含み、これが弾性スペーサー部品及びワッシ
ャを介して互いに接続されている。

細かく言えば、ベースプラテン２３が縦の弾性スペーサ
ー２４を介して内アダプタ板に接続され、この板が介在
ワッシャ２７を介して外アダプタ板２１に接続されてい
る。

アダプタ板２１．２２が貫通した孔２８を持ち、この孔
が検査中の回路基板（試験片）の検査すべき接続点のパ
ターン通りに開けられている。つまり、パターン通りに
孔を板２１．２２に開けると言うことは、孔が検査ピン
２５を受けるために設けらると言うことである。内アダ
プタ板２２（及び第２図の３２、後述）に別の追加の孔
１５が設けられ、これが支持柱２Ｇを受は入れる。この
アダプタ板は非導電性の材料、例えばアクリル、エポキ
シ、ＧＦＫ等の基板材で作られる。第１図に示すアダプ
タの最下部のベースプラテンは、ベーシックφアレイ通
路２９を持った印刷回路基板検査装置の接触部品のパタ
ーンに従って、例えばドリル等により、孔を開けられて
いる。つまり、ベースプラテン２３は印刷回路基板検査
装置の接触部品のパターンに従って完全に規則的に分布
した貫通孔を持ち、一方、アダプタ板２１．２３は不規
則なパターンに分布した孔２８を持っている。

ベースプラテン２３の通路２９とアダプタ板の孔２８と
の間に検査ピン２５が延び、検査装置の接触部品と検査
中の回路基板１０の接続点との間を電気的に接続する。

第１図に示す如く、これらの検査ピンの一部がベースプ
ラテン２３の近くでその下部が弾性的に偏向可能で、ア
ダプタ板の孔２８とベースプラテンの通路２９との間の
配列上のずれを調節し、即ち、検査すべき回路基板ＩＯ
の接続点の局部的密度の増加に対応する。取扱い中に、
第１図のアダプタから検査ピンが脱落するのを防ぐ為に
、各ピン２５がアダプタ板２１．２２の間に拡大部分１
１３を持ち、その幅がアダプタ板の孔２８の径より大き
くなる如くにしである。この種の拡大部分はカール等の
簡単な手段により検査ピンに滑らかで径の違った部分を
作ることによっても設けられる。これと異なり、第６図
に示す各種の実施例の如くにしても良い。

必要に応じて、追加の支持柱２６が外アダプタ板２１と
ベースプラテン２３との間の検査ピンの分布密度の少な
い所に挿入される。この支持柱の為に、追加の孔１５が
（目視的にあるいは正確な計算に基づき）、内アダプタ
板２２の孔２８の数の少ない所に設けられる。第１図の
如くアダプタが組立てられ、［２１がまだ取付けられて
いない間に、第４図の如くに作られた支持柱２６がこの
追加の孔１５に差し込まれる。この支持柱２Ｂは、それ
ぞれ、ヘッド１４とピンの軸部に巻かれたばね１３とを
持つ１本のピンから成立っている。断面変形部１７を支
持柱の下端部に設け、この柱が装置から外されたとき、
圧縮ばねが外れないようにしても良い。第１図に示す如
く、支持柱のヘッド１４は外アダプタ板２１の下の而（
つまり回路基板ＩＯに而していない反対面）に係接し、
一方、支持柱の下端部がその変形部分１７と共にベース
プラテン２３の孔又は通路２９に差し込まれる。ばね１
３はベースプラテン２３に係接するが、これはその直径
が孔又は通路２９の直径より大きいからである。このよ
うにして、支持柱２Ｇがアダプタ板２１に作用する過度
の局部加重を受止め、ばね１３を介してこれをベースプ
ラテン２３に伝える。プラテン２３は接触エレメントア
レイ集合体４ｏの絶縁ブロックに係接し、それによって
支持される（第２図参照）。

外アダプタ板２１はその中に位置決めピン１２を持ち、
位置決めマツチング孔と協動し、試験中の回路基板１０
を検査ピン又はアダプタ板の孔２８（検査中の回路基板
により特定される孔）に対応するように配設する。従っ
てこの位置決めピンにより、回路基板ＩＯがアダプタの
中心に置かれ、従って回路基板の接続点の位置とアダプ
タの検査ピンの位置とが一致する。

アダプタ板の孔２８（検査中の回路基板により特定され
る孔）の直径はそこに使用される堅い検査ピンの直径よ
り若干大きくなっている（例えば、堅いピン：　０　、
８１１１１１アダプタ板の孔２８：０．８５〜０．（Ｊ
ａｍ）。

アダプタ板２１．２２の縁、即ち孔２８のある区域の外
、に沿って追加の孔が設けられ（図示無し）、螺子の切
られた固定具を受け、板２１．２２をワッシャ２７また
はスペーサー２４で組立てる。同じような孔がベースプ
ラテン２３にも設けられる。

上述した如く、ベースプラテン２３は回路基板検査装置
の接触エレメントのパターンを持った貫通孔又は貫通通
路２９を持っている。この孔又は通路の直径は検査ピン
２５及び各種の径を持つ支持柱２６を収容し得るように
選択される。更に、ベースプラテン２３の貫通孔を皿形
孔、即ち円錐形の出口開口部を持つ孔とし、検査ピンを
アダプタに取付は易いようにする。又、ベースプラテン
２３と少なくとも内アダプタ板２２とを透明な材料で作
り、検査ピンが手で取付けられ、又アダプタの中での検
査ピン２５のショートが見える如くにする。検査ピン及
び、若し使用されているならば、支持柱２６は、先ず、
外アダプタ板２１の外された状態でアダプタと組合わさ
れる。この組立てが完了したならば、板２１が取付けら
れ、螺子でスペーサー部品２７に押し付けられ、検査ピ
ンと支持柱とを固定する。

２つのアダプタ板２１．２２が、スペーサー部品２７に
よって、相互に適切な位置関係になるように固定される
。これらの板がスペーサー２４によってベースプラテン
２３に対して位置決めされる。第１及び２図に示した実
施例に於いては、このスペーサーが長平方向に弾性を持
っている。これに代わる実施例の１つとしての弾性スペ
ーサーが第２図に符号８４で示されている８第５図にそ
の詳細を示す如く、このスペーサー３４は組立て孔を持
った適宜寸法のコンジット部分を、即ちプラスチック材
料を射出成型した部材を含んでいる。この種の（例えば
開放された又は閉ざされた板ばねの形をした）弾性スペ
ーサー部品の効用によりアダプタの費用が下がる。検査
中の回路基板が検査ピンに押し付けられると、アダプタ
板２１．２２検査する回路基板に特定されるもの）が、
第１図に示す如く、堅い検査ピンと共に下向きに移動し
、この検査ピン２５の下向きの軸移動が、その下の（ア
クティブな）ベーシック接触アレイ集合体４０の弾性接
触エレメント４２により押し返され、一方、スペーサー
２４又は３４がそれに応じて変形し、同様に、最後に各
支持柱２Ｂの圧縮ばね１３が変形する。

第２図には、回路基板１０の両面検査の為に、第１図と
同じ型のアダプタが２つ含まれるアダプタ集合体が示さ
れている。弾性スペーサー２４及び３４を別として、こ
の２つのアダプタの構造は同じである。アダプタ２０及
び３０がそれぞれ検査する回路基板の下面及び上面接触
用に使用される。下のアダプタ２０がその下の回路基板
検査装置の接触エレメントアレイ集合体４０の上に置か
れるが、その詳細は図示されていない。一方、このアレ
イ集合体４０が弾性接触エレメント４２を持ち、これが
絶縁材料で出来たブロック４１の孔４３に挿入され、且
つプラグ形の接触エレメントを介して回路基板検査装置
専用の検査電子装置に接続されている。従って、接触エ
レメントアレイ集合体の中のこの弾性接触エレメントは
検査装置に繋がっている。

上のアダプタ８０は印刷回路基板検査装置の上部接触ア
レイ集合体５０に取り付けられている。この上部ベーシ
ック接触エレメントアレイ集合体５０は下部ベーシック
接触エレメントアレイ集合体４０と同じ構造である。こ
の２つの集合体４０．５０は適当な機械手段（図示無し
）により互いに向き合って移動することが出来、これに
検査電子装置が追随し、上及び下部接触エレメントアレ
イ集合体４０゜５０の間の距離を近付けるようになって
いる。両アダプタ２０．３０の堅い検査ピン２５．３５
が各々のベーシックプラテン２３．３３の通路を介して
、アクティブ・ベーシック接触エレメントアレイ集合体
４０゜５０の孔にそれぞれ入り、弾性接触エレメント４
２゜５２がそれぞれ圧迫される。これと同時に、各べ−
スプラテン２３．１３と、各対をなすアダプタ板２１゜
２２及び３１．３２との間の距離が変化する。これは、
この対をなすアダプタ板が弾性スペーサー２４．３４等
を介して保持されているからである。

支持柱２６．３１が印刷回路基板検査装置の各接触エレ
メントアレイ集合体４０．５０の孔に通され、柱２Ｌ３
Ｂのばね１３が圧迫される。下のアダプタ２０の検査ピ
ン２５が検査中の回路基板１０を上のアダプタ３０の外
アダプタ板３１に押付け、一方、板３１が柱３Ｂにより
補助的支持を受ける。同じようにして、上のアダプタ３
０の検査ピン３５が検査中の回路基板ｌＯを下のアダプ
タ２０の外アダプタ板２１に押付け、−力板２１が柱２
Ｂにより支持を受ける。結果として、回路基板１０がク
ランプされた状態で外アダプタ板２１．３１の間に保持
され、これらのアダプタ板自身が変形されたときにのみ
変形することになるが、このようなことは支持柱２［ｉ
、３Ｂよって防止されている。

１つの支持柱２６．３６のただ１つの圧縮ばね１３が多
くの検査ピンの結合力を補償出来るので、１つのアダプ
タに比較的少数の支持柱２８．３Ｇを設けるだけで十分
である。この支持柱の数及び相互の間隔は、検査中の回
路基板の両面に接触の為に用いられる検査ピンの数によ
って決まり、又この支持柱は目視推定によっても、ある
いは正確な計算によっても位置決めすることが出来る。

第２図に示す如く、検査中の回路基板が両面で接触され
ている場合は、それぞれの側にそれぞれ１つのアダプタ
が用いられる。この２つのアダプタが結合ピン（図示無
し）により互いに結合される。この為に、検査中の回路
基板の接続点に対応する孔が設けられている区域の外で
このピンと協動すべく配列された孔がアダプタ板３１．
３２に設けられる。

上述し又図で示した型のアダプタの組立て及び装着方法
は、ベースプラテンと内アダプタ板（検査する回路基板
に対応する特定なもの）が弾性スペーサーを挟んで装着
される如くにして行われる。

次に、検査ピンが内アダプタ板の孔を介して挿入される
。場合によって（例えば、検査する回路基板の極部の検
査点密度が高い場合）、この検査ピンは数■横にずらさ
れることがある。検査ピンは手又は自動機械によってア
ダプタに配置される。

次に、外アダプタ板が所定の位置に配置される。

この２つのアダプタ板が透明ならば、検査ピンが互いに
接触してショートしていないかどうかを目視で検査する
ことが出来る。この回路基板検査装置を用い、アダプタ
を上述の如くに組立てたならば、次に検査ピンの数及び
配置の検査とアダプタの中でのショートの検出が行われ
る。

以上、本発明の実施例に就いて説明したが、本発明の範
囲から逸脱することなく、これに各種の変更を加えるこ
とは容易である。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明によるアダプタの基本的構造を示す断
面図、 第２図は、第１図と同様であるが、但し、第１図と基本
的に同じ構造のアダプタを２個使用し、例えば、電子回
路基板検査装置で印刷回路基板の同時２面検査を行なう
１つの実施例の場合の、本装置の断面図、 第３図は、本発明のアダプタにより、検査中の回路基板
に接続された検査装置のベーシック・アクティブ接触ア
レイの基本的構造を、一部を切り欠いて示す拡大図、 第４図は、本発明による弾性支持柱の正面図、第５図は
、ベースプラテンとアダプタ板との間の弾性スペーサー
の１つの実施例を、一部を切り欠いて示す正面図、 第６図は、本発明のアダプタに用いられる接触ピンの各
種実施例を示す正面図、である。 出願人代理人　弁理士　鈴江武彦 ＦＩ［３，１

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. （１）印刷回路基板を電子的に検査するための装置の中
   に均等に配列された接触エレメントのアレイを、試験す
   る回路基板の不均等に配列された接続点のパターンに適
   用するためのアダプターに於いて、上記アダプターが、 検査装置の接触エレメントのパターンにより配列された
   貫通した通路を持ち、検査装置の中の接触エレメントと
   平面的に平行な関係に於いて接続即ちオーバレイする如
   くにしたベースプラテンと；検査すべく取付けられる回
   路基板上の接続点のパターンに対応して配列された貫通
   孔を持つ少なくとも１つのアダプター板と； 上記接続点の区域の外側に、上記ベースプラテンと上記
   少なくとも１つのアダプター板とに対し垂直に配置され
   るスペーサー部品手段で、検査装置の接触エレメントア
   レーに面していない側の上記ベースプラテンの面の上に
   、上記少なくとも１つのアダプター板を、上記ベースプ
   ラテンに対して平行に且つ間隔を持って対面させる如く
   に、位置付けるものと； 縦方向に延びる堅い針状の検査ピンで、その各々が、検
   査装置の接触エレメントアレイの中の各１個の接触エレ
   メントと結合する第１の端部と、検査される回路基板上
   の各１個の接続点と接触するための第２の端部とを持ち
   、上記検査ピンが、上記ベースプラテンの各上記貫通通
   路を通り、又、上記アダプタ板の各上記貫通孔を通り伸
   びている、ものと；を含み； 上記スペーサー部品手段が上記アダプター板と上記ベー
   スプラテンとの間の上記の間隔を決定する方向に弾性的
   であり、従ってこのアダプターを回路基板の１面又は２
   面を同時に検査するのに適したものとする、印刷回路基
   板の電子検査装置用アダプタ。
2. （２）上記スペーサー部品手段が実質的にリング状のば
   ね手段で、その縁に沿って、２つの平らな取付け部を持
   ち、これが、上記少なくとも１つのアダプター板と上記
   ベースプラテンとに接続され又上記リング状のばね部品
   の直径方向に垂直に向かい合って設けられている、請求
   項１記載の印刷回路基板の電子検査装置用アダプタ。
3. （３）上記リング状のばね部品手段がプラスチック材料
   を射出成型した部材から成る、請求項２記載の印刷回路
   基板の電子検査装置用アダプタ。
4. （４）更に、印刷回路基板の同時２面検査の間、検査中
   の回路基板と接する上記アダプタ板の１方の側面を、上
   記検査ピンの密度の低い区域で支持する支持手段で、こ
   れにより、回路基板の反対の面に作用する検査ピンの圧
   力により、上記アダプタ板が撓んだりねじれたりするこ
   とを防ぐ如くにした、ものを含む、請求項１記載の印刷
   回路基板の電子検査装置用アダプタ。
5. （５）上記支持手段が、縦方向の弾性支持柱を含み、こ
   れが上記アダプタ板と接合し、又これ及び上記ベースプ
   ラテンに対して実質的に垂直に延び、又、上記アダプタ
   板に作用する全ての加重がこれに伝達される如くにした
   、請求項４記載の印刷回路基板の電子検査装置用アダプ
   タ。
6. （６）更に、上記少なくとも１つのアダプタ板と上記ベ
   ースプラテンとの間に、上記少なくとも１つのアダプタ
   板に対し一定の間隔で配置される第２のアダプタ板を含
   み、この場合、上記検査ピンが、上記２つのアダプタ板
   の間の区域に、それらの位置を縦方向に固定する為の手
   段を含む、請求項４記載の印刷回路基板の電子検査装置
   用アダプタ。
7. （７）上記手段が上記検査ピンの拡大断面部から成り、
   上記アダプタ板の検査ピンを受ける孔の径より大きい幅
   を持つ如くにした、請求項４記載の印刷回路基板の電子
   検査装置用アダプタ。
8. （８）最初に記載した上記アダプタ板が、上記検査ピン
   を上記アダプタの中に設けるために取外し可能である、
   請求項６記載の印刷回路基板の電子検査装置用アダプタ
   。