JPH0211871B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、プリント回路板を自動的に試験する
回路板試験装置のアダプタに関する。

本発明のプリント回路板の試験装置は、試験す
べき回路板上の所定の試験用の接触点と接触する
よう設計した試験用接点を備えたアダプタを備え
ている。さらに、このような装置には、試験すべ
き回路板を載置する架台を備え、この架台は試験
されている回路板の面に対し垂直な方向に移動さ
せることができる。

上記の試験用接点は、少なくとも２枚の案内板
に案内される垂直ピンの頂端部に形成されてい
る。これらピンの下端部は基板に形成された案内
通路によつて案内され、試験を実施するための電
気試験回路と電気的に接続される。ピンの下部
は、それらの各々が屈曲されて基板の最も近い案
内通路と整列しうるよう設計され、これらの案内
通路は微細な格子座標状に配置される。

〔従来の技術〕

本発明は回路板の電子試験用装置に関するもの
であり、アダプタ上に載置されて試験すべき回路
板の上の接続点の配置に接点配置を適合させる複
数の試験接点と、試験接点に対し回路板を整列さ
せると共に回路板を支持するための位置決定装置
を有する架台とを備え、試験接点はアダプタ中に
設置された接触ピンの形態であつて架台の方向に
走行し、架台とアダプタとは架台上に設置された
回路板の面に対し垂直方向に相対的に移動するこ
とができる。

従来、製造された回路板は全ての面においてそ
の充分な機能を発揮することを確認するため電子
的に試験されている。ところで、たとえば1000個
の接続部を有する回路板の場合、これらの接続部
の２点の間を試験をすべておこなう場合、50万回
の試験操作が必要とされ、したがつて実用的この
ような試験をおこなうには電子試験装置によつて
自動的に試験をおこなう必要がある。従来の装置
においては、まず完全な回路板を装置し、この完
全な回路板の２点接続のあらゆる可能な組合せを
プログラム中に記録し、各回路板接続をメモリー
中に記憶させる。そして同一種類の試験すべき回
路板が試験装置に設置されると、各単一の２点の
試験操作と記憶情報との間で比較が行なわれ、そ
してもし測定値と記憶情報とが同一でないなら
ば、過誤状態が示され必要に応じて欠陥回路板は
生産工程から外されるであろう。

このような装置では、試験すべき回路板の各接
続点に対応した試験用接点を備えねばならず、試
験用接点の配置は試験すべき接続点の配置と同じ
でなければならない。このため、従来の装置は、
試験を実施する試験回路上アダプタを取付けるこ
とができるように設計され、このアダプタは試験
すべき回路板上の接続点の配置に整列するような
配置の試験接点を備えている。このような装置の
場合、異なる配置の接続点を有する別種類の回路
板を試験しようとする場合は、新たなすなわち異
なるアダプタを使用しなければならない。

これらアダプタにおいて試験接点は接触ピンの
形態であり、別途のスプリングにより作動され
て、その時架台上に載置されている回路板が接触
ピンに対して押圧された場合、ピンが回路板の
別々の接続点と確実に接触するようにする。

接触ピン自身は、アダプタ上の接続ケーブルと
少なくとも一つのマルチプルピンプラグとによ
り、試験回路と電気的に接続される。

この種のアダプタを製作することは高度に精度
を要する操作であり、一般に高価である。高価な
製作費のため、一種類の所定の回路板を試験する
ためにしか各アダプタを使用しえないという事実
は、価格上の問題をひき起こすだけでなく、前記
の所定種類の回路板が生産されなくなり、したが
つてもはや試験する必要がなくなつた場合この種
のアダプタは一般にもはや使用されないという事
実によつてさらに悪化する。

〔発明が解決しようとする課題〕

本発明の一目的は、第一に、設計の観点から上
記種類の装置の改良を行なうことであり、従来使
用されている装置よりも異なる種類の被験回路板
に対してずつと容易に適用することができ、ずつ
と低価格でありかつより良好な生産経済性を有す
るアダプタを備えた装置を提供することである。
さらに詳細には、コストを著しく低減させるのみ
ならず、装置を所定回路板に適合させるための人
数−時間をずつと減少させることである。

最後に、さらに本発明の目的は、回路板上の接
続点の所定配置に対する装置の適合を何ら特別の
道具なしに或いは作業員の側での何ら特別の訓練
なしに行ないうるよう装置を設計することであ
る。

〔課題を解決するための手段とその作用〕

上記およびその他の目的を達成するため、本発
明によればアダプタは基板を備えると共に案内通
路がそこを貫通して基板の面に開口し、これら案
内通路は微細な格子座標状に配置され、また基板
の一方の側には２枚の案内板が基板から異なる間
隔かつそれに対し平行に設置され、案内板は試験
すべき回路板の接続点を整列するよう穿設された
ピン案内孔を備え、案内板のピン案内孔はそこを
貫通する針状接触ピンを備え、これら接触ピンは
所定位置に差し込むことができ、かつ基板に最も
近いその端部において、それぞれ基板中のある案
内通路に挿入される。

したがつて、この接触ピンの上端は試験すべき
回路板の所定の接続点に接触し、また下端部は湾
曲することによつても最も近い案内通路内に挿入
され試験回路と電気的に接触する。

装置のこの設計は、試験すべき回路板上の接続
点に対応した特定配置に対し、本装置を高速、簡
単かつ安価に適合させることを可能にする。すな
わち回路板の接続点と整列して板部材中に孔部を
穿設し、そして２枚の案内板におけるピン案内孔
の対の形態に作られたこれら孔部に針状の接触ピ
ンを差し込むことだけでよく、これら各接触ピン
はその端部が基板のある案内通路中に挿入され
る。したがつて、回路板の接続点を基板における
案内通路の格子座標状の配置と整列して分布させ
る必要が全くない。何故なら、一方では接触ピン
が針状の形態でありかつ基板の案内通路が密集し
た格子座標状に配置されているので接触ピンはそ
の端部が湾曲して基板における最も近い案内通路
内に挿入されることができるからである。さら
に、この基板の案内通路には各接触ピンを意識的
に挿入させる必要はない。何故なら、案内溝部の
断面が接触ピンの断面に整列するよう適合させる
ことにより一本の接触ピンのみが各案内溝部中に
確実に入ることができるからであり、また充分か
つ完全に試験された回路板を使用して試験回路が
プログラミングされるので、試験用ピンに関する
接触に対し記憶情報が割当てられるからである。

特別に作られた配置の試験接点を備えたアダプ
タがもはや必要でないので、案内板を異なる配置
のピン案内孔を備えた案内板と代替することによ
り、接触ピンの新たな分布が作り出され、したが
つて新アダプタを製作するのに必要とされる作業
量が一般的に少なくなる。

良好な効果を有する本発明の一改良において試
験装置の基板における案内通路の格子状の配置と
整列するよう対向した試験接点を設置した接続板
を備え、この装置は基板と接続板とを正しく整列
させるための位置決部材を備える。

装置のこの設計は、必要な案内板と必要な接触
ピンの設置とにより準備されたアダプタを、所定
種類の回路板を試験するため装置の架台から（問
題の回路板を試験した後）完成単位として取り外
すことを可能にし、したがつて装置のその場所
に、他の種類の回路板を試験するために既に作ら
れている他のアダプタを取り付けることができ
る。このため、特に簡単かつ廉価のアダプタを使
用して、装置を異なる種類の回路板に対し迅速に
準備することができる。さらに、この設計によ
り、ケーブルおよびマルチピンプラグと共にアダ
プタとチエツク回路との間で通常使用される種類
の接続はもはや必要でなくなる。何故なら、接続
板が装置に固定され、装置のハウジング内におい
て試験回路と電気的に接合させうるからであり、
試験接点と試験回路との接合は、アダプタが基板
上に載置されたとき接続板の試験接点に当接する
接触ピン（基板の案内通路内に挿入された）によ
つてもたらされる。

本発明の他の有用な改良は、以下の記載を参照
して特許請求の範囲の実施態様項の記載から判る
であろう。

〔実施例〕

以下、添付図面を参照して実施例につき本発明
を詳細に説明する。

第１図に見られるように、試験装置はハウジン
グ内に単一の基礎１０を備え、この基礎はその中
にプログラミング、情報記憶および試験を行なう
のに必要な電気部品を備えると共に、基礎の外部
には必要な切替えおよび指示部材が設置される。
これら部品は一般に当分野で旧式のものであつ
て、本発明の一部を構成せず、この理由で完全な
説明は省略する。

基礎１０上に接続板１２を設置し、ここにおい
て問題の試験すべき回路板の接続点と接続すべき
試験接点１０８を基礎１０内の電気系と接続させ
る。

各場合に試験すべき回路板に対し装置を適合さ
せるよう設計したアダプタを一般に参照符号１４
で示し、必要に応じ取り外しできるように基礎１
０に固定する。

試験すべき回路板７２をアダプタ１４上に形成
された架台１６に載置し、負荷部材１８（詳細に
は図示せず）により複帰力の方向とは反対方向に
アダプタ１４上の試験接点に対して押し下げる。
この負荷部材１８は、たとえば流体作動シリンダ
とすることができる。

アダプタ１４上への試験すべき回路板の載置は
手動で或いはより好ましくは自動マガジンによつ
て行なうことができ、特に好ましくは試験が終つ
た後に回路板をさらに移送させるための装置を備
え、この種の装置はさらに試験の結果に応じて回
路板を選別する選別機を備えるのが最良である。
回路板を本発明装置に或いはそこから移送させる
ためのこれら部材はこの種の旧式のものと同じで
よく、したがつて図面をより簡明にするため詳細
は図示しない。

アダプタ１４は微細な格子座標状に配置された
案内穴部２２を有する基板２０から作られ、穴部
２２は基板２０の面に対し直角に延在する。内方
案内部２４を各穴部２２に設け、その円筒穴部は
基板２０の頂部近傍２８において円錐状に幅広と
なつている（第３図参照）。そして、この穴部２
２内は案内通路１００として形成されている。な
お、第２図にはこれら案内通路１００が配置され
るべき仮想的な格子座標を実線で示し、各案内通
路１００はこの格子座標の各交点に配置されてい
る。

基板２０の他、アダプタ１４の機能のため、さ
らに２枚の案内板３０および３２を設ける必要が
あり、これらは基板２０から離間してそれに平行
に設置される。この点に関し、第１図から明確に
判るように、案内板３０とこれに隣接する基板２
０との間の距離は２枚の案内板３０と３２との間
の距離よりもずつと大である。

基板２０と案内板３０および３２とを互いに正
確に平行な所望間隔に保つと共に各部分を正しく
整列させるには、一般に参照符号３４で示される
ポストを使用し、これは基板２０の少なくとも４
隅に設置され、それぞれの場合基板２０と案内板
３０との間のスペーサ３６および２枚の案内板３
０と３２との間のスペーサ３８、ならびにできれ
ばさらに案内板３２と必要に応じ存在させうる支
持板４２との間のスペーサ４０、さらにワツシヤ
４４とナツト４６とを備えて緊締するための定着
ねじ４８からなつている。穴部５０，５２，５４
および５６が基板２０、案内板３０と３２ならび
に支持板４２に穿設されて、そこにねじ４８を貫
通させる。基板２０の穴部５０は、基板２０の下
部側５８においてさら穴状となし、各場合に使用
される定着ねじ４８の円錐頭部６０を収容させ、
かくして基板の下面６２より下方に降下しないよ
うにする。

ナツト４６をゆるめることにより、いつでも案
内板３０および３２ならびに必要に応じ支持板４
２を所望のままに変えることができ、これは後記
する理由でアダプタ１４を所定種類の回路板に適
合させるのに必要とされる。

案内板３０および３２ならびにできれば支持板
４２は、特に好ましくはそれらの角部に所要に応
じて同軸穴部６４，６６および６８を設けるよう
設計して支持ピン７０を固定または案内し、この
ピン７０はたとえば板部材３０および３２ならび
に４２（存在すれば）の角部に存在させて、試験
すべき回路板の支持系を形成することができ、回
路板を第３図において参照符号７２により破線で
図示する。

支持ピン７０は一般に円筒棒の形状であり、そ
の下端部は穴部６４および６６を貫通し、垂直運
動に対し案内されるよう案内板３０および３２に
おいて同じ断面を有する。案内板３２の上側にワ
ツシヤ７４を設けて圧縮ばね７６を支持し、この
ばねは案内板３２上方の支持ピンを囲繞する。圧
縮ばね７６の上端部はカラー７８に当接し、この
カラーはたとえば支持ピン７０上に軸方向に固定
されたリングによつて形成される。カラーもしく
はリング７８は、ピン７０の若干の部分がカラー
もしくはリングよりも高いレベルに存在して位置
決定部８０を形成し、回路板７２中の位置決め穴
部８３中に突入しうるよう支持ピン７０に対し設
置され、かくして支持ピン７０により形成された
支持部が回路板に当接すると、回路板は基板２０
ならびに案内板３０および３２に対し正しく位置
決めされる。

圧縮ばね７６の自由運動を確保するには、穴部
６８（支持板に存在する）を案内板３０および３
２における穴部６４および６６の直径よりも必要
程度だけ幅広くする。

基板２０に対する案内板３０および３２の正し
い、すなわち正確な位置決めは、穴部５２および
５４と共に使用されるねじ４８の円筒幹部８１に
よつて行なわれる。

さらに詳細に後記するように、接触ピン８２を
収容するには、案内板３０および３２ならびに必
要に応じ支持板４２を、原型板として使用される
試験すべき種類の回路板７２に対し正しく整列さ
せ、次いで板部材における穴部８６，８８および
９０を回路板７２の接続穴部８４と整列させ、こ
の場合案内板３０および３２における穴部８６お
よび８８は接触ピン８２に対する案内穴部として
使用される。

次いで、案内穴部８６および８８を有する案内
板部材３０および３２を、ねじ５８およびさらに
ナツト４６を緊締することにより基板２０上の所
定位置に固定する（スペーサ３６および３８によ
り正確に離間かつ位位置決めして）。

次いで、それぞれの場合、ピン案内孔８６およ
び８８の各整列対を貫通して、針状接触ピン８２
が所定位置中に移動する。案内板３０と基板２０
との間に延在する接触ピン８２の下部９２は一般
に細くて針状であり、一方案内板３０および３２
を貫通しさらにできれば支持板４２をも貫通して
延在する接触ピン８２の上部９４は太くかつより
剛いものである。この太い部分９４は、その上端
部近傍にカラー９６を備え、これにより接触ピン
８２の軸線方向の下方運動を、案内板３２の上側
に当接することにより制限することができる。

接触ピン８２を案内板３０および３２における
所定位置に挿入した後、支持板４２を作用させれ
ば、接触ピン８２の上方運動は支持板部材４２に
より制限される。何故なら、カラー９６が支持板
４２の下側に当接停止するからである。最後に、
接触ピン８２の頂部には接触点９８が存在し、こ
れは戻りばね（図示せず）の作用に抗して太い部
分９４の方向、すなわち下方に若干押進させるこ
とができる。

案内板３０および３２においてピン案内孔８６
および８８が整列しているため、挿入された接触
ピン８２はそれぞれの場合これら案内板３０およ
び３２の面に対しおよび基板２０の面に対し正確
に直角に整列し、そして接触ピン８２はこの方
向、すなわち基板２０の面に対し垂直に移動案内
される。ピン案内孔８６および８８は回路板８２
の接続点８４と正しく整列して穿設されているの
で、接触ピン９８は回路板７２が支持ピン７０上
に正しく載置された後、接続点８４と正確に整列
する。

接続点８４は、回路板のプリント配線または部
品の性質に応ずるような分布を以て回路板上に配
置され、これら接続点８４の配置は案内穴部２２
および内方案内部２４内の格子座標状に配置され
た案内通路１００と整列せずまたは一致しない。
案内板３０および３２のピン案内孔８６および８
８を貫通延在する接触ピン８２は、この理由で、
あらゆる場合に、針状部９２の下端部が正確に案
内通路１００と整列するようには設置されない。
しかしながら、案内通路１００の上端部が参照符
号２８の個所で円錐状に幅広となつているため、
上記のような場合、接触ピン８２の下端部は何ら
の特殊手段を必要とせずに若干弾力的に変形され
て、正しく案内通路１００中に案内される。もし
或る場合、このことが自動的に起こらなければ、
唯一の必要なことは針状部分９２を手により若干
折り曲げて、軸線方向に圧力をかけて押進させた
とき正しく案内通路１００に入るようにすること
であり、これはアダプタ１４が組込まれたとき生
ずる。全てのピン案内孔８６および８８がそこに
接触ピン８２を挿入したならば、アダプタ１４は
使用に供することができ、この状態において接触
ピン８２の接触点１０２の形態にある下端部は基
板２０の下面６２近傍に位置して案内通路１００
内で保護される。

次いで、アダプタ１４を基礎１０上に載置され
た接続板１２の上に設置し、正確に位置決めする
ことができる。この操作は、接続板１２中に着座
させた少なくとも２本の位置決定ピン１０４によ
つて援助され、このピンは接続板から上方向に突
出して基板２０の位置決定穴部１０６により収容
される。

基板２０と接続板１２とを正しく整列させたと
き、案内通路１００と整列する、管状の試験接点
は接続板１２中に着座する。それらは接触ピン８
２用として使用され、それぞれの場合、接続線１
１０を介し装置の電子系（図示せず）と接合され
る。各単一の対向接点１０８は、それぞれの場合
別々のアドレスに割当てられる。試験接点１０８
の上端部は接続板１２の上面にほぼリベツト固定
され、したがつて接触ピン８２が接続板１２に向
かつて軸線方向に移動する際、使用者は接触点１
０２と試験接点１０８との間の接触を確保するこ
とができる。

回路板７２における接続点８４の所定配置に整
列してアダプタ１４中の接触ピン８２を設置する
際、必らずしも接触ピン８２を各場合に対向接点
１０８に同様に割当てるとは限らない。このよう
な関係、すなわち割当ては、事実、より詳細には
針状部分９２を手で折り曲げた場合、その折り曲
げ一方向または他方向に起こつて、たとえば接触
ピンがその案内軸線を４つの案内通路１００の相
互間の中央に正確にもたらしてこれら４つの案内
通路１００のいずれか一つに入りうるかどうかに
依存する。しかしながら、あるゆる場合、回路板
７２が接続点８４を備えるのと正確に同数の案内
通路１００が存在し、かつこの理由で一接触ピン
８２に対し同数の試験接点１０８が存在するであ
ろう。

回路板の試験を開始する前に、充分試験された
原型板を使用して、所望試験操作のための電子系
をプログラミングする。この目的で、原型回路板
を支持ピン７０上に載置し、次いで押圧部１８を
使用してばね７６の作用に抗し接触点９８に対し
下方に押進させ、かくして先ず第一にこれら接触
点の反揆力により全接続点８４と接触点９８との
間に問題のない接触がもたらされる。さらに押進
移動させると、全ての下方接触点１０２が確実に
試験接点１０８と接触し、かくして回路板の各接
続点、すなわち各接続点８４が装置の電子系と接
合される。次いで、この系をプログラミング段階
に対し必要とされる状態に切換えると、開始信号
の後に電子系は原型回路板上の２点接続のあらゆ
る可能な組合せをそのプログラムの部分として記
録し、回路板上のあらゆる接続は系の集積メモリ
ー中に記憶される。次いで、原型の充分試験され
た回路板を取り外すことができ、電子系を試験操
作に切換えて、任意の数の同一回路板を試験する
ことができる。全ての可能な２点接続が装置によ
り試験され、これは試験の結果と記憶情報との間
の比較を行なう。２つの情報の型（試験の結果お
よび記憶情報）が同じであれば、試験をさらに続
行し、次の組合せを試験する。しかしながら、そ
し測定情報と記憶情報とが同じでないならば、回
路板を生産工程から外して、２つの群すなわち短
絡回路板または中断部をもつた回路板の一つに入
れる。正しい種類の見本部材を使用して位置を記
録することができ、さらにプリンターを使用して
プリントアウトを作ることもできる。同時に、生
じた欠陥信号をたとえば警報光によつて示すこと
もできる。

〔発明の効果〕

上記から判るように、アダプタ１４は一般に構
造が簡単であり、任意所望の回路板における異な
る配置の接続点に対しても同等に簡単に適合させ
ることができる。アダプタ１４は、何らの複雑な
手段を必要とせずに位置決定ピン１０４から極め
て簡単に外すことができ、その代りとして他種の
回路板に見合つたアダプタを取付けることがで
き、このアダプタはこれら位置決定ピン１０４上
に簡単に載置することができる。アダプタ１４と
装置の電子系との間の電気接続は、あらゆる場合
に一方では基準グリツド中の案内通路１００によ
り位置決めされた接触点１０２の同じ接触基準グ
リツドと、他方では対向接点１０８とを介して行
なわれるので、接続を行なうための他の手段は必
要でなく、たとえばマルチピンプラグなどの接合
とは異なる。使用者はあらゆる点において装置か
ら充分な支持を得るであろう。何故なら、技術操
作に問題がなく、部材の設置が簡明であり、また
そのデザインが機能的かつ好ましいからである。

接触ピン８２は支持板４２をを外した後いつで
も所定位置から外すことができ、この理由で接触
ピン８２を異なるアダプタ１４に使用することが
可能であり、したがつて材料の必要が極めて少な
い。アダプタがもはや必要でない場合、再び使用
しなくてもよいのは２つの案内板３０および３２
ならびに支持板４２のみである。何故なら、それ
らのピン案内孔が所定回路板の接続穴部８４と整
列して穿設されているからである。しかしなが
ら、残余の材料を使用して他の回路板につき使用
するよう設計したアダプタを作ることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は接続板およびアダプタの自然寸法の縦
断面図、第２図は案内板部材における案内穴部の
突出部を備える基板の平面図、第３図は第１図と
同じ方向から見た拡大断面図である。 １０……基礎、１２……接続板、１４……アダ
プタ、２０……基板、２２……案内穴部、３０，
３２……案内板、４２……支持板、７２……回路
板、８２……接触ピン、８４……接続点、８６，
８８，９０……ピン案内孔、１００……案内通
路。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 回路板７２を電気的に試験する装置１０に使
   用されるアダプタ１４であつて、この装置１０は
   接続板１２上に複数の試験接点１０８を備え、こ
   れらの試験接点１０８は所定の規則的な配列で密
   集して格子座標状に配列されており、またこのア
   ダプタは試験すべき回路板７２上に不規則に配置
   された複数の接続点８４をこの装置１０に配置さ
   れた上記の試験接点１０８のいずれかに接続する
   ものであつて、 上記アダプタ１４は： 基板２０を備え、この基板には複数の案内通路
   １００が形成され、これらの案内通路は上記の試
   験接点１０８のそれぞれの配置と対応した格子座
   標状に配列されており、 少なくとも２つの互いに離間した案内板３０，
   ３２からなる案内手段をを備え、これら案内板は
   上記の基板２０と平行に配置されているとともに
   この基板２０の上方に配置され互いに所定の間隔
   を保つて取り付けられており、これらの各案内板
   ３０，３２にはそれぞれピン案内孔８６，８８が
   形成されており、これらの案内孔は試験すべき回
   路板７２の接続点８４の配置に対応した配置で配
   列されており、 また再使用可能な複数の接触ピン８２を備えて
   おり、これらの接触ピンは、 (a) 第１の実質的に剛体の上部分９４を備え、こ
   の上部分には接触端部９８が設けられ、この接
   触端部はこのピンの上記試験すべき回路板７２
   側の第１の端部に形成されており、これら接触
   ピン８２の上記実質的に剛体の上部分９４は上
   記ピン案内孔８６，８８内に挿通され、上記の
   接触端部９８が上記の接続点８４に対応して整
   列するように案内されており、 (b) また第２の細い針状の下部分９２を備え、こ
   の下部分には接触端部１０２が形成され、この
   接触端部はこの接触ピン８２の上記第１の端部
   とは反対側の第２の端部に形成され、この下部
   分９２は屈曲可能であり、この屈曲によつて上
   記の接触端部１０２が上記基板２０の案内通路
   １００の近傍に整列可能であり、 また、上記接続板１２に対して上記の基板２０
   を位置決めするための位置決め要素１０４，１０
   ６を備え、 また、このアダプタ１４に対して上記のプリン
   ト回路板７２を位置決めする位置決め要素８０，
   ８３を備えたことを特徴とする回路板試験装置の
   アダプタ。 ２ 前記の接触ピン８２には、この軸方向の移動
   を規制するストツパ手段９６が設けられているこ
   とを特徴とする前記特許請求の範囲第１項に記載
   の回路板試験装置のアダプタ。 ３ 前記のストツパ手段９６は前記の隣接する２
   つの案内板の間に設けられていることを特徴とす
   る前記特許請求の範囲第２項に記載の回路板試験
   装置のアダプタ。 ４ 前記のストツパ手段９６は、前記基板２０か
   ら遠い側の案内板３２の支持手段１６側の面に対
   向して配置されており、またこのストツパ手段９
   ６は保護板４２と協働し、またこのストツパ手段
   ９６は上記支持手段１６とこれから離れて配置さ
   れた案内板３２との間に配置されていることを特
   徴とする前記特許請求の範囲第３項に記載の回路
   板試験装置のアダプタ。 ５ 前記案内板３０，３２には、前記試験すべき
   回路板７２を支持するための支持部材７０，７８
   が前記接触ピン８２と平行に移動自在に設けられ
   ていることを特徴とする前記特許請求の範囲第１
   項ないし第４項のいずれか１に記載の回路板試験
   装置のアダプタ。 ６ 前記の支持部材７０，７８は、戻しばね７６
   を介して前記の案内板３０，３２に支持されてい
   ることを特徴とする前記特許請求の範囲第５項記
   載の回路板試験装置のアダプタ。 ７ 前記の支持部材はピン７０を備え、このピン
   は前記の案内板３０，３２の案内孔６４，６６内
   に移動自在に配置され、またこの支持部材は前記
   の試験すべき回路板７２を支持する拡大部７８を
   備え、この拡大部７８からは前記の試験すべき回
   路板７２に向けて位置決め要素８０が突設され、
   この位置決め要素は前記の回路板７２に形成され
   た嵌合開口８３に嵌合するものであることを特徴
   とする前記特許請求の範囲第５項または第６項に
   記載の回路板試験装置のアダプタ。 ８ 前記の基板２０、案内板３０，３２、および
   保護板４２は、スペーサ要素３６，３８，４０を
   貫通したねじ棒によつて互いに組み立てられてい
   ることを特徴とする前記特許請求の範囲第７項に
   記載の回路板試験装置のアダプタ。 ９ 前記の基板の２０の案内通路１００は、前記
   の案内板３０，３２に向けて円錐形に拡径してい
   ることを特徴とする前記特許請求の範囲第１項な
   いし第８項のいずれか１に記載の回路板試験装置
   のアダプタ。 １０ 前記の基板２０には案内インサート２４が
   設けられ、このインサート内に前記の案内通路１
   ００が形成されていることを特徴とする前記特許
   請求の範囲第１項ないし第９項のいずれか１に記
   載の回路板試験装置のアダプタ。 １１ 前記の各接触ピン８２には接触端部材が設
   けられ、これらの端部材はその縦軸方向に沿つて
   弾性的に移動自在であることを特徴とする前記特
   許請求の範囲第１項ないし第１０項のいずれか１
   に記載の回路板試験装置のアダプタ。