JPH087249B2 - 印刷回路基板の電子検査装置用アダプタ - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は印刷回路基板を電子的に検査するための装置
の均等に配置された接触ラスタ・アレイ（contact rast
er array）を、試験すべき印刷回路基板上に多くの場合
不均等に配置されている接触点のパターンにマッチング
させるためのアダプタに関する。

［従来の技術及びその課題］ EP−B1−26 824に開示されている如く、いわゆるユニ
バーサル・アダプタは１つのプラテンを含み、これが試
験装置のベーシックなラスタアレイの上に置かれ、又上
述した均等に配置された接触ラスタアレイに基づき配置
された貫通通路、又は貫通孔を持っている。離れて対面
するプラテン側のベーシック・ラスタアレイの上にある
距離離れた所に、２つのアダプタ板の集合体が設けら
れ、これが固定スペーサー部品によりある間隔を持った
関係に於いて保持されている。これらのアダプタ板は試
験すべき回路基板の接続点に基づき対応して配置された
孔を備えている。アダプタ板の孔が針状で細長い弾性検
査ピンを受け、このピンの下の部分がその長手方向に対
して直角方向に弾性的に偏向可能で、上述したアダプタ
板の孔とプラテンの通路との間の配列上の誤差を補償す
る如くになっている。又このアダプタは、試験すべき回
路基板をアダプタに配置する手段を含み、これにより、
適切に配列されたピンが試験中の回路基板に対応して配
列された孔と結合する如くになっている。２つ（内及び
外）のアダプタ板が、試験すべき回路基板の接続点に基
づき、これと同じパターンの貫通孔を持ち、又この板が
ある間隔を持って保持され、そのことにより印刷回路基
板に隣接する検査ピンの部分が正確に垂直に、且つ、回
路基板に対して直角になり、又、その接続点と正確に接
触する如くにする。但し、検査ピンの下の更に離れた部
分が垂線から外れても差支え無い。

複雑な回路基板の場合、その上には多数の接続点があ
り、その１つ１つに対して別々の弾性検査ピンが必要で
ある。その結果、長手方向に弾性を持つ検査ピンの製造
自体に可なりの努力が必要で、この種のアダプタは接続
点の数以上に割高なものとなる。更に、この種の弾性検
査ピンの径は既に実際的にこれ以上細く出来ない所まで
細くされているので、現在製造されているこの種の検査
ピンの検査ピン密度には自ずと限界がある。

製造が容易で且つ更に細くすることの出来る長手方向
に堅い検査ピンの使用を可能とするために、いわゆる
“アクティブ・ベーシック接触アレイ”が考案された。
この場合は、回路基板検査装置のベーシック・ラスタ・
アレイの接触エレメントが、実質的に、検査ピンの長手
軸方向に弾性的動作をするように装着されている。この
アクティブ・ベーシック・ラスタ・アレイが印刷回路検
査装置の堅いハードワイヤード・ベーシック接触アレイ
の上に置かれ、確実に、堅い検査ピンが可能な限り又十
分な強さの接触圧力を接触する全ての接続点に掛ける働
きをする。

EP−A1−0 215 146がこの種のアダプタ（“adaptor 8
5"）を開示しており、これが検査されるべき回路基板に
対応したパターンの貫通孔を持つ１つの上板を持ち、こ
れが検査中の回路基板と結合し、この場合、堅い高さの
異なった検査ピンがエラストマーの材料で作られた別の
板を介して延び、このアダプタが検査装置本体の外で操
作されている間、ピンが抜け出すのを防ぐ。このことに
より、しばしば検査されるものと同じ回路基板を検査す
るとき、アダプタに検査ピンを補足するために必要とす
る基本的作業が節約される。これはこのアダプタが再使
用のための一時保管が可能だからである。上述のアダプ
タの利点は、全体的に高さの異なる堅い検査ピンを使用
することが出来ることである。しかし、この検査ピンを
これに簡単に“ドロップ・イン”させることか出来ない
ので、検査ピンの補充は困難である。即ちピンをエラス
トマー板に強制的に通すためには若干の力を掛けねばな
らないからである。

上述したアダプタは印刷回路基板の１面検査用のもの
と考えられる。しかし、現在用途が広まっている型の回
路基板は、その２つの主面に接続点を持っており、その
両面を同じように検査しなければならない。勿論、この
両面を別々に検査することは可能である。しかし、この
方法では、回路基板の両面の間の導電性接続に発生する
導電体の不連続性を検出することは出来ない。この接続
は特に開放され易いのである。このような理由から、両
面印刷回路の両面を同時に検査することの出来る回路基
板検査装置が発達して来ている。これに関連して、この
種の検査装置用のアダプタが必要になって来た。不幸に
して、従来作られたこの種のアダプタは例外的場合を除
いて両面同時検査用に使うことが出来ない、即ち回路基
板の２つの面の接続点の不均等な分布により多数の検査
ピンが検査中の基板を実質的に曲げそして変形させるか
らである。これにより別の又は新しい欠陥が導体に発生
し、又は回路基板の破壊を招き、後者は特にセラミック
基板の場合に多く発生する。回路基板が片面のみで検査
される場合は、検査ピンの不均等な分布即ち局部密集は
それほど有害ではない。これは試験中の回路基板の対向
面と結合する支持部品が検査装置の中の１つの堅い板で
あり、これがこれに掛かる全ての力を受け、曲がること
が無く、従って、検査中の回路基板が実質的に変形を起
さない状態で支持されるからである。回路基板が両面を
同時に検査される場合は、これと同じように支持するこ
とは出来ない。即ち、検査中の回路基板の反対側の、検
査ピンが反対圧力を掛けないような局部に、背後を支え
る部品が何も無いからである。有ったとしても、せいぜ
い、このような背後支持部品は他のアダプタの孔の開い
たアダプタ板を使用する程度で、特に、検査ピンを手で
装着することが出来るようにする為に、これはしばしば
アクリル等の材料で作られているので、これをしっかり
と取付けることが出来ない。従って、従来は、２面回路
基板検査機械の両面に用いられるアダプタは１面用とは
別のもので、その結果可なりの追加費用を必要としてい
た。

［課題を解決するための手段及びその作用］ 本発明の目的は、従来の片側検査用アダプタと同様に
迅速且つ安価に装着することの出来る回路基板検査装置
用アダプタで、しかも１面用にも２面用にも用いられる
ものを提供することで、つまり、いずれの面にも基本的
に同一の構造のものが用いられ、又これらが従来のアダ
プタの持つ利点をそのまま備えたものである。

この目的が本発明により下記のアダプタを設けること
により達成される、即ち、このアダプタは、 検査装置の接触エレメントのパターンにより配列され
た貫通した通路を持ち、検査装置の中の接触エレメント
と平面的平行関係に於いて結合即ちオーバーレイ（over
lay）する如くにしたベースプラテンと； 検査すべく取付けられる回路基板上の接続点の対向す
るパターンにより配列された貫通孔を持ち、これにより
結合される少なくとも１つのアダプター板と； 上記接続点の区域の外側に、上記ベースプラテンと上
記少なくとも１つのアダプター板とに対し垂直に配置さ
れるスペーサー部品手段で、検査装置の接触エレメント
アレーに面していない側の上記ベースプラテンの面の上
に、上記少なくとも１つのアダプター板を、上記ベース
プラテンに対して平行に且つ間隔を持って対面させる如
くに、位置付けるものと； 縦方向に延びる堅い針状の検査ピンで、その各々が、
検査装置の接触エレメントアレイの中の各１個の接触エ
レメントと結合する第１の端部と、検査される回路基板
上の各１個の接続点と接触するための第２の端部とを持
ち、上記検査ピンが、上記ベースプラテンの各上記貫通
通路を通り、又、上記アダプタ板の各上記貫通孔を通り
伸びている、ものと；を含み、 上記スペーサー部品手段が上記アダプター板と上記ベ
ースプラテンとの間の上記の間隔を決定する方向に弾性
的であり、従ってこのアダプターを回路基板の１面又は
２面を同時に検査するのに適したものとする。このアダ
プタの単一構造により（片面又は両面検査を問わず）、
検査ピン取付け装置の如き、アダプタを組立てるのに必
要とする付帯設備に同じものを使用することが可能とな
る。

上記の弾性スペーサーは実質的にリング状のばね部品
の形で非常に安価に設けることが出来、特にこれをプラ
スチック材料から作られる大量生産型の射出成型品とす
ればなお安価となる。

印刷回路基板の両面を同時に検査するために本発明の
アダプタを使用する為には、単に、少なくとも１つのア
ダプタ板、即ち検査中の回路基板と接続するアダプタ板
に、検査中の回路基板の一方の側の検査ピン密度に比し
検査ピン密度の低い区域に、補助の適当な支持手段を設
けるだけで良く、このことにより回路基板の検査ピンの
無い部分の為の背後支持部品としての働きをする外アダ
プタ板のたわみ又は曲りを防ぐ如くにする。但しこれは
回路基板の片面と接続する接触ピンが無いか又は少ない
場合である。このようにして、大多数の接触ピンによっ
て印刷回路基板の１方の面に掛けられる接触圧がバラン
スされる。少なくとも１つのアダプタ板の為のこの追加
的支持手段には色々な形態が考えられ、例えば外アダプ
タ板の下に延び、又それ自身接触ピン・アレーの外側に
支持されたビーム又は横棒である。本発明による実施例
は、その底部で外アダプタ板を支持する分離された弾性
支持柱を含み、これが内アダプタ板（有るとして）に開
けられた追加孔を経て、検査装置そのものの上に開かれ
たベースプラテンに向かい実質的に垂直に伸びている。
この外アダプタ板により受けられる全ての加重がこの分
離された弾性支持柱に伝えられる。つまり、印刷回路基
板の片側のある区域の接続点の数が少なく、基板の反対
側の接触ピンの数に比し少数の接触ピンで済む所で、外
アダプタ板とアダプタ・ベースプラテンとの間に数本の
支持柱が加えられると言うことである。いずれにして
も、これは接触ピンの数の少ない所にのみ必要とされる
ので、このような追加支持柱を置く場所は十分にある。

この支持柱は縦方向に弾性的なものである。従って、
これにより形成される反対圧力は、少なくとも１つの
（外）アダプタ板とベースプラテンとの間の距離の変化
によって変わる荷重に比例する。

最も有利な形としては、少なくとも１つ（外）アダプ
タ板とベースプラテンとの間に、追加の（内）アダプタ
板を設け、この内及び外アダプタ板の間の区域にあるピ
ンの断面を、これらのアダプタ板にあけられた孔の径よ
り幅を大きくすることである。これらの孔は試験すべき
回路基板の接続点のパターンに従って設けられたもので
ある。このようにすれば、この組み合わされたアダプタ
が検査装置の外で扱われるとき、この検査ピンがこのア
ダプタから脱落することが無い。

［実施例］ 本発明によるアダプタは少なくとも２つの、好ましく
は３っの板を含み、これが弾性スペーサー部品及びワッ
シャを介して互いに接続されている。細かく言えば、ベ
ースプラテン23が縦の弾性スペーサー24を介して内アダ
プタ板に接続され、この板が介在ワッシャ27を介して外
アダプタ板21に接続されている。

アダプタ板21,22が貫通した孔28を持ち、この孔が検
査中の回路基板（試験片）の検査すべき接続点のパター
ン通りに開けられている。つまり、パターン通りに孔を
板21,22に開けると言うことは、孔が検査ピン25を受け
るために設けられると言うことである。内アダプタ板22
（及び第２図の32、後述）に別の追加の孔15が設けら
れ、これが支持柱26を受け入れる。このアダプタ板は非
導電性の材料、例えばアクリル、エポキシ、GFK等の基
板材で作られる。第１図に示すアダプタの最下部のベー
スプラテンは、ベーシック・アレイ通過29を持った印刷
界路基板検査装置の接触部品のパターンに従って、例え
ばドリル等により、孔を開けられている。つまり、ベー
スプラテン23は印刷回路基板検査装置の接触部品のパタ
ーンに従って完全に規則的に分布した貫通孔を持ち、一
方、アダプタ板21,23は不規則なパターンに分布した孔2
8を持っている。

ベースプラテン23の通路29とアダプタ板の孔28との間
に検査ピン25が延び、検査装置の節所部品と検査中の回
路基板10の接続点との間を電気的に接続する。第１図に
示す如く、これらの検査ピンの一部がベースプラテン23
の近くでその下部が弾性的に偏向可能で、アダプタ板の
孔28とベースプラテンの通路29との間の配列上のずれを
調節し、即ち、検査すべき回路基板10の接続点の局部的
密度の増加に対応する。取扱い中に、第１図のアダプタ
から検査ピンが脱落するのを防ぐ為に、各ピン25がアダ
プタ板21,22の間に拡大部分16を持ち、その幅がアダプ
タ板の孔28の径より大きくなる如くにしてある。この種
の拡大部分はカール等の簡単な手段により検査ピンに滑
らかで径の違った部分を作ることによっても設けられ
る。これと異なり、第６図に示す各種の実施例の如くに
しても良い。

必要に応じて、追加の支持柱26が外アダプタ板21とベ
ースプラテン23との間の検査ピンの分布密度の少ない所
に挿入される。この支持柱の為に、追加の孔15が（目視
的にあるいは正確な計算に基づき）、内アダプタ板22の
孔28の数の少ない所に設けられる。第１図の如くアダプ
タが組立てられ、板21がまだ取付けられていない間に、
第４図の如くに作られた支持柱26がこの追加の孔15に差
し込まれる。この支持柱26は、それぞれ、ヘッド14とピ
ンの軸部に巻かれたばね13とを持つ１本のピンから成立
っている。断面変形部17を支持柱の下端部に設け、この
柱が装置から外されたとき、圧縮ばねが外れないように
しても良い。第１図に示す如く、支持柱のヘッド14は外
アダプタ板21の下の面（つまり回路基板10に面していな
い反対面）に係接し、一方、支持柱の下端部がその変形
部分17と共にベースプラテン23の孔又は通路29に差し込
まれる。ばね13はベースプラテン23に係接するが、これ
はその直径が孔又は通路29の直径より大きいからであ
る。このようにして、支持柱26がアダプタ板21に作用す
る過度の局部荷重を受止め、ばね13を介してこれをベー
スプラテン23に伝える。プラテン23は接触エレメントア
レイ集合体40の絶縁ブロックに係接し、それによって支
持される（第２図参照）。

外アダプタ板21はその中に位置決めピン12を持ち、位
置決めマッチング孔と協動し、試験中の回路基板10を検
査ピン又はアダプタ板の孔28（検査中の回路基板により
特定される孔）に対応するように配設する。従ってこの
位置決めピンにより、回路基板10がアダプタの中心に置
かれ、従って回路基板の接続点の位置とアダプタの検査
ピンの位置とが一致する。

アダプタ板の孔28（検査中の回路基板により特定され
る孔）の直径はそこに使用される堅い検査ピンの直径よ
り若干大きくなっている（例えば、堅いピン:0.8mm、ア
ダプタ板の孔28:0.85〜0.9mm）。

アダプタ板21,22の縁、即ち孔28のある区域の外、に
沿って追加の孔が設けられ（図示無し）、螺子の切られ
た固定具を受け、板21,22をワッシャ27またはスペーサ
ー24で組立てる。同じような孔がベースプラテン23にも
設けられる。

上述した如く、ベースプラテン23は回路基板検査装置
の接触エレメントのパターンを持った貫通孔又は貫通通
路29を持っている。この孔又は通路の直径は検査ピン25
及び各種の径を持つ支持柱26を収容し得るように選択さ
れる。更に、ベースプラテン23の貫通孔を皿形孔、即ち
円錘形の出口開口部を持つ孔とし、検査ピンをアダプタ
に取付け易いようにする。又、ベースプラテン23と少な
くとも内アダプタ板22とを透明な材料で作り、検査ピン
が手で取付けられ、又アダプタの中での検査ピン25のシ
ョートが見える如くにする。検査ピン及び、若し使用さ
れているならば、支持柱26は、先ず、外アダプタ板21の
外された状態でアダプタと組合わされる。この組立てが
完了したならば、板21が取付けられ、螺子でスペーサー
部品27に押し付けられ、検査ピン支持柱とを固定する。

２つのアダプタ板21,22が、スペーサー部品27によっ
て、相互に適切な位置関係になるように固定される。こ
れらの板がスペーサー24によってベースプラテン23に対
して位置決めされる。第１及び２図に示した実施例に於
いては、このスペーサーが長手方向に弾性を持ってい
る。これに代わる実施例の１つとしての弾性スペーサー
が第２図に符号34で示されている。第５図にその詳細を
示す如く、このスペーサー34は組立て孔を持った適宜寸
法のコンジット部分を、即ちプラスチック材料を射出成
型した部材を含んでいる。この種の（例えば開放された
又は閉ざされた板ばねの形をした）弾性スペーサー部品
の効用によりアダプタの費用が下がる。検査中の回路基
板が検査ピンに押し付けられると、アダプタ板21,22検
査する回路基板に特定されるもの）が、第１図に示す如
く、堅い検査ピンと共に下向きに移動し、この検査ピン
25の下向きの軸移動が、その下の（アクティブな）ベー
シック接触アレイ集合体40の弾性接触エレメント42によ
り押し返され、一方、スペーサー24又は34がそれに応じ
て変形し、同様に、最後に各支持柱26の圧縮ばね13が変
形する。

第２図には、回路基板10の両面検査の為に、第１図と
同じ型のアダプタが２つ含まれるアダプタ集合体が示さ
れている。弾性スペーサー24及び34を別として、この２
つのアダプタの構造は同じである。アダプタ20及び30が
それぞれ検査する回路基板の下面及び上面接触用に使用
される。下のアダプタ20がその下の回路基板検査装置の
接触エレメントアレイ集合体40の上に置かれるが、その
詳細は図示されていない。一方、このアレイ集合体40が
弾性接触エレメント42を持ち、これが絶縁材料で出来た
ブロック41の孔43に挿入され、且つプラグ形の接触エレ
メントを介して回路基板検査装置専用の検査電子装置に
接続されている。従って、接触エレメントアレイ集合体
の中のこの弾性接触エレメントは検査装置に繋がってい
る。

上のアダプタ30は印刷回路基板検査装置の上部接触ア
レイ集合体50に取り付けられている。この上部ベーシッ
ク接触エレメントアレイ集合体50は下部ベーシック接触
エレメントアレイ集合体40と同じ構造である。この２つ
の集合体40,50は適当な機械手段（図示無し）により互
いに向き合って移動することが出来、これに検査電子装
置が追随し、上及び下部接触エレメントアレイ集合体4
0,50の間の距離を近付けるようになっている。両アダプ
タ20,30の堅い検査ピン25,35が各々のベーシックプラテ
ン23,33の通路を介して、アクティブ・ベーシック接触
エレメントアレイ集合体40,50の孔にそれぞれ入り、弾
性接触エレメント42,52がそれぞれ圧迫される。これと
同時に、各ベースプラテン23,33と、各対をなすアダプ
タ板21,22及び31,32との間の距離が変化する。これは、
この対をなすアダプタ板が弾性スペーサー24,34等を介
して保持されているからである。

支持柱26,36が印刷回路基板検査装置の各接触エレメ
ントアレイ集合体40,50の孔に通され、柱26,36のばね13
が圧迫される。下のアダプタ20の検査ピン25が検査中の
回路基板10を上のアダプタ30の外アダプタ板31に押付
け、一方、板31が柱36により補助的支持を受ける。同じ
ようにして、上のアダプタ30の検査ピン35が検査中の回
路基板10を下のアダプタ20の外アダプタ板21に押付け、
一方板21が柱26により支持を受ける。結果として、回路
基板10がクランプされた状態で外アダプタ板21,31の間
に保持され、これらのアダプタ板自身が変形されたとき
にのみ変形することになるが、このようなことは支持柱
26,36ょって防止されている。

１つの支持柱26,36のただ１つの圧縮ばね13が多くの
検査ピンの結合力を補償出来るので、１つのアダプタに
比較的少数の支持柱26,36を設けるだけで十分である。
この支持柱の数及び相互の間隔は、検査中の回路基板の
両面に接触の為に用いられる検査ピンの数によって決ま
り、又この支持柱は目視推定によっても、あるいは正確
な計算によっても位置決めすることが出来る。

第２図に示す如く、検査中の回路基板が両面で接触さ
れている場合は、それぞれの側にそれぞれ１つのアダプ
タが用いられる。この２つのアダプタが結合ピン（図示
無し）により互いに結合される。この為に、検査中の回
路基板の接続点に対応する孔が設けられている区域の外
でこのピンと協動すべく配列された孔がアダプタ板31,3
2に設けられる。

上述し又図で示した型のアダプタの組立て及び装着方
法は、ベースプラテンと内アダプタ板（検査する回路基
板に対応する特定なもの）が弾性スペーサーを挟んで装
着される如くにして行われる。次に、検査ピンが内アダ
プタ板の孔を介して挿入される。場合によって（例え
ば、検査する回路基板の極部の検査点密度が高い場
合）、この検査ピンは数mm横にずらされることがある。
検査ピンは手又は自動機械によってアダプタに配置され
る。次に、外アダプタ板が所定の位置に配置される。こ
の２つのアダプタ板が透明ならば、検査ピンが互いに接
触してショートしていないかどうかを目視で検査するこ
とが出来る。この回路基板検査装置を用い、アダプタを
上述の如くに組立てたならば、次に検査ピンの数及び配
置の検査とアダプタの中でのショートの検出が行われ
る。

以上、本発明の実施例に就いて説明したが、本発明の
範囲から逸脱することなく、これに各種の変更を加える
ことは容易である。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明によるアダプタの基本的構造を示す断
面図、 第２図は、第１図と同様であるが、但し、第１図と基本
的に同じ構造のアダプタを２個使用し、例えば、電子回
路基板検査装置で印刷回路基板の同時２面検査を行なう
１つの実施例の場合の、本装置の断面図、 第３図は、本発明のアダプタにより、検査中の回路基板
に接続された検査装置のベーシック・アクティブ接触ア
レイの基本的構造を、一部を切り欠いて示す拡大図、 第４図は、本発明による弾性支持性の正面図、 第５図は、ベースプラテンとアダプタ板との間の弾性ス
ペーサィーの１つの実施例を、一部を切り欠いて示す正
面図、 第６図は、本発明のアダプタに用いられる接触ピンの各
種実施例を示す正面図、である。

Claims (8)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】検査すべき回路基板（10）上に不規則的に
   配列された接触形態の複数の接続点に、印刷回路基板用
   電子検査装置に規則的に配列された接触グリッドを適合
   する印刷回路基板の電子検査装置用アダプタであっで、 上記電子検査装置の接触グリッドに対応した複数の穿孔
   通路（29）を有し、且つ、上記電子検査装置の基台グリ
   ッド上に並列配置されたベースプレート（23,33）と、 上記プレートに対面しており、検査すべき回路基板（1
   0）の複数の接続点の接触形状に一致した複数の貫通孔
   （28）を有し、且つ、検査すべき回路基板（10）を支持
   するように、回路基板（10）上に配置可能な外アダプタ
   板（21,31）と、 接触グリッドの外側に配列され、ベースプレート（23,3
   3）及び上記電子検査装置の基台グリッドから離間した
   外アダプタ板（21,31）に対して垂直方向に延出し、且
   つ、上記ベースプレート（23,33）の側面上に所定間隔
   で配置された複数のスペーサー（24,34）と、 その一端が、長手方向に弾性的に設けられた上記電子検
   査装置の接触グリッドの接触面上に位置付けられてお
   り、長手方向に堅く且つ上記ベースプレートの穿孔通路
   （29）及び外アダプタ板（21.31）の貫通孔（28）を介
   して延出し、且つ、その他端が、検査すべき回路基板
   （10）の複数の接続点に接触する複数の針状検査ピン
   （25,35）と、を備えた印刷回路基板の電子検査装置用
   アダプタにおいて、 この電子検査装置用アダプタは、上記検査すべき回路基
   板（10）の少なくとも片面を検査可能に構成されている
   と共に、 検査すべき回路基板（10）の複数の接続点の接触形状に
   一致して穿孔が施された内アダプタ板（22,32）を備え
   ており、この内アダプタ板は、外アダプタ板（21,31）
   とベースプレート（23,33）との間に配置されており、
   外アダプタ板（21,31）に対してスペーサー部品手段（2
   7）を介して一定の間隔で接続され、且つ、長手方向に
   弾性を有するスペーサー（24,34）を介してベースプレ
   ート（23,33）に接続されており、また、内アダプタ板
   と外アダプタ板との間の領域内の検査ピン（25,35）に
   は、夫々、長手方向の位置決め用の拡大断面部（16）が
   設けられている印刷回路基板の電子検査装置用アダプ
   タ。
2. 【請求項２】上記スペーサーには、その周縁に沿った２
   つの平らな取り付け部を有するリング状ばね手段が設け
   られており、上記２つの平らな取り付け部は、上記少な
   くとも１つのアダプタ板及び上記ベースプレートに接続
   されていると共に、上記リング状ばね手段の直径に対し
   て垂直方向に位置決めされている請求項１に記載の印刷
   回路基板の電子検査装置用アダプタ。
3. 【請求項３】上記リング状ばね手段は、プラスチック材
   料を射出成型した部材を備える請求項２に記載の印刷回
   路基板の電子検査装置用アダプタ。
4. 【請求項４】上記印刷回路基板の両面を同時に検査して
   いる間、検査中の上記回路基板の一方の側面に作用する
   上記複数の検査ピンの圧力によって上記アダプタ板が変
   形しないように、上記複数の検査ピンの密度の低い区域
   において検査中の上記回路基板に係合した上記アダプタ
   板の他方の側面を支持する支持手段を備える請求項１に
   記載の印刷回路基板の電子検査装置用アダプタ。
5. 【請求項５】上記支持手段は、上記アダプタ板に係合す
   ると共に、上記アダプタ板及び上記ベースプレートに対
   して略垂直に延出し且つ上記アダプタ板に作用した荷重
   が伝達されるように、その長手方向に弾性を有する弾性
   支持柱を備える請求項４に記載の印刷回路基板の電子検
   査装置用アダプタ。
6. 【請求項６】上記少なくとも１つのアダプタ板と上記ベ
   ースプレートとの間に、上記少なくとも１つのアダプタ
   板に対し一定の間隔で配置される第２のアダプタ板を備
   えると共に、上記２つのアダプタ板の間の区域における
   上記複数の検査ピンには、夫々、これら検査ピンの長手
   方向の位置を固定する固定手段が設けられている請求項
   ４に記載の印刷回路基板の電子検査装置用アダプタ。
7. 【請求項７】上記固定手段には、上記アダプタ板に形成
   された複数の検査ピン用受け孔の直径よりも幅広の上記
   検査ピンの拡大断面部が設けられている請求項４に記載
   の印刷回路基板の電子検査装置用アダプタ。
8. 【請求項８】上記アダプタ板は、上記複数の検査ピンを
   上記アダプタ板内に位置付けるように、取り外し可能で
   ある請求項６に記載の印刷回路基板の電子検査装置用ア
   ダプタ。