KR20080070133A - 프로브 및 이를 이용한 디스플레이 패널 검사용 프로브블록 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록에 관한 것으로서, 상세하게는 피치구현부를 통해 프로브 자체로서 배열피치를 구현함으로써, 용이한 작업으로 조밀하면서도 정밀한 배열피치를 구현할 수 있을 뿐만 아니라, 조밀화되는 다수의 전극패드에 상응하여 정확한 검사공정을 수행할 수 있으며, 다수의 프로브 중 일부에 손상 또는 변형이 발생하여 보수가 불가능한 경우에도, 손상 또는 변형이 발생한 부분만을 교체할 수 있어 보수작업의 용이성과 그에 따른 유지비용을 절감할 수 있는 프로브 및 이를 이용한 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록에 관한 것이다.
이를 위한 본 발명의 일실시예에 따른 프로브는 디스플레이 패널에 구비된 다수의 전극패드에 직접 접촉되어 전기적 신호를 전달하는 프로브핀; 및 상기 프로브핀의 외측에 형성되어 그 내부에 상기 프로브핀을 수용하고, 상기 다수의 전극패드가 배열된 피치에 상응하는 피치를 구현하며, 인접 배열되는 프로브핀 상호간을 절연시키는 피치구현부를 포함한다.
프로브, 피치, 전극패드, 디스플레이, 프로브핀
Description
도 1은 종래의 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록의 사시도
도 2는 종래의 프로브 블록에서 프로브를 고정하는 슬롯구조체의 사시도
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 제1프로브를 나타낸 사시도
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 제2프로브를 나타낸 사시도
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 프로브블록의 결합사시도
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 프로브블록의 분해사시도
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 프로브블록에서 프로브조립체의 분해사시도
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 프로브블록에서 프로브조립체의 분해 단면도
도 9은 본 발명의 다른 실시예에 따른 프로브블록에서 프로브조립체의 결합단면도
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*
2 : 본 발명의 일실시예에 따른 프로브 2a : 제1프로브 2b : 제2프로브
3 : 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록
4 : 연결기판 10 : 종래의 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록
11 : 블록베이스 12 : 연결기판 13 : 프로브조립체 14 : 프로브핀
15 : 슬롯구조체 15a, 15b : 외부소켓 16a, 16b : 슬롯 22 : 피치구현부
31 : 프로브조립체 32 : 유동방지부 32a : 제1유동방지부
32b : 제2유동방지부 33 : 블록베이스 34 : 연결블록 35 : 보강블록
211 : 패드접촉부 212 : 기판접촉부 221 : 본체 221a : 돌출부
222 : 패드간섭방지부 223 : 기판간섭방지부 224 : 패드연결부
225 : 기판연결부 311 : 하우징 311a : 측벽 311b : 전면 311c : 후면
311d : 상면 312 : 덮개부 312a : 제1덮개부 312b : 제2덮개부
312c : 폭 321 : 유동방지홈 331 : 결합돌기 341 : 안착구 342 : 체결돌기
351 : 관통공 3111 : 프로브수용홈 3112 : 삽입홈 3113 : 결합홈
3114 : 덮개부결합홈 3121 : 가이드홈 3122 : 삽입구
본 발명은 디스플레이 패널을 검사하는 검사장비에 관한 것으로서, 상세하게는 디스플레이 패널에 구비된 다수의 전극패드에 다수의 프로브를 직접 접촉시켜 디스플레이 패널의 불량 유무를 검사하는 프로브 및 이를 이용한 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록에 관한 것이다.
일반적으로 액정표시장치와 같은 디스플레이 패널은 양산기술 확보와 연구개 발의 성과로 대형화와 고해상도화가 급속도로 진전되어 노트북 컴퓨터용뿐만 아니라 대형 모니터, LCD, PDP, MOBILE 등과 같은 응용 제품으로도 개발되어 기존의 CRT(Cathode Ray Tube) 제품을 점진적으로 대체하고 있어 디스플레이 산업에서의 그 비중이 점차 증대되고 있다.
이와 같은 디스플레이 패널은 2개의 기판상에 2개의 전극이 각각 형성되어 있는 면이 마주 대하도록 배치하고, 2개의 기판 사이에 액정 물질을 주입한 다음, 두 전극에 전압을 인가하여 생성되는 전기장에 의해 액정분자를 움직이게 함으로써 이에 따라 변화되는 빛의 투과율에 의해 화상을 표현하는 장치로서, 구동회로(Drive IC)를 포함한다.
상기 구동회로는 다수의 게이트라인과 데이터라인이 교차하면서 규정하는 디스플레이 패널의 화소영역에 전기적 신호를 인가하여 화상을 표시하도록 하는 한편, 반도체 칩과 마찬가지로 상기 디스플레이 패널을 제품에 장착하기 전에 디스플레이 패널에 전기적 신호를 인가하여 화소의 불량 유무를 검사할 수 있도록 하며, 이를 위한 구성으로 다수의 전극패드를 포함하여 이루어진다.
도 1은 종래의 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록의 사시도이다.
도 1을 참고하면, 종래의 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록(10)은 디스플레이 패널에 구비된 다수의 전극패드에 직접 접촉하여, 다수의 전극패드와 검사시스템을 전기적으로 연결시켜 불량 유무를 검사하는 장치로서, 블록베이스(11), 연결기판(12)과, 프로브조립체(13)를 포함한다.
상기 블록베이스(11)는 일측은 검사시스템에 장착되고, 타측은 상기 프로브 조립체(13)의 상면과 결합되어 상기 프로브조립체(13)를 지지한다.
상기 연결기판(12)은 검사시스템과 연결되고, 상기 블록베이스(11)의 저면에서 상기 프로브조립체(13)를 통해 다수의 전극패드와 검사시스템을 전기적으로 연결시킨다.
상기 프로브조립체(13)는 그 내부에 다수의 프로브핀(14)을 수용하며, 일측에서는 다수의 프로브핀(14)이 하방으로 일부 돌출되고, 타측에서는 다수의 프로브핀(14)이 상기 연결기판(12)에 접촉되어 다수의 전극패드와 검사시스템을 전기적으로 연결시킬 수 있도록 한다.
상기 다수의 프로브핀(14)은 디스플레이 패널에 구비된 다수의 전극패드에 직접 접촉하고, 상기 연결기판(12)에 직접 접촉되어 전기적 신호를 전달하며, 각 프로브핀(14)은 다수의 전극패드 각각이 이격된 피치와 동일한 거리로 이격되는 피치로 구현되고, 이러한 피치구현은 정확한 검사결과를 확보하는데 중요한 요소이다.
도 2는 종래의 프로브 블록에서 프로브를 고정하는 슬롯구조체의 사시도로서, 다수의 프로브핀은 다양한 구성과 방법을 이용하여 다수의 전극패드에 부합하는 피치로 구현되면서 프로브조립체에 고정되는데, 그 일례로서 이용되는 슬롯구조체를 나타낸 도면이다.
도 1 및 도 2를 참고하면, 상기 슬롯구조체(15)는 다수의 슬롯(16a, 16b)이 형성된 한쌍의 외부소켓(15a, 15b)으로 이루어지고, 상기 외부소켓(15a, 15b) 사이에 다수의 프로브핀(14)이 삽입되어 고정된다.
상기 슬롯(16a, 16b)은 외부소켓(15a, 15b)의 일면에서 일정 깊이로 함몰되어 형성되는 홈으로서, 각 홈마다 프로브핀(14)이 삽입되어 고정되고, 동일한 거리로 이격되어 다수개가 형성되며, 상기 슬롯(16a, 16b)이 이격되는 거리는 다수의 전극패드가 배열된 피치와 일치하도록 형성되어 상기 다수의 프로브핀(14)의 피치를 구현한다.
여기서, 종래의 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록(10)은 정확한 검사결과를 도출하기 위해서 다수의 전극패드가 배열된 피치와 프로브핀(14)이 배열된 피치가 일치할 것이 요구되는데, 상기 슬롯(16a, 16b)은 일반적으로 기계가공을 통해 형성되므로, 정밀한 피치를 구현하는데 어려움이 있다.
또한, 디스플레이 기술분야의 발전에 따라 다수의 전극패드는 점차적으로 조밀해지는 파인피치(Fine-Pitch)로 구현되는데, 이에 상응하여 프로브핀(14)과 그 피치를 구현하는 슬롯(16a, 16b)의 배열피치 또한 함께 조밀화되어야 하나, 기계가공으로 인한 재료의 변형률이 높아 미세가공에 한계가 있기 때문에 조밀한 피치 구현의 어려움은 더욱 증대된다.
또한, 지속적인 사용과 검사를 수행하는 자의 실수로 인해 상기 슬롯(16a, 16b)에 손상 또는 변형이 발생한 경우, 슬롯(16a, 16b)의 배열피치가 조밀한 만큼 그에 비례하여 보수작업의 어려움도 증대되며, 하나의 슬롯(16a, 16b)이 손상되어 보수가 불가능한 경우에도 전체 슬롯구조체(15)를 교체해야 하므로, 유지비용이 증대되는 문제가 있다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하고자 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 디스플레이 패널에 구비된 다수의 전극패드의 배열피치에 부합하는 정밀한 피치를 구현할 수 있는 프로브 및 이를 이용한 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 다른 목적은 용이한 구성으로 정밀한 피치를 구현할 수 있으면서도, 일부에 손상 또는 변형이 발생하여 보수가 불가능한 경우에도 손상 또는 변형이 발생한 부분만을 교체할 수 있어 보수작업의 용이성과 유지비용을 절감할 수 있는 프로브 및 이를 이용한 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 또 다른 목적은 디스플레이 기술분야의 비약적인 발전으로 다수의 전극패드의 배열피치가 조밀화되는 현상에 부응하여, 그 배열피치에 상응하는 조밀한 피치를 구현할 수 있고, 그에 따라 디스플레이 패널의 불량 여부에 관한 정확한 검사결과를 획득할 수 있는 프로브 및 이를 이용한 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상술한 본 발명의 목적을 달성하기 위한 프로브 및 이를 이용한 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록은 하기와 같은 구성을 포함한다.
본 발명의 일실시예에 따른 프로브는 디스플레이 패널에 구비된 다수의 전극패드에 직접 접촉되어 전기적 신호를 전달하는 프로브핀; 및 상기 프로브핀의 외측에 형성되어 그 내부에 상기 프로브핀을 수용하고, 상기 다수의 전극패드가 배열된 피치에 상응하는 피치를 구현하며, 인접 배열되는 프로브핀 상호간을 절연시키는 피치구현부를 포함한다.
또한, 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록은, 다수의 프로브가 적층 배열되는 프로브수용홈을 가지며, 상기 피치구현부에 의해 피치가 구현되는 프로브조립체; 상기 프로브조립체가 결합되고 검사시스템에 장착되는 블록베이스; 및 연결기판이 결합되고 상기 블록베이스와 결합되는 연결블록을 포함한다.
따라서, 상기 피치구현부를 통해 프로브 자체로서 배열피치를 구현함으로써, 용이한 구성으로 정밀한 피치를 형성할 수 있고, 조밀화되는 다수의 전극패드의 배열피치에 대해 정확한 검사공정을 수행할 수 있으며, 일부 프로브가 손상 또는 변형이 발생한 경우 손상 또는 변형이 발생한 프로브만을 교체할 수 있어 보수작업의 용이성과 유지비용을 절감할 수 있다.
여기서, 본 발명은 용이한 구성으로 정밀한 피치를 구현할 수 있는 본 발명의 일실시예에 따른 프로브와, 상기 프로브를 수용하여 검사시스템과 연결하는 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록을 포함한다.
이하에서는 상술한 실시예 중에서 본 발명의 일실시예에 따른 프로브의 구성에 관한 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 제1프로브를 나타낸 사시도이다.
도 3을 참고하면, 본 발명의 일실시예에 따른 프로브(2)는 디스플레이 패널에 대한 검사공정을 수행하기 위해 일측은 전극패드에 접촉되고, 타측은 검사시스 템과 연결되는 연결기판에 접촉되는 구성으로서, 프로브핀과 피치구현부(22)를 포함한다.
상기 프로브핀은 다수의 전극패드와 연결기판을 전기적으로 연결시키는 구성으로서, 그 외측에 상기 피치구현부(22)가 형성되고, 그에 따라 상기 피치구현부(22)의 내부에 수용되며, 패드접촉부(211)와 기판접촉부(212)를 포함한다.
상기 패드접촉부(211)는 다수의 전극패드와 직접 접촉되는 구성으로서, 다수의 전극패드와 접촉되는 면이 상기 피치구현부(22) 외부로 노출되며, 다수의 전극패드에 접촉하기 위해 하방(화살표 B방향)으로 절곡되어 형성된다.
상기 기판접촉부(212)는 연결기판에 직접 접촉되는 구성으로서, 연결기판과 접촉되는 면이 상기 피치구현부(22) 외부로 노출되며, 연결기판에 접촉하기 위해 상방(화살표 C방향)으로 절곡되어 형성된다.
한편, 상기 프로브핀의 구체적인 형태는 그 외측에 형성되는 피치구현부(22)와 대략 일치하는 박판 형태로 형성될 수 있다.
상기 피치구현부(22)는 그 내부에 상기 프로브핀을 수용할 수 있도록 상기 프로브핀의 외측에 형성되고, 인접 배열되는 프로브핀 상호간을 절연시키면서 그 두께로 상기 프로브(2)의 피치를 구현하는 구성으로서, 본체(221), 패드간섭방지부(222), 기판간섭방지부(223), 패드연결부(224)와, 기판연결부(225)를 포함한다.
또한, 상기 피치구현부(22)는 프로브핀에 페럴린(Paryline) 코팅하여 형성되는 것이 바람직하며, 상기 피치구현부(22)에 의해 프로브(2) 자체로서 피치가 구현될 수 있으므로, 종래 기계가공의 한계로 인한 피치구현의 어려움을 해결하여 용이 한 가공으로 정밀한 피치 구현을 실현할 수 있을 뿐만 아니라, 일부 프로브(2)가 손상된 경우 손상된 일부 프로브(2)만을 교체할 수 있어 보수작업의 용이성을 구현할 수 있다.
상기 본체(221)는 전체적으로 사각판형으로 형성되고, 상측 양단에서 돌출되는 돌출부(221a)를 포함하여 이루어지며, 본 발명의 다른 실시예에 따른 프로브블록에 상기 프로브(2)가 수용되어 결합되기 위한 구성이다.
상기 패드간섭방지부(222)는 패드접촉부(211)의 일면을 노출시키면서 그 외측에 형성되는 구성으로서, 전극패드에 접촉되는 방향(화살표 B방향)으로 연장되면서 양측면이 축경되어 단을 이루며 일정 길이 연장되어 형성된다.
이는 상기 패드간섭방지부(222)가 단을 이루지 않는 형태로 형성되는 경우, 상기 피치구현부(3)를 페럴린 코팅하여 형성한 후에 그 외면을 균일하게 형성하기 위해 래핑공정을 실시하게 되는데, 래핑공정을 수행하는 과정에서 이물들이 잔존할 수 있으며, 그에 따라 인접배열되는 프로브(2) 상호간에 간섭이 발생되어 다수의 전극패드에 정확히 접촉되지 않는 문제가 발생될 수 있기 때문이다.
따라서, 이를 방지하기 위해 상기 패드간섭방지부(222)는 단을 이루며 형성되는 것이며, 그에 따라 다수의 전극패드에 접촉하는 패드접촉부(211) 상호간에 간섭을 일으키는 것을 방지하여, 보다 정확한 검사공정을 수행할 수 있도록 한다.
또한, 래핑공정은 자동래핑머신(Auto Lapping Machine) 또는 래핑지그(Lapping Jig) 위에 래핑 필름(Lapping Film)을 부착한 후, 사용자가 원하는 사양으로 래핑공정을 실시함이 바람직하다.
상기 기판간섭방지부(223)는 기판접촉부(212)의 일면을 노출시키면서 그 외측에 형성되는 구성으로서, 연결기판에 접촉되는 방향(화살표 C방향)으로 연장되면서 양측면이 축경되어 단을 이루며 일정 길이 연장되어 형성된다.
이러한, 상기 기판간섭방지부(223)는 상술한 패드간섭방지부(222)와 마찬가지로, 연결기판에 접촉하는 기판접촉부(212) 상호간에 간섭을 일으키는 것을 방지하여 보다 정확한 검사공정을 수행할 수 있도록 단을 이루며 형성되는 것이다.
상기 패드연결부(224)는 본체(221)와 패드간섭방지부(222)를 연결하는 구성으로서, 상기 본체(221)의 하측 일단에서 상기 패드접촉부(211)를 다수의 전극패드에 접촉시킬 수 있는 길이로 연장되어 형성된다.
상기 기판연결부(225)는 본체(221)와 기판간섭방지부(223)를 연결하는 구성으로서, 상기 본체(221)의 하측 타단에서 상기 기판접촉부(212)를 연결기판에 접촉시킬 수 있는 길이로 연장되어 형성된다.
이하에서는 상술한 본 발명의 실시예 중에서 상기 프로브를 수용하여 검사시스템과 연결하는, 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록의 구성에 대한 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 프로브블록의 결합사시도이다.
도 5를 참고하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록(3)은 프로브조립체(31), 유동방지부(32), 블록베이스(33), 연결블록(34), 보강블록(35)을 포함한다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 프로브블록의 분해사시도이고, 도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 프로브블록에서 프로브조립체의 분해사시도이다.
도 5 내지 도 7을 참고하면, 상기 프로브조립체(31)는 다수의 프로브(2)가 적층 배열되어 수용되고, 상기 프로브(2)를 다수의 전극패드와 연결기판(4)에 각각 접촉되도록 하며, 하우징(311), 덮개부(312)와 패드(도시되지 않음)를 포함한다.
따라서, 상기 프로브블록(3)은 별도의 기계가공 없이 피치구현부(22)에 의해 피치가 구현되므로, 상기 프로브(2)를 적층 배열하는 것으로 조밀화되는 전극패드에 상응하는 정밀한 피치를 구현할 수 있다.
또한, 상기 연결기판(4)은 그 일측에 구동IC(Drive IC)가 실장되고, 이러한 구동IC를 검사시스템과 프로브(2)에 각각 연결시켜, 디스플레이 패널에 대한 검사공정을 수행할 수 있도록 하는 구성이다.
상기 하우징(311)은 프로브조립체(31)의 본체를 이루는 구성으로서, 그 내부에 다수의 프로브(2)를 수용하고, 상기 블록베이스(33)에 결합되며, 프로브수용홈(3111), 삽입홈(3112), 결합홈(3113)과, 덮개부결합홈(3114)을 포함한다.
상기 프로브수용홈(3111)은 하우징(311)의 양측벽(311a)에 의해 규정되는 개방된 공간으로서, 다수의 프로브(2)가 적층 배열되면서 수용, 고정되고, 상기 프로브(2)의 본체(221)와 대략 일치하는 형태로 형성되며, 상기 양측벽(311a)이 이격된 거리는 상기 프로브 블록(3)이 검사하고자 하는 검사영역에 상응하는 길이로 형성되는 것이 바람직하다.
한편, 상기 프로브수용홈(3111)은 상술한 프로브(2)가 적층 배열되면서 수용, 고정될 수 있으나, 인접 배열되는 프로브(2) 상호간에 간섭을 일으키지 않으면 서 전극패드의 배열피치에 정확하게 접촉될 수 있도록, 도 5에 도시된 바와 같이 다수의 전극패드에 지그재그로 접촉될 수 있는 프로브(2)가 순차적으로 적층 배열되는 것이 바람직하다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 제2프로브를 나타낸 사시도이다.
따라서, 도 3 내지 도 5를 참고하면, 상기 프로브수용홈(3111)에는 도 3에 도시된 바와 같은 제1프로브, 및 도 4에 도시된 바와 같은 제2프로브가 순차적으로 적층 배열되면서 고정될 수 있는데, 이러한 상기 제1프로브(2a)와 제2프로브는(2b)는 상기 패드연결부(224)와 기판연결부(225)가 각각 다른 길이로 형성된다.
이를 보다 구체적으로 살펴보면, 상기 제1프로브(2a)와 제2프로브(2b)는 전체 길이(L1, L2)는 대략 일치하나, 상기 패드연결부(224)는 제1프로브(2a) 및 제2프로브(2b)에서 각각 서로 다른 길이(A1, B1)로 형성되고, 상기 기판연결부(225) 또한 제1프로브(2a)와 제2프로브(2b)에서 각각 서로 다른 길이(A2, B2)로 형성된다.
또한, 상기 제1프로브(2a)는, 도 3을 참고하면, 패드연결부(224)의 길이(A1)가 기판연결부(225)의 길이(A2) 보다 길게 형성되고, 상기 제2프로브(2b)는, 도 4를 참고하면, 기판연결부(225)의 길이(B2)가 패드연결부(224)의 길이(B1) 보다 길게 형성된다.
여기서, 상술한 바와 같이 상기 제1프로브(2a)의 전체 길이(L1)와 제2프로브(2b)의 전체 길이(L2)가 대략 일치하므로, 상기 제1프로브(2a)에서 패드연결부(224)의 길이(A1)는 제2프로브(2b)의 기판연결부(225)의 길이(B2)와 대략 일치하 고, 상기 제1프로브(2a)에서 기판연결부(225)의 길이(A2)는 제2프로브(2b)의 패드연결부(224)의 길이(B1)와 대략 일치하도록 형성되는 것이 바람직하다.
한편, 도 3을 참고하면, 상기 제1프로브(2a)의 패드연결부(224)는 패드돌기(2241)를 추가로 포함하는데, 상기 패드돌기(2241)는 패드연결부(224)에서 상방(화살표 C방향)으로 일정 길이 돌출되어 형성되는 사각판형의 돌기로서, 상기 제1프로브(2a)가 본 발명의 다른 실시예에 따른 프로브 블록에 수용될 시에 제1프로브(2a)의 위치를 안내하는 구성이다.
또한, 도 4를 참고하면, 상기 제2프로브(2b)의 기판연결부(225)는 기판돌기(2251)를 추가로 포함하는데, 상기 기판돌기(2251)는 기판연결부(225)에서 하방(화살표 B방향)으로 일정 길이 돌출되어 형성되는 사각판형의 돌기로서, 상기 제2프로브(2b)가 본 발명의 다른 실시예에 따른 프로브 블록에 수용될 시에 상기 제2프로브(2b)의 위치를 안내하는 구성이다.
따라서, 상기 프로브수용홈(311)은 상술한 제1프로브(2a) 또는 제2프로브(2b) 중 어느 하나의 프로브(2)가 적층 배열되면서 수용, 고정될 수 있으나, 상기 제1프로브(2a)와 제2프로브(2b)가 순차적으로 적층 배열되면서 수용, 고정됨으로써 인접 배열되는 프로브(2) 상호간에 간섭을 일으키지 않으면서 전극패드의 배열피치에 정확하게 접촉될 수 있다.
도 7을 참고하면, 상기 삽입홈(3112)은 하우징(311)의 전면(311b)과 후면(311c)에서 일정 깊이 함몰되어 형성되는 원통형상의 홈으로서, 상기 하우징(311)과 덮개부(312)의 견고한 결합을 보조하고 결합위치를 안내하기 위한 구성 이며, 상기 하우징(311)과 덮개부(312) 상호간에 견고하면서도 용이한 결합을 구현할 수 있도록 일정 거리로 이격된 다수의 홈으로 형성될 수 있고, 바람직하게는 2개의 홈으로 형성될 수 있다.
도 6 및 도 7을 참고하면, 상기 결합홈(3113)은 하우징(311)의 상면(311d)에서 일정 깊이 함몰되어 형성되는 원통형상의 홈으로서, 상기 하우징(311)과 블록베이스(33)의 견고한 결합을 보조하고 결합위치를 안내하기 위한 구성이며, 상기 하우징(311)과 블록베이스(33) 상호간에 견고하면서도 용이한 결합을 구현할 수 있도록 일정 거리로 이격되는 다수의 홈으로 형성될 수 있고, 바람직하게는 2개의 홈으로 형성될 수 있다.
상기 덮개부결합홈(3114)은 하우징(311)의 양측벽(311a)에서 전체적으로 'ㄴ' 형상으로 형성되는 홈으로서, 하우징(311)의 전면(311b)과 후면(311c)에서 덮개부(312)가 삽입되어 탈부착 가능하게 결합되는 경우, 상기 덮개부(312)의 위치를 안내하는 구성이며, 상기 덮개부(312)의 양측면과 대략 일치하는 형태로 형성되는 것이 바람직하다.
또한, 상기 하우징(311)은 프로브조립체(31)와 블록베이스(33)를 별도의 체결구를 통해 결합시킬 수 있는 체결홈(311e)을 포함할 수 있고, 상기 하우징(311)의 전면(311b)과 후면(311c)에는 상기 덮개부(312)와 별도의 체결구를 통해 결합될 수 있도록 다수의 체결홈(311f)을 포함할 수 있다.
상기 덮개부(312)는 하우징(311)에 탈부착 가능하게 결합되는 구성으로서, 상기 프로브(2)가 프로브수용홈(3111)에 삽입된 상태에서 상기 프로브(2)의 본 체(221)에 구비된 돌출부(221a)의 하측을 지지하여 고정하며, 가이드홈(3121)과 삽입구(3122)를 포함한다.
또한, 상기 덮개부(312)는 하우징(311)의 전면(311b)과 후면(311c)에 각각 결합되는 제1덮개부(312a)와 제2덮개부(312b)로 구성됨으로써, 상기 프로브조립체(31)의 조립공정에 대한 용이성을 구현할 수 있다.
상기 가이드홈(3121)은 덮개부(312)의 하면에서 일정 깊이 함몰되어 형성되는 홈으로서, 상기 덮개부(312)의 폭(312c)과 대략 일치하는 길이로 형성되고, 상기 제1프로브(2a)의 패드돌기(2241)가 삽입되며, 그에 따라 다수의 프로브(2)가 전극패드와 연결기판에 안정적으로 접촉될 수 있는 결합위치를 안내함으로써 상기 프로브조립체(31)의 조립공정에 대한 용이성을 구현할 수 있다.
상기 삽입구(3122)는 일정 길이로 돌출되어 형성되는 원통형상의 돌기로서, 하우징(311)의 삽입홈(3112)에 삽입되어 상기 하우징(311)과 덮개부(312)가 견고히 결합될 수 있도록 보조하는 동시에, 상기 덮개부(312)의 결합위치를 안내한다.
상기 패드는, 도시되지는 않았지만, 상기 프로브수용홈(3111) 내부에 구비되고, 다수의 프로브(2)가 적층 배열되는 경우, 적층 배열된 다수의 프로브(2)를 탄성적으로 지지하며, 그에 따라 상기 프로브 블록(3)의 지속적인 사용에도 상기 프로브(2)의 텐션이 저하되는 것을 방지하여 오랜 시간동안 정확한 검사공정을 수행할 수 있도록 한다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 프로브블록에서 프로브조립체의 분해 단면도이고, 도 9은 본 발명의 다른 실시예에 따른 프로브블록에서 프로브조립체의 결합단면도이다.
도 7 내지 도 9를 포함하면, 상기 유동방지부(32)는 프로브수용홈(3111)에 적층 배열되는 다수의 프로브(2)를 고정하는 구성으로서, 상기 프로브(2)에 접착수단을 통해 접착되고, 프로브(2)가 전극패드에 접촉되어 검사를 수행하는 과정에서 미세한 유동이 발생되는 것을 방지하여 보다 정확한 검사공정을 수행할 수 있도록 하며, 유동방지공(321)을 포함한다.
상기 유동방지공(321)은 유동방지부(32)에서 동일한 간격으로 이격되어 형성되는 다수의 관통공으로서, 상기 프로브(2)의 패드돌기(2241) 또는 기판돌기(2251)가 일측에서 삽입되어 타측으로 관통되도록 하고, 그에 따라 상기 프로브(2)를 견고히 고정한다.
한편, 이러한 유동방지부(32)는 제1프로브(2a)와 제2프로브(2b)가 순차적으로 적층 배열되는 경우, 제1프로브(2a)의 패드돌기(2241)가 삽입되어 고정되는 제1유동방지부(32a)와, 제2프로브(2b)의 기판돌기(2251)가 삽입되어 고정되는 제2유동방지부(32b)로 구성되는 것이 바람직하다.
따라서, 도 8 및 도 9에 도시된 바와 같이, 상기 제1프로브(2a)는 제1유동방지부(32a)의 유동방지공(321)을 관통하여 상기 제1덮개부(312a)의 가이드홈(3121)에 삽입 고정되며, 상기 제2프로브(2b)는 일측이 상기 제2덮개부(312b)에 지지되고, 타측이 상기 제2유동방지부(32b)의 유동방지공(321)에 삽입 고정된다.
도 5 및 도 6을 참고하면, 상기 블록베이스(33)는 전체적으로 상기 프로브 블록(3)의 구성들이 결합되어 검사시스템과 연결하는 구성으로서, 프로브조립 체(31), 연결블록(34)과, 보강블록(35)이 결합되고, 검사시스템에 장착되며, 결합돌기(331)를 포함한다.
상기 결합돌기(331)는 프로브조립체(31)와 결합되는 방향으로 돌출되어 형성되는 원통형상의 돌기로서, 상기 하우징(311)의 결합홈(3113)에 삽입되어 고정되며, 상기 프로브조립체(31)의 결합위치를 안내하여 용이한 조립공정을 구현할 수 있도록 하고, 상기 블록베이스(33)와 프로브조립체(31)의 결합력을 보조한다.
한편, 상기 결합돌기(331)는 프로브조립체(31)의 결합위치를 안내하고, 블록베이스(33)와 프로브조립체(31)의 결합력에 대한 보조를 구현할 수 있으면, 상기와 같은 원통형상 외에 다른 다양한 형태로 형성될 수 있으며, 이 경우 상기 결합홈(3113)과 상보적인 형태로 형성되는 것이 바람직하다.
상기 연결블록(34)은 블록베이스(33)에 결합되고, 상기 연결기판(4)이 결합되어 상기 프로브조립체(31)의 외측으로 노출되는 다수의 기판접촉부(212, 도 6에 도시됨)가 연결기판(4)과 전기적으로 연결되도록 하며, 안착구(341)와 체결돌기(342)를 포함한다.
상기 안착구(341)는 보강블록(35)이 안착되고, 안착된 보강블록(35)을 지지하는 구성으로서, 연결블록(34)의 일측에서 일정 깊이로 함몰되어 형성된다.
상기 체결돌기(342)는 전체적으로 그 외주면에 나사산이 형성된 원통형상의 돌기로서, 상기 연결블록(34)의 안착구(341)에서 돌출되어 형성되고, 상기 보강블록(35)을 관통하여 상기 블록베이스(33)와 결합됨으로써, 상기 블록베이스(33)에 연결블록(34)과 보강블록(35)을 결합시킨다.
도 6을 참고하면, 상기 보강블록(35)은 블록베이스(33)와 연결블록(34) 사이에 게재되어 결합되고, 상기 블록베이스(33)의 강도를 보강하는 구성으로서, 상기 프로브 블록(3)의 교체시에 검사시스템에 장착되는 블록베이스(33)의 강도를 보강하여 마모와 손상을 방지하며, 관통공(351)을 포함한다.
이러한 보강블록(35)은 디스플레이 패널마다 각각 다른 피치로 전극패드가 형성되어 이에 상응하는 피치가 구현된 프로브 블록(3)을 사용하기 위해 잦은 교체가 이루어지므로, 그로 인해 검사시스템과의 장착과 분리가 반복되는 블록베이스(33)의 강도를 보강하여, 그 마모와 손상을 방지하기 위해 구비되는 것이다.
상기 관통공(351)은 체결돌기(342)를 관통시켜, 상기 체결돌기(342)에 의해 연결블록(34), 보강블록(35)과 블록베이스(33)가 상호 체결되도록 하고, 견고한 체결을 이룰 수 있도록 일정 간격으로 이격되어 다수개가 형성될 수 있으며, 바람직하는 2개가 형성될 수 있다.
이하에서는 본 발명의 다른 실시예에 따른 프로브 블록의 결합관계에 대한 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 6 내지 도 9를 참고하면, 상기 제1프로브(2a)와 제2프로브(2b)를 하우징(311)의 프로브수용홈(3111)에 순차적으로 적층 배열하고, 이 경우, 도 6의 부분확대도에 도시된 바와 같이, 제1프로브(2a)와 제2프로브(2b)의 각 패드간섭방지부(222)와 패드접촉부(212)가 지그재그로 배열되도록 하여, 다수의 전극패드에 정확하게 접촉되어 검사공정을 수행할 수 있도록 한다.
또한, 상기 제1프로브(2a)와 제2프로브(2b)가 순차적으로 적층 배열되는 갯 수는, 검사영역에 구비된 다수의 전극패드의 갯수와 대략 일치하며, 이러한 검사영역은 상기 프로브수용홈(3111)의 폭(프로브가 적층 배열되는 방향)과 대략 일치하는 것이 바람직하다.
도 8 및 도 9를 참고하면, 상기 제1프로브(2a)와 제2프로브(2b)가 프로브수용홈(3111)에 적층 배열되면, 상기 하우징(311)에 상기 제1덮개부(312a)와 제2덮개부(312b)를 결합하는데, 이 경우 상기 덮개부(312)가 제1프로브(2a)와 제2프로브(2b)의 돌출부(221a)를 지지하도록 하여 상기 프로브(2)를 고정시키고, 상기 제1프로브(2a)의 패드돌기(2241)는 제1유동방지부(32a)의 유동방지홈(321)을 관통하여 가이드홈(3121)에 삽입되도록 하며, 상기 제1유동방지부(32a)는 접착수단을 통해 상기 프로브(2)와 접착 고정되어 검사공정에서 발생될 수 있는 미세유동을 방지한다.
또한, 상기 제2프로브(2b)의 기판돌기(2251)는 제2유동방지부(32a)의 유동방지홈(321)에 관통 고정되고, 상기 제2유동방지부(32a)는 접착수단을 통해 상기 프로브(2)와 접착 고정되어 검사공정에서 발생될 수 있는 미세유동을 방지한다.
위와 같은 과정을 통해, 도 6에 도시된 바와 같이, 프로브조립체(31)가 결합되고, 상기 블록베이스(33), 보강블록(35), 연결블록(34)을 순차적으로 결합시키며, 그 과정에서 상기 프로브조립체(31)의 외부로 돌출된 기판접촉부(212)를 상기 연결블록(34)에 결합된 연결기판(4)에 접촉되도록 결합시킨다.
한편, 상기와 같은 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록(3)은 별도의 체결구를 이용하여 견고히 결합시킴으로써, 일체화하여 프로브 블록(3) 단위로 교체하면 서 사용할 수 있으며, 그에 따라 상기 기판접촉부(212)와 연결기판(4)간에 정확한 접촉을 구현하는 작업이 제조과정에서 이루어지도록 하여, 추후 사용과정에서 양 구성간에 접촉 불량이 발생되는 것을 최소화할 수 있다.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.
본 발명은 앞서 본 구성, 실시예와 결합관계에 의해 다음과 같은 효과를 도모할 수 있다.
본 발명은 피치구현부를 통해 프로브 자체로서 배열피치를 구현함으로써, 용이한 작업으로 조밀하면서도 정밀한 배열피치를 구현할 수 있을 뿐만 아니라, 조밀화되는 다수의 전극패드에 상응하여 정확한 검사공정을 수행할 수 있는 효과를 이룰 수 있다.
본 발명은 다수의 프로브 중 일부에 손상 또는 변형이 발생하여 보수가 불가능한 경우에도, 손상 또는 변형이 발생한 부분만을 교체할 수 있어 보수작업의 용이성과 그에 따른 유지비용을 절감할 수 있는 효과를 얻을 수 있다.
본 발명은 프로브 블록의 강도를 보강함으로써 다양한 배열피치로 구현되는 전극패드에 상응하는 프로브 블록을 사용하기 위해 프로브 블록에 대한 잦은 교체가 이루어지는 경우에도, 쉽게 마모되거나 손상이 발생되는 것을 방지할 수 있는 효과를 가진다.
Claims (12)
- 디스플레이 패널에 구비된 다수의 전극패드에 직접 접촉되어 전기적 신호를 전달하는 프로브핀; 및상기 프로브핀의 외측에 형성되어 그 내부에 상기 프로브핀을 수용하고, 상기 다수의 전극패드가 배열된 피치에 상응하는 피치를 구현하며, 인접 배열되는 프로브핀 상호간을 절연시키는 피치구현부를 포함하는 프로브.
- 제 1 항에 있어서, 상기 프로브핀은 일측은 다수의 전극패드에 접촉되는 패드접촉부와, 타측은 검사시스템과 연결되는 연결기판에 접촉되는 기판접촉부를 가지고;상기 피치구현부는 상기 패드접촉부가 다수의 전극패드와 접촉되는 면을 노출시키며 그 외측에 형성되는 패드간섭방지부와, 상기 기판접촉부가 연결기판에 접촉되는 면을 노출시키며 그 외측에 형성되는 기판간섭방지부를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브.
- 제 2 항에 있어서, 상기 패드간섭방지부는 상기 패드접촉부가 다수의 전극패드에 접촉되는 방향으로 단을 이루며 형성되고, 상기 기판간섭방지부는 상기 기판접촉부가 연결기판에 접촉되는 방향으로 단을 이루며 형성되는 것을 특징으로 하는 프로브.
- 다수의 프로브가 적층 배열되는 프로브수용홈을 가지며, 상기 피치구현부에 의해 피치가 구현되는 프로브조립체;상기 프로브조립체가 결합되고 검사시스템에 장착되는 블록베이스; 및연결기판이 결합되고 상기 블록베이스와 결합되는 연결블록을 포함하고;상기 프로브는 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 하나의 프로브를 이용한 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록.
- 제 4 항에 있어서, 상기 피치구현부는 상기 프로브수용홈에 삽입 고정되는 본체; 상기 본체의 일측에 연결되는 패드연결부; 및 상기 본체의 타측에 연결되고, 상기 패드연결부와 다른 길이로 형성되는 기판연결부를 포함하고;상기 프로브조립체는 상기 패드연결부가 상기 기판연결부보다 길게 형성된 제1프로브; 및 상기 기판연결부가 상기 패드연결부보다 길게 형성된 제2프로브가 순차적으로 적층 배열되어 고정되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록.
- 제 5 항에 있어서, 상기 제1프로브는 상기 기판연결부에서 돌출되어 형성되는 기판돌기를 가지고, 상기 제2프로브는 상기 패드연결부에서 돌출되어 형성되는 패드돌기를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록.
- 제 6 항에 있어서, 상기 프로브조립체는 상기 프로브수용홈이 형성되는 공간을 규정하는 하우징과, 상기 하우징에 탈부착 가능하게 결합되는 덮개부를 포함하고;상기 덮개부는 상기 기판돌기가 삽입되는 가이드홈을 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록.
- 제 4 항에 있어서, 상기 프로브조립체는적층 배열되는 다수의 프로브를 탄성적으로 지지하는 패드를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록.
- 제 7 항에 있어서, 상기 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록은동일한 거리로 이격되어 형성되는 다수의 유동방지공을 가지고, 상기 프로브수용홈에 적층 배열된 다수의 프로브가 유동하는 것을 방지하는 유동방지부를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록.
- 제 9 항에 있어서, 상기 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록은상기 제1프로브의 기판돌기가 상기 유동방지공을 관통하여 상기 가이드홈에 삽입되고, 상기 제2프로브의 패드돌기가 상기 유동방지공에 삽입되는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록.
- 제 4 항에 있어서, 상기 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록은상기 블록베이스와 상기 연결블록 사이에 게재되는 보강블록을 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록.
- 제 7 항에 있어서, 상기 덮개부는 상기 하우징에 결합되는 위치를 안내하는 삽입구를 가지며, 상기 하우징은 상기 삽입구가 삽입 고정되는 삽입홈을 포함하고;상기 블록베이스는 상기 프로브조립체의 결합위치를 안내하는 결합돌기를 가지며, 상기 하우징은 상기 결합돌기가 삽입되는 결합홈을 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록.
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