JPH10197590A - マルチテスト用治具とマルチテスター - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】本発明は、チップ等の電子部品が実装されたプ
リント基板の、前記部品の性能チェック，導通チェック
を行うとともに、基板としての各種機能チェックを行う
ことのできるマルチテスト用の治具に関し、１台の検査
装置でインサーキットテストとファンクションテストを
効率的に行うことが出来なかったことを解決するもので
ある。 【解決手段】実装プリント基板のテストポイントに当接
するプローブと、該プローブを植設したピンベースと、
前記実装プリント基板を保持して該基板のテストポイン
トを前記プローブに当接させるプレス部とからなり、前
記プローブが、インサーキットテスト用に位置付けられ
るプローブ７とファンクションテスト用に位置付けられ
るプローブ１０との２種類からなるマルチテスト用の治
具である。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、チップ等の電子部
品が実装されたプリント基板の、前記部品の性能チェッ
ク，導通チェックを行うとともに、基板としての各種機
能チェックを行うことのできるマルチテスト用の治具と
それを備えた実装プリント基板用多機能試験機（以下、
本願ではこれをマルチテスターと言う）に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、プリント基板の試験機は、チップ
等の電子部品がピン挿入実装（ＴＭＴ）若しくは表面実
装（ＳＭＴ）等されたプリント基板に対して、電子部品
の性能チェックや半田浮きがあるか否かの導通チェック
を行う試験機としてのインサーキットテスターと称され
るものがある。一方、電子部品がピン挿入実装若しくは
表面実装等された各種プリント基板の、各々の基板に要
求される性能を備えているか否かを検査する試験機とし
てのファンクションテスターと称されるものがある。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記イ
ンサーキットテスターと前記ファンクションテスターと
は、共に電子部品実装プリント基板の良否を検査するも
のであるが、フィクスチャ式インサーキットテスターで
は個々の電子部品に多数のプローブピンを当接させ所定
の電流等を供給することで断線の有無や実装部品が正し
く搭載されているか否かを検査するのに対して、フィク
スチャ式ファンクションテスターでは、所定のファンク
ションの動作良否を確認するため、計測器や測定モジュ
ールを使用して各ファンクションに対応する回路ブロッ
ク毎の良否を検査するものなので、両テスターは互いに
電気的干渉を避けて検査しなければならず、一つの実装
済プリント基板に対して同時に検査することが出来ない
ものである。

【０００４】従って、前記両テスターはそれぞれ独立し
た検査機として、プリント基板製造ラインにセットさ
れ、ライン工程数及び設置場所を増設させるとともに、
プリント基板の移送にも手間が掛かり、プリント基板製
造の生産能率向上の妨げになるものである。このよう
に、従来、インサーキットテスターとファンクションテ
スターとは、両者の一体化によるプリント基板生産能率
の向上化に解決すべき課題を有している。

【０００５】

【課題を解決するための手段】本発明に係るマルチテス
ト用治具の上記課題を解決するための要旨は、実装プリ
ント基板のテストポイントに当接するプローブと、該プ
ローブを植設したピンベースと、前記実装プリント基板
を保持して該基板のテストポイントを前記プローブに当
接させるプレス部とからなり、前記プローブが、インサ
ーキットテスト用に位置付けられるプローブとファンク
ションテスト用に位置付けられるプローブとの２種類か
らなることである。更に、前記ピンベースは、インサー
キットテスト用のピンベースとファンクションテスト用
のピンベースとが別々に設けられ、少なくとも一方のピ
ンベースには、インサーキットテスター用のプローブと
ファンクションテスター用のプローブとのいずれかを挿
通させるための貫通孔が設けられていることである。

【０００６】本発明に係るマルチテスターの要旨は、実
装プリント基板のテストポイントに当接するプローブ
と、該プローブを植設したピンベースと、前記実装プリ
ント基板を保持して該基板のテストポイントを前記プロ
ーブに当接させるプレス部と、前記プローブと電気的に
接続された制御部とを少なくとも有し、前記プローブ
が、インサーキットテスト用に位置付けられるプローブ
とファンクションテスト用に位置付けられるプローブと
の２種類からなることである。

【０００７】本発明のマルチテスト用治具とこれを備え
たマルチテスターによれば、１台の実装プリント基板用
多機能試験機により、実装プリント基板のチップ部品等
の性能試験や導通試験を行うことができると共に、実装
プリント基板のファンクション、例えば、デジタルファ
ンクションやアナログファンクション，トリマー調整や
ＬＥＤ検出，インターフェースを経由したテスト等を行
うことが出来る。これにより、実装済みプリント基板生
産ラインの自動化が容易となるものである。

【０００８】

【発明の実施の形態】次に、本発明に係るマルチテスト
用治具とマルチテスターについて図面を参照して説明す
る。このマルチテスター１の全体外観の概略斜視図であ
る、図１に示すように、パーソナルコンピューター，モ
ニター，記憶装置等から成る制御部２と、インサーキッ
トテスト部とファンクションテスト部を備えた計測部３
と、マルチテスト用治具であるプローブ等を備えたフィ
クスチャ部４及び天板５ａ等を備えたプレス部５と、か
ら概ね構成されている。

【０００９】このマルチテスター１の多機能化を実現す
るマルチテスト用治具に係るフィクスチャ部４及びプレ
ス部５の第１実施例における構造と作用とを、図２乃至
図６を参照して説明する。

【００１０】まず、フィクスチャ部４におけるインサー
キットテスト用のプローブの植設構造は、図２に示すよ
うに、インサーキットテスター用に全体が略矩形状体で
所要厚さに形成されて装置本体に略水平に固定されてい
るピンベース６と、該ピンベース６に多数植設（例え
ば、数千本）されたプローブ７と、該プローブ７の一部
を構成するものであって弾性的に略鉛直方向へ進退でき
るプローブピン８と、テスト時におけるピンベース６と
後述のリフターボード１１との間隙を維持するスペーサ
９とからなる。

【００１１】また、前記ピンベース６には、前記プロー
ブ７を植設するための貫通孔６ａのほかに、当該ピンベ
ース６と間隙を有して２段積みにしたピンボード１３の
ファンクション用のプローブ１０を挿通させるための貫
通孔６ｂが、前記プローブ１０に対応させて所要数設け
られている。

【００１２】そして、ピンベース６の上位置に間隙を有
し、該ピンベース６の周辺に立設されたガイド棒とこれ
に嵌装されたコイルバネ等の弾性部材で支持されて略水
平に配置され、外力によって略鉛直方向に摺動自在なリ
フターボード１１が、ピンベース６と略平行に設けられ
ている。

【００１３】前記リフターボード１１は、ファンクショ
ンテスト時に使用されるものであって、インサーキット
テスト時にはプローブピン８の邪魔にならないように貫
通孔１１ａが対応位置に穿設されている。

【００１４】更に、前記貫通孔１１ａとは別に、ファン
クションテスト時にはファンクション用のプローブ１０
のプローブピン１２を挿通させ上側に突出させるための
貫通孔１１ｂが穿設されている。また、テスト時のプリ
ント基板１４（図３参照）との間隙を維持するためのス
ペーサ９ｂが上面に設けられている。

【００１５】次に、フィクスチャ部４におけるファンク
ションテスト用のプローブの植設構造は、図２に示すよ
うに、前記ピンベース６の下位置に間隙を有して略水平
に配設され、その全体が矩形状体で昇降自在なピンベー
ス１３と、該ピンベース１３に植設された複数個のファ
ンクション用のプローブ１０と、該プローブ１０の一部
を構成するものであって弾性的に略鉛直方向へ進退でき
るプローブピン１２とからなる。

【００１６】前記ピンベース１３には、これよりも上位
置にあるピンベース６に植設されたプローブ７の下端部
に衝突することなく、当該ピンベース１３がファンクシ
ョン位置に位置付けられるようにするための、貫通孔１
３ａが所要数設けられている。これにより、２種類の検
査用のピンベース６とピンベース１３とを装置本体に２
段積みすることが可能となり、マルチテスター１の小型
化が可能となって、床スペースを有効に利用できるよう
になる。

【００１７】このようにして、２種類のテスト用にピン
ボード６，１３が、略平行に２段積みされてフィクスチ
ャ部４が構成され、前記プローブ７，１０の各下端部か
らリード線が配線され計測部３及び制御部２に電気的に
接続されている。

【００１８】本発明に係るマルチテスター１のフィクス
チャ部４は以上のように構成され、このフィクスチャ部
４の上部に配設されたプレス部５には、図３に示すよう
に、エアーシリンダー等の昇降手段で所定量（インサー
キットテストの場合とファンクションテストの場合の２
段階における各所定量）にて上下移動するプッシュロッ
ド１５が設けられている。

【００１９】また、前記ファンクション用のピンベース
１３を昇降自在にする構造は、図４に示すように、ピン
ベース６の下面にボルトで取り付けられたエアーシリン
ダー１６と、そのロッド１６ａに支持された支持部材１
７を介して支持されており、エアー供給手段１８より高
圧エアーが前記エアーシリンダー１６に給気・排気され
ることで、ピンベース６に対して所定量で昇降するもの
である。

【００２０】よって、図２に示す状態が、インサーキッ
トテスト用の初期状態であって、図５に示す状態が、フ
ァンクションテスト用の初期状態である。

【００２１】即ち、図２に示す状態では、ピンベース１
３がピンベース６に対して大きく間隙を有して下位置に
あり、プローブ１０のピローブピン１２がピンベース６
の貫通孔６ｂに没入して後退している。そして、インサ
ーキットテスト用のプローブピン８の位置よりも下位置
に前記プローブピン１２が位置している。

【００２２】また、図５に示す状態では、ピンベース１
３が前記エアーシリンダー１６の上昇作用により上昇せ
しめられ、当該ピンベース１３とピンベース６との間隙
を僅かに有した状態となる。これにより、前記プローブ
ピン１２がピンベース６の貫通孔６ｂから突出し、イン
サーキットテスト用のプローブピン８の位置よりも上位
置となり、リフターボード１１の貫通孔１１ｂからも突
出した状態となる。

【００２３】このような第１実施例に係るフィクス部４
を備えたマルチテスター１によって、インサーキットテ
ストとファンクションテストを行う方法について説明す
る。このマルチテスター１に移送された実装済みプリン
ト基板１４をフィクスチャ部４のリフターボード１１上
に載置する。これが、図２に示すインサーキットテスト
用の初期状態に、プリント基板１４を載置した状態とな
る。

【００２４】そして、図３に示すように、プレス部５の
天板５ａを、例えば、エアーシリンダー等の昇降手段に
より所定量降下させる。これにより、前記天板５ａに下
向きに立設されているプッシュロッド１５が前記プリン
ト基板１４及びリフターボード１１を押し下げて、該リ
フターボード１１の下面がピンボード６上のスペーサ９
の上面に当接する。

【００２５】この位置にプリント基板１４が押し下げら
れると、ピンボード６に植設されているプローブ７のプ
ローブピン８が前記プリント基板１４のテストポイント
に当接して更に若干押し下げられる。

【００２６】こうして、プリント基板１４のテストポイ
ントにプローブピン８が確実に当接して、計測部３及び
制御部２を介してインサーキットテストが行われる。当
該プリント基板１４の断線等の結果は、制御部２のモニ
ターに表示される。

【００２７】次に、天板５ａ及びプッシュロッド１５を
プレス部５の昇降手段で上方に後退させる。そして、図
４に示す、ピンボード６の下に備えたエアーシリンダー
１６を作動させてピンボード１３を所定量昇降させ、図
５に示すような、ファンクションテスト用の初期状態に
する。

【００２８】そして、図６に示すように、プレス部５の
昇降手段で天板５ａ及びプッシュロッド１５を所定量降
下させる。すると、プッシュロッド１５がプリント基板
１４を押し下げ、スペーサ９ｂによりその間隙を維持し
ながらリフターボード１１を所定量押し下げる。これに
より、ファンクション用のプローブピン１２がプリント
基板１４に当接すると共に、若干押し下げられ確実にテ
ストポイントに当接する。

【００２９】また、リフターボード１１は、インサーキ
ットテスト用のプローブピン８が当該リフターボード１
１の貫通孔１１ａに挿入された状態でそれから突出しな
い状態までしか押し下げられないので、前記プローブピ
ン８がプリント基板１４に当接することはない。

【００３０】よって、前記ファンクション用のプローブ
ピン１２により、計測部３と制御部２を介してプリント
基板１４のファンクションテストを行うことが出来るも
のである。その後、ファンクションテストを終了したプ
リント基板１４は、次の工程に移送されるものである。

【００３１】このように、２種類のプローブと、リフタ
ーボード１１と、プレス部５の昇降手段を、インサーキ
ットテスト用とファンクションテスト用に２段階で天板
５ａ及びプッシュロッド１５を昇降させるようにし、ピ
ンボード６のエアーシリンダー１６によってピンボード
１３がインサーキットテスト用の位置とファンクション
テスト用の位置に位置付けられることにより、プリント
基板１４を一台のマルチテスター１でインサーキットテ
ストとファンクションテストとを行うことが出来るもの
である。

【００３２】本発明の第２実施例に係るマルチテスト用
治具におけるフィクスチャ部４とプレス部５ｄとの構成
は、図７に示すように、検査対象のプリント基板１４が
電子部品等を両面実装されたものである場合に、そのプ
リント基板の両面側でインサーキットテストが出来るよ
うに構成したものである。

【００３３】この第２実施例において、前記第１実施例
と異なるところは、プリント基板１４を間にしてピンボ
ード６と対向してインサーキットテスト用の両面用ピン
ボード１９及びこれにインサーキットテスト用のプロー
ブ７ａ，プローブピン８ａを下向きに植設した点であ
る。

【００３４】尚、前記両面用ピンボード１９の下面に
は、プリント基板１４との間隙を維持するスペーサ２０
が所要数下向きに立設されていて、該ピンボード１９の
所要箇所には両面用天板５ｂのプッシュロッド１５ｂを
貫通させるための貫通孔１９ａが穿設されている。ま
た、前記両面用天板５ｂには、前記ピンボード１９に植
設されたプローブ７ａの後端部の邪魔にならないよう
に、該プローブ７ａに対応した位置に貫通孔５ｃが穿設
されている。

【００３５】また、この両面用のピンボード１９と天板
５ｂとが、両面用のプレス部５ｄのエアーシリンダー等
の昇降手段によって、インサーキットテスト用とファン
クションテスト用の２段階に所定量で昇降されるもので
ある。

【００３６】このように構成した第２実施例に係るマル
チテスト用治具におけるフィクスチャ部４とプレス部５
ｄとによって、両面実装済みプリント基板１４ａについ
て、インサーキットテストを行うには、図２に示す状態
と同様の初期状態から、両面用のプレス部５ｄの昇降手
段によって両面用の天板５ｂ及びピンボード１９を所定
量降下させる。

【００３７】それによりプリント基板１４ａとリフター
ボード１１をインサーキットテスト位置に位置付けし
て、ピンボード６に植設したプローブ７のプローブピン
８をプリント基板１４ａの下面のテストポイントに当接
させると共に、ピンボード１９をインサーキットテスト
位置に位置付けして、プローブ７ａのプローブピン８ａ
をプリント基板１４ａの上面のテストポイントに当接さ
せることにより行うものである。

【００３８】また、ファンクションテストを行うには、
フィクスチャ部４を、図５に示すように、ピンボード１
３を所定量昇降させてファンクションテスト用の初期状
態にし、一方、プレス部５ｄにおいては、図８に示すよ
うに、前記ピンボード１９を昇降させて所定位置に位置
決めして待避させ、天板５ｂ及びプッシュロッド１５ｂ
を昇降手段で所定量降下させ、プリント基板１４ａ及び
リフターボード１１を押し下げて、これらをファンクシ
ョンテスト位置に位置決めする。

【００３９】これにより、ファンクションテスト用のピ
ンボード１３に植設されたプローブ１０のプローブピン
１２が、プリント基板１４ａの下面のテストポイントに
当接してファンクションテストが行われるものである。
なお、ファンクションテストはプリント基板１４ａの片
面側だけで十分であるが、特に両面側でファンクション
テストをするのを妨げるものではない。よって、例え
ば、プレス部５ｄの天板５ｂにファンクションテスト用
のプローブ等を植設するようにしても良い。

【００４０】

【発明の効果】以上説明したように、本発明のマルチテ
スト用治具は、実装プリント基板のテストポイントに当
接するプローブと、該プローブを植設したピンベース
と、前記実装プリント基板を保持して該基板のテストポ
イントを前記プローブに当接させるプレス部とからな
り、前記プローブが、インサーキットテスト用に位置付
けられるプローブとファンクションテスト用に位置付け
られるプローブとの２種類からなるので、１台の多機能
検査装置で２種類の検査が纏めて行われ、プリント基板
の検査の作業能率が向上すると共に、プリント基板生産
ラインの全自動化が容易になる。また、前記ピンベース
は、インサーキットテスト用のピンベースとファンクシ
ョンテスト用のピンベースとが別々に設けられ、少なく
とも一方のピンベースには、インサーキットテスター用
のプローブとファンクションテスター用のプローブとの
いずれかを挿通させるための貫通孔が設けられたマルチ
テスト用治具とすることで、ピンベースを２段積みする
ことが可能となり、検査用スペースを狭くすることが出
来て生産ラインの床スペースを有効利用できるという優
れた効果を奏するものである。

【００４１】本発明のマルチテスターにより、ファンク
ションとインサーキットの多重テストが可能になって一
貫性のあるプリント基板生産ラインを構築できるととも
に、ファンクションテストだけの装置であっても上記マ
ルチテスト用治具を備えることで、プリント基板上に複
数の試験すべき機能回路がある場合にもそれらを切り分
けてテストする必要のある場合に応用することが出来る
という優れた効果を奏するものである。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係るマルチテスターの概略を示す、外
観全体斜視図である。

【図２】同本発明に係るマルチテスターにおける、第１
実施例のフィクスチャ部４のインサーキットテスト用の
初期状態を示す説明図である。

【図３】同本発明に係るマルチテスターの、第１実施例
のフィクスチャ部４によってインサーキットテストを行
っている様子を示す説明図である。

【図４】同第１実施例のフィクスチャ部４におけるピン
ボード１３を昇降させる構造を説明するための説明図で
ある。

【図５】同本発明に係るマルチテスターにおける、第１
実施例のフィクスチャ部４のファンクションテスト用の
初期状態を示す説明図である。

【図６】同本発明に係るマルチテスターの、第１実施例
のフィクスチャ部４によってファンクションテストを行
っている様子を示す説明図である。

【図７】同本発明に係るマルチテスターにおける、第２
実施例に係るプレス部５ｄによって両面実装済みプリン
ト基板をインサーキットテストしている様子を示す説明
図である。

【図８】同本発明に係るマルチテスターにおける、第２
実施例に係るプレス部５ｄによって両面実装済みプリン
ト基板をファンクションテストしている様子を示す説明
図である。

【符号の説明】

１ マルチテスター、２ 制御部、３ 計測部、４ フ
ィクスチャ部、５ プレス部、５ａ 天板、６ インサ
ーキットテスト用のピンボード、７ プローブ、８ プ
ローブピン、９，９ｂ，２０ スペーサ、１０ ファン
クションテスト用のプローブ、１２ プローブピン、１
３ ファンクションテスト用のピンボード、１４ 実装
済みプリント基板、１５ プッシュロッド、１６ エア
ーシリンダー、１９ 両面用のピンボード。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 実装プリント基板のテストポイントに当
   接するプローブと、該プローブを植設したピンベース
   と、前記実装プリント基板を保持して該基板のテストポ
   イントを前記プローブに当接させるプレス部とからな
   り、 前記プローブが、インサーキットテスト用に位置付けら
   れるプローブとファンクションテスト用に位置付けられ
   るプローブとの２種類からなること、 を特徴とするマルチテスト用治具。
2. 【請求項２】 ピンベースは、インサーキットテスト用
   のピンベースとファンクションテスト用のピンベースと
   が別々に設けられ、少なくとも一方のピンベースには、
   インサーキットテスター用のプローブとファンクション
   テスター用のプローブとのいずれかを挿通させるための
   貫通孔が設けられていること、 を特徴とする請求項１に記載のマルチテスト用治具。
3. 【請求項３】 実装プリント基板のテストポイントに当
   接するプローブと、該プローブを植設したピンベース
   と、前記実装プリント基板を保持して該基板のテストポ
   イントを前記プローブに当接させるプレス部と、前記プ
   ローブと電気的に接続された制御部とを少なくとも有
   し、 前記プローブが、インサーキットテスト用に位置付けら
   れるプローブとファンクションテスト用に位置付けられ
   るプローブとの２種類からなること、 を特徴とするマルチテスター。