JPH048381Y2

JPH048381Y2 -

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Publication number: JPH048381Y2
Application number: JP10615986U
Authority: JP
Priority date: 1986-07-10
Filing date: 1986-07-10
Publication date: 1992-03-03
Also published as: JPS6312777U

Description

【考案の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本考案は、扁平な回路基板に各種の電子部品を
装着して組立てられた被検査体としての実装回路
基板（以下、たんに回路基板という）を最終的に
導通検査する回路基板検査装置に係り、特に、各
種の電子部品を回路基板の両面に装着した被検査
体を検査する両面回路基板検査装置に関する。

〔従来の技術〕

既に提案されているこの種の回路基板検査装置
は、回路基板の片面のみに各種の電子部品を挿着
した被検査体としての回路基板の検査点に多数の
ピン状コンタクトプローブの先端を接触させて導
通検査している。

すなわち、上述した回路基板検査装置は、プロ
ーブボード上に多数のコンタクトプローブを弾発
的に植設し、これらコンタクトプローブを回路基
板の一面に装着された各電子部品から突出する回
路基板の他端の導体部分に上方または下方から昇
降させて圧接し、これによつて電気的導通検査を
施すようになつている。

このように、被検査体としての回路基板は、そ
の一面のみに各種電子部品による突出部を形成
し、回路基板の他面は、検査回路面を形成してい
る関係上、コンタクトプローブを被検査体の他面
側から回路基板に接触導通させて測定検査が行わ
れる。

しかしながら、最近の回路基板に使用される各
種の電子部品は、超小型化するために、高密度配
列化を余儀なくされ、これに起因して、回路基板
の両面にそれぞれ装着して使用されるため、これ
らの両面回路基板の導通検査は、両面回路基板の
上、下方向から同時に、しかも、一挙に一工程で
導通検査することが望まれている。

この問題を解決するために、本出願人は、特願
昭60−65316号において、両面回路基板を着脱自
在に支持する回路基板保持枠を、複数の案内支柱
を有する装置枠体内部に案内支柱に沿つて上下に
移動自在に設け、回路基板保持枠の上方位置に、
下向きのコンタクトプローブを有する上部プロー
ブボードを装着枠体に固定して支持し、回路基板
保持枠の下方位置に、上向きのコンタクトプロー
ブを有する下部プローブボードを保持する下部プ
ローブボード装着枠を案内支柱に沿つて上下に移
動自在に装着し、下部プローブボード装着枠を上
方へ向かつて押上げることによつて回路基板保持
枠をも押上げ、これによつて回路基板に、その上
下で、上部プローブボードのプローブおよび下部
プローブボードのプローブによる接触を受けさ
せ、両面を同時に検査する両面回路基板検査装置
を提案した。

〔考案が解決しようとする問題点〕

ところで、この両面回路基板検査装置において
は、検査すべき回路基板の品種が変わるたびにそ
のパターンが変わり、コンタクトプローブを接触
させるべき検査点のパターンが変わるので、上部
および下部のプローブボードを、プローブ配列の
異なる他のプローブボードと交換しなければなら
ない。

しかし、プローブボードは、その各プローブの
基端のソケツトにジヤンパー線などのコードの一
端を半田付などの手段により接続し、そのコード
の他端を検査機器に連なるコネクタに接続してあ
るため、プローブボードの交換のたびに、長いコ
ードの束をコネクタから外して一緒に移動させな
ければならない。したがつて、これにより、コー
ド切れやソケツト接続部の半田付け部の不良等の
問題が発生し、しかも長いコード付きプローブボ
ードを移動させるのに手間がかかつた。

本考案はこのような問題点を解決するためにな
されたもので、その目的は、プローブボードの交
換の際のコード切れ、半田付け部不良の発生等の
問題が生ずることがなく、長いコードの取扱いの
問題がなく、プローブボードの交換を簡単かつ容
易に行うことのできる両面回路基板検査装置を得
ることにある。

〔問題点を解決するための手段〕

本考案は、前述の形式の両面回路基板検査装置
において、上部プローブボードの一部に、多数の
導通ピンを上下方向に装着した第１ピンボードを
固設して、上部プローブボードの各コンタクトプ
ローブの基部を第１ピンボードの各導通ピンに配
線により接続し、上部プローブボードと共に第１
ピンボードもその配線と共に装置の枠体外に取出
しうるようにし、装置の枠体には、第１ピンボー
ドの上方に対向して第１ピンボードに向かつて下
降自在に第２ピンボードを装着し、この第２ピン
ボードには、その下降時に第１ピンボードの導通
ピンの各々の上端に電気的に接触する多数の導通
ピンを上下方向に装着し、第２ピンボードの導通
ピンを、それぞれ検査機器に連なるコネクタに配
線により接続し、一方、下部プローブボードの一
部には、多数の導通ピンを上下方向に装着した第
３ピンボードを固設して、下部プローブボードの
各コンタクトプローブの基部を第３ピンボードの
各導通ピンに配線により接続し、下部プローブボ
ードと共に、第３ピンボードもその配線と共に装
置の枠体外に取出しうるようにし、装置の枠体に
は、第３ピンボードの上方に対向して第４ピンボ
ードを固着し、この第４ピンボードには、下部プ
ローブボードの上昇時に第３ピンボードの導通ピ
ンの各々の上端に電気的に接触する多数の導通ピ
ンを上下方向に装着し、第４ピンボードの導通ピ
ンを、それぞれ、検査機器に連なるコネクタに配
線により接続したことを特徴とする。

〔作用〕

上述の構成により、上部および下部プローブボ
ードを交換する時には、第２ピンボードを上昇さ
せて、上部プローブボードの第１ピンボードの導
通ピンと第２ピンボードの導通ピンの接続を解
き、上部プローブボードを、その第１ピンボード
および接続コードと共にユニツトとして一体的に
取出すことができ、また既に下降してその第３ピ
ンボードの導通ピンが第４ピンボードの導通ピン
から離れている下部プローブボードは、第３ピン
ボードおよび接続コードと共にユニツトとして一
体的に取出すことができ、次いで新しい上部およ
び下部プローブボードを逆の手順で容易に装着す
ることができる。この間、第２ピンボードとコネ
クタおよび第４ピンボードとコネクタをそれぞれ
結ぶコードは装着枠体側に残されたままである。

〔実施例〕

以下、本考案を図示の一実施例について説明す
る。

第２図において、符号１は、回路基板検査装置
の扁平な支持ベースを示し、この支持ベース１上
の各角隅部には、４本の案内支柱２が植設されて
おり、この案内支柱２の上部には天板３が固定さ
れ、これらによつて装置の枠体４が構成されてい
る。

天板３の下方には、それと平行に上部プローブ
ボードB₁が支持されている。この上部プローブ
ボードB₁は、天板３の下面に固定された上部プ
ローブボード装着枠６の前後方向（紙面に直交す
る方向）に摺動自在に支持されている。この摺動
を可能にするために、装着枠６の下端部には、上
部プローブボードB₁の両側縁を摺動自在に支持
する支持段部付条片７が固定されている。この部
分の詳細については後述する。上部プローブボー
ドB₁は下向きの先端を有する多数のピン状コン
タクトプローブ８を備えている。これらのプロー
ブ８は、上部プローブボードB₁を貫通した状態
でそれに固定されている。

枠体４の内側空間の下部には、下部プローブボ
ードB₂を前後方向に摺動自在に支持する下部プ
ローブボード装着枠９が設けられている。その装
着枠９は、方形枠状の上板１０および板板１１
と、それらを一体的に連結する筒体１２と、上板
１０の上面に固定した支持条片１３と、支持条片
１３の上面に固定した段部付条片１４とを有し、
筒体１２は各案内支柱２に摺動自在に嵌合してお
り、これにより装着枠９は、全体的に、第２図の
右半分に示す下降位置と同図の左半分に示す上昇
位置との間で上下方向に移動可能となつている。
下部プローブボードB₂は、その両側縁が支持条
片１３と段部付条片１４により保持された前後方
向（紙面に直交する方向）に摺動自在である。こ
の部分の詳しい構造については後述する。下部プ
ローブボードB₂は、上向きの先端を有する多数
のピン状コンタクトプローブ１５を貫通状態で支
持している。

上部プローブボード装着枠６および下部プロー
ブボード装着枠９の間には、回路基板保持枠１７
が設けられている。回路基板保持枠１７は、第３
図に拡大して示すように、方形枠状の基板１８
と、この基板１８の両側上面に固定した筒体１９
と、基板１８の両側上面に固定したガイド２０
と、ガイド２０によつて前後方向（紙面に直交す
る方向）に案内されるロツド２１を一体的に有す
る摺動板２２と、この摺動板２２上のピン２３に
よつて位置決めされる回路基板支持板２４とを備
え、この支持板２４に被検査体としての両面回路
基板Ｐが保持されるようになつている。回路基板
保持枠１７は、筒体１９により案内支柱２に案内
されて上下に移動可能である。

第３図に示すように、前記支持条片１３および
段部付条片１４は、上板１０、下板１１を貫通し
て下方から挿通されたロツド２６の上端部にねじ
込んだねじ２７によつて固定されており、ロツド
２６の下端のねじ部２８には締付けナツト２９が
はめられて緊締されている。そして、下部プロー
ブボードB₂の側縁は段付状に形成されて、段部
付条片１４の段部１４ａにより下方へ押圧されて
おり、ナツト２９をゆるめると、段部１４ａによ
る押圧から解放されるようになつている。一方、
下板１１、上板１０および支持条片１３を貫通し
て下方から挿通されたロツド３０の先端３０ａが
下部プローブボードB₂の側縁部の小孔に挿入さ
れて、下部プローブボードB₂の前後方向の位置
決めを行つている。ロツド３０はコイルばね３１
により上方へ付勢され、手でロツド３０の下端の
つまみ３０ｂを引下げた時にのみ、ロツド先端３
０ａが下部プローブボードB₂の小孔との係合を
解かれるようになつている。

上部プローブボードB₁の拘束、解放について
も、下部プローブボードB₂の場合と同じ構成が
採られており、支持段部付条片７はロツド３３の
下端にねじ込んだねじ２４により保持されるとと
もに上端に図示しない締付けナツトを有し、また
ロツド３５の先端３５ａが上部プローブボード
B₁の小孔に係合し、ロツド３５の上端にはつま
みが設けられている。

第４図に示すように、天板３の下面からは下方
ー向かつてガイドピン４０が、また回路基板保持
枠１９の基板１８の上面からは上方へ向かつてガ
イドビン４１がそれぞれ突設され、これらのガイ
ドピン４０，４１にわたつて圧縮コイルばね４２
がはめられている。また、基板１８の下面からは
ガイドピン４３が下方へ突設され、下部プローブ
ボード装着枠９の下板１１からは上方へ向かつて
ガイドピン４４が突設され、これらのガイドピン
４３，４４にわたつて圧縮コイルばね４５がはめ
られている。したがつて、中間にある回路基板保
持枠１７は上下のばね４２，４５により浮動状態
に支持されることになる。上方のばね４２の弾力
は下方のばね４５の弾力よりも弱くなつている。

第１図に示すように、下部プローブボード装着
枠９の下方には押上げ装置５０が設けられてい
る。押上げ装置５０はモータ駆動の偏心カム５１
の作用を一端５２ａで受けるレバー５２を有す
る。レバー５２は固定軸５３により枢着され、そ
の他端５２ｂは、下部プローブボード装着枠９の
下面の被作用部５３に対し作用するようになつて
いる。偏心カム５１がレバー５２の一端５２ａを
押下げると、他端５２ｂは被作用部５３を介して
下部プローブボード装着枠９を押上げる。

第２図の一部の部材を取除いて示す平面図であ
る第５図に示すように、上部プローブボードB₁
は、その後部の両側部に１対の後方への張出し部
６０を有し、これらの張出し部６０上には、第１
ピンボードPB₁，PB₁が設けられている。側縦断
面図である第１図および正面縦断面図である第６
図に示すように、第１ピンボードPB₁は張出し部
６０より高い位置において張出し部６０上に固定
されており、張出し部６０と第１ピンボードPB₁
との間には空間が形成されている。第１ピンボー
ドPB₁は、例えばその両側縁部を１対の立上り部
材を介して張出し部６０上に固定することにより
設置される。

第１ピンボードPB₁には多数の導通ピン６１が
上下に貫通して固定されており、その上端は後述
のように他の導通ピンと接触する接触端となつて
いる。また、導通ピン６１の下端は、それぞれ、
上部プローブボードB₁の各プローブ８の基端
（上端）とコード６２（第１図）により接続され
ている。コード６２は、第５図に示すように左右
に分岐するように接続される。

一方、第１図に示すように、第１ピンボード
PB₁の上方に対向して第２ピンボードPB₂が設け
られる。第２ピンボードPB₂は、第１ピンボード
PB₁の導通ピン６１のそれぞれに対応する位置に
導通ピン６４を貫通状態で備え、これら導通ピン
６４の下端は前記導通ピン６１の上端に接触しう
るようになつている。第２ピンボードPB₂は上下
方向のガイドロツド６５により圧下板６６に連結
されている。天板３上には支持部材６７が固定さ
れ、この支持部材６７を前記ガイドロツド６５が
摺動可能に挿通されている。そして、支持部材６
７上には、圧下カム６８を有する圧下ハンドル６
９が設けられ、この圧下ハンドル６９を第１図の
矢印方向に回動させると、圧下カム６８が圧下板
６６を介して第２ピンボードPB₂を下方へ変位さ
せ、その各導通ピン６４を第１ピンボードPB₁の
導通ピン６１に接触させるようになつている。な
お、図示しない圧縮ばねの作用で、第２ピンボー
ドPB₂および圧下板６６は圧下力を除くと上方へ
戻るようになつている。第２ピンボードPB₂の導
通ピン６４はそれぞれコード７０によりコネクタ
７２に接続されている。コネクタ７２は検査機
器、検査計器などに接続される。上述の機構は第
７図に示すように左右一対設けられる。

第１図に示すように、下部プローブボードB₂
の後部には第３ピンボードPB₃が一体的に設けら
れており、それに上下方向に多数の導通ピン８０
が貫通状態で設けられている。そして、下部プロ
ーブボードB₂の各プローブ１５の基端（下端）
が第３ピンボードPB₃の各導通ピン８０の下端に
コード８１により接続されている。第３ピンボー
ドPB₃は、第５図に示すように、両側の第１ピン
ボードPB₁の中間部の空間へ向かつて突出してい
る。

一方、第１図において、第３ピンボードPB₃の
上方に対向して第４ピンボードPB₄が設けられて
いる。この第４ピンボードPB₄は第３ピンボード
PB₃の導通ピン８０にそれぞれ対応する位置に導
通ピン８４を備えている。第４ピンボードPB₄
は、第６図に示すように天板３の下面に取付部材
８５により装着することができる。第４ピンボー
ドPB₄の各導通ピン８４は、第１図に示すように
コネクタ７２にコード８６により接続されてい
る。

第８図に示すように、回路基板保持枠１７の摺
動板２２の前端には、摺動板２２の前方への引出
し用把手８７が固定されている。

次に、以上延べた回路基板検査装置の作用を説
明する。

被検査体としての両面回路基板Ｐを検査するに
は、第８図において引出し用把手８７を矢印方向
に前方へ引いて、ガイド２０によるロツド２１の
案内によつて摺動板２２および回路基板支持板２
４を装置の枠体４外へ露出させ、回路基板支持板
２４に回路基板Ｐを装着した後、把手８７を押し
て回路基板Ｐを装置枠体４の内部の所定位置へ押
込んでロツクする。所定位置は図示しない適当な
ストツパにより定められる。

ところで、回路基板Ｐの検査時には、圧下ハン
ドル６９は第１図の矢印方向に回動されてロツク
され、これにより圧下カム６８の作用で第２ピン
ボードPB₂は下降させられ、その導通ピン６４の
下端が第１ピンボードPB₁の導通ピン６１の上端
に接触させられる。したがつて、上部プローブボ
ードB₁のコンタクトプローブ８は、コード６２、
導通ピン６１，６４およびコード７０を経てコネ
クタ７２に接続される。

この状態で、図示しない操作スイツチを操作す
ることにより、押上げ装置５０のモータが運転さ
れ、レバー５２は第１図において時計方向に回動
させられ、被作用部５３を介して下部プローブボ
ード装着枠９が上昇しはじめる。

この押し上げによる装着枠９の上昇により、第
４図において下部のコイルばね４５は押上げ力を
回路基板保持枠１７に伝達し、同保持枠１７をも
上昇させる。押上げ力はさらに同保持枠１７から
上部のコイルばね４２に伝達される。ところで、
上部のコイルばね４２の上端は天板３に支持され
ており、しかも上部のコイルばね４２は前述のよ
うに下部のコイルばね４５よりも弱いから装着枠
９の上昇開始により、まず上部のコイルばね４５
が圧縮され始める。この時、下部のコイルばね４
５の圧縮は殆んどなされず、したかつて装着枠９
上の下部プローブボードB₂の上向きコンタクト
プローブ１５と、回路基板保持枠１７上の回路基
板Ｐとの相対距離の変化は殆んどない。これに対
し、上部コイルばね４２の圧縮によつて回路基板
保持枠１７上の回路基板Ｐと上部プローブボード
B₁の下向きコンタクトプローブ８の距離は漸次
縮まり、遂には、回路基板Ｐの上面の検査点が下
向きコンタクトプローブ８に接する。そして、図
示しない下向き固定停止ピンの下端が回路基板Ｐ
の上面に接してその浮上りを防止し、それを押さ
えて位置決めをする。停止ピンの位置はこのよう
な作用が最適になされる位置に定められる。

このような状態になつた後は上部コイルばね４
２の圧縮は止まる。また、上部コイルばね４２は
その弱い弾力で、下向きコンタクトプローブ８と
回路基板Ｐの上面の電子部品との最初の接触時に
軟かい緩衝作用を果たし、部品を保護する。回路
基板Ｐの上面の電子部品はフラツトパツケージで
あることが多く、そのまわりに突出する多数の折
曲導電腕はきわめて弱く、例えば30グラムを越え
る力で変形する。上部コイルばね４２の軟かい緩
衝作用は、フラツトパツケージの弱い導電腕に所
定の弱い力でコンタクトプローブ８の先端を接触
させることを可能にし、導電接着面の剥離等の事
故を防ぎ正確な加圧力を確保する。

このようにして所定の力で緩衝作用を伴つて下
向きのコンタクトプローブ８と回路基板上面部品
との接触を行ない、無理な応力なしに所定の導通
関係を確保した後、下部コイルばね４５の圧縮変
形を起しつつ下部プローブボード装着枠９がさら
に上昇を続け、遂には上向きコンタクトプローブ
１５の上端が、回路基板Ｐの下面の電子部品に第
２図の左半分に示すように接触する。この時、モ
ータは図示しない制御回路の作用で停止する。

また、この時、下部プローブボードB₂の上昇
に伴つて第３ピンボードPB₃も上昇し、その導通
ピン８０の上端は固定されている第４ピンボード
PB₄の導通ピン８４の下端に接触する。これによ
つて、下部プローブボードB₂のコンタクトプロ
ーブ１５はコード８１、導通ピン８０，８４、コ
ード８６を経てコネクタ７２に接続される。した
がつて、回路基板Ｐの上面側および下面側ともコ
ネクタ７２を経て検査機器または計器に接続され
ることになり、所定の導通検査がなされる。

一定の検査時間の経過後、モータが再び駆動さ
れ、レバー５２は第１図において反時計方向に回
動し、下部プローブボード装着枠９が下降を開始
し、次いで回路基板保持枠１７も下降して最初の
位置へ戻る。次いで、回路基板保持枠１７上の検
査ずみ回路基板は第８図の把手８７を引くことに
より引出され、新しい回路基板が装着されて再び
枠体４内の所定位置へ押込まれてロツクされる。

以上のようにして両面回路基板の検査がなされ
るが、他形式の回路基板を検査するには、それに
合つた新しい上部プローブボードB₁および下部
プローブボードB₂が必要となり、両プローブボ
ードの交換が行わなければならない。

このためには、第１図において、圧下ハンドル
６９を再び図示の位置へ戻して第２ピンボード
PB₂を第１ピンボードPB₁に対して上昇させ、導
通ピン６１，６４の接触を解く。次いで、第３図
において、ロツド２６，３３を締付けているナツ
ト２９等を緩めて上部プローブボードB₁の段付
条片７による拘束および下部プローブボードB₂
の段付条片１４による拘束を解き、さらにロツド
３０，３５をばねの力に抗して後退させてそれら
の先端３０ａ，３５ａを両プローブボードの小孔
から抜く。これにより、両プローブボードB₁，
B₂は自由になるので、それを枠体４外へ前方か
ら引出す。

この時、上部プローブボードB₁に一体的に支
持される第１ピンボードPB₁は、第２ピンボード
PB₂を残してコード６２と共にユニツトとして引
出される一方、第２ピンボードPB₂に連なるコー
ド７０は装置の枠体４の側に残される。また、下
部プローブボードB₂に一体的に連なる第３ピン
ボードPB₃は、第４ピンボードPB₄とコード８６
を枠体４側に残して、コード８１と共に下部プロ
ーブボードB₂と同じユニツトの一部として引出
される。なお、第３、第４ピンユニツトPB₃，
PB₄は既に離れているので、第１、第２ピンユニ
ツトPB₁，PB₂の場合のように離す操作は不要で
ある。

新しい上部および下部プローブボードB₁，B₂
の装着は、上述したところと逆の手順により行わ
れる。

（考案の効果）以上述べたように、本考案では、上下のプロー
ブボードとそれに付属するピンボードおよびコー
ドを、ユニツトの形態で取外したり装着したりで
きるようにしたことによつて、従来装置における
ように長いコードを引回すことがなくなり、コー
ド切れ、半田付けの剥がれなどの問題が解消し、
プローブボードの取扱いが簡単化される。また、
本考案によれば、回路基板試作段階などで頻繁な
設計変更への対応が容易になる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本考案の回路基板検査装置の一例の後
部の縦断側面図、第２図は同一部縦断して示す正
面図、第３図は第２図の一部の拡大図、第４図は
回路基板検査装置における圧縮ばねによる支持部
分を主として示す説明図、第５図は第２図の一部
省略平面図、第６図は第５図の−線断面部分
図、第７図は部品をさらに追加して示す第５図と
同様な平面図、第８図は回路基板検査装置の前部
の側面図である。１……支持ベース、２……案内支柱、３……天
板、４……装置の枠体、B₁……上部プローブボ
ード、B₂……下部プローブボード、６……上部
プローブボード装着枠、８……下向きのコンタク
トプローブ、９……下部プローブボード装着枠、
１５……上向きのコンタクトプローブ、Ｐ……回
路基板、１７……回路基板保持枠、２０……ガイ
ド、２１……ロツド、２２……摺動板、２３……
位置決め用ピン、４０，４１，４３，４４……ガ
イドピン、４２，４５……コイルばね、５０……
押上げ装置、５２……レバー、６０……張出し
部、PB₁……第１ピンボード、PB₂……第２ピン
ボード、PB₃……第３ピンボード、PB₄……第４
ピンボード、６１，６４，８０，８４……導通ピ
ン、６２，７０，８１，８６……コード、６５…
…ガイドロツド、６６……圧下板、６８……圧下
カム、６９……圧下ハンドル。

Claims

【実用新案登録請求の範囲】１支持ベースに複数の案内支柱を植設し、案内
支柱の上部に天板を取付けて構成した検査装置
の枠体を備え、前記天板の下側には、下向きの
ピン状コンタクトプローブを有する上部プロー
ブボードを枠体外に取出し自在に装着し、一
方、枠体内の下側空間には、前記案内支柱に沿
つて上下方向に移動可能に下部プローブボード
装着枠を設け、この装着枠の上部に、上向きの
ピン状コンタクトプローブを有する下部プロー
ブボードを装置の枠体外に取出し自在に装着
し、前記上部プローブボードと下部プローブボ
ードの間には、両プローブボードに平行に両面
回路基板を着脱自在に支持する回路基板保持枠
を前記案内支柱に沿つて上下に移動可能に設
け、検査装置枠体の底部には、検査時に前記下
部プローブボード装着枠を上方へ押上げて、下
部プローブボードのコンタクトプローブを回路
基板の下面に接触させるとともに下部プローブ
ボード装着枠を介して回路基板保持枠をも押上
げて回路基板の上面を上部プローブボードのコ
ンタクトプローブに接触させる押上げ装置を設
け、上部プローブボードの一部には、多数の導
通ピンを上下方向に装着した第１ピンボードを
固設して、上部プローブボードの各コンタクト
プローブの基部を第１ピンボードの各導通ピン
に配線により接続し、上部プローブボードと共
に第１ピンボードもその配線と共に装置の枠体
外に取出しうるようにし、装置の枠体には、第
１ピンボードの上方に対向して第１ピンボード
に向かつて下降自在に第２ピンボードを装着
し、この第２ピンボードにはその下降時に第１
ピンボードの導通ピンの各々の上端に電気的に
接触する多数の導通ピンを上下方向に装着し、
第２ピンボードの導通ピンを、それぞれ、検査
機器に連なるコネクタに配線により接続し、一
方、下部プローブボードの一部には、多数の導
通ピンを上下方向に装着した第３ピンボードを
固設して、下部プローブボードの各コンタクト
プローブの基部を第３ピンボードの各導通ピン
に配線により接続し、下部プローブボードと共
に第３ピンボードもその配線と共に装置の枠体
外に取出しうるようにし、装置の枠体には、第
３ピンボードの上方に対向して第４ピンボード
を固着し、この第４ピンボードには、下部プロ
ーブボードの上昇時に第３ピンボードの導通ピ
ンの各々の上端に電気的に接触する多数の導通
ピンを上下方向に装着し、第４ピンボードの導
通ピンを、それぞれ、検査機器に連なるコネク
タに配線により接続してなる回路基板検査装
置。２上部および下部プローブボードを装置の枠体
外に水平方向に引出し可能としてなる実用新案
登録請求の範囲第１項記載の回路基板検査装
置。３第１ピンボードを、上部プローブボードの後
部両側に設け、第２ピンボードを天板に上下に
移動自在に支持してなる実用新案登録請求の範
囲第１項記載の回路基板検査装置。４第１ピンボードを上部プローブボードより高
い位置に設けてなる実用新案登録請求の範囲第
３項記載の回路基板検査装置。５第３ピンボードを、下部プローブボードの後
方中央部に第１ピンボードと上下方向に重なら
ない位置に設け、第４ピンボードを天板により
その下方に支持してなる実用新案登録請求の範
囲第３項記載の回路基板検査装置。