JPS6111676A - プリント基板検査装置 - Google Patents
プリント基板検査装置Info
- Publication number
- JPS6111676A JPS6111676A JP59131059A JP13105984A JPS6111676A JP S6111676 A JPS6111676 A JP S6111676A JP 59131059 A JP59131059 A JP 59131059A JP 13105984 A JP13105984 A JP 13105984A JP S6111676 A JPS6111676 A JP S6111676A
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- Japan
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- inspection
- contact
- board
- contact probes
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（技術分野）
この発明は、検査用コンタクトプローブを位置制御装置
で制御して、所望の部分の電気的検査を順次行うプリン
ト基板あるいは実装プリント基板検査装置（今後可動プ
ローブ基板検査装置と呼ぶ）の改良に関するものである
。
で制御して、所望の部分の電気的検査を順次行うプリン
ト基板あるいは実装プリント基板検査装置（今後可動プ
ローブ基板検査装置と呼ぶ）の改良に関するものである
。
（従来技術とその問題点）
従来、実装プリント基板の検査装置としてピンボード式
の検査装置が多く用いられている。この種の装置の欠点
として、被検査プリント基板毎に、その基板の検査ポイ
ント（一般的に２００〜５００ポイント）に対応して多
数のコンタクトプローブを配置、固定したピンボードを
用意しなければならず、多種の基板を検査する場合、ピ
ンボード製作費を要するばかりでなく、又そのピンボー
ドの貯蔵スペースや交換に手間を要する等の欠点があっ
た。
の検査装置が多く用いられている。この種の装置の欠点
として、被検査プリント基板毎に、その基板の検査ポイ
ント（一般的に２００〜５００ポイント）に対応して多
数のコンタクトプローブを配置、固定したピンボードを
用意しなければならず、多種の基板を検査する場合、ピ
ンボード製作費を要するばかりでなく、又そのピンボー
ドの貯蔵スペースや交換に手間を要する等の欠点があっ
た。
これらの問題を解決するため、最近第２図に示すように
、複数個の検査用コンタクトプローブ１を位置制御装置
２で所望の検査ポインに移動させ、コンタクトプロ・−
ブをソレノイドあるいはモータ等で降下させ、検査ポイ
ントに接触させ電気的な性能検査装置３で判定を行い、
再びコンタクトプローブを上昇して。
、複数個の検査用コンタクトプローブ１を位置制御装置
２で所望の検査ポインに移動させ、コンタクトプロ・−
ブをソレノイドあるいはモータ等で降下させ、検査ポイ
ントに接触させ電気的な性能検査装置３で判定を行い、
再びコンタクトプローブを上昇して。
次の検査ポイントに移動させ、再びコンタクトプローブ
を降下させて検査を行うという形の操作を順次繰返す、
可動プローブ式基板検査装置が提案されている。本装置
では被試験基板の種類を変更する場合、したがって検査
ポイントを変更する場合は９位置制御装置２に記憶され
る位置データを簡単な操作で交換するだけで行なえるの
で、従来のピンボード式基板検査装置のような問題はな
くなる。しかしそ９反面２本装置では、コンタクトプロ
ーブは被試験基板の全域を移動する必要があるため２位
置制御装置２の駆動部質量は大きくなり、従ってコンタ
クトプローブの移動速度を速くすることができなくなる
。従ってこの検査ポイントを切換える時間をピンボード
式基板検査装置と比較した場合、ビンボード式はリレー
、あるいは半導体スイッチで行なえるため非常に短時間
で行なえるのに対し、一般的に、可変プローブ型ではそ
の１０倍〜５０倍の検査ポイント切換時間を要する欠点
がある。
を降下させて検査を行うという形の操作を順次繰返す、
可動プローブ式基板検査装置が提案されている。本装置
では被試験基板の種類を変更する場合、したがって検査
ポイントを変更する場合は９位置制御装置２に記憶され
る位置データを簡単な操作で交換するだけで行なえるの
で、従来のピンボード式基板検査装置のような問題はな
くなる。しかしそ９反面２本装置では、コンタクトプロ
ーブは被試験基板の全域を移動する必要があるため２位
置制御装置２の駆動部質量は大きくなり、従ってコンタ
クトプローブの移動速度を速くすることができなくなる
。従ってこの検査ポイントを切換える時間をピンボード
式基板検査装置と比較した場合、ビンボード式はリレー
、あるいは半導体スイッチで行なえるため非常に短時間
で行なえるのに対し、一般的に、可変プローブ型ではそ
の１０倍〜５０倍の検査ポイント切換時間を要する欠点
がある。
（目的）
この発明は、コンタクトグローブの移動をある狭い範囲
を移動させる部分と、広い範囲に移動する部分に移動装
置を分けた事を特徴とし、その目的は、コンタクトプロ
ーブの平均移動時間を短かくすることにある。
を移動させる部分と、広い範囲に移動する部分に移動装
置を分けた事を特徴とし、その目的は、コンタクトプロ
ーブの平均移動時間を短かくすることにある。
（実施例）
位置決め制御装置では、移動速度を速くするためには駆
動部質量を軽くすればよく、それには最大可動距離を短
かくすればよい。又。
動部質量を軽くすればよく、それには最大可動距離を短
かくすればよい。又。
位置決め制御には、ある一定の加速及び減速時間を要す
るため、癲い移動距離の平均移動速度は、長い移動距離
のそれに比べて極端に遅（なる。
るため、癲い移動距離の平均移動速度は、長い移動距離
のそれに比べて極端に遅（なる。
以上２つの事から、短い移動距離は、駆動部質量を少く
できるよう、ある範囲のみを自由に位置決めできる複数
個のコンタクトプローブを有するヘッド部分で行い、こ
れとは別にヘッド部分の可動範囲分の長い距離をブロッ
ク移動させる装置（被試験基板の全域が可動可能の必要
があり、駆動部質量は大きくなるが、移動距離が長いの
で平均移動時間は短い。）を組み合せて、コンタクトプ
ローブの平均移動時間を短くするものである。
できるよう、ある範囲のみを自由に位置決めできる複数
個のコンタクトプローブを有するヘッド部分で行い、こ
れとは別にヘッド部分の可動範囲分の長い距離をブロッ
ク移動させる装置（被試験基板の全域が可動可能の必要
があり、駆動部質量は大きくなるが、移動距離が長いの
で平均移動時間は短い。）を組み合せて、コンタクトプ
ローブの平均移動時間を短くするものである。
以下、この発明の実施例を第１図により説明する。ある
範囲を自由に位置決め及び上下運動が可能な複数個の可
動コンタクトプローブ１を有する。
範囲を自由に位置決め及び上下運動が可能な複数個の可
動コンタクトプローブ１を有する。
ヘッド部４は被試験基板６の全域を可動できるＸ−Ｙテ
ーブル２の先端に取付けられている。又ヘッド部４のコ
ンタクトプローブ１の位置及び上下の運動制御及びＸ−
Ｙテーブル４位置制御は。
ーブル２の先端に取付けられている。又ヘッド部４のコ
ンタクトプローブ１の位置及び上下の運動制御及びＸ−
Ｙテーブル４位置制御は。
位置制御装置１５によって行なわれる。コンタクトプロ
ーブ１は電気的検査装置３に接続される。
ーブ１は電気的検査装置３に接続される。
被試験基板６はガイド７でもって、所定の位置に設置で
きるようになっている。
きるようになっている。
以下この動作について説明する。まず位置決め装置５に
記憶されているデータにより、ＸＹテーブル２によって
ヘッド４が第１の場所に移動する。
記憶されているデータにより、ＸＹテーブル２によって
ヘッド４が第１の場所に移動する。
その場所でヘッド部４の複数個のコンタクトプローブ１
が、あらかじめ設定されたデータによって各々移動し、
各々位置決めする。そこでコンタクトプローブは降下し
、被検査基板の試験端子に接触する。
が、あらかじめ設定されたデータによって各々移動し、
各々位置決めする。そこでコンタクトプローブは降下し
、被検査基板の試験端子に接触する。
あらかじめ設定されたデータと、電気検査装置３でその
ポインの性能が比較され、良否を判定する。検査が終了
すればコンタクトグローブは上昇し３次の検査ポイント
へ、再び複数個のコンタクトプローブが各々設定ポイン
トへ移動し、上記と同じように検査を行う。このように
してＸＹテーブルの第１の場所での予め設定されている
測定ポイント全部が終了すれば、ＸＹテーブルは第２の
位置に移動させる。
ポインの性能が比較され、良否を判定する。検査が終了
すればコンタクトグローブは上昇し３次の検査ポイント
へ、再び複数個のコンタクトプローブが各々設定ポイン
トへ移動し、上記と同じように検査を行う。このように
してＸＹテーブルの第１の場所での予め設定されている
測定ポイント全部が終了すれば、ＸＹテーブルは第２の
位置に移動させる。
この場所でも上記と同じように予め設定されたデータに
基すいて、コンタクトグローブを移動させて、設定され
た測定ポイント数の検査を行う。第２の場所が終了すれ
ば第３゜第４とＸ−Ｙテーブルを順次移動させて検査を
行っていく。
基すいて、コンタクトグローブを移動させて、設定され
た測定ポイント数の検査を行う。第２の場所が終了すれ
ば第３゜第４とＸ−Ｙテーブルを順次移動させて検査を
行っていく。
このようにコンタクトグローブの移動を狭い範囲を移動
する部分と、広い範囲に移動する部分に分けた事により
、上記で説明したように平均移動時間を短くする事がで
きる。
する部分と、広い範囲に移動する部分に分けた事により
、上記で説明したように平均移動時間を短くする事がで
きる。
なお１以上の説明におりて、コンタクトプロープの移動
をＸＹテーブルを用いる形で説明したが、目的によって
は９回転軸を持つ工業用ロボツトなど他の方式を採用す
ることも可能である。
をＸＹテーブルを用いる形で説明したが、目的によって
は９回転軸を持つ工業用ロボツトなど他の方式を採用す
ることも可能である。
また、狭い範囲の移動をコンタクトプローブ側で行い、
広い範囲の移動をプリント基板側で行４５などシステム
構成的には任意のものを取り得る。
広い範囲の移動をプリント基板側で行４５などシステム
構成的には任意のものを取り得る。
さらにプローブの移動精度を確認するための、あるいは
、プローブの移動位置を教示する場合の位置確認のため
にセンサや表示装置を付加する等の工夫は２本発明の範
囲内で任意に実行できる。
、プローブの移動位置を教示する場合の位置確認のため
にセンサや表示装置を付加する等の工夫は２本発明の範
囲内で任意に実行できる。
（効果）
この発明による可動グローブ基板検査装置はプローブ移
動速度が速くなるので、その検査の処理能力を向上させ
る事ができる。
動速度が速くなるので、その検査の処理能力を向上させ
る事ができる。
第１図は本発明装置の一実施例の説明図。
第２図は従来の可変プローブ基板検査装置の説明図。
１：コンタクトプロープ、２：Ｘ−Ｙテーブル、３：電
気性能検査装置、４：ヘッ、ド部。 ５：位置制御装置、６：被検査プリント基板。 ７：位置決めガイド。
気性能検査装置、４：ヘッ、ド部。 ５：位置制御装置、６：被検査プリント基板。 ７：位置決めガイド。
Claims (1)
- 一定範囲内で複数個のコンタクトプローグの位置を任意
に変更するための機構部と、該機構部と被検査プリント
基板との相対位置関係を変更するための機構部とを有す
る事を特徴とするプリント基板検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59131059A JPS6111676A (ja) | 1984-06-27 | 1984-06-27 | プリント基板検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59131059A JPS6111676A (ja) | 1984-06-27 | 1984-06-27 | プリント基板検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6111676A true JPS6111676A (ja) | 1986-01-20 |
Family
ID=15049041
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59131059A Pending JPS6111676A (ja) | 1984-06-27 | 1984-06-27 | プリント基板検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6111676A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100599968B1 (ko) | 2004-01-09 | 2006-07-12 | 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 | 어레이 기판 테스트 장비 |
-
1984
- 1984-06-27 JP JP59131059A patent/JPS6111676A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100599968B1 (ko) | 2004-01-09 | 2006-07-12 | 비오이 하이디스 테크놀로지 주식회사 | 어레이 기판 테스트 장비 |
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